CN113252713B - 臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法 - Google Patents

Abstract

本公开提出一种臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法，涉及安检技术领域。本公开的一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和，横向探测位移探测设备，包括：位置标定机构，位于沿顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面，朝向位移探测器；和位移探测器，位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面，与位置标定机构的安装高度一致，朝向位置标定机构，被配置为获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，位移标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂。这样的臂架能够提高采用该臂架的移动式辐射探测设备的探测准确度。

Description

臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法

技术领域

本公开涉及安检技术领域，特别是一种臂架、移动式辐射探测设备、验收系统和安检方法。

背景技术

在辐射成像领域，要求束流面与阵列探测器面共面，在成像过程中，如果共面度发生变化，会导致图像质量变差。因此，需要实时检测共面度的变化，并对数据进行处理，对图像进行修正，提高图像质量。

对于移动式检查设备比如车载式和组合移动式，在主动扫描情况下，对地面或轨道的平整度以及设备移动的控制稳定性，都有一定的要求，以便减少移动过程中设备的振动。然而，设备实际走车过程中，总会发生一定程度的振动，特别是对于近几年刚兴起的一种地面行走自适应扫描装置（智轨系统）而言，其成像系统面临更加复杂多变的环境，设备振动更加剧烈。如图1所示，振动会导致束流面和探测器臂架面发生相对位移。由于通常鉴于辐射防护的要求，经过准直后的扇形X射线束流在走车方向的宽度尽量小，这会导致束流面和探测器面发生的位移会导致探测器接收到的射线量发生明显变化，导致图像产生竖条纹，称为图像臂摆。

发明内容

本公开的一个目的在于提高辐射成像的准确度和校正效率。

根据本公开的一些实施例的一个方面，提出一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和，横向探测位移探测设备，包括：位置标定机构，位于沿顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面，朝向横向探测位移探测设备的位移探测器；和位移探测器，位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面，与位置标定机构的安装高度一致，朝向位置标定机构，被配置为获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，位移标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂。

在一些实施例中，横向探测位移探测设备位于纵臂的延伸方向的顶端或底端的区域。

在一些实施例中，臂架上包括多组横向探测位移探测设备；不同横向探测位移探测设备的安装高度不同。

在一些实施例中，第一横向探测位移探测设备位于纵臂的延伸方向的顶端的区域；和第二横向探测位移探测设备位于纵臂的延伸方向的底端的区域。

在一些实施例中，臂架还包括：纵向探测位移探测设备，包括：位置标定机构和位移探测器，其中一个位于纵臂上接近底端的区域，固定于纵臂，另一个位于纵臂靠近顶端的区域，固定于顶臂；纵向探测位移探测设备的位置标定机构朝向纵向探测位移探测设备的位移探测器；和，纵向探测位移探测设备的位移探测器朝向纵向探测位移探测设备的位置标定机构，被配置为获取纵向位移探测设备的位置标定机构相对于纵向位移探测设备的位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出。

在一些实施例中，位置标定机构包括激光发射设备，位移探测器包括激光检测设备。

在一些实施例中，激光发射设备包括：笔形激光发射器或激光点阵。

在一些实施例中，位置标定机构包括图像标识，测量机构包括图像采集设备。

在一些实施例中，臂架符合以下至少一项：顶臂被配置为在使用过程中水平设置，或呈与水平面的夹角在第一预定角度范围内的方向设置；纵臂为直臂或弧臂；或纵臂与顶臂的夹角为直角，或夹角在第二预定角度范围内。

这样的臂架能够及时获取臂架沿顶壁延伸方向两端的位移偏差，该位移偏差反应了臂架在移动过程中的臂摆情况，从而便于为辐射探测数据校正提供反应振动情况的基础数据，提高采用该臂架的移动式辐射探测设备的探测准确度。

根据本公开的一些实施例的一个方面，提出一种臂架，包括：顶臂；纵臂；和纵向探测位移探测设备，包括：位置标定机构和位移探测器，其中一个位于纵臂上接近底端的区域，固定于纵臂，另一个位于纵臂靠近顶端的区域，固定于顶臂；位置标定机构朝向纵向探测位移探测设备的位移探测器；和位移探测器朝向纵向探测位移探测设备的位置标定机构，被配置为获取纵向位移探测设备的位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出。

在一些实施例中，臂架还包括：横向探测位移探测设备，包括：位置标定机构，位于沿顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面，朝向横向探测位移探测设备的位移探测器；和位移探测器，位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面，与位置标定机构的安装高度一致，朝向位置标定机构，被配置为获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出；其中，位移标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂上。

在一些实施例中，臂架符合以下至少一项：顶臂被配置为在使用过程中水平设置，或呈与水平面的夹角在第一预定角度范围内的方向设置；纵臂为直臂或弧臂；或纵臂与顶臂的夹角为直角，或夹角在第二预定角度范围内。

根据本公开的一些实施例的一个方面，提出一种移动式辐射探测设备，包括：上文中提到的任意一种臂架；车辆，与臂架的顶臂的一端连接，被配置为通过运动带动臂架运动；和安检设备，包括：射线发射器，位于沿臂架的顶臂的延伸方向的第一端的区域，被配置为向射线探测器发射射线；射线探测器，位于沿臂架的顶臂的延伸方向的第二端的区域，被配置为接收来自安检设备的射线发射器的射线，生成辐射探测数据。

在一些实施例中，移动式辐射探测设备还包括处理器，被配置为：获取臂架的位移探测器输出的位移数据；获取射线探测器输出的辐射探测数据；和根据位移数据校正辐射探测数据。

在一些实施例中，安检设备和臂架上的位移探测设备在相同的触发器的触发下同步开始探测。

在一些实施例中，处理器还被配置为：在空载走车情况下，通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数；获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据；生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息；根据位移数据校正辐射探测数据包括：根据臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数；根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。

这样的辐射探测设备能够及时获取臂架沿顶壁延伸方向两端的位移偏差，该位移偏差反应了臂架在移动过程中的臂摆情况，从而便于使用该位移数据校正辐射探测数据，提高移动式辐射探测设备的探测准确度。

根据本公开的一些实施例的一个方面，提出一种验收系统，包括：上文中提到的任意一种臂架；和比较器，被配置为将臂摆位移数据与预定臂摆位移阈值比较；若臂摆位移数据大于预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度低于验收标准；若臂摆位移数据不大于预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度符合验收标准。

这样的验收系统中，能够获取臂架在移动过程中振动的情况，从而确定导致该振动的地面或轨道的平整度是否能够满足需求，避免地面或轨道过于颠簸造成的辐射探测数据难以修复的现象，提高安检设备安装配置的可靠性，从而也能够提高辐射成像的准确度。

根据本公开的一些实施例的一个方面，提出一种安检方法，包括：在通过上文中提到的任意一种移动式辐射探测设备获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据；根据位移数据确定对于辐射探测数据的校正参数；根据校正参数校正辐射探测数据。

在一些实施例中，根据位移数据确定对于辐射探测数据的校正参数包括：根据臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数，其中，臂摆校正信息中包括位移数据与校正参数的关联关系；根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。

在一些实施例中，安检方法还包括：使用当前的移动式辐射探测设备空载走车；通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数；获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据；生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息。

在一些实施例中，在获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据包括：在臂架的振动幅度大于预定振动幅度阈值，或振动频率大于预定振动频率阈值的情况下，通过触发采集辐射探测数据的触发信号同步触发位移探测器采集探测数据，且辐射探测器和位移探测器的采集频率大于预定频率。

在一些实施例中，生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息包括：获取采集到相同位移数据的时刻下，辐射探测数据中各个探测器像素点的单点探测数据变化量；对采集到相同位移数据的时刻下，相同探测器像素点的多次的单点探测数据变化量取中位数，确定对应探测器像素点的校正参数；将每个探测器像素点的校正参数与对应的位移数据相关联，获取臂摆校正信息。

通过这样的方法，能够在辐射探测过程中及时获取臂架沿顶壁延伸方向两端的位移偏差，进而使用该位移数据校正辐射探测数据，提高移动式辐射探测设备的探测准确度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本公开的进一步理解，构成本公开的一部分，本公开的示意性实施例及其说明用于解释本公开，并不构成对本公开的不当限定。

图1为束流面和探测器臂架面相对位移的示意图。

图2A~C分别为本公开的臂架的一些实施例的示意图。

图3A~C分别为本公开的臂架的另一些实施例的示意图。

图4A~C分别为本公开的臂架的又一些实施例的示意图。

图5为本公开的移动式辐射探测设备的一些实施例的示意图。

图6为本公开的移动式辐射探测设备的部分结构的一些实施例的示意图。

图7为本公开的验收系统的一些实施例的示意图。

图8为本公开的安检方法的一些实施例的流程图。

具体实施方式

下面通过附图和实施例，对本公开的技术方案做进一步的详细描述。

由于臂架摆动会使图像质量变差，并对设备指标，如空间丝以及薄物质双能等造成严重的影响。为了提升移动式辐射探测设备的环境适应能力，减少调试的难度和成本，提升图像质量，特别是提升新的更加灵活的智轨等系统的环境适应能力，更加便于新产品的推广应用，需要消除图像臂摆。

相关技术中提出了在横竖探测器臂的两端、横竖探测器臂的交界处分别布置4个额外的横置探测器模块，通过检测扫描车在行走时束流强度的变化来检测并预估横竖探测器臂架的摆动的方法。但是，这种方法于对臂摆的数据采集只能在扫描通道内没有被检测物的情况下进行，如果通道内有被检测物体，则会遮挡横置探测器模块，使横置探测器模块检测到的X射线剂量发生变化；并且这样的方式无法将臂摆产生的剂量变化与被检测物质量厚度引起的剂量变化分离开，采集到的数据无法真正反映出臂架摆动对图像的影响。

本公开的臂架的一些实施例的示意图如图2A所示。

臂架包括顶臂201和纵臂202。顶壁201连接纵臂的对端可以与探测车连接。臂架上安装有横向位移探测设备，包括：位置标定机构和位移探测器。位置标定机构位于沿顶臂201的延伸方向的第一端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的探测车的侧面，朝向横向位移探测设备的位移探测器。位移探测器位于沿顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于顶臂、纵臂或与顶臂连接的车辆的侧面，与位置标定机构的安装高度一致，朝向位置标定机构，能够获取位置标定机构相对于位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出。在一些实施例中，位移数据为矢量，通过正负标识方向，如±2.5mm。位置标定机构与位移探测器不同时固定于顶臂。

在一些实施例中，第一端区域可以为203所示区域，则第二区域为204所示区域。位置标定机构固定顶臂或纵臂上，则位移探测器固定于顶臂或与顶臂连接的探测车的侧面。

在一些实施例中，第一端区域可以为204所示区域，则第二区域为203所示区域。位移探测器固定于顶臂或与顶臂连接的探测车的侧面，则位置标定机构固定顶臂或纵臂上。

这样的臂架能够及时获取臂架沿顶壁延伸方向两端的位移偏差，该位移偏差反应了臂架在移动过程中的臂摆情况，从而便于为辐射探测数据校正提供反应振动情况的基础数据，提高采用该臂架的移动式辐射探测设备的探测准确度。

在一些实施例中，位置标定机构可以包括激光发射设备，例如笔形激光发射器或激光点阵；位移探测器包括激光检测设备。这样的臂架利用激光探测的方式实现位移探测，有利于位移探测的反应速度和准确度。

在一些实施例中，位置标定机构可以包括图像标识，测量机构包括图像采集设备。图像采集设备通过对图像标识在图像采集范围内的位置变化、形状畸变的识别，确定位移数据。

这样的臂架上的位移探测设备的成本较低，有利于推广应用。

在一些实施例中，横向位移探测设备位于纵臂的延伸方向的顶端或底端的区域。如图2B所示，包括位移探测器和位置标定机构的横向位移探测设备可以位于顶端区域，如固定于顶臂两端中的一端与侧壁或车辆侧面，如（211,222）或（221,212），或固定于侧壁及车辆侧面，如（221,222），其中，222与211中一个为位移探测器，另一个为位置标定机构；212与221中一个为位移探测器，另一个为位置标定机构；221与222中一个为位移探测器，另一个为位置标定机构。在一些实施例中，顶端区域范围可以为高于被检测物体的高度，从而避免检测过程收到被检测物体的遮藏，提高检测的可靠性。

在一些实施例中，如图2B所示，包括位移探测器和位置标定机构的横向位移探测设备可以位于底端区域，固定在侧壁及车辆侧面，如（231,232），其中，232与231中一个为位移探测器，另一个为位置标定机构。在一些实施例中，底端区域范围可以为：在被检测物体为车辆的情况下，低于被检测车辆底盘的高度，从而减少检测过程被被检测车辆遮藏；同时，由于底部的臂摆大于顶部，这样的臂架能够提高检测的准确度。

在一些实施例中，臂架上包括多组横向位移探测设备，如图2B中设置的任意多组横向位移探测设备并存。不同横向位移探测设备的安装高度不同。这样的臂架上具备多组横向位移探测设备，结合多个位置点的探测能够进一步提高检测的准确度，从而有利于提高对于辐射探测数据的校正的准确度。

在一些实施例中，在臂架的纵臂的中部区域高度范围内，如图2B所示的221与231之间，也可以设置一组或多组横向位移探测设备，结合其他的横向位移探测设备的探测结果，能够进一步提高检测的准确度。

在一些实施例中，如图2C所示，臂架还包括纵向探测位移探测设备，包括：位置标定机构和位移探测器。位置标定机构和位移探测器的其中一个位于纵臂上接近底端的区域，固定于纵臂，如图2C中242的位置；另一个位于纵臂靠近顶端的区域，固定于顶臂，如图2C中241的位置。纵向探测位移探测设备的位置标定机构朝向纵向探测位移探测设备的位移探测器。

纵向探测位移探测设备的位移探测器朝向纵向探测位移探测设备的位置标定机构，能够获取纵向位移探测设备的位置标定机构相对于纵向位移探测设备的位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出。在一些实施例中，纵向探测位移探测设备（241,242）中，241与242中一个为位移探测器，另一个为位置标定机构。

这样的臂架能够通过纵向的探测，获得顶臂与纵臂的相对横向位移，进一步降低了使用过程中被被测物体遮挡的可能性，提高了横向臂摆校正的可靠性、鲁棒性，扩展了应用范围。

在一些实施例中，臂架上的多组位移探测设备，包括横向位移探测设备，或横向位移探测设备和纵向位移探测设备，其构成的元件、精准度可以相同或不同，例如，部分位移探测设备为激光发射设备和激光检测设备，部分位移探测设备为图像标识和图像采集设备。

这样的臂架能够兼顾准确度和成本，通过对于精准度、反应速度的需求，在不同位置设置不同的位移探测设备，能够结合应用场景灵活选择，提高了可控度和适应能力。

在一些实施例中，臂架的顶臂可以为如图2A~2C所示的水平设置，在一些实施例中，可以通过连接探测车时设置与探测车的垂直面的夹角为90度，使顶臂达到水平设置的效果。在另一些实施例中，如图3A~3C所示，臂架的顶臂301可以为与水平面的夹角在第一预定角度范围内，如[-45°，+45°]范围内，其中，负角度指与探测车的垂直面的夹角小于90的情况，正角度指与探测车的垂直侧立面的夹角大于90的情况。图3A~3C所示的即为约+10°。

这样的臂架结构能够提供更好的位移探测空间，降低位移探测被被测物体阻挡的可能性。在一些实施例中，顶臂可以为与水平面的夹角大于0度能够扩大纵臂上部署射线探测器的范围，有利于提高臂架在辐射探测中的覆盖范围，减少遗漏。

在一些实施例中，纵臂可以为如图2A~2C所示的直臂，也可以为3A~3C中所示的弧臂302。在一些实施例中，弧臂可以为向探测车的相反方向凸出，从而扩大探测车与纵臂之间可以容纳被测物体的空间，扩展应用范围。

在一些实施例中，如图3A所示，位置标定机构与位移探测设备的位置可以为（321,322），其中，321位于纵臂上靠上的位置，322位于探测车侧壁靠上的位置，321与322的高度相当。位置标定机构与位移探测设备中一个位于321，另一个位于322。

在一些实施例中，如图3B所示，位置标定机构与位移探测设备的位置可以为（321,312），其中，321位于纵臂上靠上的位置，312位于顶臂上靠近探测车的位置，位置标定机构与位移探测设备中一个位于321，另一个位于312。

在一些实施例中，如图3C所示，位置标定机构与位移探测设备的位置可以为（311,331），其中，311位于顶臂上靠近纵臂的位置，331位于纵臂上靠近底端的位置，位置标定机构与位移探测设备中一个位于311，另一个位于331。

在一些实施例中，纵臂可以如图2A~2C所示的垂直于顶臂，也可以如图4A~4C中纵臂402所示的非垂直于顶臂401。纵臂402与顶臂401的夹角可以在第二预定范围内，例如在[90°，135°]范围内，从而扩大探测车与纵臂之间可以容纳被测物体的空间，扩展应用范围。

在一些实施例中，如图4A所示，位置标定机构与位移探测设备的位置可以为（421,422），其中，421位于纵臂上靠上的位置，422位于探测车侧壁靠上的位置，421与422的高度相当。位置标定机构与位移探测设备中一个位于421，另一个位于422。

在一些实施例中，如图4B所示，位置标定机构与位移探测设备的位置可以为（421,412），其中，421位于纵臂上靠上的位置，412位于顶臂上靠近探测车的位置，位置标定机构与位移探测设备中一个位于421，另一个位于412。

在一些实施例中，如图4C所示，位置标定机构与位移探测设备的位置可以为（411,431），其中，411位于顶臂上靠近纵臂的位置，431位于纵臂上靠近底端的位置，位置标定机构与位移探测设备中一个位于411，另一个位于431。

本公开的移动式辐射探测设备的一些实施例的示意图如图5所示。臂架52可以为上文中提到的任意一种。臂架顶臂的一端与车辆51连接。车辆51能够通过运动带动臂架运动。在一些实施例中，车辆51上可以设置有安检设备的一部分54，在臂架的纵臂上设置有安检设备的另一部分。安检设备包括：射线发射器和射线探测器。射线发射器位于沿臂架的顶臂的延伸方向的第一端的区域，能够向射线探测器发射射线。射线探测器位于沿臂架的顶臂的延伸方向的第二端的区域，能够接收来自安检设备的射线发射器的射线，生成辐射探测数据。在一些实施例中，53为射线发射器，54为射线探测器；在一些实施例中，54为射线发射器，53为射线探测器。

这样的辐射探测设备能够及时获取臂架沿顶壁延伸方向两端的位移偏差，该位移偏差反应了臂架在移动过程中振动的情况，从而便于使用该位移数据校正辐射探测数据，提高移动式辐射探测设备的探测准确度。

在一些实施例中，移动式辐射探测设备的臂架的顶臂上也可以设置射线探测器，可以在如臂架的运行区域地面附近设置射线发射器，实现对被测物体的纵向探测。在一些实施例中，可以通过位于顶臂的射线探测器接收位于车辆51的射线探测器发射的射线，从而扩大探测呈像范围，减少射线损失。

在一些实施例中，移动式辐射探测设备还包括处理器，如图6所示，处理器603分别与臂架上的位移探测器602、和安检设备的射线探测器601通过有线或无线的方式信号连接。处理器603能够获取臂架的位移探测器输出的位移数据，并获取射线探测器输出的辐射探测数据，进而根据位移数据校正辐射探测数据。

在一些实施例中，安检设备和臂架上的位移探测设备在相同的触发器的触发下同步开始探测。在一些实施例中，可以通过触发采集辐射探测数据的触发信号同步触发位移探测器采集探测数据，且辐射探测器和位移探测器的采集频率大于预定频率，从而提高两种数据的同步性。

在一些实施例中，可以探测或估计臂架的振动幅度和振动频率。在臂架的振动幅度（如2.5mm）大于预定振动幅度阈值（如1mm），或振动频率（如20Hz）大于预定振动频率阈值（如15Hz）的情况下，提高对于臂摆位移数据和辐射探测数据同步性的要求，采用通过触发采集辐射探测数据的触发信号同步触发位移探测器采集探测数据，且辐射探测器和位移探测器的采集频率大于预定频率的方式。在臂架的振动幅度小于等于预定振动幅度阈值，且振动频率（如2~3Hz，或小于辐射探测器的数据采集频率）小于等于预定振动频率阈值的情况下，对数据同步程度的要求降低，可以分别采集辐射探测器和位移探测器。

在一些实施例中，在实际使用中，也可以根据臂架的振动频率、幅度选择数据采集的同步程度，进而确定是否需要采用同一个触发信号同步触发位移探测器和辐射探测器采集数据的操作，从而提高对于环境的适应性。

在一些实施例中，处理器603可以预存有包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息，基于该信息和位移数据，确定要使用的校正参数，并用确定的校正参数校正辐射探测数据，提高基于使用过程中得到的臂摆位移数据及时得到臂摆的校正参数，对辐射探测数据进行校正，提高了辐射成像的准确度，提高了辐射探测数据的校正效率。

在一些实施例中，处理器603还能够在空载走车情况下，通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数，并获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据。处理器603生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息，进而在应用过程中根据臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数，使用相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。空载走车指的是臂架内的区域不包括车辆或箱体，在探测车（如车辆51）的带动下运动并对空气执行探测的过程。在一些实施例中，考虑到获得的关联关系为离散的，可以基于离散的点获得每个探测器像素点的校正参数与臂摆位移数据的线性或非线性关系，从而确保在使用过程中能够匹配到对应的校正参数。

这样的移动式辐射探测设备能够通过空载走车的方式，获得无物体阻挡的情况下臂架对辐射探测装置和位移探测器的影响，以及对于辐射探测装置和位移探测器影响的关联性，从而生成与安检设备一一对应的臂摆校正信息，提高臂摆校正的设备自适应程度和准确度。

在一些实施例中，本公开提出一种验收系统。验收系统中包括上文中提到的任意一种臂架71，以及与臂架上位移探测器相连接的比较器72。比较器72能够将臂摆位移数据与预定臂摆位移阈值比较；若臂摆位移数据大于预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度低于验收标准；若臂摆位移数据不大于预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度符合验收标准。

这样的验收系统能够获取臂架在移动过程中振动的情况，从而确定导致该振动的地面或轨道的平整度是否能够满足需求，避免地面或轨道过于颠簸造成的辐射探测数据难以修复的现象，提高安检设备安装配置的可靠性，从而也能够提高辐射成像的准确度。

在一些实施例中，若臂摆上包括多个位移探测器，则可以设置与各个位移探测器相对应的预定臂摆位移阈值，在任一位移数据超过其对应的预定臂摆位移阈值时则认为不符合验收标准，从而提高验收的准确度。

本公开的安检方法的一些实施例的流程图如图8所示。

在步骤801中，在通过上文中提到的任意一种移动式辐射探测设备获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据。在一些实施例中，在臂架上具有多个位移探测器的情况下，获取每个位移探测器输出的位移数据。

在步骤802中，根据位移数据确定对于辐射探测数据的校正参数。在一些实施例中，可以预存臂摆校正信息，臂摆校正信息中包括位移数据与校正参数的关联关系，在使用过程中基于臂摆校正信息通过对于位移数据的匹配查询获得相关联的校正参数。在一些实施例中，臂摆校正信息可以为位移数据与校正参数的关联关系表，或位移数据与校正参数的关系曲线。

在一些实施例中，在位移探测器为多个的情况下，则臂摆校正信息中包括的是由多个位移探测器得到的位移数据构成的数组与校正参数的对应关系，从而提高基于臂摆校正信息匹配获取辐射探测数据校正参数的准确度。

在步骤803中，根据校正参数校正辐射探测数据。在一些实施例中，可以根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。

通过这样的方法，能够在辐射探测过程中及时获取臂架沿顶壁延伸方向两端的位移偏差，进而使用该位移数据校正辐射探测数据，提高移动式辐射探测设备的探测准确度。

在一些实施例中，为确保臂摆校正信息的准确性，考虑到安检设备个体差异，即使同一型号的设备对于颠簸的振动反应不完全相同，因此可以针对每个臂架进行空载走车以获得适应自身的臂摆校正信息。在一些实施例中，空载走车以生成臂摆校正信息过程中各探测器的位置与实际应用过程中相同，从而进一步确保校正的准确性。

在一些实施例中，在使用当前的移动式辐射探测设备进行安检探测前，可以先使用当前的移动式辐射探测设备空载走车。通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数，并获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据时间同步的位移数据，进而生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息。

通过这样的方法，能够通过空载走车的方式，获得无物体阻挡的情况下，臂架振动时对辐射探测装置和位移探测器的影响，以及对于辐射探测装置和位移探测器影响的关联性，从而生成与安检设备一一对应的臂摆校正信息，提高臂摆校正的设备自适应程度和准确度。

在一些实施例中，考虑到获得的关联关系为离散的，可以基于离散的点获得每个探测器像素点的校正参数与臂摆位移数据的线性或非线性关系，从而确保在使用过程中能够匹配到对应的校正参数。

在一些实施例中，可以在臂架的振动幅度大于预定振动幅度阈值，或振动频率大于预定振动频率阈值的情况下，通过触发采集辐射探测数据的触发信号同步触发位移探测器采集探测数据，且辐射探测器和位移探测器的采集频率大于预定频率，从而提高两种数据的同步性。

在一些实施例中，在生成臂摆校正数据的过程中，若在不同的时刻通过同一个位移探测器采集到了相同的位移数据，则获得每个对应时刻的辐射探测数据中各个探测器像素点的单点探测数据变化量；对采集到相同位移数据的时刻下，相同探测器像素点的多次的单点探测数据变化量取中位数，确定对应探测器像素点的校正参数，进而将每个探测器像素点的校正参数与对应的位移数据相关联，获取臂摆校正信息。通过这样的方法，能够降低偶然因素带来的影响，提高臂摆校正信息的准确度。

在一些实施例中，若处理的辐射探测数据为辐射成像，则单点探测数据可以为图像中对应像素点的亮度P，则单点探测数据变化量即为P值的变化量。这样的方式将数据校正转化为图像修复，更加直观和可靠。

上述辐射探测数据校正方法具有适用性强且校正效果好的特点，可以普遍应用于各类移动式检测设备上。不仅可以应用在组合式、车载式等传统检测设备上，也可以应用在灵活性较高的地面行走自适应扫描设备（智轨）等设备上。可以大幅提高图像质量，提高空间丝和空间分辨率以及薄材料的双能物质识别，使其不受环境（地面或轨道平整度、臂架刚性等）的影响。这样的方法还可以提高设备的环境适应能力，不必将过多的人力物力投入在地面/轨道平整性的调整、扫描速度及稳定性控制、臂架刚性的严格要求等等，降低成本提高效率。

在一些实施例中，在使用过程中，单独利用位移探测器的探测结果，还可以对地面或轨道的平整度进行验收。例如，将位移数据与预定臂摆位移阈值比较；若臂摆位移数据大于预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度低于验收标准；若臂摆位移数据不大于预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度符合验收标准。

通过这样的方法，能够避免地面或轨道过于颠簸造成的辐射探测数据难以修复的现象，提高安检设备安装配置的可靠性，从而也能够提高辐射成像的准确度。

本公开是参照根据本公开实施例的方法、设备（系统）和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

至此，已经详细描述了本公开。为了避免遮蔽本公开的构思，没有描述本领域所公知的一些细节。本领域技术人员根据上面的描述，完全可以明白如何实施这里公开的技术方案。

可能以许多方式来实现本公开的方法以及装置。例如，可通过软件、硬件、固件或者软件、硬件、固件的任何组合来实现本公开的方法以及装置。用于所述方法的步骤的上述顺序仅是为了进行说明，本公开的方法的步骤不限于以上具体描述的顺序，除非以其它方式特别说明。此外，在一些实施例中，还可将本公开实施为记录在记录介质中的程序，这些程序包括用于实现根据本公开的方法的机器可读指令。因而，本公开还覆盖存储用于执行根据本公开的方法的程序的记录介质。

最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本公开的技术方案而非对其限制；尽管参照较佳实施例对本公开进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本公开的具体实施方式进行修改或者对部分技术特征进行等同替换；而不脱离本公开技术方案的精神，其均应涵盖在本公开请求保护的技术方案范围当中。

Claims (18)

1.一种臂架，包括：

顶臂；

纵臂；

横向探测位移探测设备，包括：

位置标定机构，位于沿所述顶臂的延伸方向的第一端的区域，固定于所述顶臂、所述纵臂或与所述顶臂连接的探测车的侧面，朝向所述横向探测位移探测设备的位移探测器；和

位移探测器，位于沿所述顶臂的延伸方向的第二端的区域，固定于所述顶臂、所述纵臂或与所述顶臂连接的车辆的侧面，与所述位置标定机构的安装高度一致，朝向所述位置标定机构，被配置为获取所述位置标定机构相对于所述位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出，其中，所述横向探测位移探测设备的所述位置标定机构与所述位移探测器不同时固定于所述顶臂；

和

纵向探测位移探测设备，包括：

位置标定机构和位移探测器，其中一个位于所述纵臂上接近底端的区域，固定于所述纵臂；另一个位于所述纵臂靠近顶端的区域，固定于顶臂；

所述纵向探测位移探测设备的位置标定机构朝向所述纵向探测位移探测设备的位移探测器；和

所述纵向探测位移探测设备的位移探测器朝向所述纵向探测位移探测设备的位置标定机构，被配置为获取所述纵向位移探测设备的位置标定机构相对于所述纵向位移探测设备的位移探测器的位置变化情况，生成位移数据并输出。

2.根据权利要求1所述的臂架，其中，所述横向探测位移探测设备位于所述纵臂的延伸方向的顶端或底端的区域。

3.根据权利要求1所述的臂架，其中，

所述臂架上包括多组所述横向探测位移探测设备；不同所述横向探测位移探测设备的安装高度不同。

4.根据权利要求3所述的臂架，其中，

第一横向探测位移探测设备位于所述纵臂的延伸方向的顶端的区域；和

第二横向探测位移探测设备位于所述纵臂的延伸方向的底端的区域。

5.根据权利要求1~4任意一项所述的臂架，其中，所述位置标定机构包括激光发射设备，所述位移探测器包括激光检测设备。

6.根据权利要求5所述的臂架，其中，所述激光发射设备包括：笔形激光发射器或激光点阵。

7.根据权利要求1~4任意一项所述的臂架，其中，所述位置标定机构包括图像标识，所述位移探测器包括图像采集设备。

8.根据权利要求1~4任意一项所述的臂架，其中，所述臂架符合以下至少一项：

所述顶臂被配置为在使用过程中水平设置，或呈与水平面的夹角在第一预定角度范围内的方向设置；

所述纵臂为直臂或弧臂；或

所述纵臂与所述顶臂的夹角为直角，或夹角在第二预定角度范围内。

9.一种移动式辐射探测设备，包括：

权利要求1~8任意一项所述的臂架；

车辆，与所述臂架的顶臂的一端连接，被配置为通过运动带动所述臂架运动；和

安检设备，包括：

射线发射器，位于沿所述臂架的顶臂的延伸方向的第一端的区域，被配置为向射线探测器发射射线；

射线探测器，位于沿所述臂架的顶臂的延伸方向的第二端的区域，被配置为接收来自所述安检设备的射线发射器的射线，生成辐射探测数据。

10.根据权利要求9所述的移动式辐射探测设备，还包括处理器，被配置为：

获取所述臂架的位移探测器输出的位移数据；

获取所述射线探测器输出的辐射探测数据；和

根据所述位移数据校正所述辐射探测数据。

11.根据权利要求9所述的移动式辐射探测设备，其中，所述安检设备和所述臂架上的位移探测设备在相同的触发器的触发下同步开始探测。

12.根据权利要求10所述的移动式辐射探测设备，其中，

所述处理器还被配置为：

在空载走车情况下，通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数；

获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据；

生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息；

所述根据所述位移数据校正所述辐射探测数据包括：

根据所述臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数；

根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。

13.一种验收系统，包括：

权利要求1~8任意一项所述的臂架；和

比较器，被配置为将臂摆位移数据与预定臂摆位移阈值比较；若所述臂摆位移数据大于所述预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度低于验收标准；若所述臂摆位移数据不大于所述预定臂摆位移阈值，则确定地面或轨道的平整度符合所述验收标准。

14.一种安检方法，包括：

在通过权利要求9~12中任意一项所述的移动式辐射探测设备获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据；

根据所述位移数据确定对于所述辐射探测数据的校正参数；

根据所述校正参数校正所述辐射探测数据。

15.根据权利要求14所述的安检方法，其中，所述根据所述位移数据确定对于所述辐射探测数据的校正参数包括：

根据臂摆校正信息和探测过程中获取的位移数据确定相关联的校正参数，其中，所述臂摆校正信息中包括位移数据与校正参数的关联关系；

根据相关联的校正参数校正探测过程中获取的辐射探测数据。

16.根据权利要求15所述的安检方法，还包括：

使用当前的所述移动式辐射探测设备空载走车；

通过对探测图像的校正获取辐射探测数据的校正参数；

获取与空载走车情况下被校正的辐射探测数据同步的位移数据；

生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息。

17.根据权利要求14所述的安检方法，其中，在获取辐射探测数据的过程中，获取臂架上的位移探测器输出的位移数据包括：

在所述臂架的振动幅度大于预定振动幅度阈值，或振动频率大于预定振动频率阈值的情况下，通过触发采集辐射探测数据的触发信号同步触发所述位移探测器采集探测数据，且射线探测器和所述位移探测器的采集频率大于预定频率。

18.根据权利要求16所述的安检方法，其中，所述生成包括校正参数和位移数据的关联关系的臂摆校正信息包括：

获取采集到相同位移数据的时刻下，所述辐射探测数据中各个探测器像素点的单点探测数据变化量；

对采集到相同位移数据的时刻下，相同探测器像素点的多次的单点探测数据变化量取中位数，确定对应探测器像素点的校正参数；

将每个探测器像素点的校正参数与对应的位移数据相关联，获取所述臂摆校正信息。

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