CN113113451B - 显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种显示面板及显示装置，显示面板具有至少一弯折区，显示面板包括基板以及交叉设置于基板上的多条第一检测走线和多条第二检测走线。多条第一检测走线和多条第二检测走线位于不同层，并位于弯折区。多条第一检测走线沿第一方向排布，多条第一检测走线的第一端相连，多条第二检测走线沿第二方向排布，多条第二检测走线的第一端相连，第二方向和第一方向相交。其中，任意两条第一检测走线的第二端输出第一检测信号，任意两条第二检测走线的第二端输出第二检测信号，通过第一检测信号和第二检测信号检测位于弯折区的裂纹的位置。本申请能够有效检测显示面板中的弯折区是否产生裂纹，并判断裂纹的位置。

Description

显示面板及显示装置

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

目前，主动矩阵有机发光二极管(Active-matrix organic light-emittingdiode,AMOLED)显示面板因对比度高，可视角度广、响应速度快以及可弯折等特点有望取缔液晶显示面板成为下一代显示器的主流选择。而随着科技的进步与制程的发达，显示面板领域有很大的革新，可弯折显示面板更是其中具有十足潜力的新宠儿。

目前的可弯折显示面板技术发展迅速，在显示面板进行弯折信赖性测试时，由于显示面板受到反复的弯折应力，会出现信号线断裂的情况，进而导致显示异常，解析人员通常利用光学显微(Optical Microscope,OM)区观察裂纹的发生位置和程度，但是由于一些裂纹非常微小，很难在显微镜下观察到，并且裂纹往往发生在薄膜晶体管的底部膜层，表面膜层并未发生明显异常，很难在OM下观察到。

因此，如何发现显示面板中裂纹发生的位置以及开裂的程度，以便更好的追根溯源，是亟需解决的技术问题。

发明内容

本申请提供一种显示面板及显示装置，能够有效检测显示面板中的弯折区是否产生裂纹，并判断裂纹的位置。

本申请提供一种显示面板，所述显示面板具有至少一弯折区，所述显示面板包括：

基板；

多条第一检测走线，设置于所述基板上，并位于所述弯折区，多条所述第一检测走线沿第一方向排布，多条所述第一检测走线的第一端相连；

多条第二检测走线，设置于所述基板上，并位于所述弯折区，多条所述第二检测走线沿第二方向排布，所述第二方向和所述第一方向相交，多条所述第二检测走线的第一端相连，所述第二检测走线与所述第一检测走线位于不同层，且交叉设置；

其中，相邻两条所述第一检测走线的第二端输出第一检测信号，相邻两条所述第二检测走线的第二端输出第二检测信号，通过所述第一检测信号和所述第二检测信号检测位于所述弯折区的裂纹的位置。

可选的，在本申请的一些实施例中，每一所述第一检测走线的宽度相同，且相邻所述第一检测走线之间的间距相同，和/或，每一所述第二检测走线的宽度相同，且相邻所述第二检测走线之间的间距相同。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板具有至少一弯折轴，多条所述第一检测走线设置在所述弯折轴上，多条所述第二检测走线对称设置于所述弯折轴的两侧。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述所述显示面板还包括：

第一绝缘层，设置于所述基板上；

第一栅极图案，设置于所述第一绝缘层远离所述基板的一侧；

第二绝缘层，设置于所述第一栅极图案远离所述基板的一侧；

第二栅极图案，设置于所述第二绝缘层远离所述基板的一侧；

层间介质层，设置于所述第二栅极图案远离所述基板的一侧；

源漏极图案，设置于所述层间介质层远离所述基板的一侧；

其中，多条所述第一检测走线与所述第二栅极图案同层设置，多条所述第二检测走线与所述源漏极图案同层设置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述层间介质层中设有多个第一过孔和多个第二过孔，所述第一过孔和所述第二过孔均贯穿所述层间介质层，并延伸至所述第一绝缘层靠近所述基板的一侧；

其中，所述第一过孔位于相邻的所述第一检测走线之间，所述第二过孔位于相邻的所述第二检测走线之间。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括平坦层，所述平坦层设置于所述源漏极图案远离所述基板的一侧，所述平坦层的材料为有机材料，所述平坦层填充所述第一过孔和所述第二过孔。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括多条第三检测走线，多条所述第三检测走线位于所述弯折区，多条所述第三检测走线沿所述第二方向排布，多条所述第三检测走线的第一端连接在一起，所述第三检测走线与所述第一检测走线交叉设置，任意两条所述第三检测走线的第二端输出第三检测信号；

其中，多条所述第三检测走线与所述第一栅极图案同层设置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板还包括：

第一绝缘层，设置于所述基板上；

第一栅极图案，设置于所述第一绝缘层远离所述基板的一侧；

层间介质层，设置于所述第一栅极图案远离所述基板的一侧；

源漏极图案，设置于所述层间介质层远离所述基板的一侧；

其中，多条所述第一检测走线与所述第一栅极图案同层设置，多条所述第二检测走线与所述源漏极图案同层设置。

可选的，在本申请的一些实施例中，所述显示面板具有显示区和围绕所述显示区设置的非显示区，所述显示面板还包括多个第一检测端子和多个第二检测端子，所述第一检测端子和所述第二检测端子均位于所述非显示区；

每一所述第一检测走线的第二端与相应的所述第一检测端子连接，每一所述第二检测走线的第二端与相应的所述第二检测端子连接。

相应的，本申请还提供一种显示装置，其包括上述任一项所述的显示面板。

本申请提供一种显示面板和显示装置，显示面板中设置有多条沿第一方向排布的第一检测走线和多条沿第二方向排布的第二检测走线，多条所述第一检测走线的第一端相连，多条所述第二检测走线的第一端相连，多条第一检测走线和多条第二检测走线位于不同层，且交叉设置。则通过任意两条第一检测走线的第二端输出第一检测信号，任意两条第二检测走线的第二端输出第二检测信号，利用第一检测信号和第二检测信号可以有效检测显示面板中的弯折区是否产生裂纹，并判断裂纹的位置。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请提供的显示面板的第一俯视结构示意图；

图2是本申请提供的显示面板的第二俯视结构示意图；

图3是本申请提供的裂纹检测示意图；

图4是本申请提供的显示面板的第三俯视结构示意图；

图5是图1中的显示面板沿EE’处的第一剖面结构示意图；

图6是本申请提供的显示面板的第四俯视结构示意图；

图7是图6中的显示面板沿FF’处的剖面结构示意图；

图8是图1中的显示面板沿EE’处的第二剖面结构示意图；

图9是本申请提供的显示装置的俯视结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。此外，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，并不用于限制本申请。在本申请中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上”和“下”通常是指装置实际使用或工作状态下的上和下，具体为附图中的图面方向；而“内”和“外”则是针对装置的轮廓而言的。

请参阅图1，图1是本申请提供的显示面板100的第一俯视结构示意图。在本申请中，显示面板100具有至少一弯折区100A。显示面板100包括基板10、多条第一检测走线20以及多条第二检测走线30。多条第一检测走线20设置于基板10上，并位于弯折区100A。多条第一检测走线20沿第一方向X排布。多条第一检测走线20的第一端20a连接在一起。多条第二检测走线30设置于基板10上，并位于弯折区100A。多条第二检测走线30沿第二方向Y排布。第二方向Y和第一方向X相交。多条第二检测走线30的第一端30a连接在一起。第二检测走线30和第一检测走线20位于不同层，且交叉设置。

其中，任意两条第一检测走线20的第二端20b输出第一检测信号，任意两条第二检测走线30的第二端30b输出第二检测信号。通过第一检测信号和第二检测信号可检测位于弯折区100A的裂纹的位置。

具体的，在本申请中，由于多条第一检测走线20的第一端20a连接在一起，则任意两条第一检测走线20构成一检测回路。同理，任意两条第二检测走线30构成一检测回路。则第一检测信号和第二检测信号可以为检测回路的电阻值。当然，在本申请其它实施例中，第一检测信号和第二检测信号也可以是电压值或电流值，具体可根据具体的检测原理进行设定，本申请对此不作具体限定。

本申请以下各实施例均以第一检测信号和第二检测信号为电阻值为例进行说明。可以理解的是，利用相关检测仪器，比如万用表等电阻检测装置，可以通过任意两条第一检测走线20的第二端20b检测出该两条第一检测走线20的电阻值。若显示面板100中的膜层由于弯折出现裂纹，且裂纹延伸至该两条第一检测走线20所在的位置，则会导致第一检测走线20断裂或者连接不良，检测到的两条第一检测走线20的电阻值将趋向于兆欧或者无穷大，而未断裂或未产生裂纹的两条第一检测走线20的电阻值通常为千欧级。因此，可通过第一检测信号判断裂纹是否产生，以及裂纹在第一方向X上的位置。同理，利用第二检测走线30可以判断裂纹在第二方向Y上的位置。则结合裂纹在第一方向X以及在第二方向Y上的位置，可判断裂纹在显示面板100中的位置，便于后续进行修补等处理。

在本申请中，在达到检测效果的基础上，可以选择任意两条第一检测走线20形成检测回路，或者选择任意两条第二检测走线30形成检测回路。比如，当基板10上设有8条沿第一方向X排布的第一检测走线20时，可选择第一条第一检测走线20和第三条第一检测走线20形成检测回路，第三条第一检测走线20和第五条第一检测走线20形成检测回路，第五条第一检测走线20和第七条第一检测走线20形成检测回路，由此，可通过增大每一检测回路对应的区域面积，减少检测过程，快速检测显示面板100中是否存在裂纹。当然，也可分别由相邻的两条第一检测走线20形成检测回路，以输出多个第一检测信号，由此可以将弯折区100A划分为更多个小区域，从而使得检测出的裂纹位置更加精确。

本申请在显示面板100的弯折区100A中设置多条第一检测走线20和多条第二检测走线30，多条第一检测走线20和多条第二检测走线30位于不同层且交叉设置。其中，多条第一检测走线20的第一端20a连接在一起，以形成多个检测回路，多条第二检测走线30的第一端30a连接在一起，以形成多个检测回路。则相邻两条第一检测走线20的第二端20b可输出第一检测信号，相邻两条第二检测走线30的第二端30b可输出第二检测信号，通过第一检测信号和第二检测信号可以检测弯折区100A是否存在裂纹，并进一步判断裂纹的位置。此外，本申请通过检测任意两条第一检测走线20的电阻值和任意两条第二检测走线30的电阻值，不需要向第一检测走线20和第二检测走线30输入额外的信号，检测过程简单，降低了人力物力的损耗。

需要说明的是，本申请以下各实施例均以每相邻的两条第一检测走线20输出一第一检测信号，每相邻的两条第二检测走线30输出一第二检测信号为例进行说明，但不能理解为对本申请的限定。

在本申请中，显示面板100具有至少一弯折轴101。弯折区100A是显示面板100沿着弯折轴101弯折时形成的区域。由于显示面板100在弯折的过程中会产生应力，则位于弯折区100A处的膜层容易产生裂纹，进而影响显示面板100的品质。因此，本申请将第一检测走线20和第二检测走线30设置在弯折区100A，便于更快速地检测出显示面板100中出现的裂纹。

此外，由于弯折轴101处的弯折程度最大，产生裂纹的几率更高，因此可将多条第一检测走线20设置在弯折轴101上，多条第二检测走线30关于弯折轴101对称设置，以进一步提高检测效率。

在本申请中，优选的，第一方向X和第二方向Y垂直。多条第一检测走线20相互平行，多条第二检测走线30相互平行。此外，多条第一检测走线20的第一端20a可以通过第一连接线41连接在一起，多条第二检测走线30的第一端30a可以通过第二连接线42连接在一起。当然，第一方向X和第二方向Y也可以相交但不垂直，多条第一检测走线20可以并排设置但不平行，多条第二检测走线30可以并排设置但不平行，本申请对此不作具体限定。

在本申请中，第一检测走线20的条数或者第二检测走线30的条数至少为2。具体的，第一检测走线20可以设置为3条、4条、5条、6条或者更多条，第二检测走线30可以设置为3条、4条、5条、6条或者更多条，具体可根据显示面板100的尺寸以及显示面板100的实际产生裂纹的情况进行设计，本申请对此不作具体限定。

在本申请中，第一检测走线20和第二检测走线30的材料为金属或金属氧化物。具体的，第一检测走线20和第二检测走线30采用的材料可以为银(Ag)、铝(Al)、镍(Ni)、铬(Cr)、钼(Mo)、铜(Cu)、钨(W)或钛(Ti)中的任一种。上述金属的导电性好，成本较低，在保证第一检测走线20和第二检测走线30的导电性的同时可以降低生产成本。第一检测走线20和第二检测走线30采用的材料还可以为铟镓锌氧化物(IGZO)、铟锌锡氧化物(IZTO)、铟镓锌锡氧化物(IGZTO)、铟锡氧化物(ITO)、铟锌氧化物(IZO)、铟铝锌氧化物(IAZO)、铟镓锡氧化物(IGTO)或锑锡氧化物(ATO)中的任一种。上述透明金属氧化物材料具有很好的导电性和透明性，并且厚度较小，不会影响显示面板100的整体厚度。

此外，在本申请中，由于第一检测走线20和第二检测走线30的材料为金属或金属氧化物，因此具有良好的延展性，可以很好地平衡弯折区100A的弯折应力，从而最大程度减小膜层断裂的风险。

在本申请一些实施例中，每一第一检测走线20的宽度相同，且相邻第一检测走线20之间的间距相同。具体的，每一第一检测走线20的宽度为15微米至25微米，相邻第一检测走线20之间的间距为180微米至220微米。比如，每一第一检测走线20的宽度为15微米、18微米、20微米、22微米或者25微米。相邻第一检测走线20之间的间距为180微米、190微米、200微米、210微米或者220微米。

在本实施例中，每一第一检测走线20的宽度相同，且相邻第一检测走线20之间的间距相同，使得相邻第一检测走线20形成的检测回路的电阻值比较稳定，因此通过第一检测信号判断裂纹的位置，测试结果更加精准。

在本申请一些实施例中，每一第二检测走线30的宽度相同，且相邻第二检测走线30之间的间距相同。具体的，每一第二检测走线30的宽度为15微米至25微米，相邻第二检测走线30之间的间距为180微米至220微米。比如，每一第二检测走线30的宽度为15微米、18微米、20微米、22微米或者25微米。相邻第二检测走线30之间的间距为180微米、190微米、200微米、210微米或者220微米。

在本实施例中，每一第二检测走线30的宽度相同，且相邻第二检测走线30之间的间距相同，使得相邻第二检测走线30形成的检测回路的电阻值比较稳定，因此通过第二检测信号判断裂纹的位置，测试结果更加精准。

进一步的，在本申请中，显示面板100具有显示区AA和围绕显示区AA设置的非显示区NA。第一检测走线20和第二检测走线30均设置在非显示区NA，以避免影响显示面板100的画面显示。同时，若显示面板100的膜层存在裂纹，在裂纹延伸至显示区AA之前，在非显示区NA检测出该裂纹，便于进行后续修补等操作，可进一步避免裂纹影响显示面板100的画面显示。

请参阅图2，图2是本申请提供的显示面板100的第二俯视结构示意图。与图1所示的显示面板100的不同之处在于，在本实施例中，显示面板100还包括多个第一检测端子40和多个第二检测端子50。第一检测端子40和第二检测端子50均位于非显示区NA。第一检测端子40和第一检测走线20一一对应设置。第二检测端子50和第二检测走线30一一对应设置。每一第一检测走线20的第二端20b与相应的第一检测端子40连接。每一第二检测走线30的第二端30b与相应的第二检测端子50连接。

其中，第一检测端子40和第二检测端子50的材料均为导电材料。第一检测端子40和第二检测端子50的材料可以和第一检测走线20以及第二检测走线30的材料相同，在此不再赘述。此外，可设置每一第一检测端子40的形状尺寸相同，以使得每一第一检测端子40的电阻相等。可设置每一第二检测端子50的形状尺寸相同，以使得每一第二检测端子50的电阻相等。该设计可以保证每一检测回路的阻值相等，从而提高检测精确度。需要说明的是，第一检测端子40和第二检测端子50的阻值可以相同，也可以不同。

其中，第一检测端子40和第二检测端子50均位于非显示区NA。进一步的，第一检测端子40和第二检测端子50可以位于显示面板100的下边框处，以方便检测，且在检测时不破坏显示区AA的膜层，使检测更方便快捷。

需要说明的是，第一检测走线20的第二端20b可以通过连接线与位于下边框处的第一检测端子40连接，本申请对此不作具体限定。当然，在本申请一实施例中，可以设置第一检测端子40位于显示面板100的上边框处，第二检测端子50位于显示面板100的下边框处。在本申请另一实施例中，也可以设置第一检测端子40位于显示面板100的左边框处，第二检测端子50位于显示面板100的下边框处。

进一步的，请同时参阅图2和图3，图3是本申请提供的裂纹检测示意图。本实施例以第一检测端子40包括检测端子1、检测端子2、检测端子3以及检测端子4；第二检测端子50包括检测端子a、检测端子b、检测端子c以及检测端子d；以及显示面板100的膜层具有一裂纹A为例进行说明。

根据图中裂纹A的位置可知，与检测端子b连接的第二检测走线30可能断裂或者产生裂纹，与检测端子1以及检测端子2连接的第一检测走线20可能断裂或者产生裂纹，进而影响检测回路的阻值。

此时，通过检测端子1和检测端子2得到的第一检测信号的电阻值将趋向于兆欧或者无穷大或者异于常值；通过检测端子2和检测端子3得到的第二检测信号的电阻值将趋向于兆欧或者无穷大或者异于常值；通过检测端子3和检测端子4得到的第二检测信号的电阻值将为千欧级，即为正常值。通过检测端子a和检测端子b得到的第二检测信号的电阻值将趋向于兆欧或者无穷大或者异于常值；通过检测端子b和检测端子c得到的第二检测信号的电阻值将趋向于兆欧或者无穷大或者异于常值；通过检测端子c和检测端子d得到的第二检测信号的电阻值将为千欧级，即为正常值。则通过上述第一检测信号和第二检测信号可确定裂纹A位于区域B中，提高了检测效率，便于后续进行修补等处理。

请参阅图4，图4是本申请提供的显示面板100的第三俯视结构示意图。与图1所示的显示面板100的不同之处在于，本实施例中的显示面板100中设有两个由第一检测走线20和第二检测走线30组成的检测电路，其分别位于弯折区100A的两侧。

本实施例能够进一步提高显示面板100的裂纹检测效率。此外，显示面板100可以具有多个弯折区100A，因此显示面板100可根据实际情况设置多个由第一检测走线20和第二检测走线30组成的检测电路，本实施例不能理解为对本申请的限定。

请参阅图5，图5是图1中的显示面板100沿EE’处的第一剖面结构示意图。本申请提供的显示面板100包括但不限于基板10、缓冲层11、有源层图案12、第一绝缘层13、第一栅极图案14、第二绝缘层15、第二栅极图案16、层间介质层17以及源漏极图案18。

其中，缓冲层11设置于基板10上。有源层图案12设置于缓冲层11远离基板10的一侧。第一绝缘层13设置于有源层图案12远离基板10的一侧。第一栅极图案14设置于第一绝缘层13远离基板10的一侧。第二绝缘层15设置于第一栅极图案14远离基板10的一侧。第二栅极图案16设置于第二绝缘层15远离基板10的一侧。层间介质层17设置于第二栅极图案16远离基板10的一侧。源漏极图案18设置于层间介质层17远离基板10的一侧。

其中，多条第一检测走线20与第二栅极图案16同层设置，多条第二检测走线30与源漏极图案18同层设置。该设计可以简化显示面板100的膜层厚度，同时简化工艺制程。

可以理解的是，在实际测试中，由于第二绝缘层15以及层间介质层17由氧化铝、氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、碳化硅、氧化钛、氧化锆、氧化锌等的任一种或多种无机材料形成，因此在弯折区易产生裂纹，当裂纹延伸至第二栅极图案16以及源漏极图案18时，易造成薄膜晶体管失效，从而影响显示面板100的品质。因此，本申请将第一检测走线20与第二栅极图案16同层设置，将第二检测走线30与源漏极图案18同层设置，便于及时检测出裂纹，避免薄膜晶体管失效。

当然，在本申请一些实施例中，可以设置多条第一检测走线20与源漏极图案18同层设置，多条第二检测走线30与第二栅极图案16同层设置。在本申请另一些实施例中，可以设置第一检测走线20和/或第二检测走线30与第一栅极图案14同层设置。

需要说明的是，本申请中形成的薄膜晶体管为顶栅型薄膜晶体管，但不能理解为对本申请的限定。在本申请一些实施例中，也可采用底栅型薄膜晶体管结构。

进一步的，在本申请中，层间介质层17中设有多个第一过孔171和多个第二过孔172。第一过孔171和第二过孔172均贯穿层间介质层17，并延伸至第一绝缘层13靠近基板10的一侧。其中，第一过孔171位于相邻第一检测走线20之间，第二过孔172位于相邻第二检测走线30之间。

本申请通过在相邻的第一检测走线20之间设置第一过孔171，在相邻的第二检测走线30之间设置第二过孔172，利用第一过孔171和第二过孔172可有效阻止裂纹在膜层中的延伸。

可选的，在本申请一些实施例中，第一过孔171和第二过孔172可以延伸至缓冲层11靠近基板10的一侧。在本申请另一些实施例中，第一过孔171和第二过孔172可以延伸至第二绝缘层15靠近基板10的一侧。

进一步的，在本申请中，显示面板100还包括平坦层19。平坦层19设置于源漏极图案18远离基板10的一侧。平坦层19填充第一过孔171和第二过孔172。平坦层19的材料为有机材料。该有机材料可以是环氧树脂、聚酰亚胺(Polyimide,PI)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(Polyethylene glycol terephthalate,PET)、聚碳酸酯(Polycarbonate,PC)、聚乙烯(Polyethylene,PE)等。

本申请利用有机材料形成平坦层19，同时将平坦层19填充第一过孔171和第二过孔172，有机材料可有效缓解显示面板100弯折时产生的弯折应力，从而降低裂纹产生的几率，并进一步阻止已产生的裂纹向显示区延伸。

进一步的，在本申请中，显示面板100还包括阳极图案21、像素定义层22、发光功能层23、阴极层24以及封装层25。

其中，阳极图案21采用的材料可以为具有很好的导电性和透明性的金属氧化物材料。该金属氧化物材料可以是铟镓锌氧化物、铟锌锡氧化物、铟镓锌锡氧化物、铟锡氧化物、铟锌氧化物、铟铝锌氧化物、铟镓锡氧化物、锑锡氧化物中的任一种。

其中，发光功能层23包括向远离基板10方向层叠设置的空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层及电子注入层。在一些实施例中，发光功能层23还包括空穴阻挡层和电子阻挡层。发光功能层23的具体膜层设置在附图中未示出，且发光功能层23的膜层结构及其具体设置是本领域常用的技术手段，在此不再赘述。

其中，阴极层24的材料为钼、铝、铜或者纳米银等导电性优异的金属材料。

其中，封装层25通常包括交替层叠设置的至少一无机层和至少一有机层。无机层可以选自氧化铝、氧化硅、氮化硅、氮氧化硅、碳化硅、氧化钛、氧化锆、氧化锌等的无机材料，以阻水隔氧。有机层选自环氧树脂、聚酰亚胺、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚碳酸酯、聚乙烯等的有机材料，以提高显示面板100的柔韧性。

请参阅图6和图7，图6是本申请提供的显示面板100的第四俯视示意图，图7是图6中的显示面板100沿FF’处的剖面结构示意图。与图5所示的显示面板100的不同之处在于，本实施例提供的显示面板100还包括多条第三检测走线60。

具体的，多条第三检测走线60位于弯折区100A。多条第三检测走线60沿第二方向Y排布。多条第三检测走线60的第一端60a相连。第三检测走线60与第一检测走线20交叉设置，任意两条第三检测走线60的第二端60b输出第三检测信号。其中，多条第三检测走线60与第一栅极图案14同层设置。其中，多条第三检测走线60的第一端60a可以通过第三连接线43连接在一起。

其中，每一第三检测走线60的宽度相同，且相邻第三检测走线60之间的间距相同。具体的，每一第三检测走线60的宽度为15微米至25微米，相邻第三检测走线60之间的间距为180微米至220微米。比如，每一第三检测走线60的宽度为15微米、18微米、20微米、22微米或者25微米。相邻第三检测走线60之间的间距为180微米、190微米、200微米、210微米或者220微米。

在本实施例中，每一第三检测走线60的宽度相同，且相邻第三检测走线60之间的间距相同，使得相邻第三检测走线60形成的检测回路的电阻值比较稳定，因此通过第三检测信号判断裂纹的位置，测试结果更加精准。

在本实施例中，利用多条第一检测走线20和多条第三检测走线60可以检测第二绝缘层15中可能产生的裂纹；利用多条第一检测走线20和多条第二检测走线30可以检测层间介质层17中可能产生的裂纹。本实施例的检测走线设置方法能够使得检测的膜层更多、更精确，从而使检测更精确、更全面。

需要说明的是，在本实施例中，第三检测走线60在基板10上的正投影与第二检测走线30在基板10上的正投影重合，因此图6中未示出第二检测走线30。当然，在其他实施例中，第三检测走线60在基板10上的正投影与第二检测走线30在基板10上的正投影可以不重合，以减少显示面板100中的寄生电容，并且提高裂纹的检测精度。

请参阅图8，图8是图5是图1中的显示面板100沿EE’处的第二剖面结构示意图。与图5所示的显示面板100的不同之处在于，图5所示的显示面板100中的薄膜晶体管为双栅极型薄膜晶体管，本实施例提供的显示面板100中的薄膜晶体管为单栅极型薄膜晶体管。

具体的，显示面板100包括但不限于基板10、缓冲层11、有源层图案12、第一绝缘层13、第一栅极图案14、层间介质层17以及源漏极图案18。

其中，缓冲层11设置于基板10上。有源层图案12设置于缓冲层11远离基板10的一侧。第一绝缘层13设置于有源层图案远离基板10的一侧。第一栅极图案14设置于第一绝缘层13远离基板10的一侧。层间介质层17设置于第一栅极图案14远离基板10的一侧。源漏极图案18设置于层间介质层17远离基板10的一侧。

其中，多条第一检测走线20与第一栅极图案14同层设置，多条第二检测走线30与源漏极图案18同层设置。

相应的，本申请还提供一种显示装置。请参阅图9，图9是本申请提供的显示装置1000的俯视结构示意图。该显示装置1000包括显示面板100，显示面板100采用以上各实施例所述的显示面板100。该显示装置1000还可以包括其他装置，例如电路板等。显示装置1000的其他装置是本领域技术人员所熟知的技术手段，在此不再赘述。

此外，该显示装置可以是智能手机、平板电脑、电子书阅读器、智能手表、摄像机、游戏机等，本申请对此不作限定。

本申请提供一种显示装置1000，该显示装置1000包括显示面板100。显示面板100具有至少一弯折区，显示面板100包括基板以及交叉设置于基板上的多条第一检测走线和多条第二检测走线。多条第一检测走线和多条第二检测走线位于不同层，并位于弯折区。多条第一检测走线沿第一方向排布，多条第一检测走线的第一端连接在一起，多条第二检测走线沿第二方向排布，多条第二检测走线的第一端连接在一起，第二方向和第一方向相交。其中，相邻两条第一检测走线的第二端输出第一检测信号，相邻两条第二检测走线的第二端输出第二检测信号，通过第一检测信号和第二检测信号检测位于弯折区的裂纹的位置，从而有效检测显示面板100中的弯折区是否产生裂纹，并判断裂纹的位置。

以上对本申请提供显示面板及显示装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板具有至少一弯折区，所述显示面板包括：

基板；

多条第一检测走线，设置于所述基板上，并位于所述弯折区，多条所述第一检测走线沿第一方向排布，多条所述第一检测走线的第一端相连；

多条第二检测走线，设置于所述基板上，并位于所述弯折区，多条所述第二检测走线沿第二方向排布，所述第二方向和所述第一方向相交，多条所述第二检测走线的第一端相连，所述第二检测走线与所述第一检测走线位于不同层，且交叉设置；

其中，任意两条所述第一检测走线的第二端输出第一检测信号，任意两条所述第二检测走线的第二端输出第二检测信号，通过所述第一检测信号和所述第二检测信号检测位于所述弯折区的裂纹的位置。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，每一所述第一检测走线的宽度相同，且相邻两条所述第一检测走线之间的间距相同，和/或，每一所述第二检测走线的宽度相同，且相邻两条所述第二检测走线之间的间距相同。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有至少一弯折轴，多条所述第一检测走线设置在所述弯折轴上，多条所述第二检测走线对称设置于所述弯折轴的两侧。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

第一绝缘层，设置于所述基板上；

第一栅极图案，设置于所述第一绝缘层远离所述基板的一侧；

第二绝缘层，设置于所述第一栅极图案远离所述基板的一侧；

第二栅极图案，设置于所述第二绝缘层远离所述基板的一侧；

层间介质层，设置于所述第二栅极图案远离所述基板的一侧；

源漏极图案，设置于所述层间介质层远离所述基板的一侧；

其中，多条所述第一检测走线与所述第二栅极图案同层设置，多条所述第二检测走线与所述源漏极图案同层设置。

5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述层间介质层中设有多个第一过孔和多个第二过孔，所述第一过孔和所述第二过孔均贯穿所述层间介质层，并延伸至所述第一绝缘层靠近所述基板的一侧；

其中，所述第一过孔位于相邻的所述第一检测走线之间，所述第二过孔位于相邻的所述第二检测走线之间。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括平坦层，所述平坦层设置于所述源漏极图案远离所述基板的一侧，所述平坦层的材料为有机材料，所述平坦层填充所述第一过孔和所述第二过孔。

7.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多条第三检测走线，多条所述第三检测走线位于所述弯折区，多条所述第三检测走线沿所述第二方向排布，多条所述第三检测走线的第一端相连，所述第三检测走线与所述第一检测走线交叉设置，任意两条所述第三检测走线的第二端输出第三检测信号；

其中，多条所述第三检测走线与所述第一栅极图案同层设置。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括：

第一绝缘层，设置于所述基板上；

第一栅极图案，设置于所述第一绝缘层远离所述基板的一侧；

层间介质层，设置于所述第一栅极图案远离所述基板的一侧；

源漏极图案，设置于所述层间介质层远离所述基板的一侧；

其中，多条所述第一检测走线与所述第一栅极图案同层设置，多条所述第二检测走线与所述源漏极图案同层设置。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板具有显示区和围绕所述显示区设置的非显示区，所述显示面板还包括多个第一检测端子和多个第二检测端子，所述第一检测端子和所述第二检测端子均位于所述非显示区；

每一所述第一检测走线的第二端与相应的所述第一检测端子连接，每一所述第二检测走线的第二端与相应的所述第二检测端子连接。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的显示面板。

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