CN112763883A - 板卡测试电路、系统和测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种板卡测试电路、系统和测试方法。所述板卡控制电路与所述板卡供电控制电路连接。所述多个通道供电控制电路分别与所述板卡供电控制电路和所述板卡控制电路连接。所述板卡控制电路用于控制所述通道供电控制电路的通断。所述多个板卡通道电路与所述多个通道供电控制电路一一对应连接。所述多个板卡通道电路还分别与所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于通过所述通道供电控制电路控制所述板卡通道电路的通断。所述板卡供电控制电路可以根据需要给所述板卡测试电路上电。使用当所述板卡测试电路未被使用时，系统控制电路可以控制所述板卡供电控制电路不上电。所述板卡测试电路处于断电的状态，因此可以节省能耗。

Description

板卡测试电路、系统和测试方法

技术领域

本申请涉及测试领域，特别是涉及一种板卡测试电路、系统和测试方法。

背景技术

在半导体器件封装测试中，通常存在同一台机器，针对某一颗器件参数的板卡资源配置，可能存在某些板卡或通道资源没有使用的情况。在实际使用中，由于某些被测试器件批量较小，使得同一台机器需要测试不同类型的器件。由于不同的器件使用的板卡资源不同，使得在同一台机器同时兼顾多种类型器件测试时，板卡或通道资源闲置的情况会更容易出现。但是板卡或者通道一直处于供电的状态，这造成了测试系统的额外能量损耗，并造成了测试系统的整体发热温升影响。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种板卡测试电路、系统和测试方法。

一种板卡测试电路，包括：

板卡供电控制电路，用于与电源连接；

板卡控制电路，与所述板卡供电控制电路连接；

多个通道供电控制电路，分别与所述板卡供电控制电路和所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于控制所述通道供电控制电路的通断；以及

多个板卡通道电路，与所述多个通道供电控制电路一一对应连接，所述多个板卡通道电路还分别与所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于通过所述通道供电控制电路控制所述板卡通道电路的通断。

在一个实施例中，所述板卡供电控制电路包括：

隔离驱动电路，用于接收控制信号；

开关切换电路，与所述隔离驱动电路和所述电源连接；以及

滤波电路，与所述开关切换电路和所述通道供电控制电路连接。

在一个实施例中，所述隔离驱动电路包括：

光电二极管输出光电耦电路，所述光电二极管输出光电耦电路用于接收所述控制信号；

软开关电路，与所述光电二极管输出光电耦电路连接，所述软开关电路还与所述开关切换电路连接。

在一个实施例中，所述软开关电路包括第一电容C1、第二电阻R2和第三电阻R3，所述第一电容C1和所述第二电阻R2串联于所述出光电耦合器的两端，所述第三电阻R3串联于所述第一电容C1的两端。所述第二电阻R2的两端与所述开关切换电路连接。

在一个实施例中，所述开关切换电路包括串联的第一场效应管Q1和第二场效应管Q2，所述第一电容C1的第一端均与所述第一场效应管Q1的源极和所述第二场效应管Q2的源极连接，所述第一电容C1的第二端均与所述第一场效应管Q1的栅极和所述第二场效应管Q2的栅极连接；

所述第一场效应管Q1的漏极用于接入所述电源，所述第二场效应管Q2的漏极与所述滤波电路连接。

在一个实施例中，还包括第一支路和第二支路，所述第一支路与所述电源的P1+电源线和所述通道供电控制电路连接，所述第二支路与所述电源的P1-电源线和所述通道供电控制电路连接，所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2串联于所述第一支路。

在一个实施例中，所述滤波电路包括：

第一电感L1，串联于所述第一电路，并位于所述第二场效应管Q2的漏极和所述通道供电控制电路之间；

第二电感L2，串联于所述第二支路，并位于所述第一支路与所述电源和所述通道供电控制电路之间；以及

第二电容C2，所述第二电容C2的第一端连接于所述第一电感L1和所述通道供电控制电路之间，所述第二电容C2的第二端连接于所述第二电感L2和所述通道供电控制电路之间。

一种板卡测试系统，包括：

多个所述的板卡测试电路；

所述电源，与每个所述板卡测试电路的板卡供电控制电路连接；

系统控制电路；与每个所述板卡测试电路的板卡供电控制电路连接，用于控制每个所述板卡供电控制电路连接的通断；

所述系统控制电路还与每个所述板卡测试电路的板卡控制电路连接，用于通过所述板卡控制电路控制多个所述板卡通道电路的通断,以及

上位机，与所述系统控制电路连接。

一种所述的板卡测试系统测试方法，其特征在于，包括：

所述上位机控制电源给多个所述板卡测试电路供电；

所述上位机记录每个板卡测试电路和每个所述板卡测试电路中的所述多个板卡通道电路的资源使用情况；

所述上位机基于所述资源使用情况，控制所述板卡测试电路和每个所述板卡测试电路中的所述多个板卡通道电路的通断。

在一个实施例中，所述上位机基于所述资源使用情况，控制所述板卡测试电路和每个所述板卡测试电路中的所述多个板卡通道电路的通断包括：

对于被使用的所述板卡测试电路，所述上位机控制所述板卡供电控制电路导通，使所述电源给所述板卡控制电路和所述通道供电控制电路供电；

对被使用的所述板卡通道电路，所述上位机通过所述板卡控制电路控制对应的所述通道供电控制电路导通，使所述板卡供电控制电路通过所述通道供电控制电路给被使用的所述板卡通道电路供电。

本申请实施例提供的所述板卡测试电路包括板卡供电控制电路、板卡控制电路、多个通道供电控制电路和多个板卡通道电路。所述板卡供电控制电路用于与电源连接。所述板卡控制电路与所述板卡供电控制电路连接。所述多个通道供电控制电路分别与所述板卡供电控制电路和所述板卡控制电路连接。所述板卡控制电路用于控制所述通道供电控制电路的通断。所述多个板卡通道电路与所述多个通道供电控制电路一一对应连接。所述多个板卡通道电路还分别与所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于通过所述通道供电控制电路控制所述板卡通道电路的通断。所述板卡供电控制电路可以根据需要给所述板卡测试电路上电。当所述板卡测试电路未被使用时，系统控制电路可以控制所述板卡供电控制电路不上电。所述板卡测试电路处于断电的状态，因此可以节省能耗。

进一步地，当所述板卡测试电路中某些所述板卡通道电路处于被使用的状态时，所述板卡控制电路可以控制所述通道供电控制电路给被使用的所述板卡通道电路供电。所述板卡供电控制电路通过所述通道供电控制电路给被使用的所述板卡通道电路供电，所述板卡测试电路可以根据自身被使用的情况和每个所述板卡通道电路被使用的情况调整供电情况，从而达到节约能耗，减少发热导致系统升温的目的。

附图说明

图1为本申请实施例提供的板卡测试电路示意图；

图2为本申请实施例提供的板卡供电控制电路示意图；

图3为本申请另一个实施例提供的板卡供电控制电路示意图；

图4为本申请实施例提供的板卡测试系统示意图；

图5为本申请一个实施例提供的板卡测试系统测试方法示意图；

图6为本申请另一个实施例提供的板卡测试系统测试方法流程图。

附图标记说明

板卡测试电路10、板卡供电控制电路100、隔离驱动电路110、光电二极管输出光电耦电路112、软开关电路114、第一电容C1、第二电阻R2、第三电阻R3、开关切换电路120、第一场效应管Q1、第二场效应管Q2、滤波电路130、第一电感L1、第二电感L2、第二电容C2、板卡控制电路200、通道供电控制电路300、板卡通道电路400、第一支路510、第二支路520、保险装置530、板卡测试系统20、电源21、系统控制电路22、上位机33。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下通过实施例，并结合附图，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

请参见图1，本申请实施例提供一种板卡测试电路10。所述板卡测试电路10包括板卡供电控制电路100、板卡控制电路200、多个通道供电控制电路300和多个板卡通道电路400。所述板卡供电控制电路100用于与电源21连接。所述板卡控制电路200与所述板卡供电控制电路100连接。所述多个通道供电控制电路300分别与所述板卡供电控制电路100和所述板卡控制电路200连接。所述板卡控制电路200用于控制所述通道供电控制电路300的通断。所述多个板卡通道电路400与所述多个通道供电控制电路200一一对应连接。所述多个板卡通道电路400还分别与所述板卡控制电路200连接，所述板卡控制电路200用于通过所述通道供电控制电路300控制所述板卡通道电路400的通断。

所述板卡供电控制电路100可以控制所述电源21给所述板卡测试电路10供电。当所述板卡测试电路10的资源被使用时，上位机可以控制所述板卡供电控制电路100导通，所述电源21可以给所述板卡测试电路10通电。当所述板卡测试电路10未被使用时，所述板卡供电控制电路100可以保持断开的状态。因此可以节省能耗。

所述电源21可以为所述板卡测试电路10中集成的电源21。所述板卡供电控制电路100可以被上位机33控制。所述板卡供电控制电路100上电后可以给所述板卡控制电路200和所述通道供电控制电路300供电。所述板卡控制电路200上电后，所述上位机33通过所述系统控制电路22与所述板卡控制电路200通讯，实现控制所述通道供电控制电路300的通断。

所述多个通道供电控制电路300与所述多个板卡通道电路400一一对应电连接。当所述板卡控制电路200控制所述通道供电控制电路300导通时，所述板卡供电控制电路100通过所述通道供电控制电路300给所述通道供电控制电路300对应的所述板卡通道电路400供电。每个所述板卡通道电路400均与所述板卡控制电路200连接，因此所述板卡通道电路400可以通过所述板卡控制电路200与所述上位机33交互信息。因此，所述通道供电控制电路300上电后，所述板卡控制电路200可以控制所述通道供电控制电路300是否导通，即可以控制所述通道供电控制电路300是否给某个板卡通道电路400供电。当某些板卡通道电路400的资源被使用时，所述板卡控制电路200控制被使用的所述板卡通道电路400对应的所述道供电控制电路300导通，给所述板卡通道电路400供电。同时，对于没有被使用的板卡通道电路400。所述板卡控制电路200通过与其对应的所述道供电控制电路300控制其处于断电的状态，即所述通道供电控制电路300无法对所述板卡通道电路400供电，从而达到节约能耗，降低发热的目的。

本申请实施例提供的所述板卡测试电路10包括板卡供电控制电路100、板卡控制电路200、多个通道供电控制电路300和多个板卡通道电路400。所述板卡供电控制电路100用于与电源21连接。所述板卡控制电路200与所述板卡供电控制电路100连接。所述多个通道供电控制电路300分别与所述板卡供电控制电路100和所述板卡控制电路200连接。所述板卡控制电路200用于控制所述通道供电控制电路300的通断。所述多个板卡通道电路400与所述多个通道供电控制电路200一一对应连接。所述多个板卡通道电路400还分别与所述板卡控制电路200连接，所述板卡控制电路200用于通过所述通道供电控制电路400控制所述板卡通道电路的通断。所述板卡供电控制电路100可以根据需要给所述板卡测试电路10上电。当所述板卡测试电路10未被使用时，系统控制电路21可以控制所述板卡供电控制电路不上电。所述板卡测试电路10处于断电的状态，因此可以节省能耗。

进一步地，当所述板卡测试电路10中某些所述板卡通道电路400处于被使用的状态时，所述板卡控制电路200可以控制所述通道供电控制电路300给被使用的所述板卡通道电路400供电。所述板卡供电控制电路100通过所述通道供电控制电路300给被使用的所述板卡通道电路400供电，所述板卡测试电路10可以根据自身被使用的情况和每个所述板卡通道电路400被使用的情况调整供电情况，从而达到节约能耗，减少发热的目的。

请参见图2，在一个实施例中，所述板卡供电控制电路100包括隔离驱动电路110、开关切换电路120和滤波电路130。所述隔离驱动电路110用于接收控制信号。所述控制信号可以为高低电平信号。所述开关切换电路120与所述隔离驱动电路110和所述电源21连接。所述滤波电路130与所述开关切换电路120和所述通道供电控制电路300连接。

所述隔离驱动电路110可以用于接收上位机33等设备的控制信号，所述隔离驱动电路110可以实现电-光电的转换，从而实现输入和输出电路的电器隔离。由于所述隔离驱动电路110输入与输出电路间互相隔离，且电信号在传输时具有单向性等优点，因而具有良好的抗电磁波干扰能力和电绝缘能力。可以理解，所述隔离驱动电路110可以采用光电隔离驱动控制，也可以采用电磁隔离驱动控制等方式。

所述开关切换电路120可以在所述隔离驱动电路110的控制下导通或者关断，进而可以控制所述开关切换电路120是否导通。当所述开关切换电路120导通时，所述电源21可以通过所述板卡供电控制电路100给所述板卡控制电路200和所述通道供电控制电路300供电。所述滤波电路130可以对所述开关切换电路120的输出起到滤波的作用。

请参见图3，在一个实施例中，所述隔离驱动电路110包括光电二极管输出光电耦电路112和软开关电路114。所述光电二极管输出光电耦电路112用于接收控制信号。所述光电二极管输出光电耦电路112可以接收系统控制电路22发出的所述控制信号。所述软开关电路114与所述光电二极管输出光电耦电路112连接。所述软开关电路114还与所述开关切换电路120连接。所述光电二极管输出光电耦电路112可以实现电-光电的转换，从而实现输入和输出电路的电器隔离，具有良好的抗电磁波干扰能力和电绝缘能力。所述软开关电路114可以在所述光电二极管输出光电耦电路112输出的高低电平信号的控制下开启或者关断。所述软开关电路114减小电流上升的速度，防止后面的负载产生较大的冲击电流。

在一个实施例中，所述板卡测试电路还包括限流电阻R1。所述光电二极管输出光电耦电路112可以通过所述限流电阻R1与电源连接。

在一个实施例中，所述开关切换电路120包括串联的第一场效应管Q1和第二场效应管Q2。所述第一电容C1的第一端均与所述第一场效应管Q1的源极和所述第二场效应管Q2的源极连接。所述第一电容C1的第二端均与所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2的栅极连接。所述第一场效应管Q1的漏极用于接入所述电源21，所述第二场效应管Q2的漏极与所述滤波电路130连接。

在一个实施例中，所述软开关电路114包括第一电容C1、第二电阻R2和第三电阻R3。所述第三电阻R3并联于所述第一电容C1的两端。所述第一电容C1和所述第二电阻R2串联于所述出光电耦合器的两端。所述第二电阻R2的两端与所述开关切换电路120连接。所述第一电容C1和第二电阻R2配合可以减小第一场效应管Q1电流上升的速度，防止后面的负载产生较大的冲击电流。所述第三电阻R3用于实现关断时C1的自动放电。

在一个实施例中，当所述光电二极管输出光电耦电路112输入高电平信号时，所述光电二极管输出光电耦电路112输出控制信号给所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2，使得所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2导通。所述电源21可以通过所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2、所述滤波电路130供电。

在一个实施例中，所述第一场效应管Q1和第二场效应管Q2均为N沟道场效应管。在一个实施例中，所述板卡测试电路10还包括保险装置530。所述保险装置530连接于所述电源21和所述开关切换电路之间。所述保险装置530可以为保险丝。所述保险装置530可以在电流过大时及时断开。

在一个实施例中，所述板卡测试电路10还包括第一支路510和第二支路520。所述第一支路510与所述电源21的P1+电源线和所述通道供电控制电路300连接。所述第二支路520与所述电源21的P1-电源线和所述通道供电控制电路300连接。所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2串联于所述第一支路510。所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2可以控制所述第一支路510的通断，进而可以控制所述电源21给所述通道供电控制电路300和所述板卡控制电路200供电。

可以理解，对于控制交流电源通断，采用所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2。对于控制直流电源通断，如果P1+电源线的电势高于P1-电源线的电势，则可仅采用所述第一场效应管Q1。

在一个实施例中，所述滤波电路130包括第一电感L1、第二电感L2和第二电容C2。所述第一电感L1串联于所述第一电路，并位于所述第二场效应管Q2的漏极和所述通道供电控制电路300之间。所述第二电感L2串联于所述第二支路520，并位于所述第一支路510与所述电源21和所述通道供电控制电路300之间。所述第二电容C2的第一端连接于所述第一电感L1和所述通道供电控制电路300之间。所述第二电容C2的第二端连接于所述第二电感L2和所述通道供电控制电路300之间。

在一个实施例中，所述通道供电控制电路300的具体结构可以与所述板卡供电控制电路100相同或者近似，这里不再赘述。

请参见图4，本申请实施例还提供一种板卡测试系统20。所述板卡测试系统20还包括多个所述板卡测试电路10、所述电源21和系统控制电路22。所述电源21与每个所述板卡测试电路10的板卡供电控制电路100连接。所述电源21可以通过每个所述板卡测试电路10的板卡供电控制电路100给所述板卡测试电路10供电。所述系统控制电路22与每个所述板卡测试电路10的板卡供电控制电路100连接。所述系统控制电路22用于控制每个所述板卡供电控制电路100连接的通断。因此，系统控制电路22可以给被使用的板卡测试电路10发出控制信息，使所述电源21给所述板卡测试电路10供电。所述系统控制电路22还与每个所述板卡测试电路10的板卡控制电路200连接，用于通过所述板卡控制电路200控制多个所述板卡通道电路400的通断。即每个所述板卡通道电路400将其被使用的情况发送给上位机33以后，上位机33可以通过所述系统控制电路22控制相应的所述板卡测试电路10通电，并通过所述板卡控制电路200进一步控制被使用的所述板卡通道电路400通电。

在一个实施例中，所述板卡测试系统20还包括上位机33。所述上位机33与所述系统控制电路22连接。所述上位机33可以与所述系统控制电路22交互信息。所述系统控制电路22可以与每个所述板卡测试电路10交互信息。即所述上位机33可以与每个所述板卡测试电路10交互信息，从而控制每个所述板卡测试电路10的工作状态，并可以了解每个所述板卡测试电路10的被使用情况。

请参见图5，本申请实施例还提供一种板卡测试系统20的测试方法。所述测试方法包括：

S10,所述上位机33控制电源21给多个所述板卡测试电路10供电；

S20,所述上位机33记录每个板卡测试电路10和每个所述板卡测试电路10中的所述多个板卡通道电路400的资源使用情况；

S30,所述上位机33基于所述资源使用情况，控制所述板卡测试电路10和每个所述板卡测试电路10中的所述多个板卡通道电路400的通断。

请参见图6，所述S10中，所述板卡测试电路10上电后，可以在所述上位机33可以先调取测试程序，并对所述板卡测试电路10分别上电并自检；然后可以记录性能正常的所述板卡测试电路的资源情况；进一步判断测试程序使用资源情况的查询。当板卡测试电路资源齐备时，执行S30；当判断所述板卡测试电路10资源不足时，可以异常跳出并提示。

所述S20中，每个所述板卡测试电路10自检后可以将每个板卡测试电路10是否被使用，以及被使用的所述板卡测试电路10中的板卡通道电路400的使用情况通过所述板卡控制电路200、所述系统控制电路22反馈给所述上位机33。所述上位机33可以记录每个所述板卡测试电路10和每个所述板卡测试电路10中的所述多个板卡通道电路400的资源使用情况。所述上位机33也可以记录所述板卡测试电路10的性能是否正常、相应的程序资源是否齐备等问题。

所述S30中，所述上位机33可以给检测到被使用的所述板卡测试电路10供电，并确认所述板卡测试电路10中的哪些所述板卡通道电路400被使用。所述上位机33可以通过所述系统控制电路22控制相应的所述板卡测试电路10中的所述板卡供电控制电路100导通，使得电源21给通过所述板卡供电控制电路100给所述板卡控制电路200和所述通道供电控制电路300供电。所述板卡控制电路200可以控制所述通道供电控制电路300导通，使得所述板卡供电控制电路100给所述通道供电控制电路300供电。所述上位机33通过所述系统控制电路22和所述板卡控制电路200进一步控制被使用的所述板卡通道电路400导通，使得所述通道供电控制电路300给被使用的所述板卡通道电路400供电。

在一个实施例中，所述S30包括：

S31，对于被使用的所述板卡测试电路10，所述上位机33控制所述板卡供电控制电路100导通，使所述电源21给所述板卡控制电路200和所述通道供电控制电路300供电；

S32，对被使用的所述板卡通道电路，所述上位机通过所述板卡控制电路控制对应的所述通道供电控制电路导通，使所述板卡供电控制电路通过所述通道供电控制电路给被使用的所述板卡通道电路供电。

所述板卡测试系统20可以针对性地给被使用的所述板卡测试电路10供电。并可以选择性地给被使用的所述板卡通道电路400供电。而没有被使用的所述板卡测试电路10和所述板卡通道电路400可以不供电，从而可以减少能耗，减少发热。

在一个实施例中，所述S20包括：

当所述上位机33监测到所述板卡测试系统20资源不足时，发出告警。即此时即使将板卡测试系统20中的所述板卡测试电路10中的资源均被使用，也无法满足测试要求时，所述上位机33发出告警，以便于工作人员即使调整设备。

所述S30之后还可以包括通过所述板卡测试系统20给器件测试的过程，测试过程中，可以通过程序控制板卡资源进行器件进行参数测试并显示。当测试结束后可以上报上位机33。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为本专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种板卡测试电路，其特征在于，包括：

板卡供电控制电路，用于与电源连接；

板卡控制电路，与所述板卡供电控制电路连接；

多个通道供电控制电路，分别与所述板卡供电控制电路和所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于控制所述通道供电控制电路的通断；以及

多个板卡通道电路，与所述多个通道供电控制电路一一对应连接，所述多个板卡通道电路还分别与所述板卡控制电路连接，所述板卡控制电路用于通过所述通道供电控制电路控制所述板卡通道电路的通断。

2.如权利要求1所述的板卡测试电路，其特征在于，板卡供电控制电路包括：

隔离驱动电路，用于接收控制信号；

开关切换电路，与所述隔离驱动电路和所述电源连接；以及

滤波电路，与所述开关切换电路和所述通道供电控制电路连接。

3.如权利要求2所述的板卡测试电路，其特征在于，所述隔离驱动电路包括：

光电二极管输出光电耦电路，所述光电二极管输出光电耦电路用于接收所述控制信号；

软开关电路，与所述光电二极管输出光电耦电路连接，所述软开关电路还与所述开关切换电路连接。

4.如权利要求3所述的板卡测试电路，其特征在于，所述软开关电路包括第一电容C1、第二电阻R2和第三电阻R3，所述第一电容C1和所述第二电阻R2串联于所述出光电耦合器的两端，所述第三电阻R3串联于所述第一电容C1的两端，所述第二电阻R2的两端与所述开关切换电路连接。

5.如权利要求4所述的板卡测试电路，其特征在于，所述开关切换电路包括串联的第一场效应管Q1和第二场效应管Q2，所述第一电容C1的第一端均与所述第一场效应管Q1的源极和所述第二场效应管Q2的源极连接，所述第一电容C1的第二端均与所述第一场效应管Q1的栅极和所述第二场效应管Q2的栅极连接；

所述第一场效应管Q1的漏极用于接入所述电源，所述第二场效应管Q2的漏极与所述滤波电路连接。

6.如权利要求5所述的板卡测试电路，其特征在于，还包括第一支路和第二支路，所述第一支路与所述电源的P1+电源线和所述通道供电控制电路连接，所述第二支路与所述电源的P1-电源线和所述通道供电控制电路连接，所述第一场效应管Q1和所述第二场效应管Q2串联于所述第一支路。

7.如权利要求6所述的板卡测试电路，其特征在于，所述滤波电路包括：

第一电感L1，串联于所述第一电路，并位于所述第二场效应管Q2的漏极和所述通道供电控制电路之间；

第二电感L2，串联于所述第二支路，并位于所述第一支路与所述电源和所述通道供电控制电路之间；以及

第二电容C2，所述第二电容C2的第一端连接于所述第一电感L1和所述通道供电控制电路之间，所述第二电容C2的第二端连接于所述第二电感L2和所述通道供电控制电路之间。

8.一种板卡测试系统，其特征在于，包括：

多个如权利要求1-8任一项所述的板卡测试电路；

所述电源，与每个所述板卡测试电路的板卡供电控制电路连接；

系统控制电路；与每个所述板卡测试电路的板卡供电控制电路连接，用于控制每个所述板卡供电控制电路连接的通断；

所述系统控制电路还与每个所述板卡测试电路的板卡控制电路连接，用于通过所述板卡控制电路控制多个所述板卡通道电路的通断,以及

上位机，与所述系统控制电路连接。

9.一种如权利要求8所述的板卡测试系统测试方法，其特征在于，包括：

所述上位机控制电源给多个所述板卡测试电路供电；

所述上位机记录每个板卡测试电路和每个所述板卡测试电路中的所述多个板卡通道电路的资源使用情况；

所述上位机基于所述资源使用情况，控制所述板卡测试电路和每个所述板卡测试电路中的所述多个板卡通道电路的通断。

10.如权利要求9所述的板卡测试系统测试方法，其特征在于，所述上位机基于所述资源使用情况，控制所述板卡测试电路和每个所述板卡测试电路中的所述多个板卡通道电路的通断包括：

对于被使用的所述板卡测试电路，所述上位机控制所述板卡供电控制电路导通，使所述电源给所述板卡控制电路和所述通道供电控制电路供电；

对被使用的所述板卡通道电路，所述上位机通过所述板卡控制电路控制对应的所述通道供电控制电路导通，使所述板卡供电控制电路通过所述通道供电控制电路给被使用的所述板卡通道电路供电。

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