CN107024652A - 板级测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种板级测试系统，包括：控制器、通信板卡、输出板卡以及控制开关；输出板卡通过控制开关与待测板卡电连接，待测板卡包括多条电路，控制开关用于选择性地控制输出板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接；控制器与控制开关通信连接，用于控制控制开关的切换；控制器通过通信板卡与待测板卡通信连接；控制器还与输出板卡通信连接，用于控制输出板卡输出第一激励信号；通信板卡接收待测板卡对于第一激励信号的反馈信号并传递给控制器。本实施例提供的板级测试系统可以实现待测板卡的自动测试，提高了待测板卡测试的效率。

Description

板级测试系统

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其涉及一种板级测试系统。

背景技术

控制系统产品的开发流程主要分为板级开发、设备级开发以及系统级开发三个阶段，为了保证产品的性能、可靠性、安全性等指标达到设计要求，需要对各个阶段的产品进行测试。针对板级开发而进行的测试为板级测试，板级测试是最基本的测试，主要是完成电路板的测试。

现有技术针对板级测试主要依靠人工接线来实现被测通道及测试电路之间的切换。即当需要切换到一下路通道或下一种测试内容时，需要人工改变待测板卡与测试电路的接线。

但是，现有的这种板级测试方式耗时耗力，严重影响了产品的开发效率。

发明内容

本发明提供一种板级测试系统，以克服现有技术板级测试效率低的问题。

本发明提供一种板级测试系统，包括：控制器、通信板卡、输出板卡以及控制开关；输出板卡通过控制开关与待测板卡电连接，待测板卡包括多条电路，控制开关用于选择性地控制输出板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接；控制器与控制开关通信连接，用于控制控制开关的通断；控制器通过通信板卡与待测板卡通信连接；控制器还与输出板卡通信连接，用于控制输出板卡输出第一激励信号；通信板卡接收待测板卡对于第一激励信号的反馈信号并传递给控制器。

如上所述的板级测试系统，还包括输入板卡，输入板卡通过控制开关与待测板卡电连接，控制开关还用于选择性地控制输入板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接；控制器与输入板卡通信连接；控制器还用于控制通信板卡产生第二激励信号；输入板卡接收待测板卡对于第二激励信号的反馈信号并传递给控制器。

如上所述的板级测试系统，其中，输入板卡包括：数字量输入板卡和模拟量输入板卡，控制开关还用于选择性地控制数字量输入板卡和模拟量输入板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接。

如上所述的板级测试系统，其中，输入板卡还包括数字万用表，控制开关还用于选择性地控制数字量输入板卡、模拟量输入板卡以及数字万用表与待测板卡的一条或者多条电路电连接。

如上所述的板级测试系统，其中，输出板卡包括：数字量输出板卡和模拟量输出板卡，控制开关还用于选择性地控制数字量输出板卡和模拟量输出板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接。

如上所述的板级测试系统，还包括示波器，示波器通过控制开关与待测板卡电连接，控制开关还用于选择性地控制示波器与待测板卡的一条或者多条电路电连接；控制器还用于控制通信板卡产生第三激励信号；示波器接收并显示待测板卡对于第三激励信号的反馈信号。

如上所述的板级测试系统，其中，示波器与控制器通信连接，用于将第三激励信号的反馈信号传递给控制器。

如上所述的板级测试系统，还包括：信号处理装置，信号处理装置串联在输出板卡和控制开关之间，用于处理第一激励信号。

如上所述的板级测试系统，还包括服务器，服务器与控制器远程通信连接。

如上所述的板级测试系统，还包括：处理器，处理器连接在服务器和控制开关之间，用于根据服务器的控制信号控制控制开关的工作状态。

本发明提供的板级测试系统通过控制器与控制开关通信连接以控制控制开关的切换，从而选择性地使输出板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接，实现待测板卡的自动测试，提高了待测板卡测试的效率。

附图说明

图1为本发明实施例一的结构示意图；

图2为本发明测试插箱的结构示意图；

图3为本发明实施例二的结构示意图；

图4为程控负载板的结构示意图；

图5为本发明实施例三的结构示意图；

图6为图5中仿真机的结构示意图；

图7为本发明实施例四的结构示意图；

图8为图7中切换矩阵箱的结构示意图；

图9为图7中处理器的结构示意图；

图10为图9中处理器的内部电路图；

图11为图7中配线箱的机构示意图。

附图标记说明：

1：待测板卡； 2：控制开关；

3：控制器； 4：通信板卡；

5：输出板卡； 51：模拟量输出板卡；

52：数字量输出板卡； 6：输入板卡；

61：模拟量输入板卡； 62：数字量输入板卡；

63：数字万用表； 7：示波器；

8：信号处理装置； 9：配线箱；

10：测试插箱； 101：通信接口；

102：待测板卡接口； 103：供电接口；

104：主测试槽位； 105：备用槽位；

11：服务器； 12：以太网交换机；

13：程控电源； 14：仿真机；

15：处理器； 16：切换矩阵箱；

161：切换矩阵板； 1611：第一排继电器开关；

1612：第二排继电器开关； S0-S5：开关。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，本发明不局限于下述的具体实施方式。

图1为本发明实施例一的结构示意图。请结合图1，本实施例提供一种板级测试系统，包括：控制器3、通信板卡4、输出板卡5以及控制开关2；输出板卡5通过控制开关2与待测板卡1电连接，待测板卡1包括多条电路，控制开关2用于选择性地控制输出板卡5与待测板卡1的一条或者多条电路电连接；控制器3与控制开关2通信连接，用于控制控制开关2的通断；控制器3通过通信板卡4与待测板卡1通信连接；控制器3还与输出板卡5通信连接，用于控制输出板卡5输出第一激励信号；通信板卡4接收待测板卡1对于第一激励信号的反馈信号并传递给控制器3。

具体地，待测板卡1可以包括多条电路，可以对应不同的测试内容(如数字量输入、模拟量输入等)或不同的测试通道(待测板卡对应某一测试内容的通道可以有多个，如16路或32路的数字量输入通道等)，控制开关2可以选择性地控制输出板卡5与待测板卡1的一条或者多条电路电连接，用于测试不同的内容或通道。

当对待测板卡1进行输入测试时，首先，控制器3先选定一条或者多条电路进行测试，接着输出控制信号控制控制开关2将被选中的电路接入测试电路，即将被选中的电路与输出板卡5之间实现电连接。然后，控制器3输出另一个控制信号给输出板卡5，输出板卡5接收到该控制信号后输出第一激励信号，第一激励信号作为待测板卡1的输入信号输入到待测板卡1中，待测板卡1对第一激励信号做出反应，将反馈信号按照通信协议输出到通信板卡4，通信板卡4将反馈信号输入到控制器3中，控制器3将反馈信号与第一激励信号进行比较，判断测试是否成功，并记录测试结果，完成被选中电路的输入测试。该电路测试完成后，控制器3还可以继续控制控制开关2将其他电路接入测试电路中，进行测试，直到完成待测板卡1所有电路的测试。

控制开关可以为多组，每组对应不同的测试内容或不同的测试通道。在此不作具体限制。并且，在本实施例中控制开关的类型也不作具体限制，例如，控制开关可以是继电器开关或者开关管。

图2为本发明测试插箱的结构示意图。请结合图2，本实施例的板级测试系统还可以包括测试插箱10，以便将板级测试系统的各个部件安装在测试插箱10内，以提高板级测试系统的集成性，从而减小整体的体积。具体的，待测板卡可以固定在测试插箱10中，测试插箱10可以给被测板卡1提供供电接口103和通信接口101，用于为待测板卡1供电和实现通信连接。设备连接时，一条线连接测试插箱10的通信接口101与通信板卡4实现待测板卡1与通信板卡4的通信连接，另一条线连接待测板卡1与控制开关2实现待测板卡1与控制开关2电连接。测试插箱可以为待测板卡提供各种接口，提高了测试系统的通用性。优选地，测试插箱10上还可以为待测板卡1提供待测板卡接口102，控制开关2可以与测试插箱10的待测板卡接口102连接以实现待测板卡1与控制开关2电连接。另外，测试插箱10可以设有一个主测试槽位104和多个备用槽位105，待测板卡1固定在各槽位中，当主测试槽位104发生故障时，可以利用备用槽位105进行测试，提高测试系统的可靠性。另外，控制器3还可以与被测插箱10通讯连接，控制被测插箱10的主测试槽位104或备用槽位105接入测试电路；当有多块被测板卡时，可以将被测板卡依次放入多个槽位中，通过控制器3实现多块板卡的自动测试，即测试完一块待测板卡后，控制器3将下一个槽位中的待测板卡接入测试电路，继续进行测试，可以实现多个待测板卡的自动测试，无需人工切换板卡，自动化程度高。

激励信号和反馈信号可以为模拟量或数字量的输出信号或通信信号等。本实施例中，第一激励信号可以为模拟量或数字量的输出信号。通信板卡可以为现有技术中可以实现通信的任意板卡如CAN通信板卡、MVB通信板卡等，在此不做具体限定。控制器与通信板卡、输出板卡和控制开关之间的通信连接方式有多种如以太网协议或CAN总线协议等，优选地，控制器可以通过以太网交换机与其他被控设备实现通信连接。

本实施例提供的板级测试系统通过控制器与控制开关通信连接以控制控制开关的切换，从而选择性地使输出板卡与待测板卡的一条或者多条电路电连接，实现待测板卡的自动测试，提高了待测板卡测试的效率。

进一步地，本实施例提供的板级测试系统，还包括输入板卡6，输入板卡6通过控制开关2与待测板卡1电连接，控制开关2还用于选择性地控制输入板卡6与待测板卡1的一条或者多条电路电连接；控制器3与输入板卡6通信连接；控制器3还用于控制通信板卡4产生第二激励信号；输入板卡6接收待测板卡1对于第二激励信号的反馈信号并传递给控制器3。

具体地，当对待测板卡1进行输出测试时，首先，控制器3先选定一条或者多条电路进行测试，接着输出控制信号控制控制开关2将被选中的电路接入测试电路，即将被选中的电路与输入板卡6之间实现电连接。然后，控制器3输出另一个控制信号给通信板卡4，通信板卡4接收到该控制信号后输出第二激励信号给待测板卡1，待测板卡1对第二激励信号做出反应输出反馈信号，输入板卡6接收反馈信号并将其输入到控制器3中，控制器3将反馈信号与第二激励信号进行比较，判断测试是否成功，并记录测试结果，完成被选中电路的输入测试。该电路测试完成后，控制器3还可以继续控制控制开关2将其他电路接入测试电路中，进行测试，直到完成待测板卡1所有电路的测试。通过输入板卡可以实现对待测板卡的输出测试，使得测试系统的功能更加完善。优选地，本实施例中，第二激励信号为通信信号，控制待测板卡输出模拟量或数字量信号。

图3为本发明实施例二的结构示意图。请结合图3，本实施例提供的板级测试系统，其中，输入板卡6包括：数字量输入板卡62和模拟量输入板卡61，控制开关2还用于选择性地控制数字量输入板卡62和模拟量输入板卡61与待测板卡1的一条或者多条电路电连接。

具体地，当对待测板卡1的数字量输出进行测量时，可以通过控制器3选择数字量输入板卡62作为输入板卡接入测试电路中；当对待测板卡1的模拟量输出进行测试时，可以通过控制器3选择模拟量输入板卡61作为输入板卡接入到测试电路中；如果既需要对数字量输出进行测试又需要对模拟量输出进行测试时，可以通过控制器3发出不同的控制信号实现数字量输入板卡62与模拟量输入板卡61之间的自动切换。数字量输入板卡与模拟量输入板卡使得测试系统既可以测待测板卡的数字量输出又可以测模拟量输出，测试功能更全面。

本实施例中，输入板卡6还包括数字万用表63，控制开关2还用于选择性地控制数字量输入板卡62、模拟量输入板卡61以及数字万用表63与待测板卡1的一条或者多条电路电连接。

具体地，当对待测板卡1的数字量输出进行测试时，待测板卡1的反馈信号可以输入到数字万用表63中，用数字万用表显示电压或电流等的大小或者形状。用数字万用表显示反馈信号可以使得测试结果直观、具体。

本实施例中，输出板卡5包括：数字量输出板卡52和模拟量输出板卡51，控制开关2还用于选择性地控制数字量输出板卡52和模拟量输出板卡51与待测板卡1的一条或者多条电路电连接。

具体地，当对待测板卡1的数字量输入进行测量时，可以通过控制器3选择数字量输出板卡52作为输出板卡接入测试电路中；当对待测板卡1的模拟量输入进行测试时，可以通过控制器3选择模拟量输出板卡51作为输入板卡接入到测试电路中；如果既需要对数字量输入进行测试又需要对模拟量输入进行测试时，可以通过控制器3发出不同的控制信号实现数字量输出板卡52与模拟量输出板卡51之间的自动切换。数字量输出板卡与模拟量输出板卡使得测试系统既可以测待测板卡的数字量输出又可以测模拟量输出，测试功能更全面。

另外，输入板卡与输出板卡还可以集成为一块板卡，例如数字量输入板卡与数字量输出板卡可以集成为一块数字IO卡，在此不做具体限定。

本实施例中，板级测试系统还包括示波器7，示波器7通过控制开关2与待测板卡1电连接，控制开关2还用于选择性地控制示波器7与待测板卡1的一条或者多条电路电连接；控制器3还用于控制通信板卡4产生第三激励信号；示波器7接收并显示待测板卡1对于第三激励信号的反馈信号。

具体地，当对测试待测板卡1进行输出测试时，首先，控制器3先选定一条或者多条电路进行测试，接着输出控制信号控制控制开关2将被选中的电路接入测试电路，即将被选中的电路与示波器7之间实现电连接。然后，控制器3输出另一个控制信号给通信板卡4，通信板卡4接收到该控制信号后输出第三激励信号给待测板卡1，待测板卡1对第三励信号做出反应输出反馈信号，示波器7接收反馈信号并将其变化显示出来。

第三激励信号可与第二激励信号相同，优选地，第三激励信号为控制待测板卡输出数字量的通信信号。此时，示波器可用于对待测板卡的数字量输出上升沿或下降沿的时间特性进行测试，测试结果更加直观。

本实施例中，示波器7与控制器3通信连接，用于将第三激励信号的反馈信号传递给控制器3。具体地，示波器7还将反馈信号传输到控制器3中，控制器3将反馈信号与第三激励信号进行比较，判断测试是否成功，并记录测试结果，完成被选中电路的输入测试。该电路测试完成后，控制器3可以继续控制控制开关2将其他电路接入测试电路中，进行测试，直到完成待测板卡1所有电路的测试。将示波器的结果传输到控制器中，便于控制器对测试结果进行比较和存储。

本实施例中，板级测试系统还包括：信号处理装置8，信号处理装置8串联在输出板卡5和控制开关2之间，用于处理第一激励信号。具体地，当输入板卡6接入测试电路时，信号处理装置8还可以串联在输入板卡6和控制开关2之间，对待测板卡1的反馈信号进行处理。信号处理装置可以对信号进行放大、滤波等操作将该信号转换成其他设备能够识别的信号，同时还能起到隔离、保护的作用。

具体地，信号处理装置可以包括程控负载板、继电器输出调理板、继电器输入调理板、高压数字输出调理板、高压数字输入调理板、数字输出调理板、数字输入调理板、模拟量输出调理板、模拟量输入调理板等。每块板子可以对应不同的测试内容，用户可以根据实际情况对板子的种类和数目进行设置。优选地，信号处理装置可以为集成上述功能的调理插箱，实现测试系统的模块化，便于控制和维护。

其中，信号处理装置中的程控负载板可以为待测板卡提供负载以进行待测板卡的负载特性测试。具体的，当对待测板卡负载特性进行测试时，通过程控负载板提供大小不同的负载以使待测板卡获得变化的电压和电流，从而可以测得待测板卡对不同负载的定性或者定量反应，也即，测得待测板卡的负载特性。图4为程控负载板的结构示意图。请结合图4，程控负载板接有多个电阻串联而成，每个电阻都并联有一个开关，通过开关的通断可以将一个电阻接入电路或短路。具体地，每个电阻又可以由多个电阻串联或并联而成，其数量及大小可以根据实际需求进行设置，在此不做具体限定。程控负载板开关的闭合可以由控制器进行控制。

图5为本发明实施例三的结构示意图。请结合图5，本实施例中，输入板卡6、输出板卡5、通信板卡4以及控制器3可以集成为一仿真机14。仿真机14作为一个独立的模块可以为待测板卡提供各类信号进行测试，使得测试系统的模块化程度高，便于控制维护。优选地，仿真机可以使用PXI/PXIe机箱将各板卡或控制器进行集成。

图6为图5中仿真机的结构示意图，请结合图6仿真机可以包括多个槽位，根据测试内容可以添加不同的板卡，例如模拟量输入板卡、模拟量输出板卡、CAN通信板卡、以太网接口板卡等。板卡的种类和数量可以根据测试内容进行添加，在此不做具体限定。

图5中，板级测试系统还包括服务器11，服务器11与控制器3远程通信连接。通过服务器与控制器通信连接，将控制器的一部分功能由服务器来远程实现，实现各部分单独控制，使得控制系统模块化程度高，可靠性高，便于维护。控制器与服务器功能的分配可以根据实际情况进行设置，本发明不以此为限。

优选地，控制器3集成到仿真机14中，负责对仿真机14中的各板卡实现控制，即使用何种板卡为待测板卡提供何种信号。而服务器11主要实现集中控制，即控制控制开关2、仿真机14等各独立设备，并记录测试结果等。

具体地，当对待测板卡的输出进行测试时，服务器11先选定一条或者多条电路进行测试，接着输出控制信号控制控制开关2将被选中的电路接入测试电路，即将被选中的电路与输入板卡5之间实现电连接。然后，服务器11输出另一个控制信号给仿真机14，仿真机14中的控制器3控制通信板卡4输出第二激励信号给待测板卡1，待测板卡1对第二激励信号做出反应输出反馈信号，输入板卡6接收反馈信号并将其输入到控制器3中，控制器3将反馈信号与第二激励信号进行比较，然后将结果上传到服务器11中，服务器11判断测试是否成功，并记录测试结果，完成被选中电路的输入测试。当使用输出板卡或示波器进行测试时，测试流程与上述过程类似，不再赘述。

另外，服务器11与控制器3实现远程通信的方式有多种，优选地，服务器11通过以太网交换机12与控制器3通信连接，可以远程实时监控。

本实施例中，板级测试系统还可以包括程控电源13，该程控电源13还可以与仿真机14、信号处理装置8、示波器7以及控制开关2等用电设备中的一个或者多个电连接，以为相应的用电设备提供正常工作所需的电源。优选地，程控电源13还可以与控制器3或者通过以太网交换机12与服务器11通信连接，以接收控制器3或者服务器11输出的电源控制信号，从而分别为不同的用电设备或者在不同的时间为同一个用电设备提供具有不同电压值或者电流值的电源。例如，当需要使用示波器7显示测试结果时，可以由服务器11发出指令控制程控电源13对示波器7进行供电，当不使用示波器7时，则停止对示波器7供电。这样设置可以避免测试系统运行时，所有设备同时供电造成电网压力不稳，并可以减少能源浪费。在本实施例中，程控电源的数量和电压可以根据实际情况进行设置，例如，程控电源可以为两台，一台用来作为各测试设备的额定电压供电设备，另一台作为数字量输入测试的供电设备。

本实施例中，板级测试系统还可以包括配线箱9，配线箱9串联在待测板卡1与控制开关2之间。配线箱9可以将所有控制开关2和待测板卡1的所有电路连接起来，便于切换测试电路。配线箱的数目可以根据需要进行配置，在此不做具体限定。

本实施例中，板级测试系统还包括：处理器(未示出)，处理器连接在服务器11和控制开关2之间，用于根据服务器11的控制信号控制控制开关2的工作状态，实现控制开关的单独控制。

图7为本发明实施例四的结构示意图。图中服务器未示出，其连接关系请参考上述实施例三。请结合图7，当待测板卡的电路数量过多时，相应地需要的控制开关的数目也很多，会造成控制开关的结构庞大及接线复杂，不便于控制和维护。此时，可以使用现有技术中的切换矩阵箱来实现控制开关的功能，切换矩阵箱可以在一路或多路信号输入的情况下，根据需要选择一路或多路信号进行输出，从而可以提高系统的集成度，并保证信号输入/输出的稳定性。优选地，切换矩阵箱16可以包含多个切换矩阵板161，每个切换矩阵板161包括一个或者多个控制开关，以对应不同的测试内容或测试通道，从而便于对测试进程进行独立控制。切换矩阵箱及切换矩阵板的数目可以根据实际情况进行设置，在此不做具体限定。进一步地，切换矩阵箱16还可以包括处理器15，处理器15与服务器11通信连接，用于接收服务器11的控制信号进而控制切换矩阵板161各路通道的通断，从而实现输入板卡或输出板卡与待测板卡的一个或多个电路的电连接。由处理器15来对切换矩阵板161进行单独控制，可以提高控制系统的可靠性。

具体地，测试时，服务器11输出控制信号到达处理器15，处理器15根据控制信号控制切换矩阵板161将待测板卡1的一个或多个电路接入测试电路，接着服务器11给仿真机14中的控制器3一个控制信号将测试所需的板卡(对待测板卡的输入进行测试时，所需板卡可以为通信板卡以及输出板卡；对待测板卡的输出进行测试时，所需板卡可以为通信板卡以及输入板卡)接入测试电路，开始进行测试。针对不同的测试内容可以选择仿真机14中不同的板卡以及信号处理装置8中不同的调理板。

图8为图7中切换矩阵箱的结构示意图。请结合图8，切换矩阵板161可以包含第一排继电器开关1611和第二排继电器开关1612，第一排继电器开关1611实现信号处理装置8和测试电路之间的切换，第二排继电器开关1612开关实现待测板卡1的各电路与测试电路之间的切换。优选地，所有继电器开关默认处于常闭端。

具体地，在测试过程中服务器11给处理器15一个控制信号，处理器15控制第一排继电器开关1611和第二排继电器开关1612切换到与测试内容和测试通道相对应的测试电路中，实现待测板卡与信号处理设备之间的电连接。

优选地，处理器15还可以承担程控负载板与测试电路的切换功能。图9为图7中处理器的结构示意图，图10为图9中处理器的内部电路图。请结合图9与图10，配线箱9包括板卡接口和激励接口，板卡接口为配线箱9与待测板卡1的接口，激励接口为配线箱9与切换矩阵箱16的接口，该接口可以包含多个通道，用于传递激励信号。本实施例中，处理器15与配线箱9的激励接口连接，与信号处理装置8的程控负载板连接，与切换矩阵板161连接，还与示波器7和数字万用表63连接。

当对待测板卡的输出进行测试时，开关S0和开关S5闭合，可以将程控负载板中的负载接入测试电路中，此时，电流从切换矩阵板161经信号调理装置8流出，输入到数字万用表63的电流表(也可输出到电压表或示波器，根据测试需求进行选择)中，显示结果。

当对待测板卡的输入进行测试时，开关S1到开关S4中的一个闭合，开关S5闭合，此时第一激励信号从切换矩阵板输入到配线箱的不同激励通道中，最终与待测板卡中的不同电路实现电连接，实现待测板卡的各电路与测试电路之间的切换。开关S1、开关S2、开关S3以及开关S4代表不同的激励通道，其可以对应待测板卡不同的电路，也可以互为冗余，保证施加激励信号的灵活性。激励通道的数目可以根据实际情况进行设置，本发明不以此为限。

图11为图7中配线箱的机构示意图。请结合图11，配线箱9包括多个测试接口，测试接口又包括与待测板卡1连接的板卡接口和与处理器15连接的激励接口。除此之外，配线箱还可以包括程控电源接口和供电电源接口用于配线箱的供电。

本实施例中，仿真机还可以包括延时测试板卡，利用延时测试板卡可以对待测板卡的延时特性进行测试。延时测试可以利用仿真机中的MVB板卡进行通信，测试从MVB板卡发出第一激励信号到待测板卡到待测板卡返回反馈信号之间的时间差，或者测试从仿真机的输入板卡发出第二激励信号到待测板卡将反馈信号发送到MVB板卡之间的时间差。具体的测试流程可以参考上述输入、输出测试的流程，在此不再赘述。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种板级测试系统，其特征在于，包括：控制器、通信板卡、输出板卡以及控制开关；

所述输出板卡通过所述控制开关与待测板卡电连接，所述待测板卡包括多条电路，所述控制开关用于选择性地控制所述输出板卡与所述待测板卡的一条或者多条所述电路电连接；所述控制器与所述控制开关通信连接，用于控制所述控制开关的通断；

所述控制器通过所述通信板卡与所述待测板卡通信连接；

所述控制器还与所述输出板卡通信连接，用于控制所述输出板卡输出第一激励信号；所述通信板卡接收所述待测板卡对于所述第一激励信号的反馈信号并传递给所述控制器。

2.根据权利要求1所述的板级测试系统，其特征在于，还包括输入板卡，

所述输入板卡通过所述控制开关与所述待测板卡电连接，所述控制开关还用于选择性地控制所述输入板卡与所述待测板卡的一条或者多条所述电路电连接；

所述控制器与所述输入板卡通信连接；

所述控制器还用于控制所述通信板卡产生第二激励信号；

所述输入板卡接收所述待测板卡对于所述第二激励信号的反馈信号并传递给所述控制器。

3.根据权利要求2所述的板级测试系统，其特征在于，所述输入板卡包括：数字量输入板卡和模拟量输入板卡，所述控制开关还用于选择性地控制所述数字量输入板卡和所述模拟量输入板卡与所述待测板卡的一条或者多条所述电路电连接。

4.根据权利要求3所述的板级测试系统，其特征在于，所述输入板卡还包括数字万用表，所述控制开关还用于选择性地控制所述数字量输入板卡、所述模拟量输入板卡以及所述数字万用表与所述待测板卡的一条或者多条所述电路电连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的板级测试系统，其特征在于，所述输出板卡包括：数字量输出板卡和模拟量输出板卡，所述控制开关还用于选择性地控制所述数字量输出板卡和所述模拟量输出板卡与所述待测板卡的一条或者多条所述电路电连接。

6.根据权利要求1-4任一项所述的板级测试系统，其特征在于，还包括示波器，所述示波器通过所述控制开关与所述待测板卡电连接，所述控制开关还用于选择性地控制所述示波器与所述待测板卡的一条或者多条所述电路电连接；

所述控制器还用于控制所述通信板卡产生第三激励信号；

所述示波器接收并显示所述待测板卡对于所述第三激励信号的反馈信号。

7.根据权利要求6所述的板级测试系统，其特征在于，所述示波器与所述控制器通信连接，用于将所述第三激励信号的反馈信号传递给所述控制器。

8.根据权利要求1-4任一项所述的板级测试系统，其特征在于，还包括：信号处理装置，所述信号处理装置串联在所述输出板卡和所述控制开关之间，用于处理所述第一激励信号。

9.根据权利要求1-4任一项所述的板级测试系统，其特征在于，还包括服务器，所述服务器与所述控制器远程通信连接。

10.根据权利要求9任一项所述的板级测试系统，其特征在于，还包括：处理器，所述处理器连接在所述服务器和所述控制开关之间，用于根据所述服务器的控制信号控制所述控制开关的工作状态。