CN113320196A - 一种薄膜成型装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种薄膜成型装置，本发明涉及一种薄膜成型方法及系统，涉及薄膜成型技术领域，本发明在对片状预制品进行压延时，中控模块根据所述片状预制品的厚度D选取对应的压延温度，所述中控模块通过将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对判定是否需要进行参数调节，当判定压延后的压延样品厚度薄时，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对选取对应的温度降低系数对选取的压延温度Ti进行调节，当判定压延后的压延样品厚度厚时，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对选取对应的温度升高系数对选取的压延温度Ti进行调节。本发明有效提高了薄膜的成型质量。

Description

一种薄膜成型装置

本案为分案申请，原申请的发明名称为：一种薄膜成型方法，原申请的申请日为 ：2021年04月09号，原申请的申请号为：202110380150.X。

技术领域

本发明涉及的是薄膜成型技术领域，具体为一种薄膜成型装置。

背景技术

PTFE膜是采用聚四氟乙烯分散树脂，经预混、挤压、压延、双向拉伸等特殊工艺生产的微孔性薄膜，分为服装膜、蒲微防水膜、过滤膜、净化膜。

PTFE具有优良综合性能，耐高温，耐腐蚀、不粘、自润滑、优良的介电性能、很低的摩擦系数。由于PTFE具有很高的熔体黏度 , 为非熔流材料，成型困难，因此不能用常用的热塑性塑料加工方法进行 加工，一般采用类似粉末冶金的成型方法，即把聚四氟乙烯粉末经压制再高温烧结成型。可采用模压成型、挤压成型、液压成型、推压 成型及二次加工等多种预成型工艺而得制品模型，然后经过烧结得到最 终的制品。

PTFE膜在成型过程中，压延及拉伸过程对成品的结晶度及孔率起重要作用，且压延及拉伸过程对薄膜的均匀度起决定性作用，现有技术中在进行压延及拉伸时无法准确保证其精确度，导致薄膜成品质量低以及生产效率低。

发明内容

为此，本发明提供一种薄膜成型方法及系统，用以克服现有技术中无法精确控制薄膜的压延及拉伸过程导致的成型质量低的问题。

为实现上述目的，一方面，本发明提供一种薄膜成型方法，包括：

步骤S101：将PTFE树脂粉末与液体润滑剂按预设比例混合，形成混合物；

步骤S102：中控模块控制挤压机对所述混合物进行挤压，形成片状预制品；

步骤S103：所述中控模块控制压延机以预设压延速度及压延温度对所述片状预制品进行压延，形成膜状预制品，首次压延形成的膜状预制品作为压延样品；

步骤S104：所述中控模块控制厚度传感器对所述压延样品进行检测，并根据检测结果进行压延参数调节；

步骤S105：所述中控模块控制拉伸机以预设拉伸速率及拉伸温度对压延完成的所述膜状预制品进行双向拉伸，首次拉伸完成的膜状预制品作为拉伸样品；

步骤S106：所述中控模块控制检测装置对所述拉伸样品的拉伸强度进行检测，并根据检测结果对膜状预制品进行拉伸参数调节；

步骤S107：所述中控模块控制烧结机对拉伸完成的所述膜状预制品进行烧结；

步骤S108：所述中控模块控制冷却辊对烧结后的所述膜状预制品进行冷却；

在所述步骤S103-S104中，在对所述片状预制品进行压延时，所述中控模块通过将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对选取对应的压延温度，所述厚度传感器检测完成后，所述中控模块通过将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对判定是否需要进行参数调节，当判定压延后的压延样品厚度薄时，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对选取对应的温度降低系数对选取的压延温度Ti进行调节，当判定压延后的压延样品厚度厚时，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对选取对应的温度升高系数对选取的压延温度Ti进行调节；

在所述步骤S105-S106中，在对膜状预制品进行纵向拉伸时，所述中控模块通过将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对选取对应的纵向拉伸速率，所述检测装置检测完成后，所述中控模块通过将检测到的拉伸样品的拉伸强度P与预设最小拉伸强度Pmin进行比对判定是否需要进行参数调节，当所述中控模块进行拉伸参数调节时，所述中控模块通过将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对选取对应的纵向拉伸速率调节系数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节。

进一步地，所述中控模块在控制所述压延机对所述片状预制品进行压延时，所述中控模块将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的压延温度；

当D＜D1时，所述中控模块选取T1作为压延温度；

当D1≤D＜D2时，所述中控模块选取T2作为压延温度；

当D2≤D＜D3时，所述中控模块选取T3作为压延温度；

其中，D1为第一预设片状预制品厚度，D2为第二预设片状预制品厚度，D3为第三预设片状预制品厚度，D1＜D2＜D3；T1为第一预设压延温度，T2为第二预设压延温度，T3为第三预设压延温度，T1＜T2＜T3。

进一步地，所述厚度传感器检测完成后，所述中控模块将检测到的压延样品厚度d计算出膜状厚度差△d，设定△d=d-d1，d1为预设标准压延膜厚度，所述中控模块将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对，并根据比对结果判定是否需要进行参数调节：

当-△d1≤△d≤△d1时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度符合标准，不要进行调节；

当△d＜-△d1时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度薄，需要对压延参数进行调节；

当△d1＜△d时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度厚，需要对压延参数进行调节。

进一步地，当判定压延后的压延样品厚度薄时，所述中控模块将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的温度降低系数对选取的第i预设压延温度Ti进行调节，设定i=1 ,2 ,3；当所述中控模块选取第j预设温度降低系数aj对Ti进行调节时，设定j=1 ,2 ,3，调节后的压延温度为Ti’,设定Ti’=Ti×aj；

当d＜d11时，所述中控模块选取a1对Ti进行调节；

当d11≤d＜d12时，所述中控模块选取a2对Ti进行调节；

当d12≤d＜d13时，所述中控模块选取a3对Ti进行调节；

其中，d11为第一预设参考厚度，d12为第二预设参考厚度，d13为第三预设参考厚度，d11＜d12＜d13；a1为第一预设温度降低系数，a2为第二预设温度降低系数，a3为第三预设温度降低系数，0＜a1＜a2＜a3＜1。

进一步地，当判定压延后的压延样品厚度厚时，所述中控模块将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的温度升高系数对选取的第i预设压延温度Ti进行调节；

当所述中控模块选取第j预设温度升高系数bj对Ti进行调节时，设定j=1 ,2 ,3，调节后的压延温度为Ti”,设定Ti”=Ti×bj；

当d21≤d＜d22时，所述中控模块选取b1对Ti进行调节；

当d22≤d＜d23时，所述中控模块选取b2对Ti进行调节；

当d23≤d时，所述中控模块选取b3对Ti进行调节；

其中，d21为第一预设对照厚度，d22为第二预设对照厚度，d23为第三预设对照厚度，d21＜d22＜d23；b1为第一预设温度升高系数，b2为第二预设温度升高系数，b3为第三预设温度升高系数，1＜b1＜b2＜b3＜2。

进一步地，所述中控模块在控制所述拉伸机对压延参数调节后形成的膜状预制品进行纵向拉伸时，所述中控模块将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的纵向拉伸速率；

当h1≤H＜h2时，所述中控模块选取V1作为纵向拉伸速率；

当h2≤H＜h3时，所述中控模块选取V2作为纵向拉伸速率；

当h3≤H时，所述中控模块选取V3作为纵向拉伸速率；

其中，h1为第一预设拉伸后膜厚度，h2为第二预设拉伸后膜厚度，h3为第三预设拉伸后膜厚度，h1＜h2＜h3；V1为第一预设纵向拉伸速率，V2为第二预设纵向拉伸速率，V3为第三预设纵向拉伸速率，V1＜V2＜V3。

进一步地，所述中控模块中设置有横向拉伸速率Va，设定Va=Vi×θ，式中，θ为速率调整参数，且0＜θ＜1，Vi为所述中控模块选取的第i预设纵向拉伸速率，设定i=1 ,2 ,3。

进一步地，所述检测装置检测完成后，所述中控模块将检测到的拉伸样品的拉伸强度P与预设最小拉伸强度Pmin进行比对，并根据比对结果判定是否需要进行参数调节；当P≥Pmin时，所述中控模块判定所述拉伸样品的拉伸强度符合标准，不需要进行参数调节；

当P＜Pmin时，所述中控模块判定所述拉伸样品的拉伸强度不符合标准，需要进行参数调节。

进一步地，当所述中控模块进行拉伸参数调节时，所述中控模块中还设置有拉伸强度差△P，设定△P=Pmin-P，所述中控模块将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对，并根据比对结果选取对应的纵向拉伸速率调节系数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节，设定i=1 ,2 ,3；

当所述中控模块选取第j预设纵向拉伸速率调节系数mj对Vi进行调节时，设定j=1,2 ,3，调节后的纵向拉伸速率为Vi’，设定Vi’=Vi×mj，调节后的横向拉伸速率为Va’，设定Va’=Vi’×θ；

当△P＜△P1时，所述中控模块选取m3对Vi进行调节；

当△P1≤△P＜△P2时，所述中控模块选取m2对Vi进行调节；

当△P2≤△P＜△P3时，所述中控模块选取m1对Vi进行调节；

其中，△P1为第一预设拉伸强度差，△P2为第二预设拉伸强度差，△P3为第三预设拉伸强度差，△P1＜△P2＜△P3；m1为第一预设纵向拉伸速率调节系数，m2为第二预设纵向拉伸速率调节系数，m3为第三预设纵向拉伸速率调节系数，0＜m1＜m2＜m3＜1。

另一方面，本发明还提供一种薄膜成型系统，包括：挤压机，用以对混合物进行挤压形成片状预制品，其与压延机连接，所述压延机用以对所述片状预制品进行压延形成膜状预制品，所述压延机上设置有厚度传感器，所述厚度传感器用以对压延样品厚度进行检测，所述压延机与拉伸机连接，所述拉伸机用以对压延完成的所述膜状预制品进行双向拉伸，所述拉伸机上设置有检测装置，所述检测装置用以检测拉伸样品的拉伸强度，所述拉伸机与烧结机连接，所述烧结机用以对拉伸完成的所述膜状预制品进行烧结，所述烧结机与冷却辊连接，所述冷却辊用以对烧结后的所述膜状预制品进行冷却，中控模块，通过无线连接各部件，其用以控制薄膜成型过程。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于，本发明所述中控模块根据所述片状预制品的厚度D选取对应的压延温度，有效保证了压延温度的适宜，所述中控模块控制所述厚度传感器对压延样品厚度进行检测，当压延样品厚度薄或者厚时，所述中控模块根据压延样品的厚度d选取对应的温度降低系数或温度升高系数对选取压延温度进行调节，进一步提高了压延温度的准确度，从而有效保证了压延后的膜状预制品的质量；所述中控模块根据膜状预制品的厚度H选取对应的纵向拉伸速率，并根据公式计算出横向拉伸速率，有效保证了膜状预制品拉伸时的准确度，当所述检测装置对拉伸样品的拉伸强度检测完成后，所述中控模块根据拉伸样品的拉伸强度P判断是否进行参数调节，进一步保证了所述膜状预制品拉伸的准确度，当拉伸参数需要调节时，所述中控模块根据拉伸强度差△P对纵向拉伸速率进行调节，横向拉伸速率随之调节，此调节进一步提高了所述膜状预制品拉伸的准确度，从而有效保证了拉伸后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对选取对应的压延温度，进一步提高了压延温度的准确度，进一步提高了压延后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对判定是否需要进行参数调节，进一步提高了压延后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对选取对应的温度降低系数对选取的压延温度Ti进行调节，进一步提高了压延温度的准确度，进一步提高了压延后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对选取对应的温度升高系数对选取的压延温度Ti进行调节，进一步提高了压延温度的准确度，进一步提高了压延后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对选取对应的纵向拉伸速率，并根据纵向拉伸速率计算横向拉伸速率，进一步提高了所述膜状预制品双向拉伸的准确度，进一步提高了拉伸后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将检测到的拉伸样品的拉伸强度P与预设最小拉伸强度Pmin进行比对判定是否需要进行参数调节，进一步提高了拉伸后的膜状预制品的质量。

尤其，所述中控模块通过将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对选取对应的纵向拉伸速率调节系数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节，同时调节横向拉伸速率，进一步提高了所述膜状预制品双向拉伸的准确度，进一步提高了拉伸后的膜状预制品的质量。

附图说明

图1为本实施例薄膜成型方法的流程示意图；

图2为本实施例薄膜成型系统的结构示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的和优点更加清楚明白，下面结合实施例对本发明作进一步描述；应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。

下面参照附图来描述本发明的优选实施方式。本领域技术人员应当理解的是，这些实施方式仅仅用于解释本发明的技术原理，并非在限制本发明的保护范围。

需要说明的是，在本发明的描述中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，还需要说明的是，在本发明的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在

本发明中的具体含义。

请参阅图2所示，其为本实施例所述薄膜成型系统，包括：挤压机001，用以对混合物进行挤压形成片状预制品，其与压延机002连接，所述压延机002用以对所述片状预制品进行压延形成膜状预制品，所述压延机002上设置有厚度传感器003，所述厚度传感器003用以对压延样品厚度进行检测，所述压延机002与拉伸机004连接，所述拉伸机004用以对压延完成的所述膜状预制品进行双向拉伸，所述拉伸机004上设置有检测装置005，所述检测装置005用以检测拉伸样品的拉伸强度，所述检测装置005可以是拉伸强度测试仪，但不限于拉伸强度测试仪，所述拉伸机004与烧结机006连接，所述烧结机006用以对拉伸完成的所述膜状预制品进行烧结，所述烧结机006与冷却辊007连接，所述冷却辊007用以对烧结后的所述膜状预制品进行冷却，中控模块（图中未画出），通过无线连接各部件，其用以控制薄膜成型过程。

请参阅图1所示，其为本实施例所述薄膜成型方法，包括：

步骤S101：将PTFE树脂粉末与液体润滑剂按预设比例混合，形成混合物；

步骤S102：中控模块控制挤压机对所述混合物进行挤压，形成片状预制品；

步骤S103：所述中控模块控制压延机以预设压延速度及压延温度对所述片状预制品进行压延，形成膜状预制品，为进行厚度检测及压延参数调整，首次压延形成的膜状预制品作为压延样品；

步骤S104：所述中控模块控制厚度传感器对所述压延样品进行检测，并根据检测结果进行压延参数调节；

步骤S105：所述中控模块控制拉伸机以预设拉伸速率及拉伸温度对压延完成的所述膜状预制品进行双向拉伸，为进行检测及拉伸参数调整，首次拉伸完成的膜状预制品作为拉伸样品；

步骤S106：所述中控模块控制检测装置对所述拉伸样品的拉伸强度进行检测，并根据检测结果对膜状预制品进行拉伸参数调节；

步骤S107：所述中控模块控制烧结机对拉伸完成的所述膜状预制品进行烧结；

步骤S108：所述中控模块控制冷却辊对烧结后的所述膜状预制品进行冷却；具体而言，在所述步骤S103-S104中，在对所述片状预制品进行压延时，所述中控模块通过将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对选取对应的压延温度，所述厚度传感器检测完成后，所述中控模块通过将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对判定是否需要进行参数调节，当判定压延后的压延样品厚度薄时，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对选取对应的温度降低系数对选取的压延温度Ti进行调节，当判定压延后的压延样品厚度厚时，所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对选取对应的温度升高系数对选取的压延温度Ti进行调节。

具体而言，在所述步骤S105-S106中，在对膜状预制品进行纵向拉伸时，所述中控模块通过将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对选取对应的纵向拉伸速率，所述检测装置检测完成后，所述中控模块通过将检测到的拉伸样品的拉伸强度P与预设最小拉伸强度Pmin进行比对判定是否需要进行参数调节，当所述中控模块进行拉伸参数调节时，所述中控模块通过将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对选取对应的纵向拉伸速率调节系数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节。

具体而言，所述中控模块在控制所述压延机对所述片状预制品进行压延时，所述中控模块将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的压延温度；

当D＜D1时，所述中控模块选取T1作为压延温度；

当D1≤D＜D2时，所述中控模块选取T2作为压延温度；

当D2≤D＜D3时，所述中控模块选取T3作为压延温度；

其中，D1为第一预设片状预制品厚度，D2为第二预设片状预制品厚度，D3为第三预设片状预制品厚度，D1＜D2＜D3；T1为第一预设压延温度，T2为第二预设压延温度，T3为第三预设压延温度，T1＜T2＜T3。

具体而言，本实施例所述中控模块通过将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对选取对应的压延温度，进一步提高了压延温度的准确度，进一步提高了压延后的膜状预制品的质量。

具体而言，所述厚度传感器检测完成后，所述中控模块将检测到的压延样品厚度d计算出膜状厚度差△d，设定△d=d-d1，d1为预设标准压延膜厚度，所述中控模块将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对，并根据比对结果判定是否需要进行

参数调节：

当-△d1≤△d≤△d1时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度符合标准，不需要进行调节；

当△d＜-△d1时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度薄，需要对压延参数进行调节；

当△d1＜△d时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度厚，需要对压延参数进行调节。

具体而言，当判定压延后的压延样品厚度薄时，所述中控模块将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的温度降低系数对选取的第i预设压延温度Ti进行调节，设定i=1 ,2 ,3；

当所述中控模块选取第j预设温度降低系数aj对Ti进行调节时，设定j=1 ,2 ,3，调节后的压延温度为Ti’,设定Ti’=Ti×aj；

当d＜d11时，所述中控模块选取a1对Ti进行调节；

当d11≤d＜d12时，所述中控模块选取a2对Ti进行调节；

当d12≤d＜d13时，所述中控模块选取a3对Ti进行调节；

其中，d11为第一预设参考厚度，d12为第二预设参考厚度，d13为第三预设参考厚度，d11＜d12＜d13；a1为第一预设温度降低系数，a2为第二预设温度降低系数，a3为第三预设温度降低系数，0＜a1＜a2＜a3＜1。

具体而言，本实施例所述中控模块通过将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对选取对应的温度降低系数对选取的压延温度Ti进行调节，进一步提高了压延温度的准确度，进一步提高了压延后的膜状预制品的质量。

具体而言，当判定压延后的压延样品厚度厚时，所述中控模块将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的温度升高系数对选取的第i预设压延温度Ti进行调节；

当所述中控模块选取第j预设温度升高系数bj对Ti进行调节时，设定j=1 ,2 ,3，调节后的压延温度为Ti”,设定Ti”=Ti×bj；

当d21≤d＜d22时，所述中控模块选取b1对Ti进行调节；

当d22≤d＜d23时，所述中控模块选取b2对Ti进行调节；

当d23≤d时，所述中控模块选取b3对Ti进行调节；

其中，d21为第一预设对照厚度，d22为第二预设对照厚度，d23为第三预设对照厚度，d21＜d22＜d23；b1为第一预设温度升高系数，b2为第二预设温度升高系数，b3为第三预设温度升高系数，1＜b1＜b2＜b3＜2。

具体而言，所述中控模块在控制所述拉伸机对压延参数调节后形成的膜状预制品进行纵向拉伸时，所述中控模块将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的纵向拉伸速率；

当h1≤H＜h2时，所述中控模块选取V1作为纵向拉伸速率；

当h2≤H＜h3时，所述中控模块选取V2作为纵向拉伸速率；

当h3≤H时，所述中控模块选取V3作为纵向拉伸速率；

其中，h1为第一预设拉伸后膜厚度，h2为第二预设拉伸后膜厚度，h3为第三预设拉伸后膜厚度，h1＜h2＜h3；V1为第一预设纵向拉伸速率，V2为第二预设纵向拉伸速率，V3为第三预设纵向拉伸速率，V1＜V2＜V3。

具体而言，所述中控模块中设置有横向拉伸速率Va，设定Va=Vi×θ，式中，θ为速率调整参数，且0＜θ＜1，Vi为所述中控模块选取的第i预设纵向拉伸速率，设定i=1 ,2 ,3。

具体而言，本实施例所述中控模块通过将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对选取对应的纵向拉伸速率，并根据纵向拉伸速率计算横向拉伸速率，进一步提高了所述膜状预制品双向拉伸的准确度，进一步提高了拉伸后的膜状预制品的质量。

具体而言，所述检测装置检测完成后，所述中控模块将检测到的拉伸样品的拉伸强度P与预设最小拉伸强度Pmin进行比对，并根据比对结果判定是否需要进行参数调节；

当P≥Pmin时，所述中控模块判定所述拉伸样品的拉伸强度符合标准，不需要进行参数调节；

当P＜Pmin时，所述中控模块判定所述拉伸样品的拉伸强度不符合标准，需要进行参数调节。

具体而言，当所述中控模块进行拉伸参数调节时，所述中控模块中还设置有拉伸强度差△P，设定△P=Pmin-P，所述中控模块将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对，并根据比对结果选取对应的纵向拉伸速率调节系数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节，设定i=1 ,2 ,3；

当所述中控模块选取第j预设纵向拉伸速率调节系数mj对Vi进行调节时，设定j=1,2 ,3，调节后的纵向拉伸速率为Vi’，设定Vi’=Vi×mj，调节后的横向拉伸速率为Va’，设定Va’=Vi’×θ；

当△P＜△P1时，所述中控模块选取m3对Vi进行调节；

当△P1≤△P＜△P2时，所述中控模块选取m2对Vi进行调节；

当△P2≤△P＜△P3时，所述中控模块选取m1对Vi进行调节；

其中，△P1为第一预设拉伸强度差，△P2为第二预设拉伸强度差，△P3为第三预设拉伸强度差，△P1＜△P2＜△P3；m1为第一预设纵向拉伸速率调节系数，m2为第二预设纵向拉伸速率调节系数，m3为第三预设纵向拉伸速率调节系数，0＜m1＜m2＜m3＜1。

具体而言，本实施例所述中控模块通过将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对选取对应的纵向拉伸速率调节系数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节，同时调节横向拉伸速率，进一步提高了所述膜状预制品双向拉伸的准确度，进一步提高了拉伸后的膜。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (9)

1.一种薄膜成型装置，其特征在于，包括：

挤压机，用以对混合物进行挤压形成片状预制品，其与压延机连接；

压延机用以对所述片状预制品进行压延形成膜状预制品，所述压延机上设置有厚度传感器，所述压延机与拉伸机连接；

厚度传感器用以对压延样品厚度进行检测；

拉伸机用以对压延完成的所述膜状预制品进行双向拉伸，所述拉伸机上设置有检测装置，所述拉伸机与烧结机连接；

检测装置用以检测拉伸样品的拉伸强度；

烧结机用以对拉伸完成的所述膜状预制品进行烧结，所述烧结机与冷却辊连接；

冷却辊用以对烧结后的所述膜状预制品进行冷却；

中控模块，通过无线连接各部件，其用以控制薄膜成型过程。

2.根据权利要求1所述的一种薄膜成型装置，其特征在于：所述中控模块将所述片状预制品的厚度D与各预设片状预制品厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的压延温度；

当D＜D1时，所述中控模块选取T1作为压延温度；

当D1≤D＜D2时，所述中控模块选取T2作为压延温度；

当D2≤D＜D3时，所述中控模块选取T3作为压延温度；

其中，D1为第一预设片状预制品厚度，D2为第二预设片状预制品厚度，D3为第三预设片状预制品厚度，D1＜D2＜D3；T1为第一预设压延温度，T2为第二预设压延温度，T3为第三预设压延温度，T1＜T2＜T3。

3.根据权利要求1所述的一种薄膜成型装置，其特征在于：所述中控模块将检测到的压延样品厚度d计算出膜状厚度差△d，设△d=d-d1，d1为预设标准压延膜厚度，所述中控模块将计算得到的膜状厚度差△d与预设标准厚度差△d1进行比对，并根据比对结果判定是否需要进行参数调节：

当-△d1≤△d≤△d1时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度符合标准，不需要进行调节；

当△d＜-△d1时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度薄，需要对压延参数进行调节；

当△d1＜△d时，所述中控模块判定压延后的压延样品厚度厚，需要对压延参数进行调节。

4.根据权利要求3所述的一种薄膜成型装置，其特征在于：所述中控模块将检测到的压延样品厚度d与各预设参考厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的温度降低系数对选取的第i预设压延温度Ti进行调节，设定i=1 ,2 ,3；当所述中控模块选取第j预设温度降低系数aj对Ti进行调节时，设定j=1 ,2 ,3，调节后的压延温度为Ti’,设定Ti’=Ti×aj；

当d＜d11时，所述中控模块选取a1对Ti进行调节；

当d11≤d＜d12时，所述中控模块选取a2对Ti进行调节；

当d12≤d＜d13时，所述中控模块选取a3对Ti进行调节；

其中，d11为第一预设参考厚度，d12为第二预设参考厚度，d13为第三预设参考厚度，d11＜d12＜d13；a1为第一预设温度降低系数，a2为第二预设温度降低系数，a3为第三预设温度降低系数，0＜a1＜a2＜a3＜1。

5.根据权利要求1所述的一种薄膜成型装置，其特征在于：所述中控模块将检测到的压延样品厚度d与各预设对照厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的温度升高系数对选取的第i预设压延温度Ti进行调节；

当所述中控模块选取第j预设温度升高系数bj对Ti进行调节时，设定j=1 ,2 ,3，调节后的压延温度为Ti”,设定Ti”=Ti×bj；

当d21≤d＜d22时，所述中控模块选取b1对Ti进行调节；

当d22≤d＜d23时，所述中控模块选取b2对Ti进行调节；

当d23≤d时，所述中控模块选取b3对Ti进行调节；

其中，d21为第一预设对照厚度，d22为第二预设对照厚度，d23为第三预设对照厚度，d21＜d22＜d23；b1为第一预设温度升高系数，b2为第二预设温度升高系数，b3为第三预设温度升高系数，1＜b1＜b2＜b3＜2。

6.根据权利要求1所述的一种薄膜成型装置，其特征在于：所述中控模块在控制所述拉伸机对压延参数调节后形成的膜状预制品进行纵向拉伸时，所述中控模块将膜状预制品的厚度H与各预设拉伸后膜厚度进行比对，并根据比对结果选取对应的纵向拉伸速率；

当h1≤H＜h2时，所述中控模块选取V1作为纵向拉伸速率；

当h2≤H＜h3时，所述中控模块选取V2作为纵向拉伸速率；

当h3≤H时，所述中控模块选取V3作为纵向拉伸速率；

其中，h1为第一预设拉伸后膜厚度，h2为第二预设拉伸后膜厚度，h3为第三预设拉伸后膜厚度，h1＜h2＜h3；V1为第一预设纵向拉伸速率，V2为第二预设纵向拉伸速率，V3为第三预设纵向拉伸速率，V1＜V2＜V3。

7.根据权利要求6所述的薄膜成型装置，其特征在于，所述中控模块中设置有横向拉伸速率Va，设定Va=Vi×θ，式中，θ为速率调整参数，且0＜θ＜1，Vi为所述中控模块选取的第i预设纵向拉伸速率，设定i=1 ,2 ,3。

8.根据权利要求7所述的薄膜成型装置，其特征在于，所述检测装置检测完成后，所述中控模块将检测到的拉伸样品的拉伸强度P与预设最小拉伸强度Pmin进行比对，并根据比对结果判定是否需要进行参数调节；

当P≥Pmin时，所述中控模块判定所述拉伸样品的拉伸强度符合标准，不需要进行参数调节；

当P＜Pmin时，所述中控模块判定所述拉伸样品的拉伸强度不符合标准，需要进行参数调节。

9.根据权利要求8所述的薄膜成型装置，其特征在于，当所述中控模块进行拉伸参数调节时，所述中控模块中还设置有拉伸强度差△P，设定△P=Pmin-P，所述中控模块将拉伸强度差△P与各预设拉伸强度差进行比对，并根据比对结果选取对应的纵向拉伸速率调节系

数对选取的纵向拉伸速率Vi进行调节，设定i=1 ,2 ,3；

当所述中控模块选取第j预设纵向拉伸速率调节系数mj对Vi进行调节时，设定j=1 ,2, 3，调节后的纵向拉伸速率为Vi’，设定Vi’=Vi×mj，调节后的横向拉伸速率为Va’，设定Va’= Vi’×θ；

当△P＜△P1时，所述中控模块选取m3对Vi进行调节；

当△P1≤△P＜△P2时，所述中控模块选取m2对Vi进行调节；

当△P2≤△P＜△P3时，所述中控模块选取m1对Vi进行调节；

其中，△P1为第一预设拉伸强度差，△P2为第二预设拉伸强度差，△P3为第三预设拉伸强度差，△P1＜△P2＜△P3；m1为第一预设纵向拉伸速率调节系数，m2为第二预设纵向拉伸速率调节系数，m3为第三预设纵向拉伸速率调节系数，0＜m1＜m2＜m3＜1。

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