CN112730899A - 自固定检测装置 - Google Patents

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CN112730899A CN202011352486.7A CN202011352486A CN112730899A CN 112730899 A CN112730899 A CN 112730899A CN 202011352486 A CN202011352486 A CN 202011352486A CN 112730899 A CN112730899 A CN 112730899A
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Abstract

本发明涉及一种自固定检测装置,用于检测二次回路端子片,包括检测本体及固定件,所述检测本体包括壳体及导电柱,所述导电柱贯穿所述壳体并滑动连接于所述壳体,所述导电柱上端用于连接外部测试导线,所述导电柱下端用于抵接所述二次回路端子片检测点,所述固定件弹性转动连接于所述壳体的两侧。通过固定件将检测本体固定在二次回路端子片上以进行二次回路端子片的电路检测,无需人力按压固定且安全便捷。

Description

自固定检测装置
技术领域
本发明涉及电气工具技术领域,特别是涉及一种自固定检测装置。
背景技术
在电气安装维护过程中需对设备的导电性能进行周期性检修,尤其是连接线路及传输信号的二次回路连线端子。
目前检修人员主要通过螺丝头香蕉插座及空心插头进行检测。螺丝头香蕉插座端头为螺丝、端尾为香蕉插座,导线插入香蕉插座后端头连接端子片的端子孔内进行检测。空心插头端头为具有弹性的空心管、端尾为香蕉插座,导线插入相加插座后将空心管插入端子孔内进行检测。其中,螺丝头香蕉插座及空心插头在使用过程中,随着使用次数的增加存在螺纹磨损及空心管弹性疲劳的问题使其无法正常连接于端子孔,而且手动进行固定的过程中危险系数较高。
发明内容
基于此,有必要针对上述问题,提供一种自固定检测装置。
一种自固定检测装置,用于检测二次回路端子片,其特征在于,包括:
检测本体,所述检测本体包括壳体及导电柱,所述导电柱贯穿所述壳体并滑动连接于所述壳体,所述导电柱上端用于连接外部测试导线,所述导电柱下端用于抵接所述二次回路端子片检测点;及
固定件,弹性转动连接于所述壳体的两侧。
上述自固定检测装置,将导电柱上端连接外部测试导线、导电柱下端抵接二次回路端子片检测点,通过固定件将检测本体固定在二次回路端子片上以进行二次回路端子片的电路检测,无需人力按压固定且安全便捷。
在其中一个实施例中,还包括限位件,所述限位件包括限位板、弹性件及限位柱,所述限位柱固定于所述限位板两侧,所述限位板位于壳体下方滑动连接于所述导电柱,所述弹性件位于所述限位板及导电柱下端和/或壳体及限位板中间位置并穿设于所述导电柱。
在其中一个实施例中,所述限位板包括上滑片、下滑片及滑块,所述限位柱分别固定于所述上、下滑片,所述滑块滑动连接于导电柱,所述上、下滑片垂直所述导电柱并滑动连接于所述滑块。
在其中一个实施例中,所述滑块包括上夹片及下夹片,所述上、下夹片位于所述上、下滑片的两侧以夹紧所述上、下滑片。
在其中一个实施例中,所述导电柱下端设有导电锥,所述导电锥抵接二次回路端子片检测点,所述第二弹簧位于所述限位板及到导电锥中间位置并穿设于所述导电柱。
在其中一个实施例中,所述夹紧件包括转动部及钩爪,所述钩爪设有避让槽,所述壳体设有凸耳,所述转动部通过连接件转动连接于所述凸耳,所述钩爪穿过所述导线连接所述转动部以抱紧所述端子片。
在其中一个实施例中,所述导电柱上端设有插座,所述导电柱通过所述插座连接外部测试导线。
在其中一个实施例中,所述壳体两侧分别设有凸块及凹槽,所述凸块及凹槽分别匹配于相邻壳体上方的凹槽及凸块。
在其中一个实施例中,所诉导电柱外套设有尼龙柱,所述导电柱通过所述尼龙柱滑动连接于所述壳体。
附图说明
图1为自固定检测装置示意图;
图2为自固定检测装置第二角度示意图;
图3为图1局部示意图;
图4为自固定检测装置检测示意图。
图标:
10-自固定检测装置
100-检测本体;110-插座;111-绝缘套;120-导电柱;121-尼龙柱;130-壳体;131-滑道;132-凸块;133-凹槽;134-凸耳;
200-固定件;210-弹性组件;220-连接件;230-夹紧件;231-转动部;232-钩爪;2321-避让槽;233-绝缘套;
300-限位件;310-限位板;311-上滑片;312-下滑片;313-滑块;3131-上夹片;3132-下夹片;320-限位件;321-第一限位件;322-第二限位件;330-限位柱;331-左限位柱;332-右限位柱;
400-二次回路连接端子;410-二次回路端子片;411-插接孔;4111-左插接口;4112-右插接孔;412-检测点;420-底座;
500-导线;
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
结合图1及图4所示,本发明一实施例中的自固定检测装置10,用于检测二次回路端子片410导电特性。自固定检测装置10主要包括检测本体100及固定件200,检测本体100用于连接外部测试导线及二次回路端子片410内的检测点412进行检测,所述固定件200用于固定检测本体100于二次回路端子片410上。
具体的,检测本体100包括壳体130及导电柱120,导电柱120贯穿所述壳体130并弹性滑动连接于壳体130。优选的,同时参考图2,壳体130设有与导电柱120相匹配的滑道131,导电柱120长度大于滑道131长度且两端位于滑道131或壳体130外侧。导电柱120一端连接测试导线,另一端抵接在二次回路端子片410内的检测点411。
具体的,固定件200弹性转动连接在壳体130的两侧。优选的,固定件200一端弹性转动连接在壳体130上,另一端在弹性的作用下夹紧在二次回路端子片410上。优选的,所述固定件200尾部及壳体130间设有弹性组件210,所述弹性组件210驱动固定件200相对壳体130转动。由于固定件200一端连接壳体130,另一端夹紧于二次回路端子片410上,从而通过固定件200将检测本体100固定在二次回路端子片410上,实现自固定检测装置10的自固定。
其中,如图4所示,二次回路端子400包括底座420及二次回路端子,410,二次回路端子片410滑动连接于底座420上方,二次回路端子片410两侧设有插接孔411及检测点412。测试导线一端通过与检测点412与导线500短接,另一端连接测试仪器可进行二次回路端子400的电性检测。
在自固定检测装置10的具体使用过程中,首先将测试导线连接在导电柱120上端,可采用带有测试夹的测试导线夹设在导电柱120上端或采用机械方式将测试导线缠绕在导电柱120上端。然后,转动位于壳体130两侧的固定件200使固定件200处于可夹紧二次回路端子片410的状态。最后,将导电柱120下端抵接在二次回路端子片检测点412上,固定件200在弹性作用力下夹紧在二次回路端子片410上。上述具体使用过程还可采用先转动位于壳体130两侧的固定件200,使固定件200处于可夹紧二次回路端子片410的状态。然后,再将导电柱120下端抵接在二次回路端子片检测点412上,固定件200在弹性作用力下夹紧在二次回路端子片410上,最后将测试导线连接在导电柱120上端。
在其中一个实施例中,自固定检测装置10还设有限位件300,通过限位件300以限定检测本体100相对二次回路端子片410的位置。限位件300包括限位板310、弹性件320及限位柱330,限位柱330固定在限位板310两侧,限位板310位于壳体130下方并滑动连接于导电柱120。其中,限位柱330固定在限位板310两侧并插接在插接孔411内,限定限位板310相对二次回路端子片410的位置。弹性件320位于限位板310及导电柱120中间位置,优选限位件300穿设所述导电柱120,通过弹性件320限定导电柱120相对检测点412的位置。通过将限位柱330插接在插接孔411内,插接孔411通过限位柱330限定限位板310水平方向的自由度,进而限定导电柱120相对二次回路端子片410水平方向的自由度。通过在限位板310及导电柱120下端设置弹性件320,限位板310通过弹性件320对导电柱120下端施加向下的作用力,从而限定导电柱120相对二次回路端子片410竖直方向的自由度,进而将导电柱120固定在检测点412。
具体的,为提高限位板310抵接于二次回路端子片410上方的稳定性,所述弹性件320包括第一弹性件321及第二弹性件322,第一弹性件321位于限位板310及导电柱120中间位置,第二弹性件322位于壳体130及限位板310中间位置。具体的,壳体130对第二弹性件322施加向下的作用力,通过第二弹性件322将向下的作用力传递到限位板310,将限位板310压紧在二次回路端子片410上方,保证限位板310稳定抵接于二次回路端子片410上方。
进一步的,为适应不同型号的二次回路端子片410,所述限位板310可相对导电柱120沿平行于二次回路端子片410的方向移动。具体的,如图3所示,限位板310包括上滑片311、下滑片312及滑块313,所述左限位柱331及右限位柱332分别固定在上滑片311及下滑片312上,滑块313滑动连接在导电柱120上,所述滑块313可相对导电柱120沿其轴线方向滑动。其中,上滑片311及下滑片312滑动连接于滑块313并相对滑块313沿平行于二次回路端子片410的方向移动。对于不同型号的二次回路端子片410其左、右插接孔(4111,4112)与检测点412的间距不等,可通过调整上滑片311及下滑片312相对滑块313的位置,使左、右限位柱(331,332)距离检测点的间距等于左、右插接孔(4111,4112)与检测点412的间距,从而使左、右限位柱(331,332)插接于插接孔411时导电柱120正对检测点412。
结合图3所示,为避免上、下滑片(311,312)在自固定检测装置10固定在二次回路端子片410的过程中相对彼此滑动,所述滑块313包括上夹片3131及下夹片3132。所述上夹片3131及下夹片3132分别位于上滑片311及下滑片312的上下两侧,上夹片3131连接所述下夹片3132以压紧上滑片311及下滑片312,从而将上滑片311及下滑片312固定,避免上滑片311相对下滑片312滑动。在调整左、右限位柱(331,332)使其满足左、右插接孔(4111,4112)相对检测点412的位置时,首先放松上夹片3131及下夹片3132,调整上滑片311及下滑片312相对导电柱120的位置,然后再夹紧上夹片3131及下夹片3132以固定上滑片311及下滑片312。
在将自固定检测装置10固定于二次回路端子400进行检测时,首先,调整上滑片311及下滑片312相对滑块313的位置,使左、右限位柱(331,332)及导电柱120分别正对左、右插接孔(4111,4112)及检测点412。紧固上夹片3131及下夹片3132以夹紧上滑片311及下滑片312,固定左、右限位柱(331,332)相对导电柱120的位置。然后,夹紧固定件120尾部使固定件120处于可夹紧二次回路端子片410的状态。接着,使左、右限位柱(331,332)及导电柱120分别对准左、右插接孔(4111,4112)及检测点412,将左、右限位柱(331,332)插入左、右插接孔(4111,4112)内。最后,取消对固定件120尾部的作用力,固定件120在弹性作用力下夹紧在二次回路端子片410上。固定组件210固定于二次回路端子片410时对壳体130产生向下的拉力,壳体130通过第二弹性件322将限位板310压紧在二次回路端子片410。与此同时,导电柱120相对滑块313向上滑动,使第一弹性321件处于压缩状态,进而通过第一弹性件321将导电柱120压紧于检测点412。
进一步的,为提高导电柱120与检测点412电连接的稳定性,导电柱120下端设有导电锥122,所述导电锥122一端连接导电柱120,另一端抵接于二次回路端子片的检测点412。其中,第一弹性件321位于限位板310及导电锥122的中间位置且同轴穿设于导电柱120。为防止第一弹性件321从导电锥122上滑落,所述导电锥122优选如图3所述的凸台结构,导电锥122连接导电柱120的端部直径大于第一弹性件321的直径。同时,为保证导电锥122与检测点412连接的稳定性,导电锥122的直径不大于检测点412的孔径,优选导电锥122的直径等于检测点412的孔径。通过增大导电锥122与检测点412的接触面积以增大电流流通面积,从而提升导电柱120与检测点412电连接的稳定性,提高检测结果的准确度。
在其中一个实施例中,为简化固定件200夹紧二次回路端子400的操作难度,所述固定件200包括夹紧件230、连接件220及弹性组件210。夹紧件230通过连接件220转动连接于壳体130两侧,弹性组件210位于壳体130及夹紧件230中间并驱动夹紧件230绕连接件220相对壳体130转动,从而使夹紧件230夹紧在二次回路端子400上。其中,所述弹性组件210可为压缩弹簧或拉伸弹簧,当弹性组件220相对连接件220位于远离二次回路端子400的一侧时,所述弹性组件220为压缩弹簧。当弹性组件210相对连接件220位于靠近二次回路端子400的一侧时,所述弹性组件210为拉伸弹簧。在将自固定检测装置10固定在二次回路端子400的过程中,通过手动驱动夹紧件230绕连接件220相对壳体130转动,在将导电柱120连通检测点412后放开夹紧件230,弹性组件210释放内部的弹性势能驱动夹紧件230夹紧二次回路端子400,从而通过固定件200将检测本体100固定在二次回路端子400上。
进一步的,为提高固定件200固定检测本体100于二次回路端子片410上的稳定性,所述夹紧件230包括转动部231及钩爪232,转动部231通过连接件220转动连接在所述壳体130两侧。其中,弹性组件210驱动转动部231绕连接件220转动以使钩爪232抱紧二次回路端子片410。为避免壳体130阻挡转动部231绕连接轴220相对壳体130转动,壳体130两侧设有凸耳133,转动部231通过连接件220连接凸耳134并相对凸耳134转动,从而增大夹紧件230相对壳体130的转动角度。与此同时,增大夹紧件230相对壳体130的转动角度可增大钩爪232的抱紧体积,以抱紧不同尺寸的二次回路端子400。
进一步的,为避免导线500阻碍钩爪232抱紧底座420,影响钩爪232对连接端子410的抱紧力,所述钩爪232设有避让槽2321。弹性组件210驱动钩爪232抱紧连接端子410时,钩爪232通过避让槽2321绕过导线500以夹紧底座420及二次回路端子片410。同时,钩爪232通过避让槽2321夹设于导线500两侧,使得连接件230平行于导线500,进而使得钩爪232充分接触底座420,提高固定件200固定检测本体100于二次回路端子400的稳定性。
在其中一个实施例中,为快速连接测试导线500于导电柱120上,所述导电柱120上方设有插座110,其中,所述插座110可采用香蕉插座或弹性夹子。在使用过程中,通过将测试导线插入香蕉插座或夹设在弹性夹子内即可将连通测试导线及导电柱120。根据检测电路安全性能的要求,优选如图2所示的香蕉插座。所述香蕉插座外包裹有绝缘套111。为避免工作人员使用过程中误触香蕉插座而导致触电,所述绝缘套111凸出于香蕉插座,优选高出5-10mm以阻止插座110之外的物体接触香蕉插座,保证工作人员的人身安全。
进一步的,为适用不同型号的测试导线插入插座110内,所述插座110可拆卸连接于导电柱120。在测试导线与导电柱120上方的插座110不匹配时,可更换导电柱120上方的插座110以匹配不同型号的测试导线。
由于二次回路端子400的底座420上方可设有多个二次回路端子片410,采用相应数量的自固定检测装置10进行多个二次回路端子片410检测时彼此之间会发生干涉,影响二次回路端子400的检测结果。针对上述问题,壳体两侧分别设有凸块132及凹槽133,所述凸块132及凹槽133分别匹配与相邻壳体130上方的凹槽133及凸块132。其中,壳体130可一侧设有凸块132另一侧设有凹槽133,或者两侧均设有凸块132及凹槽133,所述凸块132及凹槽133分别与相邻壳体120的凹槽133及凸块132相匹配。多个自固定检测装置10通过凸块132及凹槽133连接为一个整体,可避免相邻自固定检测装置10互相干涉且提高其连接于二次回路端子400的稳定性。
在其中一个实施例中,所述导电柱120外套设有尼龙柱121,所述导电柱120通过尼龙柱121滑动连接于所述壳体130内。为避免导电柱120外露威胁操作人员的人身安全,优选尼龙柱121上端越过导电柱120上端面。在具体使用过程中,导电柱120通过尼龙柱121相对壳体130滑动,避免导电柱120相对壳体130滑动过程中发生磨损,从而提高自固定检测装置10的使用寿命。
在将自固定检测装置10固定于二次回路端子400进行检测时,首先调整上滑片311及下滑片312相对滑块313的位置,使左、右限位柱(331,332)及导电柱120分别正对左、右插接孔(4111,4112)及检测点412。紧固上夹片3131及下夹片3132以夹紧上滑片311及下滑片312,固定左、右限位柱(331,332)相对导电柱120的位置。然后,夹紧固定件120尾部以压缩弹性组件210,夹紧件230绕连接件220相对凸耳134转动,使钩爪232张开处于可夹紧二次回路端子片410的状态。接着,使左、右限位柱(331,332)及导电锥122底端对准左、右插接孔(4111,4112)及检测点412,将左、右限位柱(331,332)插入左、右插接孔(4111,4112)内。与此同时,取消对固定件120尾部的作用力,弹性组件210驱动转动部231绕连接件220转动使钩爪232抱紧端子片410。钩爪232抱紧二次回路端子片410时对壳体130产生向下的拉力,壳体130通过第二弹性件322将限位板310压紧在二次回路端子片410。与此同时,导电柱120相对滑块313向上滑动,使第一弹性321件处于压缩状态,进而通过第一弹性件321将导电柱120压紧于检测点412。最后,连接测试导线于插座110内,在测试导线与导电柱120上方的插座110不匹配时,可更换相匹配的插座110后再连接测试导线。重复上述操作,将多个自固定检测装置10固定于二次回路端子400上,同时相邻的自固定检测装置10通过凸块132及凹槽133相连接。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种自固定检测装置,用于检测二次回路端子片,其特征在于,包括
检测本体,所述检测本体包括壳体及导电柱,所述导电柱贯穿所述壳体并滑动连接于所述壳体,所述导电柱上端用于连接外部测试导线,所述导电柱下端用于抵接所述二次回路端子片检测点;及
固定件,弹性转动连接于所述壳体的两侧。
2.根据权利要求1所述的自固定检测装置,其特征在于,还包括限位件,所述限位件包括限位板、弹性件及限位柱,所述限位柱固定于所述限位板两侧,所述限位板位于壳体下方滑动连接于所述导电柱,所述弹性件位于所述限位板及导电柱下端和/或壳体及限位板中间位置并穿设于所述导电柱。
3.根据权利要求2所述的自固定检测装置,其特征在于,所述限位板包括上滑片、下滑片及滑块,所述限位柱分别固定于所述上、下滑片,所述滑块滑动连接于导电柱,所述上、下滑片垂直所述导电柱并滑动连接于所述滑块。
4.根据权利要求3所述的自固定检测装置,其特征在于,所述滑块包括上夹片及下夹片,所述上、下夹片位于所述上、下滑片的两侧以夹紧所述上、下滑片。
5.根据权利要求2所述的自固定检测装置,其特征在于,所述导电柱下端设有导电锥,所述导电锥抵接二次回路端子片检测点,所述第二弹簧位于所述限位板及导电锥中间位置并穿设于所述导电柱。
6.根据权利要求1所述的自固定检测装置,其特征在于,所述固定件包括夹紧件、连接件及弹性组件,所述夹紧件通过连接件转动连接于所述壳体,所述弹性组件两端分别抵接于壳体及夹紧部以驱动夹紧部相对壳体转动。
7.根据权利要求6所述的自固定检测装置,其特征在于,所述夹紧件包括转动部及钩爪,所述钩爪设有避让槽,所述壳体设有凸耳,所述转动部通过连接件转动连接于所述凸耳,所述钩爪穿过所述导线连接所述转动部以抱紧所述端子片。
8.根据权利要求1所述的自固定检测装置,其特征在于,所述导电柱上端设有插座,所述导电柱通过所述插座连接外部测试导线。
9.根据权利要求1所述的自固定检测装置,其特征在于,所述壳体两侧分别设有凸块及凹槽,所述凸块及凹槽分别匹配于相邻壳体上方的凹槽及凸块。
10.根据权利要求1所述的自固定检测装置,其特征在于,所述导电柱外套设有尼龙柱,所述导电柱通过所述尼龙柱滑动连接于所述壳体。
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