CN112782606A - 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统 - Google Patents

一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统 Download PDF

Info

Publication number
CN112782606A
CN112782606A CN202110088330.0A CN202110088330A CN112782606A CN 112782606 A CN112782606 A CN 112782606A CN 202110088330 A CN202110088330 A CN 202110088330A CN 112782606 A CN112782606 A CN 112782606A
Authority
CN
China
Prior art keywords
current
test
mainboard
precision
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN202110088330.0A
Other languages
English (en)
Inventor
隋鑫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority to CN202110088330.0A priority Critical patent/CN112782606A/zh
Publication of CN112782606A publication Critical patent/CN112782606A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/40Testing power supplies
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

本发明公开一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统,其中,服务器中电源模块的电流精度测试方法用于电流精度测试系统,电流精度测试系统包括上位机、电源模块、测试治具和主板;电流精度测试方法包括:上位机根据预定上电顺序,控制电源模块对测试治具和主板依次上电;上位机根据预定电流拉载脚本,通过测试治具对主板拉载电流,读取主板的测试电流;判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;若测试电流的精度不满足预设评估测试标准,则上位机调整测试治具的测量精度,以使测试电流的精度满足预设评估测试标准。本发明的技术方案能解决现有技术中手动测量电流精度,导致测试电流的结果不准确的问题。

Description

一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统
技术领域
本发明涉及云计算技术领域,尤其涉及一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统。
背景技术
服务器主板在开发阶段需要针对其上的与CPU供电相关的电源模块(如VCCIN、VCCSA和VCCIO等)进行针对性测试;这些针对性测试包括电流精度测试、功率及效率测试、电压切换测试和动态响应测试等。其中,电流精度测试是很重要的部分,通过将实际拉载的电流值和总线寄存器中读取的电流值进行对比,能够反映出电源模块的输出端功率状态;进一步第,将测试结果与设计规范要求进行对比,可以判断当前电源模块的设计是否能够满足设计规范要求。
针对电源模块的电流精度测试方案,通常会根据CPU平台选择相应的测试治具,并且配套搭配支架以及中介层板。中介层板能够起到模拟CPU在位的作用。将中介层板放在待测主板的原CPU位置,使用支架进行固定后将测试治具安装好后按照预定上电顺序,手动对主板上的CPU和电源等模块依次上电并拉载电流,进而读出寄存器的电流值,得到电流精度的测试结果,查看电流精度是否偏高或偏低。若存在偏差需要对测试结果进行调整优化,优化后需要进行重新测试,直至满足要求后结束测试。
然而,上述电流精度的测试方式,对服务器各结构的上电顺序有相应要求。现有的测试方式均为人工上电,若上电顺序错误或者拉载电流值过大可能会对治具造成损坏。
发明内容
本发明提供了一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统,旨在解决现有技术中手动测量电流精度,导致测试电流的结果不准确的问题。
为实现上述目的,根据本发明的第一方面,本发明提供了一种服务器中电源模块的电流精度测试方法,电流精度测试方法用于电流精度测试系统,电流精度测试系统包括上位机、电源模块、测试治具和主板;电流精度测试方法包括:
上位机根据预定上电顺序,控制电源模块对测试治具和主板依次上电;
上位机根据预定电流拉载脚本,通过测试治具对主板拉载电流,读取主板的测试电流;
判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;
若测试电流的精度不满足预设评估测试标准,则上位机调整测试治具的测量精度,以使测试电流的精度满足预设评估测试标准。
优选地,上位机根据预定电流拉载脚本,通过测试治具对主板拉载电流的步骤,包括:
按照需要拉载电流的预定电流范围和预定电流步长,设置对主板进行电流拉载的多个拉载电流值;
使用设置的多个拉载电流值,通过测试治具控制电源模块对主板拉载电流,得到主板的测试电流。
优选地,使用设置的多个拉载电流值,通过测试治具控制电源模块对主板拉载电流的步骤,包括:
对每一拉载电流值,按照预定测试次数对主板拉载电流,得到与拉载电流对应的多个中间测试电流值;
分别计算多个中间测试电流值的均值,得到主板的测试电流。
优选地,调整测试治具的测量精度的步骤包括:
选取不满足预设评估测试标准的测试电流中电流差值最大的测试电流,其中所述电流差值为测试电流与对应拉载电流的电流差值;
计算无拉载电流时读取的所述主板的测试电流值,作为所述测试治具的校准电流值;
判断所述电流差值最大的测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值还是负值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值,则减小所述校准电流值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为负值,则增大所述校准电流值。
优选地,判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准的步骤,包括:
计算测试电流与对应拉载电流的电流差值;
判断电流差值是否在预设评估测试标准规定的电流差值范围内;
若判定电流差值在预设评估测试标准规定的电流差值范围内,则按预定掉电顺序对测试治具和主板进行掉电,并生成测试治具的测试信息。
根据本发明的第二方面,本发明还提供了一种服务器中电源模块的电流精度测试系统,电流精度测试系统包括上位机、电源模块、测试治具和主板;电流精度测试方法包括:
上位机,用于根据预定上电顺序,控制电源模块对测试治具和主板依次上电;
上位机,还用于根据预定电流拉载脚本,通过测试治具对主板拉载电流,读取主板的测试电流;
上位机,还用于判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;
上位机,还用于若测试电流的精度不满足预设评估测试标准时,调整测试治具的测量精度,以使测试电流的精度满足预设评估测试标准。
优选地,上位机,具体还用于按照需要拉载电流的预定电流范围和预定电流步长,设置对主板进行电流拉载的多个拉载电流值;
测试治具,用于使用设置的多个拉载电流值对主板拉载电流,得到主板的测试电流。
优选地,测试治具,具体还用于对每一拉载电流值,按照预定测试次数控制电源模块对主板拉载电流,得到与拉载电流对应的多个中间测试电流值;
上位机,具体还用于分别计算多个中间测试电流值的均值,得到主板的测试电流。
优选地,上位机,具体还用于:
选取不满足预设评估测试标准的测试电流中电流差值最大的测试电流,该电流差值为测试电流与对应来自电流的电流差值;
计算无拉载电流时读取的所述主板的测试电流值,作为所述测试治具的校准电流值;
判断所述电流差值最大的测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值还是负值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值,则减小所述校准电流值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为负值,则增大所述校准电流值。
优选地,上位机具体还用于:
计算测试电流与对应拉载电流的电流差值;
判断电流差值是否在预设评估测试标准规定的电流差值范围内;
若判定电流差值在预设评估测试标准规定的电流差值范围内,则控制电源模块按预定掉电顺序对测试治具和主板进行掉电,并生成测试治具的测试信息。
综上,本申请提供的服务器中电源模块的电流精度测试方案,通过上位机根据预定上电顺序,控制电源模块对测试治具和主板依次上电,然后根据预定电流拉载脚本,通过测试治具对主板拉载电流,并读取主板的测试电流,在读取主板的测试电流后判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准,当不满足预设评估测试标准时,上位机调整测试治具的测量精度,从而使得测试电流的精度满足预设评估测试标准,综上,本申请的技术方案能够对服务器各结构的上电顺序进行自动精确的调控,并能够自动对主板进行电流拉载和评估,从而解决了现有技术中人工上电的测试方式容易导致上电顺序错误或拉载电流过大,进而对测试治具造成损坏的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的第一种服务器中电源模块的电流精度测试系统的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种服务器中电源模块的电流精度测试方法的流程示意图;
图3是图2所示实施例提供的一种主板电流拉载方法的流程示意图;
图4是图3所示实施例提供的一种主板电流拉载方法的流程示意图;
图5是图2实施例提供的一种测试治具测量精度调整方法的流程示意图;
图6是本发明实施例提供的第一种电流精度判断方法的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
附图标号说明:
标号 名称 标号 名称
1 上位机 2 电源模块
3 测试治具 4 主板
5 单片机 6 继电器
7 显示器
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明实施例的主要技术问题如下:
现有电流精度的测试方式,对主板的各个模块的上电顺序有相应要求。现有的测试方式均为人工上电,若上电顺序错误或者拉载电流值过大可能会对治具造成损坏。
为解决上述问题,参见图1,图1为本发明实施例提供的一种服务器中电源模块的电流精度测试系统的结构示意图。如图1所示,该电流精度测试系统包括上位机1、单片机5、继电器6、测试治具3、电源模块2和主板6。上位机1通过单片机5及继电器6,控制测试治具VRTT3及主板4的上电顺序。首先VRTT3上电,然后主板4上电,从而避免上电顺序发生错误造成的测试治具损坏。其中,电源模块2设置在主板4上。
上位机1包括显示器7,显示器7能够显示图形用户界面GUI,主板4连接上位机1,通过Python语言编写的预定电流拉载脚本通过测试治具VRTT对主板4拉载电流,从而进行电流精度测试;然后该电流精度的测试结果与预设评估测试标准SPEC进行对比,当测试结果不满足SPEC的要求时,调用GUI工具及相应的调试软件进行调整优化。
其中,在对主板4拉载电流后,需要抓取主板4上芯片的0x15寄存器(图中未标记)存储的测试电流值,并且取平均值计入结果;在计入结果后生成电流精度曲线。然后计算该电流精度曲线与标准曲线之间偏差,当偏差超过设定范围则调取芯片对应调试软件自动进行调优并重新抓取数据,最终得到优化后的电流精度结果,从而完成测试。
具体参见图2,图2为本发明提供的一种服务器中电源模块的电流精度测试方法的流程示意图。如图2所示,该电流精度测试方法用于图1所示的电流精度测试系统;本申请实施例提供的电流精度测试方法包括:
S110:上位机根据预定上电顺序,控制电源模块对测试治具和主板依次上电。
结合图1所示结构,本申请实施例通过单片机和继电器实现测试治具和主板的上电顺序的控制,具体地,首先单片机控制电源模块给测试治具VRTT上电,然后再给主板上电(具体给主板上的CPU或芯片上电),从而避免了上电顺序错误造成的测试治具损坏。
S120:上位机根据预定电流拉载脚本,通过测试治具控制电源模块对主板拉载电流,读取主板的测试电流。该预定电流拉载脚本使用Python脚本编写,通过设置条件参数,例如主板上芯片的芯片型号、待测电压和最大拉载电流等参数后,控制单片机及继电器上电,然后通过测试治具对主板进行拉载。通过该预定电流拉载脚本,能够控制测试治具调节电源模块对主板上芯片等结构施加的电流大小,并且主板上芯片的0X15寄存器会记录施加的测试电流的大小,因此读取该寄存器的测试电流大小即可读取得到上述主板的测试电流。
作为一种优选的实施例,如图3所示,该上位机根据预定电流拉载脚本,通过测试治具控制电源模块对主板拉载电流的步骤,包括:
S121:按照需要拉载电流的预定电流范围和预定电流步长,设置对主板进行电流拉载的多个拉载电流值。
S122:使用设置的多个拉载电流值,通过测试治具对主板拉载电流,得到主板的测试电流。
本申请实施例中,通过设置需要拉载电流的预定电流范围和预定电流步长,选取多个拉载电流值通过测试治具对主板拉载电流,从而对主板上的芯片进行测试,得到多个测试电流,从而方便进行比较和测量。
作为一种优选的实施例,如图4所示,该使用设置的多个拉载电流值,通过测试治具控制电源模块对主板拉载电流的步骤,具体包括:
S1221:对每一拉载电流值,按照预定测试次数对主板拉载电流,得到与拉载电流对应的多个中间测试电流值;
S1222:分别计算多个中间测试电流值的均值,得到主板的测试电流。
本申请实施例提供的技术方案中,对每一拉载电流值,按照预定测试次数(如100次)对主板拉载电流,能够得到数量对应的多个中间测试电流值;然后对该多个中间测试电流值取均值,得到主板的测试电流。这样能够对每一拉载电流值均得到较为准确的测试电流,进而稳定测试曲线。例如,设置0-400A的预定电流范围,然后以最大电流值400A的1/20,即20A为预定电流步长,对主板进行电流拉载;针对每个拉载的电流,读取主板上0X15寄存器的测试电流;然后对该测试电流读取100次,然后取平均值即可作为主板最终的测试电流。因为设置有多个拉载电流,这样就能够得到数量对应的多个测试电流,其中以400A电流范围为例,这样就能够得到21个测试电流。
因为0x15寄存器的值存在跳变,这样相比于现有的测试方法,本申请实施例提供的技术方案在拉载电流后抓取0x15寄存器值100次取平均计入结果,更为准确,进一步提高了测试的可靠性。
S130:判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;若测试电流的精度不满足预设评估测试标准,则执行步骤S140。
作为一种优选的实施例,如图5所示,该判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准的步骤具体包括:
S131:计算测试电流与对应拉载电流的电流差值;
S132:判断电流差值是否在预设评估测试标准规定的电流差值范围内;若判定电流差值在预设评估测试标准规定的电流差值范围内,则执行步骤S133。
S133:按预定掉电顺序对测试治具和主板进行掉电,并生成测试治具的测试信息。
具体地因为测试电流与拉载电流相对应,这样通过比较两者的电流差值即可确定释放满足预设评估测试标准spec,将该电流差值与预设评估测试标准规定的电流差值范围,例如spec的正负0.7%进行对比;当电流差值超出该范围时,即确定该测试电流不满足spec的要求,这是即可在上位机的图形用户界面GUI中调用对应的调试软件进行调测优化。
通过计算测试电流与对应拉载电流的电流差值,然后判断该电流差值是否在预设评估测试标准规定的电流差值范围内,在确定该电流差值在预设评估测试标准规定的范围内时,即可生成测试治具的测试信息,从而实现对被测电源的有效测量。当电流差值不在预设评估测试标准规定的电流差值范围内则说明测试治具的测量精度不够,此时需要调整测试治具的测量精度,进而得到准确的供电电源的测量电流。
S140:上位机调整测试治具的测量精度,以使测试电流的精度满足预设评估测试标准。具体地,针对不满足预设评估测试标准要求的测量点,需要调节该测试治具的校准电流值,从而提高测试治具的测量精度。
具体地,作为一种优选的实施例,如图6所示,该上位机调整测试治具的测量精度的步骤具体包括:
S141:选取不满足预设评估测试标准的测试电流中电流差值最大的测试电流,该电流差值为测试电流与对应拉载电流的差值;
S142:计算无拉载电流时读取的主板的测试电流值,作为测试治具的校准电流值;
S143:判断电流差值最大的测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值还是负值;若为正值,则执行步骤S144;若为负值,则执行步骤S145。
S144:减小校准电流值;
S145:增大校准电流值。
具体地,可选取与spec偏差最小和最大的两个测量点进行调整优化,使用偏差最大的测试电流,然后计算无拉载电流时读取的主板上0x15寄存器中的测试电流值作为校准电流值I_OFFSET,然后当该测试电流与对应来自电流的电流差值为正值时,减小校准电流值,具体地,可以减小0.25A,然后再次通过测试治具对主板测试得到测试电流,然后计算电流偏差;若电流偏差满足预设评估测试标准,则生成评估报告,若不满足则继续减小校准电流值。同理,在该测试电流与对应拉载电流的电流差值为负值时,增大校准电流值,例如可增大0.25A,调整后使用测试治具重新对主板拉载电流,进行测试。另外使用电流差值最小的量测点进行校验,在调整测试治具的校准电流值后,使用该电流差值最小的测试电流值,作为拉载电流输入至测试治具中,确定主板的测试电流值的电流偏差是否在spec规定的范围内,若是,则不需要再进行调整;若不在该范围内则需要再次调整该校准电流值。
通过选取电流差值最大的测试电流,计算无拉载电流时读取得到的主板的测试电流值,作为测试治具的校准电流值,然后通过测试电流与对应拉载电流的电流差值的大小关系,就能够对测试治具的校准电流进行增大或减小,提高测试治具对供电电源的测量精度。
另外,本申请需要对多个拉载电流进行测量,这样在调整测试治具的测量精度后需要对所有存在偏差的量测点进行复测,再与预设评估测试标准进行比较,当所有的量测点均符合该标准时即可进行掉电操作,生成测试报告。
综上,本申请提供的服务器中电源模块的电流精度测试方法,通过上位机根据预定上电顺序,控制电源模块对测试治具和主板依次上电,然后根据预定电流拉载脚本,通过测试治具对主板拉载电流,并读取主板的测试电流,在读取主板的测试电流后判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准,当不满足预设评估测试标准时,上位机调整测试治具的测量精度,从而使得测试电流的精度满足预设评估测试标准,综上,本申请的技术方案能够对服务器各结构的上电顺序进行自动精确的调控,并能够自动对主板进行电流拉载和评估,从而解决了现有技术中人工上电的测试方式容易导致上电顺序错误或拉载电流过大,进而对测试治具造成损坏的问题。
另外,基于上述方法实施例的同一构思,本发明实施例还提供了服务器中电源模块的电流精度测试系统,用于实现本发明的上述方法,由于该系统实施例解决问题的原理与上述方法相似,因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果,在此不再一一赘述。
参见图1,图1为本发明实施例提供的一种服务器中电源模块2的电流精度测试系统的结构示意图。如图1所示,该电流精度测试系统包括上位机1、电源模块2、测试治具3和主板4;电流精度测试方法包括:
上位机1,用于根据预定上电顺序,控制电源模块2对测试治具3和主板4依次上电;具体地,本申请通过单片机5控制继电器6,从而控制测试治具3和主板4的依次上电。
上位机1,还用于根据预定电流拉载脚本,通过测试治具3控制电源模块2对主板4拉载电流,得到主板4的测试电流;
上位机1,还用于判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;
上位机1,还用于若测试电流的精度不满足预设评估测试标准时,调整测试治具3的测量精度,以使测试电流的精度满足预设评估测试标准。
本申请提供的服务器中电源模块2的电流精度测试系统,通过上位机1根据预定上电顺序,控制电源模块2对测试治具3和主板4依次上电,然后根据预定电流拉载脚本,通过测试治具3对主板4拉载电流,并读取主板4的测试电流,在读取主板4的测试电流后判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准,当不满足预设评估测试标准时,上位机1调整测试治具3的测量精度,从而使得测试电流的精度满足预设评估测试标准,综上,本申请的技术方案能够对服务器各结构的上电顺序进行自动精确的调控,并能够自动对主板4进行电流拉载和评估,从而解决了现有技术中人工上电的测试方式容易导致上电顺序错误或拉载电流过大,进而对测试治具3造成损坏的问题。
作为一种优选的实施例,如图1所示,本申请实施例提供的上位机1,具体还用于按照测试治具3的截止电流和预定电流步长,设置对主板4进行拉载电流的多个拉载电流值;
测试治具3,用于使用设置的多个拉载电流值对主板4拉载电流,得到主板4的测试电流。
作为一种优选的实施例,如图1所示,本申请实施例提供的测试治具3,具体还用于对每一拉载电流值,按照预定测试次数控制电源模块2对主板4拉载电流,得到与拉载电流对应的多个中间测试电流值;
上位机1,具体还用于分别计算多个中间测试电流值的均值,得到主板4的测试电流。
作为一种优选的实施例,如图1所示,本申请实施例提供的上位机1,具体还用于:
获取测试电流包含的最大偏差电流和最小偏差电流;
将最大偏差电流和最小偏差电流作为测试治具3的截止电流;
使用预定电流间隔调整测试治具3的预定电流步长,得到新的预定电流步长;
按照截止电流和新的预定电流步长,计算对主板4进行拉载电流的多个测试电流值;
使用多个测试电流值通过测试治具3对主板4拉载电流,得到新的测试电流;
重复判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准的步骤。
作为一种优选的实施例,如图1所示,本申请实施例提供的上位机1具体还用于:
计算测试电流与对应拉载电流的电流差值;
判断电流差值是否在预设评估测试标准规定的电流差值范围内;
若判定电流差值在预设评估测试标准规定的电流差值范围内,则控制电源模块2按预定掉电顺序对测试治具3和主板4掉电,并生成测试治具3的测试信息。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
应当注意的是,在权利要求中,不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中,这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种服务器中电源模块的电流精度测试方法,其特征在于,所述电流精度测试方法用于电流精度测试系统,所述电流精度测试系统包括上位机、电源模块、测试治具和主板;所述电流精度测试方法包括:
所述上位机根据预定上电顺序,控制所述电源模块对所述测试治具和所述主板依次上电;
所述上位机根据预定电流拉载脚本,通过所述测试治具对所述主板拉载电流,读取所述主板的测试电流;
判断所述测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;
若所述测试电流的精度不满足预设评估测试标准,则所述上位机调整所述测试治具的测量精度,以使所述测试电流的精度满足所述预设评估测试标准。
2.根据权利要求1所述的电流精度测试方法,其特征在于,所述上位机根据预定电流拉载脚本,通过所述测试治具对所述主板拉载电流的步骤,包括:
按照需要拉载电流的预定电流范围和预定电流步长,设置对所述主板进行电流拉载的多个拉载电流值;
使用设置的所述多个拉载电流值,通过所述测试治具对所述主板拉载电流,得到所述主板的测试电流。
3.根据权利要求2所述的电流精度测试方法,其特征在于,所述使用设置的多个拉载电流值,通过所述测试治具控制所述电源模块对所述主板拉载电流的步骤,包括:
对每一拉载电流值,按照预定测试次数对所述主板拉载电流,得到与所述拉载电流对应的多个中间测试电流值;
分别计算所述多个中间测试电流值的均值,得到所述主板的测试电流。
4.根据权利要求1所述的电流精度测试方法,其特征在于,所述调整测试治具的测量精度的步骤包括:
选取不满足预设评估测试标准的测试电流中电流差值最大的测试电流,所述电流差值为测试电流与对应拉载电流的差值;
计算无拉载电流时读取的所述主板的测试电流值,作为所述测试治具的校准电流值;
判断所述电流差值最大的测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值还是负值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值,则减小所述校准电流值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为负值,则增大所述校准电流值。
5.根据权利要求1所述的电流精度测试方法,其特征在于,所述判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准的步骤,包括:
计算所述测试电流与对应拉载电流的电流差值;
判断所述电流差值是否在所述预设评估测试标准规定的电流差值范围内;
若判定所述电流差值在所述预设评估测试标准规定的电流差值范围内,则按预定掉电顺序对所述测试治具和所述主板进行掉电,并生成所述测试治具的测试信息。
6.一种服务器中电源模块的电流精度测试系统,其特征在于,所述电流精度测试系统包括上位机、电源模块、测试治具和主板;所述电流精度测试方法包括:
所述上位机,用于根据预定上电顺序,控制所述电源模块对所述测试治具和所述主板依次上电;
所述上位机,还用于根据预定电流拉载脚本,通过所述测试治具对所述主板拉载电流,读取所述主板的测试电流;
所述上位机,还用于判断所述测试电流的精度是否满足预设评估测试标准;
所述上位机,还用于若所述测试电流的精度不满足预设评估测试标准时,调整所述测试治具的测量精度,以使所述测试电流的精度满足所述预设评估测试标准。
7.根据权利要求6所述的电流精度测试系统,其特征在于,
所述上位机,具体还用于按照需要拉载电流的预定电流范围预定电流步长,设置对所述主板进行电流拉载的多个拉载电流值;
所述测试治具,用于使用设置的所述多个拉载电流值对所述主板拉载电流,得到所述主板的测试电流。
8.根据权利要求7所述的电流精度测试系统,其特征在于,
所述测试治具,具体还用于对每一拉载电流值,按照预定测试次数控制所述电源模块对所述主板拉载电流,得到与所述拉载电流对应的多个中间测试电流值;
所述上位机,具体还用于分别计算所述多个中间测试电流值的均值,得到所述主板的测试电流。
9.根据权利要求6所述的电流精度测试系统,其特征在于,所述上位机,具体还用于:
选取不满足预设评估测试标准的测试电流中电流差值最大的测试电流,所述电流差值为测试电流与对应拉载电流的差值;
计算无拉载电流时读取的所述主板的测试电流值,作为所述测试治具的校准电流值;
判断所述电流差值最大的测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值还是负值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为正值,则减小所述校准电流值;
若判定所述测试电流与对应拉载电流的电流差值为负值,则增大所述校准电流值。
10.根据权利要求6所述的电流精度测试系统,其特征在于,所述上位机具体还用于:
计算所述测试电流与对应拉载电流的电流差值;
判断所述电流差值是否在所述预设评估测试标准规定的电流差值范围内;
若判定所述电流差值在所述预设评估测试标准规定的电流差值范围内,则按预定掉电顺序对所述测试治具和所述主板进行掉电,并生成所述测试治具的测试信息。
CN202110088330.0A 2021-01-22 2021-01-22 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统 Withdrawn CN112782606A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110088330.0A CN112782606A (zh) 2021-01-22 2021-01-22 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110088330.0A CN112782606A (zh) 2021-01-22 2021-01-22 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112782606A true CN112782606A (zh) 2021-05-11

Family

ID=75758558

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110088330.0A Withdrawn CN112782606A (zh) 2021-01-22 2021-01-22 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112782606A (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113868040A (zh) * 2021-08-30 2021-12-31 苏州浪潮智能科技有限公司 一种Psys自动测试系统、方法、搭建方法、装置
CN114442019A (zh) * 2021-12-31 2022-05-06 苏州浪潮智能科技有限公司 一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备
CN115201611A (zh) * 2022-07-29 2022-10-18 苏州浪潮智能科技有限公司 一种cpu的vr供电稳定性的测试方法及相关组件
WO2023134315A1 (zh) * 2022-01-17 2023-07-20 苏州浪潮智能科技有限公司 获取电流值方法、装置以及非易失性可读存储介质

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113868040A (zh) * 2021-08-30 2021-12-31 苏州浪潮智能科技有限公司 一种Psys自动测试系统、方法、搭建方法、装置
CN113868040B (zh) * 2021-08-30 2023-07-25 浪潮(山东)计算机科技有限公司 一种Psys自动测试系统、方法、搭建方法及装置
CN114442019A (zh) * 2021-12-31 2022-05-06 苏州浪潮智能科技有限公司 一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备
CN114442019B (zh) * 2021-12-31 2023-11-14 苏州浪潮智能科技有限公司 一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备
WO2023134315A1 (zh) * 2022-01-17 2023-07-20 苏州浪潮智能科技有限公司 获取电流值方法、装置以及非易失性可读存储介质
CN115201611A (zh) * 2022-07-29 2022-10-18 苏州浪潮智能科技有限公司 一种cpu的vr供电稳定性的测试方法及相关组件
CN115201611B (zh) * 2022-07-29 2024-01-19 苏州浪潮智能科技有限公司 一种cpu的vr供电稳定性的测试方法及相关组件

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112782606A (zh) 一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统
US7096140B2 (en) Test system, test method and test program for an integrated circuit by IDDQ testing
US6366108B2 (en) System and method for detecting defects within an electrical circuit by analyzing quiescent current
CN109813999B (zh) 一种配电网故障诊断算法自动测试平台、方法及应用
CN112649719B (zh) 一种芯片中线性稳压器的测试方法、装置以及设备
US8224599B2 (en) System and method for automatic voltage range measurement
CN116449277A (zh) 一种用于ate测试设备的检测校准系统及其控制方法
WO2022007711A1 (zh) 一种车辆的蓄电池检测的方法以及电池检测设备
US8095246B2 (en) System and method for automatically determining temperature tolerance range
CN112945418B (zh) 集成芯片的测温装置及测温方法
CN112067165A (zh) 温度传感器精度测试系统、测试方法、装置及存储介质
CN114780440B (zh) 一种软件升级版本正确性的检测方法及装置
CN114121137B (zh) 一种Nand Flash颗粒功耗测试系统及方法
US6101458A (en) Automatic ranging apparatus and method for precise integrated circuit current measurements
CN115824033A (zh) 集成电路的表面平整度测试方法、设备和系统
CN111781553B (zh) 一种分压器校验系统及方法
US11067623B2 (en) Test system and method of operating the same
CN113656318A (zh) 软件版本测试方法、装置及计算机设备
CN106941552B (zh) 一种移动终端关机性能评估方法
CN117310454B (zh) 芯片测试方法及相关装置
JP2009031129A (ja) 試験装置及び試験方法
CN114442019B (zh) 一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备
CN107911525B (zh) 手机应用耗电量检测方法及装置
Kis et al. ATS-PCB: An Effective Automated Testing System for Advanced Driver Assistance Systems
CN107193746B (zh) 一种移动终端开机性能评估方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20210511