CN112711834B - 确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法与装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法与装置，该方法包括获取机床的几何精度数据，几何精度数据为表征机床的几何精度的数据；获取机床的定位精度数据，定位精度数据为表征机床的定位精度的数据；根据几何精度数据和定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；根据关联度确定机床的几何精度对定位精度的影响。上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法，解决了现有技术中难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

Description

确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法与装置

技术领域

本申请涉及机床领域，具体而言，涉及一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法、装置、计算机可读存储介质与处理器。

背景技术

卧式机床是一种多结构组装而成的机械。其包括底座、立柱、滑鞍、工作台以及主轴箱等部件。理想状态下装配完成后所有部件位置完全固定无偏差。但实际装配时各部件之间存在一定空间位置的相对偏差，这就导致机床在运行时，其实际偏差影响机床运行的定位精度。在一些情况中，这些位置偏差对定位精度的影响较小，无需重新调整机床，在有些情况中，这些位置偏差对定位精度的影响较大，这时需要重新调整机床，才能满足应用需求。

但是，现有技术中，难以确定机床的位置偏差对定位精度的影响大小。因此，亟需一种可以确定机床的位置偏差对定位精度的影响大小的方法。

在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法、装置、计算机可读存储介质与处理器，以解决现有技术中难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法，包括：获取所述机床的几何精度数据，所述几何精度数据为表征所述机床的几何精度的数据；获取所述机床的定位精度数据，所述定位精度数据为表征所述机床的定位精度的数据；根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响。

可选地，获取所述机床的几何精度数据，包括：获取N个相同型号的所述机床的所述几何精度数据，其中，N为大于或者等于2的正整数，获取所述机床的定位精度数据，包括：获取N个相同型号的所述机床的所述定位精度数据。

可选地，获取所述机床的几何精度数据，包括：获取直线度数据，所述直线度数据包括各所述机床的各运动轴的线运动的直线度，所述运动轴包括X轴、Y轴和Z轴；获取角度偏差数据，所述角度偏差数据包括各所述机床的各所述运动轴的线运动的角度偏差；获取垂直度数据，所述垂直度数据包括各所述机床的所述X轴的运动和所述Y轴的运动的垂直度、各所述机床的所述X轴的运动和所述Z轴的运动的垂直度以及各所述机床的所述Z轴的运动和所述Y轴的运动的垂直度；获取相关度数据，所述相关度数据包括各所述机床的主轴线和所述X轴的运动的垂直度、各所述机床的主轴线和所述Y轴的运动的垂直度以及各所述机床的主轴线和所述Z轴的运动的平行度。

可选地，获取所述机床的定位精度数据，包括：获取第一定位精度数据，所述第一定位精度数据包括各所述机床的X方向的定位精度；获取第二定位精度数据，所述第二定位精度数据包括各所述机床的Y方向的定位精度；获取第三定位精度数据，所述第三定位精度数据包括各所述机床的Z方向的定位精度。

可选地，根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，包括：将所述几何精度数据处理为第一几何矩阵，所述第一几何矩阵包括N列，每一列对应一个所述机床的所述几何精度数据；将所述定位精度数据处理为第一定位矩阵，所述第一定位矩阵包括N列，每一列对应一个所述机床的所述定位精度数据；对所述第一几何矩阵和所述第一定位矩阵分别进行无量纲化处理，得到第二几何矩阵和第二定位矩阵；根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，计算所述定位精度与所述几何精度之间的关联度。

可选地，根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，计算所述定位精度与所述几何精度之间的关联度，包括：根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，确定三个关联度，三个所述关联度分别为所述X方向关联度、所述Y方向的关联度和所述Z方向的关联度。

可选地，在根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响之后，所述方法还包括：在所述关联度大于预定阈值的情况下，调整所述机床的所述几何精度。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置，包括：第一获取单元，用于获取所述机床的几何精度数据，所述几何精度数据为表征所述机床的几何精度的数据；第二获取单元，用于获取所述机床的定位精度数据，所述定位精度数据为表征所述机床的定位精度的数据；计算单元，用于根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；确定单元，用于根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响。

根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的方法。

根据本发明实施例的又一方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任意一种所述的方法。

在本发明实施例中，上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法中，首先，获取上述机床的几何精度数据，几何精度数据包括获取直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据，然后，获取上述机床的定位精度数据，定位精度数据包括上述机床的X方向、Y方向和Z方向的定位精度，之后根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，最后根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响，解决了难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1示出了根据本申请的一种实施例的确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法的流程图；

图2示出了根据本申请的一种实施例的确定机床的几何精度对定位精度的影响的示意图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应该理解的是，当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时，该元件可直接在该另一元件上，或者也可存在中间元件。而且，在说明书以及权利要求书中，当描述有元件“连接”至另一元件时，该元件可“直接连接”至该另一元件，或者通过第三元件“连接”至该另一元件。

正如背景技术中所说的，现有技术中难以确定机床的位置偏差对定位精度的影响大小，为了解决上述问题，本申请的一种典型的实施方式中，提供了一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法、装置、计算机可读存储介质与处理器。

根据本申请的实施例，提供了一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法。

图1是根据本申请实施例的确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：

步骤S101，获取上述机床的几何精度数据，上述几何精度数据为表征上述机床的几何精度的数据；

步骤S102，获取上述机床的定位精度数据，上述定位精度数据为表征上述机床的定位精度的数据；

步骤S103，根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；

步骤S104，根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响。

上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法中，首先，获取上述机床的几何精度数据，几何精度数据包括获取直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据，然后，获取上述机床的定位精度数据，定位精度数据包括上述机床的X方向、Y方向和Z方向的定位精度，之后，根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，最后，根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响。在该方法中，根据得到的关联度，可以确定上述机床的几何精度对定位精度的影响程度，进而解决了难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本申请的一种实施例中，获取上述机床的几何精度数据，包括：获取n个相同型号的上述机床的上述几何精度数据，其中，n为大于或者等于2的正整数，获取上述机床的定位精度数据，包括：获取n个相同型号的上述机床的上述定位精度数据。在该实施例中，获取n个相同型号的上述机床的上述几何精度数据，可以得到更多的样本数据，这样使得计算出的关联度更准确，进而提高结果的准确性。

具体地，获取n个相同型号的上述机床的上述几何精度数据，也就是说获得n台机床几何精度样本的指数，其可以表示为Q₁、Q₂……Q_n，获取n个相同型号的上述机床的上述定位精度数据，也就说获得n台机床定位精度样本的指数，其可以表示为P₁、P₂……P_n。

本申请的一种实施例中，获取上述机床的几何精度数据，包括：获取直线度数据，上述述直线度数据包括各上述机床的各运动轴的线运动的直线度，上述运动轴包括X轴、Y轴和Z轴；获取角度偏差数据，上述角度偏差数据包括各上述机床的各上述运动轴的线运动的角度偏差；获取垂直度数据，上述垂直度数据包括各上述机床的上述X轴的运动和上述Y轴的运动的垂直度、各上述机床的上述X轴的运动和上述Z轴的运动的垂直度以及各上述机床的上述Z轴的运动和上述Y轴的运动的垂直度；获取相关度数据，上述相关度数据包括各上述机床的主轴线和上述X轴的运动的垂直度、各上述机床的主轴线和上述Y轴的运动的垂直度以及各上述机床的主轴线和上述Z轴的运动的平行度。在该实施例中，获取不同运动轴方向上直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据，这样可以获得更多的衡量指标，使得计算出的关联度更为准确，进而提高结果的准确性。

具体地，上述机床的各运动轴的线运动的直线度包括上述机床X轴的运动的直线度，其可以表示为A_i＝{a₁、a₂……a_n}，上述机床Y轴的运动的直线度，其可以表示为B_i＝{b₁、b₂……b_n}，上述机床Z轴的运动的直线度，其可以表示为C_i＝{c₁、c₂……c_n}；上述机床的各上述运动轴的线运动的角度偏差包括上述机床X轴的运动的角度偏差，其可以表示为D_i＝{d₁、d₂……d_n}，上述机床Y轴的运动的角度偏差，其可以表示E_i＝{e₁、e₂……e_n}，上述机床Z轴的运动的角度偏差，其可以表示为F_i＝{f₁、f₂……f_n}；上述垂直度数据包括上述机床Z轴的运动和X轴的运动的垂直度，其可以表示为G_i＝{g₁、g₂……g_n}，上述机床Z轴的运动和Y轴的运动的垂直度，其可以表示为H_i＝{h₁、h₂……h_n}，上述机床Y轴的运动和X轴的运动的垂直度，其可以表示为I_i＝{i₁、i₂……i_n}；上述相关度数据包括上述机床主轴线和Z轴的运动的平行度，其可以表示为J_i＝{j₁、j₂……j_n}，上述机床主轴线和X轴的运动的垂直度度，其可以表示为K_i＝{k₁、k₂……k_n}，上述机床主轴线和Y轴的运动的垂直度度，其可以表示为L_i＝{l₁、l₂……l_n}，其中直线度为可以理解为线要素直不直的程度，角度可以理解为角度大小的量，垂直度可以理解为方向公差中被测要素与基准要素夹角为90°的公差要求。

本申请的一种实施例中，获取上述机床的定位精度数据，包括：获取第一定位精度数据，上述第一定位精度数据包括各上述机床的X方向的定位精度；获取第二定位精度数据，上述第二定位精度数据包括各上述机床的Y方向的定位精度；获取第三定位精度数据，上述第三定位精度数据包括各上述机床的Z方向的定位精度。在该实施例中，分别获取不同方向上的定位精度，这样可以获得更为全面的结果。

具体地，上述第一定位精度数据包括各上述机床的X方向的定位精度，其可以表示为x_N＝{x₁、x₂……x_N}，上述第二定位精度数据包括各上述机床的Y方向的定位精度，其可以表示为y_N＝{y₁、y₂……y_N}，上述第三定位精度数据包括各上述机床的Z方向的定位精度，其可以表示为z_N＝{z₁、z₂……z_N}，且上述第一定位精度数据、第二定位精度数据以及第三定位精度数据是通过激光干涉仪测量得出。

本申请的一种实施例中，根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，包括：将上述几何精度数据处理为第一几何矩阵，上述第一几何矩阵包括N列，每一列对应一个上述机床的上述几何精度数据；将上述定位精度数据处理为第一定位矩阵，上述第一定位矩阵包括n列，每一列对应一个上述机床的上述定位精度数据；对上述第一几何矩阵和上述第一定位矩阵分别进行无量纲化处理，得到第二几何矩阵和第二定位矩阵；根据上述第二几何矩阵和上述第二定位矩阵，计算上述定位精度与上述几何精度之间的关联度。该实施例中，先将数据进行无量纲化处理，这样使得后续的计算过程更为简单高效，提高了该方法的效率。

具体地，上述第一几何矩阵，可以表示为

第一定位矩阵，可以表示为

由于机床处于一种复杂系统，各几何精度物理意义不同，数据的量纲也会存在不同，因此，在本申请中对获取的第一几何矩阵和第一定位矩阵进行无量纲化处理，其中无量纲化处理的方法为

最后，得到经过无量纲化处理后的无量化数据，也就是本申请中上述的第二几何矩阵以及第二定位矩阵，具体如下：

本申请的一种实施例中，根据上述第二几何矩阵和上述第二定位矩阵，计算上述定位精度与上述几何精度之间的关联度，包括：根据上述第二几何矩阵和上述第二定位矩阵，确定三个关联度，三个上述关联度分别为上述X方向关联度、上述Y方向的关联度和上述Z方向的关联度。在该实施例中，分别确定上述X方向关联度、上述Y方向的关联度和上述Z方向的关联度，这样进一步准确地得出机床几何精度对定位精度的影响，使得结果更为准确。

具体地，在本申请中以X轴定位精度为例，X轴定位精度为第二定位矩阵的第一列，即对应P₁这列数列(x’₁、x’₂、x’₃…)，将这一列的第一个数x’₁与第二几何矩阵第一行的每一个数a’₁、b’₁、…l’₁相减，得到(x’₁-a’₁)、(x’₁-b’₁)、…(x’₁-l’₁)。然后，第二个数x’₂与第二几何矩阵第一行的每一个数a’₁、b’₁、…l’₁相减相减，得到(x’₂-a’₂)、(x’₂-b’₂)、…(x’₂-l’₂)，以此类推，得到(x’_n-a’_n)、(x’_n-b’_n)、…(x’_n-l’_n)。

可得到如下矩阵数据

其中，Δm(r)＝(x’_r-m’_r)r＝1、2……n m＝a、b……l。

对每一个系数数据做变换得到几何精度与机床定位精度的关联系数δm(r)，其中，r＝1、2、……n，m＝a、b……l，

最终计算出其几何精度关联量为

γ_x(m)＝(γ_x(a)、γ_x(b)……γ_x(i))

γ_y(m)＝(γ_y(a)、γ_y(b)……γ_y(i))

γ_z(m)＝(γ_z(a)、γ_z(b)……γ_z(i))

本申请的一种实施例中，在根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响之后，上述方法还包括：在上述关联度大于预定阈值的情况下，调整上述机床的上述几何精度。在该实施例中，通过比较γ_x(m)中所有关联量可得到该几何精度是否关联，其中0＜γ_x(m)＜1，则数值越靠1，说明定位精度受该几何精度影响越大。通过这种方式比较不同几何精度对定位精度之间的影响程度，可以进一步地调整几何精度，最终提升整体定位精度。

本申请实施例还提供了一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置，需要说明的是，本申请实施例的确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置，可以用于执行本申请实施例所提供的用于确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法。以下对本申请实施例提供的确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置进行介绍。

图2是根据本申请实施例的确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置的示意图。如图2所示，该装置包括：

第一获取单元10，用于获取所述机床的几何精度数据，所述几何精度数据为表征所述机床的几何精度的数据；

第二获取单元20，用于获取所述机床的定位精度数据，所述定位精度数据为表征所述机床的定位精度的数据；

计算单元30，用于根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；

确定单元40，用于根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响。

上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置中，首先，第一获取单元获取上述机床的几何精度数据，上述几何精度数据为表征上述机床的几何精度的数据，即为获取直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据；然后，第二获取单元获取上述机床的定位精度数据，上述定位精度数据为表征上述机床的定位精度的数据，即为获取第一定位精度、第二定位精度以及第三定位精度；之后，计算单元根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，即为上述X方向关联度、上述Y方向的关联度和上述Z方向的关联度；最后，确定单元根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响，即为在上述关联度大于预定阈值的情况下，调整上述机床的上述几何精度。在该方法中，根据得到的关联度，可以确定上述机床的几何精度对定位精度的影响程度，进而解决了现有技术中难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

本申请的一种实施例中，上述第一获取单元包括第一获取模块，第一获取模块用于获取n个相同型号的上述机床的上述几何精度数据，其中，n为大于或者等于2的正整数，上述第二获取单元包括第二获取模块，第二获取模块用于获取n个相同型号的上述机床的上述定位精度数据。在该实施例中，获取n个相同型号的上述机床的上述几何精度数据，可以得到更多的样本数据，这样使得计算出的关联度更准确，进而提高结果的准确性。

本申请的一种实施例中，上述第一获取单元包括第三获取模块、第四获取模块、第五获取模块以及第六获取模块。其中，第三获取模块用于获取直线度数据，上述直线度数据包括各上述机床的各运动轴的线运动的直线度，上述运动轴包括X轴、Y轴和Z轴；第四获取模块用于获取角度偏差数据，上述角度偏差数据包括各上述机床的各上述运动轴的线运动的角度偏差；第五获取模块用于获取垂直度数据，上述垂直度数据包括各上述机床的上述X轴的运动和上述Y轴的运动的垂直度、各上述机床的上述X轴的运动和上述Z轴的运动的垂直度以及各上述机床的上述Z轴的运动和上述Y轴的运动的垂直度；第六获取模块用于获取相关度数据，上述相关度数据包括各上述机床的主轴线和上述X轴的运动的垂直度、各上述机床的主轴线和上述Y轴的运动的垂直度以及各上述机床的主轴线和上述Z轴的运动的平行度。在该实施例中，获取不同运动轴方向上直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据，这样可以获得更多的衡量指标，使得计算出的关联度更为准确，进而提高结果的准确性。

本申请的一种实施例中，上述第二获取单元包括第七获取模块、第八获取模块以及第九获取模块。其中，第七获取模块用于获取第一定位精度数据，上述第一定位精度数据包括各上述机床的X方向的定位精度；第八获取模块，用于获取第二定位精度数据，上述第二定位精度数据包括各上述机床的Y方向的定位精度；第九获取模块，用于获取第三定位精度数据，上述第三定位精度数据包括各上述机床的Z方向的定位精度。在该实施例中，分别获取不同方向上的定位精度，这样可以获得更为全面的结果。

在本申请的一种实施例中，上述计算单元包括第一计算模块、第二计算模块、第二计算模块以及第四计算模块。其中，第一计算模块用于将上述几何精度数据处理为第一几何矩阵，上述第一几何矩阵包括N列，每一列对应一个上述机床的上述几何精度数据；第二计算模块，用于将上述定位精度数据处理为第一定位矩阵，上述第一定位矩阵包括N列，每一列对应一个上述机床的上述定位精度数据；第三计算模块，用于对上述第一几何矩阵和上述第一定位矩阵分别进行无量纲化处理，得到第二几何矩阵和第二定位矩阵；第四计算模块，用于根据上述第二几何矩阵和上述第二定位矩阵，计算上述定位精度与上述几何精度之间的关联度。该实施例中，先将数据进行无量纲化处理，这样使得后续的计算过程更为简单高效，提高了该方法的效率。

在本申请的一种实施例中，上述第四计算模块还用于根据上述第二几何矩阵和上述第二定位矩阵，确定三个关联度，三个上述关联度分别为上述X方向关联度、上述Y方向的关联度和上述Z方向的关联度。在该实施例中，分别确定上述X方向关联度、上述Y方向的关联度和上述Z方向的关联度，这样进一步准确地得出机床几何精度对定位精度的影响，使得结果更为准确。

在本申请的一种实施例中，上述装置还包括调整单元，调整单元用于在根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响之后，且在上述关联度大于预定阈值的情况下，调整上述机床的上述几何精度。在该实施例中，通过比较γ_x(m)中所有关联量可得到该几何精度是否关联，其中0＜γ_x(m)＜1，则数值越靠1，说明定位精度受该几何精度影响越大。通过这种方式比较不同几何精度对定位精度之间的影响程度，可以进一步地调整几何精度，最终提升整体定位精度。

上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置包括处理器和存储器，上述第一获取单元、第二获取单元、确定单元和计算单元等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来解决现有技术中难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。

本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法。

本发明实施例提供了一种处理器，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行上述确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法。

本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现至少以下步骤：

步骤S101，获取上述机床的几何精度数据，上述几何精度数据为表征上述机床的几何精度的数据；

步骤S102，获取上述机床的定位精度数据，上述定位精度数据为表征上述机床的定位精度的数据；

步骤S103，根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；

步骤S104，根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响。

本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。

本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有至少如下方法步骤的程序：

步骤S101，获取上述机床的几何精度数据，上述几何精度数据为表征上述机床的几何精度的数据；

步骤S102，获取上述机床的定位精度数据，上述定位精度数据为表征上述机床的定位精度的数据；

步骤S103，根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；

步骤S104，根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

从以上的描述中，可以看出，本申请上述的实施例实现了如下技术效果：

1)、本申请的确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法中，首先，获取上述机床的几何精度数据，几何精度数据包括获取直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据，然后，获取上述机床的定位精度数据，定位精度数据包括上述机床的X方向、Y方向和Z方向的定位精度，之后，根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，最后，根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响。在该方法中，根据得到的关联度，可以确定上述机床的几何精度对定位精度的影响程度，进而解决了难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

2)、本申请的确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置中，首先，第一获取单元获取上述机床的几何精度数据，上述几何精度数据为表征上述机床的几何精度的数据，即为获取直线度数据、角度偏差数据、垂直度数据以及相关度数据；然后，第二获取单元获取上述机床的定位精度数据，上述定位精度数据为表征上述机床的定位精度的数据，即为获取第一定位精度、第二定位精度以及第三定位精度；之后，计算单元根据上述几何精度数据和上述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，即为上述X方向关联度、上述Y方向的关联度和上述Z方向的关联度；最后，确定单元根据上述关联度确定上述机床的几何精度对定位精度的影响，即为在上述关联度大于预定阈值的情况下，调整上述机床的上述几何精度。在该方法中，根据得到的关联度，可以确定上述机床的几何精度对定位精度的影响程度，进而解决了现有技术中难以确定机床的位置偏差对其定位精度的影响大小的问题。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的方法，其特征在于，包括：

获取所述机床的几何精度数据，所述几何精度数据为表征所述机床的几何精度的数据；

获取所述机床的定位精度数据，所述定位精度数据为表征所述机床的定位精度的数据；

根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；

根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响；

根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度，包括：

将所述几何精度数据处理为第一几何矩阵，所述第一几何矩阵包括N列，每一列对应一个所述机床的所述几何精度数据；

将所述定位精度数据处理为第一定位矩阵，所述第一定位矩阵包括N列，每一列对应一个所述机床的所述定位精度数据；

对所述第一几何矩阵和所述第一定位矩阵分别进行无量纲化处理，得到第二几何矩阵和第二定位矩阵；

根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，计算所述定位精度与所述几何精度之间的关联度；

根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，计算所述定位精度与所述几何精度之间的关联度，包括：

根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，确定三个关联度，三个所述关联度分别为X方向关联度、Y方向的关联度和Z方向的关联度；

在根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响之后，所述方法还包括：

在所述关联度大于预定阈值的情况下，调整所述机床的所述几何精度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

获取所述机床的几何精度数据，包括：获取n个相同型号的所述机床的所述几何精度数据，其中，n为大于或者等于2的正整数，

获取所述机床的定位精度数据，包括：获取n个相同型号的所述机床的所述定位精度数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取所述机床的几何精度数据，包括：

获取直线度数据，所述直线度数据包括各所述机床的各运动轴的线运动的直线度，所述运动轴包括X轴、Y轴和Z轴；

获取角度偏差数据，所述角度偏差数据包括各所述机床的各所述运动轴的线运动的角度偏差；

获取垂直度数据，所述垂直度数据包括各所述机床的所述X轴的运动和所述Y轴的运动的垂直度、各所述机床的所述X轴的运动和所述Z轴的运动的垂直度以及各所述机床的所述Z轴的运动和所述Y轴的运动的垂直度；

获取相关度数据，所述相关度数据包括各所述机床的主轴线和所述X轴的运动的垂直度、各所述机床的主轴线和所述Y轴的运动的垂直度以及各所述机床的主轴线和所述Z轴的运动的平行度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，获取所述机床的定位精度数据，包括：

获取第一定位精度数据，所述第一定位精度数据包括各所述机床的所述X方向的定位精度；

获取第二定位精度数据，所述第二定位精度数据包括各所述机床的所述Y方向的定位精度；

获取第三定位精度数据，所述第三定位精度数据包括各所述机床的所述Z方向的定位精度。

5.一种确定机床的几何精度对定位精度的影响的装置，其特征在于，包括：

第一获取单元，用于获取所述机床的几何精度数据，所述几何精度数据为表征所述机床的几何精度的数据；

第二获取单元，用于获取所述机床的定位精度数据，所述定位精度数据为表征所述机床的定位精度的数据；

计算单元，用于根据所述几何精度数据和所述定位精度数据，计算定位精度与几何精度之间的关联度；

确定单元，用于根据所述关联度确定所述机床的几何精度对定位精度的影响；

所述计算单元，包括：

第一计算模块，用于将所述几何精度数据处理为第一几何矩阵，所述第一几何矩阵包括N列，每一列对应一个所述机床的所述几何精度数据；

第二计算模块，用于将所述定位精度数据处理为第一定位矩阵，所述第一定位矩阵包括N列，每一列对应一个所述机床的所述定位精度数据；

第三计算模块，用于对所述第一几何矩阵和所述第一定位矩阵分别进行无量纲化处理，得到第二几何矩阵和第二定位矩阵；

第四计算模块，用于根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，计算所述定位精度与所述几何精度之间的关联度；

所述第四计算模块，还用于：

根据所述第二几何矩阵和所述第二定位矩阵，确定三个关联度，三个所述关联度分别为X方向关联度、Y方向的关联度和Z方向的关联度；

所述装置还包括：

调整单元，用于在所述关联度大于预定阈值的情况下，调整所述机床的所述几何精度。

6.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至4中任意一项所述的方法。

7.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至4中任意一项所述的方法。