CN114780440B - 一种软件升级版本正确性的检测方法及装置 - Google Patents

一种软件升级版本正确性的检测方法及装置 Download PDF

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Abstract

本申请提供一种软件升级版本正确性的检测方法及装置。所述方法包括：分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行仿真，并对各自的仿真信号进行采样，利用插值函数分别对采样结果进行处理，获取各自对应的插值曲线，利用DP算法分别获取描述插值曲线的目标点，根据目标点确定对应插值曲线的形状标准值后，根据两条插值曲线的形状标准值确定第一相似度，如果第一相似度满足要求，则根据每条插值曲线上每个采样点的纵坐标值，确定两条插值曲线的第二相似度，如果第二相似度也满足要求，则确定待测软件通过正确性检测。整个过程中使用DP算法进行处理，因此参与运算的目标点的数量很少，进而可以极大地缩短正确性检测的耗时，检测成本也较低。

Description

一种软件升级版本正确性的检测方法及装置
技术领域
本申请涉及软件自动测试技术领域，特别涉及一种软件升级版本正确性的检测方法及装置。
背景技术
EDA（Electronics Design Automation，电子设计自动化）软件，比如SPICE（Simulation program with integrated circuit emphasis，通用模拟电路仿真器），是设计和仿真集成电路的必备工具，在仿真时，可以根据输入信号对集成电路中各个节点的输出信号进行仿真，比如仿真每个节点输出的电压信号或电流信号。
随着半导体工艺的不断进步，EDA软件也要随之不断开发升级版本，升级版本甚至有可能是与旧版本差异较大的革命性版本。与一般软件在开发完成之后就可以定型，并且在未来的使用和维护过程中，只需要在发现错误（Bug）后，进行打补丁操作或者进行版本更新不同，由于EDA软件在使用过程中是不允许出现Bug的，因此开发难度较大，而且对每个升级版本均需进行回归测试。
目前对EDA软件的升级版本进行回归测试，首先，检测测试用例是否能在升级版本上正常运行，如果在运行过程中既不出现错误报告，也不出现进程非正常终止，则认为测试用例能够在升级版本上正常运行，然后，检测升级版本的正确性，即检测升级版本内部的仿真结果是否正确，检测升级版本的正确性这一步骤主要通过大量的开发测试来完成，进而导致回归测试过程耗时较长，而且成本也较高。
发明内容
本申请提供了一种软件升级版本正确性的检测方法及装置，可用于解决现有软件升级版本正确性检测主要通过大量的开发测试来完成，进而导致回归测试过程耗时较长，而且成本也较高的技术问题。
第一方面，本申请实施例提供一种软件升级版本正确性的检测方法，包括：
分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行模拟仿真，并分别获取所述测试电路响应于预设输入信号，从输出端口输出的标准信号和待测信号，其中，所述标准软件为已通过正确性检测的软件，所述待测软件为所述标准软件的升级版本软件；
分别对所述标准信号和所述待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点；
利用预设插值函数分别对多个标准信号点和多个待测信号点进行处理，获取第一曲线和第二曲线；
利用DP算法分别获取描述所述第一曲线的形状的多个第一目标点，以及描述所述第二曲线的形状的多个第二目标点；
根据多个第一目标点，以及所述第一目标点的采样权重，确定所述第一曲线的第一形状标准值；
根据多个第二目标点，以及所述第二目标点的采样权重，确定所述第二曲线的第二形状标准值；
根据所述第一形状标准值和所述第二形状标准值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度；
如果所述第一相似度小于或等于第一预设阈值，则根据所述第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和所述第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度；
如果所述第二相似度小于或等于第二预设阈值，则生成所述待测软件通过正确性检测的判定结果。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，所述分别对所述标准信号和所述待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点，包括：
按第一预设采样步长对所述标准信号进行采样，得到多个第一信号点；
按第二预设采样步长对所述待测信号进行采样，得到多个第二信号点；
如果各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值均不存在量级差异，则检测所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长是否相同；
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长不相同，则从所有第一信号点的横坐标值，以及所有第二信号点的横坐标值中确定第一最小横坐标值和第一最大横坐标值；
在所述第一最小横坐标值和所述第一最大横坐标值构成的第一采样区间中，按照第一均匀预设采样步长对所述标准信号进行重新采样，得到多个标准信号点；
在所述第一采样区间中，按照所述均匀预设采样步长对所述待测信号进行重新采样，得到多个待测信号点。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，还包括：
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长相同，则将所述第一信号点确定为标准信号点，并将所述第二信号点确定为待测信号点。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，还包括：
如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，或者各个第一信号点的横坐标值存在量级差异，则分别对所述第一信号点和所述第二信号点进行对数变换，得到第一变换信号点和第二变换信号点；
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长不相同，则从所有第一变换信号点的横坐标值，以及所有第二变换信号点的横坐标值中确定第二最小横坐标值和第二最大横坐标值；
在所述第二最小横坐标值和所述第二最大横坐标值构成的第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对标准变换信号进行采样，得到多个标准信号点，所述标准变换信号为所述标准信号进行对数变换后得到的信号；
在所述第二采样区间中，按照所述第二均匀预设采样步长对待测变换信号进行采样，得到多个待测信号点，所述待测变换信号为所述待测信号进行对数变换后得到的信号。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，还包括：
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长相同，则将所述第一变换信号点确定为标准信号点，并将所述第二变换信号点确定为待测信号点。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，所述根据多个第一目标点，以及所述第一目标点的采样权重，确定所述第一曲线的第一形状标准值，包括：
通过以下公式确定所述第一曲线的第一形状标准值：
Figure 44867DEST_PATH_IMAGE001
其中，Si为所述第一曲线的第一形状标准值，fi(x)为描述所述第一曲线形状的函 数，[xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑l为对所有运算结果进行求和，
Figure 732201DEST_PATH_IMAGE002
为任一第一目标点的采样权重，
Figure 60414DEST_PATH_IMAGE003
为任一第一目标点的横坐标值，
Figure 951140DEST_PATH_IMAGE004
为任一第一目 标点的纵坐标值，
Figure 655791DEST_PATH_IMAGE005
为任一第一目标点的后一个第一目标点的横坐标值，
Figure 197631DEST_PATH_IMAGE006
为任一第 一目标点的后一个第一目标点的纵坐标值。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，所述根据多个第二目标点，以及所述第二目标点的采样权重，确定所述第二曲线的第二形状标准值，包括：
通过以下公式确定所述第二曲线的第二形状标准值：
Figure 696746DEST_PATH_IMAGE007
其中，Sj为所述第二曲线的第二形状标准值，fj(x)为描述所述第二曲线形状的函 数，[xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑m为对所有运算结果进行求和，
Figure 74768DEST_PATH_IMAGE008
为任一第二目标点的采样权重，
Figure 51952DEST_PATH_IMAGE009
为任一第二目标点的横坐标值，
Figure 713877DEST_PATH_IMAGE010
为任一第二 目标点的纵坐标值，
Figure 649472DEST_PATH_IMAGE011
为任一第二目标点的后一个第二目标点的横坐标值，
Figure 523580DEST_PATH_IMAGE012
为任 一第二目标点的后一个第二目标点的纵坐标值。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，所述根据所述第一形状标准值和所述第二形状标准值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度，包括：
通过以下公式确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度：
Figure 304454DEST_PATH_IMAGE013
其中，Similarity1为所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度，Si为所述第一形状标准值，Sj为所述第二形状标准值。
结合第一方面，在第一方面的一种可实现方式中，所述根据所述第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和所述第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度，包括：
通过以下公式确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度：
Figure 820886DEST_PATH_IMAGE014
其中，Similarity2为所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度，
Figure 661803DEST_PATH_IMAGE015
为所述第一 曲线上第k个标准信号点的纵坐标值，
Figure 14418DEST_PATH_IMAGE016
为所述第二曲线上第k个待测信号点的纵坐标值。
第二方面，本申请实施例提供一种软件升级版本正确性的检测装置，包括：
模拟仿真模块，用于分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行模拟仿真，并分别获取所述测试电路响应于预设输入信号，从输出端口输出的标准信号和待测信号，其中，所述标准软件为已通过正确性检测的软件，所述待测软件为所述标准软件的升级版本软件；
采样模块，用于分别对所述标准信号和所述待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点；
插值处理模块，用于利用预设插值函数分别对多个标准信号点和多个待测信号点进行处理，获取第一曲线和第二曲线；
DP处理模块，用于利用DP算法分别获取描述所述第一曲线的形状的多个第一目标点，以及描述所述第二曲线的形状的多个第二目标点；
第一形状标准值确定模块，用于根据多个第一目标点，以及所述第一目标点的采样权重，确定所述第一曲线的第一形状标准值；
第二形状标准值确定模块，用于根据多个第二目标点，以及所述第二目标点的采样权重，确定所述第二曲线的第二形状标准值；
第一相似度确定模块，用于根据所述第一形状标准值和所述第二形状标准值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度；
第二相似度确定模块，用于如果所述第一相似度小于或等于第一预设阈值，则根据所述第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和所述第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度；
检测结果生成模块，用于如果所述第二相似度小于或等于第二预设阈值，则生成所述待测软件通过正确性检测的判定结果。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述采样模块具体用于：
按第一预设采样步长对所述标准信号进行采样，得到多个第一信号点；
按第二预设采样步长对所述待测信号进行采样，得到多个第二信号点；
如果各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值均不存在量级差异，则检测所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长是否相同；
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长不相同，则从所有第一信号点的横坐标值，以及所有第二信号点的横坐标值中确定第一最小横坐标值和第一最大横坐标值；
在所述第一最小横坐标值和所述第一最大横坐标值构成的第一采样区间中，按照第一均匀预设采样步长对所述标准信号进行重新采样，得到多个标准信号点；
在所述第一采样区间中，按照所述均匀预设采样步长对所述待测信号进行重新采样，得到多个待测信号点。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述采样模块具体还用于：
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长相同，则将所述第一信号点确定为标准信号点，并将所述第二信号点确定为待测信号点。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述采样模块具体还用于：
如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，或者各个第一信号点的横坐标值存在量级差异，则分别对所述第一信号点和所述第二信号点进行对数变换，得到第一变换信号点和第二变换信号点；
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长不相同，则从所有第一变换信号点的横坐标值，以及所有第二变换信号点的横坐标值中确定第二最小横坐标值和第二最大横坐标值；
在所述第二最小横坐标值和所述第二最大横坐标值构成的第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对标准变换信号进行采样，得到多个标准信号点，所述标准变换信号为所述标准信号进行对数变换后得到的信号；
在所述第二采样区间中，按照所述第二均匀预设采样步长对待测变换信号进行采样，得到多个待测信号点，所述待测变换信号为所述待测信号进行对数变换后得到的信号。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述采样模块具体还用于：
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长相同，则将所述第一变换信号点确定为标准信号点，并将所述第二变换信号点确定为待测信号点。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述第一形状标准值确定模块具体用于：
通过以下公式确定所述第一曲线的第一形状标准值：
Figure 598984DEST_PATH_IMAGE017
其中，Si为所述第一曲线的第一形状标准值，fi(x)为描述所述第一曲线形状的函 数，[xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑l为对所有运算结果进行求和，
Figure 969922DEST_PATH_IMAGE002
为任一第一目标点的采样权重，
Figure 185003DEST_PATH_IMAGE003
为任一第一目标点的横坐标值，
Figure 8602DEST_PATH_IMAGE004
为任一第一目 标点的纵坐标值，
Figure 147591DEST_PATH_IMAGE005
为任一第一目标点的后一个第一目标点的横坐标值，
Figure 373036DEST_PATH_IMAGE006
为任一第 一目标点的后一个第一目标点的纵坐标值。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述第二形状标准值确定模块具体用于：
通过以下公式确定所述第二曲线的第二形状标准值：
Figure 555755DEST_PATH_IMAGE018
其中，Sj为所述第二曲线的第二形状标准值，fj(x)为描述所述第二曲线形状的函 数，[xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑m为对所有运算结果进行求和，
Figure 132230DEST_PATH_IMAGE008
为任一第二目标点的采样权重，
Figure 74909DEST_PATH_IMAGE009
为任一第二目标点的横坐标值，
Figure 154861DEST_PATH_IMAGE010
为任一第二 目标点的纵坐标值，
Figure 774061DEST_PATH_IMAGE011
为任一第二目标点的后一个第二目标点的横坐标值，
Figure 572253DEST_PATH_IMAGE012
为任 一第二目标点的后一个第二目标点的纵坐标值。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述第一相似度确定模块具体用于：
通过以下公式确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度：
Figure 784535DEST_PATH_IMAGE019
其中，Similarity1为所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度，Si为所述第一形状标准值，Sj为所述第二形状标准值。
结合第二方面，在第二方面的一种可实现方式中，所述第二相似度确定模块具体用于：
通过以下公式确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度：
Figure 984572DEST_PATH_IMAGE020
其中，Similarity2为所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度，
Figure 774674DEST_PATH_IMAGE015
为所述第一 曲线上第k个标准信号点的纵坐标值，
Figure 794582DEST_PATH_IMAGE016
为所述第二曲线上第k个待测信号点的纵坐标值。
本申请实施例公开了一种软件升级版本正确性的检测方法及装置，在检测方法中，分别对标准软件和待测软件仿真同一测试电路后得到的标准信号和待测信号进行采样，利用预设插值函数分别对采样结果进行处理，并获取第一曲线和第二曲线，然后利用DP算法分别获取描述第一曲线形状的多个第一目标点，以及描述第二曲线形状的多个第二目标点，根据第一目标点和第二目标点分别确定第一曲线和第二曲线的形状标准值后，根据两条曲线的形状标准值确定第一相似度，在第一相似度满足要求的情况下，根据第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定第一曲线与第二曲线的第二相似度，在第二相似度也满足要求的情况下，生成待测软件通过正确性检测的结论。整个检测过程中由于使用DP算法进行处理，因此参与运算的信号点的数量很少，进而可以极大地缩短软件升级版本正确性检测的耗时，检测成本较低，且结果较为可靠。
附图说明
图1为本申请实施例提供的一种软件升级版本正确性的检测方法所对应的整体流程示意图；
图2为本申请实施例提供的测试电路的一个示例结构示意图；
图3为本申请实施例提供的信号采样所对应的流程示意图；
图4为本申请实施例提供的信号处理过程示意图；
图5a为本申请实施例提供的第一曲线示例示意图；
图5b为本申请实施例提供的第二曲线示例示意图；
图5c为本申请实施例提供的第一目标点和第二目标点的示例示意图；
图5d为本申请实施例提供的图5c中圆角矩形框内部区域的局部放大示意图；
图6为本申请实施例提供的一种软件升级版本正确性的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。
为了解决现有的软件升级版本正确性检测主要通过大量的开发测试来完成，进而导致回归测试过程耗时较长，而且成本也较高的技术问题，本申请通过以下实施例公开了一种软件升级版本正确性的检测方法。本申请实施例提供的检测方法应用于对EDA（Electronics Design Automation，电子设计自动化）软件的升级版本进行正确性检测，此外，也可应用于其他类型软件的回归测试，本申请实施例对软件类型不作限定。图1示例性示出了本申请实施例提供的一种软件升级版本正确性的检测方法所对应的整体流程示意图，具体包括如下步骤：
101：分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行模拟仿真，并分别获取测试电路响应于预设输入信号，从输出端口输出的标准信号和待测信号。
其中，标准软件为已通过正确性检测的软件，待测软件为标准软件的升级版本软件。
软件产品中通常都会包含单元测试文件，单元测试文件中包含已经充分验证过的测试电路。测试电路可以通过软件的各个版本发布逐步积累获得。示例性地，图2为本申请实施例提供的测试电路的一个示例结构示意图。如图2所示，在一个示例中，测试电路可以为文氏电桥振荡电路（Wien bridge oscillator circuit），其中，U1为集成运放。电阻R1、电阻R2、电容C1、电容C2组成的RC串并网络电路，构成选频电路，可以将输出正反馈至同相输入端（U1的端口2）。电阻R3、电阻R4串联构成放大电路，将输出负反馈至集成运放的反相输入端（U1的端口1），电路的行为取决于正负反馈哪一边占优势。电阻R5、二极管D1与二极管D2与电阻R4串并联，用于优化电路。U_out为输出端，与集成运放端口3连接，用于获得震荡正弦波。本申请实施例对测试电路的具体类型不作限定，只要是标准软件和待测软件中均包含的同一测试电路均可。
示例性地，预设输入信号可以为时间。标准信号和待测信号可以均为时间上的连续电学响应曲线或者函数，比如，均为电压随时间的变化曲线V/t，或者，均为电流随时间的变化曲线I/t。
102：分别对标准信号和待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点。
具体地，信号采样方式可以有多种。在一个实施例中，图3为本申请实施例提供的信号采样所对应的流程示意图。如图3所示，本申请实施例可以通过以下步骤进行信号采样：
301：按第一预设采样步长对标准信号进行采样，得到多个第一信号点。
具体地，第一预设采样步长表示标准信号的横坐标的采样步长。
第一信号点可以表示为
Figure 531594DEST_PATH_IMAGE021
，其中，xi为第一信号点的横坐标值，第 一信号点的横坐标表示预设输入信号，yi为第一信号点的纵坐标值，第一信号点的纵坐标 表示标准信号。示例性地，标准信号为电压随时间的变化曲线，则每个第一信号点表示任一 采样时刻下所对应的电压值。
302：按第二预设采样步长对待测信号进行采样，得到多个第二信号点。
具体地，第二预设采样步长表示待测信号的横坐标的采样步长。第二预设采样步长与第一预设采样步长可以相同，也可以不相同，本申请实施例对此不做限定。
第二信号点可以表示为
Figure 336870DEST_PATH_IMAGE022
，其中，xj为第二信号点的横坐标值，第二 信号点的横坐标表示预设输入信号，yj为第二信号点的纵坐标值，第二信号点的纵坐标表 示待测信号。示例性地，待测信号为电压随时间的变化曲线，则每个第二信号点表示任一采 样时刻下所对应的电压值。
303：检测各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值是否均不存在量级差异。如果各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值均不存在量级差异，则执行步骤304。如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，或者各个第一信号点的横坐标值存在量级差异，则执行步骤309。
具体地，量级差异表示数据值存在较大的数量级差异，比如0.1和1000的差异等。
具体可以通过以下步骤检测各个第一信号点的纵坐标值是否存在量级差异：
第一步，获取各个第一信号点的纵坐标值中的最大纵坐标值。
第二步，获取各个第一信号点的纵坐标值中的最小纵坐标值。
第三步，检测最大纵坐标值与最小纵坐标值的比值是否大于预设阈值，如果最大纵坐标值与最小纵坐标值的比值大于预设阈值，则确定各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，否则，确定各个第一信号点的纵坐标值不存在量级差异。其中，预设阈值可以根据不同的情况进行设定，比如设置为1×104，本申请实施例对此不做限定。
依据上述步骤类推，可以检测各个第一信号点的横坐标值是否存在量级差异，此处不再赘述，其中，确定各个第一信号点的横坐标值是否存在量级差异的预设阈值可以与确定各个第一信号点的纵坐标值是否存在量级差异的预设阈值不同，具体不作限定。
需要说明的是，由于标准软件和待测软件是对同一测试电路进行模拟仿真，且预设输入信号均相同，受测试电路自身参数性质的决定，如果各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值均存在量级差异，则各个第二信号点的纵坐标值与各个第二信号点的横坐标值也必然会均存在量级差异。因此，步骤303还可以替换为：检测各个第二信号点的纵坐标值与各个第二信号点的横坐标值是否均存在量级差异。或者，步骤303还可以替换为：检测预设输入信号与标准信号（或者待测信号）是否分别存在量级差异。此处不再单独赘述。
304：检测第一预设采样步长与第二预设采样步长是否相同。如果第一预设采样步长与第二预设采样步长不相同，则执行步骤305。如果第一预设采样步长与第二预设采样步长相同，则执行步骤308。
305：从所有第一信号点的横坐标值，以及所有第二信号点的横坐标值中确定第一最小横坐标值和第一最大横坐标值。
其中，第一最小横坐标值为所有第一信号点的横坐标值和所有第二信号点的横坐标值中的最小值。第一最大横坐标值为所有第一信号点的横坐标值和所有第二信号点的横坐标值中的最大值。
306：在第一最小横坐标值和第一最大横坐标值构成的第一采样区间中，按照第一均匀预设采样步长对标准信号进行重新采样，得到多个标准信号点。
307：在第一采样区间中，按照均匀预设采样步长对待测信号进行重新采样，得到多个待测信号点。
308：将第一信号点确定为标准信号点，并将第二信号点确定为待测信号点。
如此，采用上述步骤305至308，在第一预设采样步长与第二预设采样步长不同时，对采样结果进行裁剪，得到第一采样区间，并对标准信号和待测信号在第一采样区间上重新进行均匀采样，从而使得标准信号点和待测信号点位于相同的第一采样区间内，可以提高后续进行曲线形状比较的准确性。
309：分别对第一信号点和第二信号点进行对数变换，得到第一变换信号点和第二变换信号点。
具体地，可以对第一信号点（或者第二信号点）的横坐标值和纵坐标值分别进行对数变换。也就是说，如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，横坐标值不存在量级差异，则对第一信号点（以及第二信号点）的纵坐标值进行对数变换，横坐标值保持不变。如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，横坐标值也存在量级差异，则对第一信号点（以及第二信号点）的纵坐标值和横坐标值分别进行对数变换。如果各个第一信号点的纵坐标值不存在量级差异，横坐标值存在量级差异，则对第一信号点（以及第二信号点）的横坐标值进行对数变换，纵坐标值保持不变。
横坐标值的对数变换可以表示为
Figure 32294DEST_PATH_IMAGE023
，其中，
Figure 805078DEST_PATH_IMAGE024
为对数变换后的横坐标 值。纵坐标值的对数变换可以表示为
Figure 142518DEST_PATH_IMAGE025
，其中，
Figure 802301DEST_PATH_IMAGE026
为对数变换后的纵坐标值。本申 请实施例中，可以根据第一信号点（或者第二信号点）的具体横坐标值和纵坐标值，来确定 对数变换的底。示例性地，横坐标值的对数变换的底可以选择e或者10，纵坐标值的对数变 换的底可以选择e或者10，可以根据实际情况进行确定，具体不作限定。需要说明的是，第一 信号点（或者第二信号点）的横坐标值的对数变换的底与纵坐标值的对数变换的底可以相 同也可以不同。还需要说明的是，每个第一信号点的横坐标值的对数变换的底与每个第二 信号点的横坐标值的对数变换的底必须均相同。每个第一信号点的纵坐标值的对数变换的 底与每个第二信号点的纵坐标值的对数变换的底必须均相同。
如此，通过上述变换，使得用于分析的数据分布更加均匀，也更加容易进行后续曲线近似度的计算。
310：检测第一预设采样步长与第二预设采样步长是否相同。如果第一预设采样步长与第二预设采样步长不相同，则执行步骤311。如果第一预设采样步长与第二预设采样步长相同，则执行步骤314。
311：从所有第一变换信号点的横坐标值，以及所有第二变换信号点的横坐标值中确定第二最小横坐标值和第二最大横坐标值。
其中，第二最小横坐标值为所有第一变换信号点的横坐标值和所有第二变换信号 点的横坐标值中的最小值，第二最小横坐标值可以表示为
Figure 934205DEST_PATH_IMAGE027
，其中，
Figure 928706DEST_PATH_IMAGE028
为任一第一变换信号点的横坐标值，
Figure 804258DEST_PATH_IMAGE029
为任一第二变换信号点的横坐标值。第二最大横坐 标值为所有第一变换信号点的横坐标值和所有第二变换信号点的横坐标值中的最大值，第 二最大横坐标值可以表示为
Figure 584126DEST_PATH_IMAGE030
，其中，
Figure 621352DEST_PATH_IMAGE028
为任一第一变换信号点的横 坐标值，
Figure 368728DEST_PATH_IMAGE029
为任一第二变换信号点的横坐标值。
312：在第二最小横坐标值和第二最大横坐标值构成的第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对标准变换信号进行采样，得到多个标准信号点。
其中，标准变换信号为标准信号进行对数变换后得到的信号。对标准信号进行对数变换的方式与第一信号点进行对数变换的方式相同，此处不再赘述。
313：在第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对待测变换信号进行采样，得到多个待测信号点。
其中，待测变换信号为待测信号进行对数变换后得到的信号。对待测信号进行对数变换的方式与第二信号点进行对数变换的方式相同，此处不再赘述。
多个待测信号点（或者标准信号点）可以表示为
Figure 782392DEST_PATH_IMAGE031
，其中，
Figure 413837DEST_PATH_IMAGE032
为第二采样区间[
Figure 621965DEST_PATH_IMAGE032
，
Figure 591058DEST_PATH_IMAGE033
]中的 第二最小横坐标值，k为大于或等于0且小于或等于N的整数，N为对待测变换信号（或者标准 变换信号）进行采样的次数，step为第二均匀预设采样步长。
314：将第一变换信号点确定为标准信号点，并将第二变换信号点确定为待测信号点。
如此，采用上述信号采样方式，可以对标准信号和待测信号在相同的采样区间进行均匀采样，对于存在量级差异的信号也会先进行对数变换，使得采样得到的标准信号点和待测信号点分布更加均匀合理，也更加有利于后续准确进行曲线形状相似度的比较。
在其他实施例中，也可以采用其他的信号采样方式，比如，无论信号的横坐标值与纵坐标值是否存在量级差异，均不作对数变换，而是直接对原信号按照相同的采样步长进行均匀采样，本申请实施例对此不做限定。
103：利用预设插值函数分别对多个标准信号点和多个待测信号点进行处理，获取第一曲线和第二曲线。
具体地，本申请实施例中，预设插值函数可以选择三次样条插值（Cubic Spline Interpolation）。三次样条插值函数可以表示为
Figure 808412DEST_PATH_IMAGE034
，其中，
Figure 297294DEST_PATH_IMAGE035
表示三次 样条插值函数经过的信号点的横坐标值，
Figure 145164DEST_PATH_IMAGE036
表示三次样条插值函数经过的信号点的纵坐标 值。
利用预设插值函数对多个标准信号点进行处理，获取第一曲线。其中，第一曲线通过所有标准信号点。
利用该预设插值函数对多个待测信号点进行处理，获取第二曲线。其中，第二曲线通过所有待测信号点。
104：利用DP算法分别获取描述第一曲线的形状的多个第一目标点，以及描述第二曲线的形状的多个第二目标点。
具体地，DP算法是指Douglas-Peucker（道格拉斯-普克）算法，可以将曲线近似表 示为一系列点，这一系列描述曲线形状的点可以表示为
Figure 601553DEST_PATH_IMAGE037
，其中，
Figure 357019DEST_PATH_IMAGE035
表示该曲线。
如此，采用DP算法对第一曲线和第二曲线进行处理，在相同的误差条件下，得到的第一目标点和第二目标点的数量远小于标准信号点和待测信号点的数量，从而可以极大地减少后续参与计算的信号点的数量，进而可以极大地缩短软件升级版本正确性检测的耗时，减少成本。
示例性地，为了更加清楚地展示上述步骤102至步骤104的信号处理过程，图4为本申请实施例提供的信号处理过程示意图。如图4所示，标准信号经第一预设采样步长采样后，得到多个标准信号点，多个标准信号点经插值处理后得到第一曲线，再对第一曲线进行DP算法处理得到多个第一目标点。待测信号经第二预设采样步长采样后，得到多个待测信号点，多个待测信号点经插值处理后得到第二曲线，再对第二曲线进行DP算法处理得到多个第二目标点。
105：根据多个第一目标点，以及第一目标点的采样权重，确定第一曲线的第一形状标准值。
具体地，可以通过以下公式（1）确定第一曲线的第一形状标准值：
Figure 215254DEST_PATH_IMAGE038
公式（1）
公式（1）中，Si为第一曲线的第一形状标准值，fi(x)为描述第一曲线形状的函数， [xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑l为对所有运算结果进行求和，
Figure 47075DEST_PATH_IMAGE002
为 任一第一目标点的采样权重，
Figure 725181DEST_PATH_IMAGE003
为任一第一目标点的横坐标值，
Figure 284338DEST_PATH_IMAGE004
为任一第一目标点的纵 坐标值，
Figure 997079DEST_PATH_IMAGE005
为任一第一目标点的后一个第一目标点的横坐标值，
Figure 734222DEST_PATH_IMAGE006
为任一第一目标点 的后一个第一目标点的纵坐标值。其中，描述第一曲线形状的函数fi(x)可以无需明确获 知。
在一个实施例中，任一第一目标点的采样权重
Figure 165204DEST_PATH_IMAGE039
可以由用户根据测试电路来 确定。用户可以根据任一第一目标点的贡献来指定该第一目标点的权重，例如，部分第一目 标点存在极大的噪声，则该点的数据是不可信的，权重应该设定较小。
106：根据多个第二目标点，以及第二目标点的采样权重，确定第二曲线的第二形状标准值。
具体地，可以通过以下公式（2）确定第二曲线的第二形状标准值：
Figure 465735DEST_PATH_IMAGE040
公式（2）
公式（2）中，Sj为第二曲线的第二形状标准值，fj(x)为描述第二曲线形状的函数， [xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑m为对所有运算结果进行求和，
Figure 32983DEST_PATH_IMAGE008
为任一第二目标点的采样权重，
Figure 190294DEST_PATH_IMAGE009
为任一第二目标点的横坐标值，
Figure 590795DEST_PATH_IMAGE010
为任一第二 目标点的纵坐标值，
Figure 491755DEST_PATH_IMAGE011
为任一第二目标点的后一个第二目标点的横坐标值，
Figure 444668DEST_PATH_IMAGE012
为任 一第二目标点的后一个第二目标点的纵坐标值。其中，描述第二曲线形状的函数fj(x)可以 无需明确获知。
在一个实施例中，任一第二目标点的采样权重
Figure 772881DEST_PATH_IMAGE008
可以由用户根据测试电路 来确定。用户可以根据任一第二目标点的贡献来指定该第二目标点的权重，例如，部分第二 目标点存在极大的噪声，则该点的数据是不可信的，权重应该设定较小。
107：根据第一形状标准值和第二形状标准值，确定第一曲线与第二曲线的第一相似度。
具体地，可以通过以下公式（3）确定第一曲线与第二曲线的第一相似度：
Figure 663608DEST_PATH_IMAGE041
公式（3）
公式（3）中，Similarity1为第一曲线与第二曲线的第一相似度，Si为第一形状标准值，Sj为第二形状标准值。
108：检测第一相似度是否小于或等于第一预设阈值。如果是，则执行步骤109，否则，执行步骤112。
具体地，第一预设阈值可以根据经验和实际情况进行设置，本申请实施例对此不做限定。
如此，本申请实施例将软件升级版本正确性的判断建立在曲线相似度的标准上，从而使得软件升级版本的正确性检测变得简单易行，整个检测过程耗时较短，也节约了成本，还具有较好的普适性，易于推广。
109：根据第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定第一曲线与第二曲线的第二相似度。
具体地，可以通过以下公式（4）确定第一曲线与第二曲线的第二相似度：
Figure 102679DEST_PATH_IMAGE042
公式（4）
公式（4）中，Similarity2为第一曲线与第二曲线的第二相似度，
Figure 847781DEST_PATH_IMAGE015
为第一曲线上 第k个标准信号点的纵坐标值，
Figure 346896DEST_PATH_IMAGE016
为第二曲线上第k个待测信号点的纵坐标值。其中，第一 曲线上第k个标准信号点的纵坐标值为经过预设插值函数处理后的纵坐标值，第二曲线上 第k个待测信号点的纵坐标值为经过预设插值函数处理后的纵坐标值。
110：检测第二相似度是否小于或等于第二预设阈值。如果是，则执行步骤111，否则，执行步骤112。
具体地，第二预设阈值可以根据经验和实际情况进行设置，本申请实施例对此不做限定。
如此，本申请实施例在两条曲线形状的第一相似度满足预设要求，初步判定待测软件通过正确性检测的基础上，进一步将两条曲线的形状在预设插值函数上进行比较，从而使得最终正确性检测结果更加准确和可靠。
111：生成待测软件通过正确性检测的判定结果。
112：生成待测软件未通过正确性检测的判定结果。
示例性地，为了更加清楚地展示本申请实施例提供的检测方法，下面通过具体示例进行说明。
假设分别利用标准软件和待测软件对图2示出的测试电路进行模拟仿真，在测试 电路中，电阻
Figure 974186DEST_PATH_IMAGE043
，
Figure 967681DEST_PATH_IMAGE044
，
Figure 629607DEST_PATH_IMAGE045
，电容
Figure 299622DEST_PATH_IMAGE046
，分别获 取输出的标准信号和待测信号，均为电压随时间的变化曲线。对标准信号按照0.2ms的时间 间隔进行采样，得到多个标准信号点后，利用预设插值函数对多个标准信号点进行处理，得 到的第一曲线示例示意图参见图5a所示。对待测信号按照0.2ms的时间间隔进行采样，得到 多个待测信号点后，利用预设插值函数对多个待测信号点进行处理，得到的第二曲线示例 示意图参见图5b所示。采用道格拉斯-普克（Douglas-Peucker）算法，用较少点描述曲线图 形，得到的第一目标点和第二目标点的示例示意图参见图5c所示，图5c中圆角矩形框内部 区域的局部放大示意图参见图5d所示。计算得到Similarity1=0.0008136767039133019， Similarity2=6.145944932715185e-06。两个相似度均满足预设阈值1e-3，则验证了升级版 本的仿真结果与上一版本结果具有较强的一致性。
如此，本申请实施例提供的检测方法，由于使用DP算法进行处理，因此参与运算的信号点的数量很少，进而可以极大地缩短软件升级版本正确性检测的耗时，检测成本较低，且结果较为可靠。
下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。
图6示例性示出了本申请实施例提供的一种软件升级版本正确性的检测装置的结构示意图。如图6所示，该装置具有实现上述检测方法的功能，所述功能可以由硬件实现，也可以由硬件执行相应的软件实现。该装置可以包括：模拟仿真模块601、采样模块602、插值处理模块603、DP处理模块604、第一形状标准值确定模块605、第二形状标准值确定模块606、第一相似度确定模块607、第二相似度确定模块608和检测结果生成模块609。其中：
模拟仿真模块601，用于分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行模拟仿真，并分别获取测试电路响应于预设输入信号，从输出端口输出的标准信号和待测信号，其中，标准软件为已通过正确性检测的软件，待测软件为标准软件的升级版本软件。
采样模块602，用于分别对标准信号和待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点。
插值处理模块603，用于利用预设插值函数分别对多个标准信号点和多个待测信号点进行处理，获取第一曲线和第二曲线。
DP处理模块604，用于利用DP算法分别获取描述第一曲线的形状的多个第一目标点，以及描述第二曲线的形状的多个第二目标点。
第一形状标准值确定模块605，用于根据多个第一目标点，以及第一目标点的采样权重，确定第一曲线的第一形状标准值。
第二形状标准值确定模块606，用于根据多个第二目标点，以及第二目标点的采样权重，确定第二曲线的第二形状标准值。
第一相似度确定模块607，用于根据第一形状标准值和第二形状标准值，确定第一曲线与第二曲线的第一相似度。
第二相似度确定模块608，用于如果第一相似度小于或等于第一预设阈值，则根据第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定第一曲线与第二曲线的第二相似度。
检测结果生成模块609，用于如果第二相似度小于或等于第二预设阈值，则生成待测软件通过正确性检测的判定结果。
在一种可实现方式中，采样模块602具体用于：
按第一预设采样步长对标准信号进行采样，得到多个第一信号点。
按第二预设采样步长对待测信号进行采样，得到多个第二信号点。
如果各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值均不存在量级差异，则检测第一预设采样步长与第二预设采样步长是否相同。
如果第一预设采样步长与第二预设采样步长不相同，则从所有第一信号点的横坐标值，以及所有第二信号点的横坐标值中确定第一最小横坐标值和第一最大横坐标值。
在第一最小横坐标值和第一最大横坐标值构成的第一采样区间中，按照第一均匀预设采样步长对标准信号进行重新采样，得到多个标准信号点。
在第一采样区间中，按照均匀预设采样步长对待测信号进行重新采样，得到多个待测信号点。
在一种可实现方式中，采样模块602具体还用于：
如果第一预设采样步长与第二预设采样步长相同，则将第一信号点确定为标准信号点，并将第二信号点确定为待测信号点。
在一种可实现方式中，采样模块602具体还用于：
如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，或者各个第一信号点的横坐标值存在量级差异，则分别对第一信号点和第二信号点进行对数变换，得到第一变换信号点和第二变换信号点。
如果第一预设采样步长与第二预设采样步长不相同，则从所有第一变换信号点的横坐标值，以及所有第二变换信号点的横坐标值中确定第二最小横坐标值和第二最大横坐标值。
在第二最小横坐标值和第二最大横坐标值构成的第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对标准变换信号进行采样，得到多个标准信号点，标准变换信号为标准信号进行对数变换后得到的信号。
在第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对待测变换信号进行采样，得到多个待测信号点，待测变换信号为待测信号进行对数变换后得到的信号。
在一种可实现方式中，采样模块602具体还用于：
如果第一预设采样步长与第二预设采样步长相同，则将第一变换信号点确定为标准信号点，并将第二变换信号点确定为待测信号点。
在一种可实现方式中，第一形状标准值确定模块605具体用于：
通过以下公式确定第一曲线的第一形状标准值：
Figure 148630DEST_PATH_IMAGE017
其中，Si为第一曲线的第一形状标准值，fi(x)为描述第一曲线形状的函数，[xmin， xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑l为对所有运算结果进行求和，
Figure 945816DEST_PATH_IMAGE002
为任一 第一目标点的采样权重，
Figure 462248DEST_PATH_IMAGE003
为任一第一目标点的横坐标值，
Figure 303165DEST_PATH_IMAGE004
为任一第一目标点的纵坐标 值，
Figure 905047DEST_PATH_IMAGE005
为任一第一目标点的后一个第一目标点的横坐标值，
Figure 249134DEST_PATH_IMAGE006
为任一第一目标点的后 一个第一目标点的纵坐标值。
在一种可实现方式中，第二形状标准值确定模块606具体用于：
通过以下公式确定第二曲线的第二形状标准值：
Figure 620072DEST_PATH_IMAGE018
其中，Sj为第二曲线的第二形状标准值，fj(x)为描述第二曲线形状的函数，[xmin， xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑m为对所有运算结果进行求和，
Figure 631891DEST_PATH_IMAGE008
为任 一第二目标点的采样权重，
Figure 721069DEST_PATH_IMAGE009
为任一第二目标点的横坐标值，
Figure 328899DEST_PATH_IMAGE010
为任一第二目标点的纵 坐标值，
Figure 85503DEST_PATH_IMAGE011
为任一第二目标点的后一个第二目标点的横坐标值，
Figure 268222DEST_PATH_IMAGE012
为任一第二目标 点的后一个第二目标点的纵坐标值。
在一种可实现方式中，第一相似度确定模块607具体用于：
通过以下公式确定第一曲线与第二曲线的第一相似度：
Figure 579118DEST_PATH_IMAGE047
其中，Similarity1为第一曲线与第二曲线的第一相似度，Si为第一形状标准值，Sj为第二形状标准值。
在一种可实现方式中，第二相似度确定模块608具体用于：
通过以下公式确定第一曲线与第二曲线的第二相似度：
Figure 256218DEST_PATH_IMAGE020
其中，Similarity2为第一曲线与第二曲线的第二相似度，
Figure 601749DEST_PATH_IMAGE015
为第一曲线上第k个 标准信号点的纵坐标值，
Figure 158632DEST_PATH_IMAGE016
为第二曲线上第k个待测信号点的纵坐标值。
如此，本申请实施例提供的一种软件升级版本正确性的检测装置，由于使用DP算法进行处理，因此参与运算的信号点的数量很少，进而可以极大地缩短软件升级版本正确性检测的耗时，检测成本较低，且结果较为可靠。此外，还容易建立全自动化的测试环境，还可用于和其它产品的交叉验证。
以上结合具体实施方式和范例性实例对本申请进行了详细说明，不过这些说明并不能理解为对本申请的限制。本领域技术人员理解，在不偏离本申请精神和范围的情况下，可以对本申请技术方案及其实施方式进行多种等价替换、修饰或改进，这些均落入本申请的范围内。本申请的保护范围以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种软件升级版本正确性的检测方法，其特征在于，包括：
分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行模拟仿真，并分别获取所述测试电路响应于预设输入信号，从输出端口输出的标准信号和待测信号，其中，所述标准软件为已通过正确性检测的软件，所述待测软件为所述标准软件的升级版本软件；
分别对所述标准信号和所述待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点；
利用预设插值函数分别对多个标准信号点和多个待测信号点进行处理，获取第一曲线和第二曲线；
利用DP算法分别获取描述所述第一曲线的形状的多个第一目标点，以及描述所述第二曲线的形状的多个第二目标点；所述DP算法为道格拉斯-普克算法；
根据多个第一目标点，以及所述第一目标点的采样权重，确定所述第一曲线的第一形状标准值；
根据多个第二目标点，以及所述第二目标点的采样权重，确定所述第二曲线的第二形状标准值；
根据所述第一形状标准值和所述第二形状标准值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度；
如果所述第一相似度小于或等于第一预设阈值，则根据所述第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和所述第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度；
如果所述第二相似度小于或等于第二预设阈值，则生成所述待测软件通过正确性检测的判定结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别对所述标准信号和所述待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点，包括：
按第一预设采样步长对所述标准信号进行采样，得到多个第一信号点；
按第二预设采样步长对所述待测信号进行采样，得到多个第二信号点；
如果各个第一信号点的纵坐标值与各个第一信号点的横坐标值均不存在量级差异，则检测所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长是否相同；
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长不相同，则从所有第一信号点的横坐标值，以及所有第二信号点的横坐标值中确定第一最小横坐标值和第一最大横坐标值；
在所述第一最小横坐标值和所述第一最大横坐标值构成的第一采样区间中，按照第一均匀预设采样步长对所述标准信号进行重新采样，得到多个标准信号点；
在所述第一采样区间中，按照所述均匀预设采样步长对所述待测信号进行重新采样，得到多个待测信号点。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长相同，则将所述第一信号点确定为标准信号点，并将所述第二信号点确定为待测信号点。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
如果各个第一信号点的纵坐标值存在量级差异，或者各个第一信号点的横坐标值存在量级差异，则分别对所述第一信号点和所述第二信号点进行对数变换，得到第一变换信号点和第二变换信号点；
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长不相同，则从所有第一变换信号点的横坐标值，以及所有第二变换信号点的横坐标值中确定第二最小横坐标值和第二最大横坐标值；
在所述第二最小横坐标值和所述第二最大横坐标值构成的第二采样区间中，按照第二均匀预设采样步长对标准变换信号进行采样，得到多个标准信号点，所述标准变换信号为所述标准信号进行对数变换后得到的信号；
在所述第二采样区间中，按照所述第二均匀预设采样步长对待测变换信号进行采样，得到多个待测信号点，所述待测变换信号为所述待测信号进行对数变换后得到的信号。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，还包括：
如果所述第一预设采样步长与所述第二预设采样步长相同，则将所述第一变换信号点确定为标准信号点，并将所述第二变换信号点确定为待测信号点。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据多个第一目标点，以及所述第一目标点的采样权重，确定所述第一曲线的第一形状标准值，包括：
通过以下公式确定所述第一曲线的第一形状标准值：
Figure 77801DEST_PATH_IMAGE002
其中，Si为所述第一曲线的第一形状标准值，fi(x)为描述所述第一曲线形状的函数， [xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑l为对所有运算结果进行求和，
Figure 325767DEST_PATH_IMAGE004
为任一第一目标点的采样权重，
Figure 698980DEST_PATH_IMAGE006
为任一第一目标点的横坐标值，
Figure 563030DEST_PATH_IMAGE008
为任一第一目标点的 纵坐标值，
Figure 970878DEST_PATH_IMAGE010
为任一第一目标点的后一个第一目标点的横坐标值，
Figure 262182DEST_PATH_IMAGE012
为任一第一目标 点的后一个第一目标点的纵坐标值。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据多个第二目标点，以及所述第二目标点的采样权重，确定所述第二曲线的第二形状标准值，包括：
通过以下公式确定所述第二曲线的第二形状标准值：
Figure 122691DEST_PATH_IMAGE014
其中，Sj为所述第二曲线的第二形状标准值，fj(x)为描述所述第二曲线形状的函数， [xmin，xmax]为积分区间，w(x)为各个点的采样权重，∑m为对所有运算结果进行求和，
Figure 790432DEST_PATH_IMAGE016
为任一第二目标点的采样权重，
Figure 52787DEST_PATH_IMAGE018
为任一第二目标点的横坐标值，
Figure 514992DEST_PATH_IMAGE020
为任一第 二目标点的纵坐标值，
Figure 862797DEST_PATH_IMAGE022
为任一第二目标点的后一个第二目标点的横坐标值，
Figure 68650DEST_PATH_IMAGE024
为 任一第二目标点的后一个第二目标点的纵坐标值。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一形状标准值和所述第二形状标准值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度，包括：
通过以下公式确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度：
Figure 185511DEST_PATH_IMAGE026
其中，Similarity1为所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度，Si为所述第一形状标准值，Sj为所述第二形状标准值。
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和所述第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度，包括：
通过以下公式确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度：
Figure 84196DEST_PATH_IMAGE028
其中，Similarity2为所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度，
Figure 919297DEST_PATH_IMAGE030
为所述第一曲线 上第k个标准信号点的纵坐标值，
Figure DEST_PATH_IMAGE029
为所述第二曲线上第k个待测信号点的纵坐标值。
10.一种软件升级版本正确性的检测装置，其特征在于，包括：
模拟仿真模块，用于分别利用标准软件和待测软件对同一测试电路进行模拟仿真，并分别获取所述测试电路响应于预设输入信号，从输出端口输出的标准信号和待测信号，其中，所述标准软件为已通过正确性检测的软件，所述待测软件为所述标准软件的升级版本软件；
采样模块，用于分别对所述标准信号和所述待测信号进行采样，得到多个标准信号点和多个待测信号点；
插值处理模块，用于利用预设插值函数分别对多个标准信号点和多个待测信号点进行处理，获取第一曲线和第二曲线；
DP处理模块，用于利用DP算法分别获取描述所述第一曲线的形状的多个第一目标点，以及描述所述第二曲线的形状的多个第二目标点；所述DP算法为道格拉斯-普克算法；
第一形状标准值确定模块，用于根据多个第一目标点，以及所述第一目标点的采样权重，确定所述第一曲线的第一形状标准值；
第二形状标准值确定模块，用于根据多个第二目标点，以及所述第二目标点的采样权重，确定所述第二曲线的第二形状标准值；
第一相似度确定模块，用于根据所述第一形状标准值和所述第二形状标准值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第一相似度；
第二相似度确定模块，用于如果所述第一相似度小于或等于第一预设阈值，则根据所述第一曲线上每个标准信号点的纵坐标值和所述第二曲线上每个待测信号点的纵坐标值，确定所述第一曲线与所述第二曲线的第二相似度；
检测结果生成模块，用于如果所述第二相似度小于或等于第二预设阈值，则生成所述待测软件通过正确性检测的判定结果。
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