CN112684394A - 一种多探头时序校准治具及校准方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及探头检测领域，具体是一种多探头时序校准治具，包括：至少两检测通道；每个所述检测通道设有至少两个用于与探头相连的检测位，所述检测通道每次接入一个检测位；时钟发生器，与检测通道电相连，为检测通道提供统一的时钟信号；控制器，与时钟发生器电相连，控制时钟发生器运作；所述控制器用于与示波器相连，通过调节与示波器相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。分别从补充时序校准的必要条件，完善时序校准的测试环境，优化时序校准的操作过程三方面实现示波器能快速精确地对多探头进行时序校准的技术效果。

Description

一种多探头时序校准治具及校准方法

技术领域

本发明涉及探头检测领域，更具体地，涉及一种多探头时序校准治具及校准方法。

背景技术

信号测试是电子产品的开发或测试中的常见测试，常用信号测试包括：测试电路元件对地信号的单端测试，如并行数据总线测试；测试电路元件正电压对负电压信号的差分测试，如DDR测试。单端测试常用单端探头，而差分测试常用差分探头。一次测试中，往往只需要进行单一端口的信号测试，更多的是多个元件在整个板中的组合信号同时测试，这种测试经常需要用到多个不同类型的探头相互配合才能完成。

探头时序差异是进行多个端口多信号同时测试的干扰之一，现有技术通常使用单端探头和差分探头与示波器相连进行信号的测试，由于自示波器不同端口的线路、接触、传感器等差异，再结合不同探头的结构和线路长短的不同，导致探头与探头之间由于各种差异导致时序不一致。每次更换探头，更换示波器接口或开关示波器，都会令探头产生时序变化，各个探头之间的相对时序延时造成的差异会影响测试的精准性，所以在信号测试中，每次进行更换探头，更换示波器接口或开关示波器之后都要重新对各个探头的时序进行校准。

现有示波器缺少直接对进行时序校准的完善设计，也不支持同时测量多个探头。虽然通过手动操作可以对示波器每个通道探头的Deskew参数进行调节，改变探头时序的快慢，但在多探头应用的过程中，逐个调节通道调节速度慢，而且相互之间没有关联，无法适应需要快速和频繁调节的实际使用。现有技术需要一项适用于示波器和探头的快速时序校准技术。

发明内容

本发明旨在克服上述现有技术的至少一种缺陷，提供一种多探头时序校准治具，用于解决如何用示波器能对多个探头同时进行时序校准，消除多探头之间时序差异的问题，并进一步提供一种校准方法，利用多探头时序校准治具快速精确地对多个探头进行时序校准。

本发明采取的技术方案是，一种多探头时序校准治具，包括：至少两检测通道；每个所述检测通道设有至少两个用于与探头相连的检测位，所述检测通道每次接入一个检测位；时钟发生器，与检测通道电相连，为检测通道提供统一的时钟信号；控制器，与时钟发生器电相连，控制时钟发生器运作；所述控制器用于与示波器相连，通过调节与示波器相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。

所述多探头时序校准治具与示波器配合使用，其检测通道的数量可以是两个、三个或更多，以适用于具有不同端口数量的示波器，并使示波器上所有连接待用的探头都能接入，同时进行时序校准。基于同一类探头实际应用中具有不同的规格，如点触式和焊接式等，所以每个检测通道都具有匹配探头触头设计的检测位。同一通道每次只接入一个检测位用于对应示波器的功能设置，有助于探头的线路分布清晰易查。统一的时钟信号有助于提供各个使检测通道处于一个相同的检测环境，消除信号源导致的差异，方便多个探头之间相互比对。控制器与示波器的控制芯片相连，通过程序控制示波器进行检测数据的获取和示波器具体参数的调节。

本技术方案提供了多个检测通道和检测位用于同时固定多个不同的探头，解决了多探头同时进行时序校准的装夹问题；同时对多个检测通道提供了统一的时钟信号，解决了示波器因缺少检测信号导致无法测量差分探头的问题，并进一步为多个探头校准提供了一致的时钟信号，消除了信号源导致的误差，使多探头时序校准时具有相互参照，校准更准确；通过控制器同时对多探头时序校准治具和示波器进行控制，解决了人工操作慢，多端口参数调节繁琐的问题，使时序校准和调节能快速自动进行；本技术方案分别从补充时序校准的必要条件，完善时序校准的测试环境，优化时序校准的操作过程三方面实现示波器能快速精确地对多探头进行时序校准的技术效果。

本技术方案是，所述检测位至少包括测试单端探头的单端检测位和测试差分探头的差分检测位。具体单端探头和差分探头的检测位根据实际探头触点的结构和应用位置等不同，可以再进一步按触点的结构划分不同的检测位。单端探头和差分探头是最常用信号检测探头，本技术方案在同一检测通道中能满足单端信号测试和差分信号测试的需求，确保所述多探头时序校准治具有足够的适用性。

本技术方案是，所述检测位设有带夹持触头的引线。为了适应部分探头的触点具有引脚短，多个引脚间间隔小，引脚细小和外形圆滑，如圆柱或尖锥等特点，这导致探头难以进行装夹。不同种类、测试不同位置、不同品牌的探头具有更多的结构差异，常规的插入式装夹难以满足探头的固定。本技术方案通过引线对检测位进行延伸，使其能灵活地通过不同角度，不同的间隙接触探头的引脚。然后通过具有夹持触头的设计，利用具有尖锐夹持齿且小型的夹持触头对引脚进行固定，使探头无需焊接就能与检测位进行稳定连接，解决了现有探头引脚难以装夹的问题，达到了快速装夹探头，从而加快校准检测速度的技术效果。

本技术方案是，检测位的引线超过一条，相邻引线之间设有活动的绝缘挡隔。具体绝缘挡隔可以是旋转连接在夹持触头一侧的活动板，或在两个相连的夹持触头之间形成活动的连接。该设计是基于部分探头具有多个相互间隔较小引脚，细小的夹持触头能夹紧探头引脚，但无法保证在操作的过程中两个夹持触头一直分离，不造成任何碰撞。而一旦夹持触头发生碰撞会造成短路，导致探头或元器件损毁，为了避免夹持触头之间的碰撞，通过在相邻引线之间设置绝缘挡隔，使两相邻的夹持触头不会直接接触，对检测元件形成了进一步的保护。

本技术方案是，所述夹持触头为磁性夹持触头。磁性夹持触头能通过磁性吸附进一步加强对探头引脚的固定，使一些无法完全夹紧或引脚过小的探头能通过磁性提升对引脚的固定效果。

本技术方案是，所述时钟发生器的频率不高于25MHz。控制时钟发生器的频率是为了控制探头检测的波形，频率越高，示波器检测的波形越密集，密集的波形不利于相互之间的对比和参照，而且由于示波器的检测精度，会降低时序校准护的准确性。

本技术方案是，同一检测通道设有切换检测位的开关。开关设置有助于在装夹时完成对通道检测位的选定，通过检测位的选定同时方便接入过程中对探头接入是否正确进行判定，让使用者能更快速根据选定的标记确定对应的端口问题。所述开关可以是普通的旋钮开关，通过旋钮开关可以简单有效地实现检测通道中不同检测位的切换。

本技术方案中是一种使用所述的多探头时序校准治具的探头时序校准方法，所述探头安装在示波器的探头插座上，所述探头的测试端与所述检测位相连；所述控制器与示波器的控制芯片相连，所述方法包括：启动多探头时序校准治具，控制器控制时钟发生器同时向多个检测通道发送时钟信号，并逐一导通各个检测通道，确定检测通道与探头插座之间的对应关系；确定所述检测通道与探头插座之间的对应关系后，控制器获取探头的波形检测数据，调节探头在示波器中的Deskew参数，至所述波形检测数据对应的波形纵轴对齐。

每次更换探头，更换示波器接口或开关示波器都会令连接示波器的探头产生一定的变化，所以在探头时序校准前需要先要把待测的探头接入示波器，然后再将各个探头分别装夹在不同检测通道的检测位上。同时发送时钟信号有助于各个检测通道的时钟信号源一致，逐一导通用于测试各个检测通道与示波器各个端口上的探头对应，方便使用者进行接线检查。示波器检测到探头的时钟信号输入，并形成波形显示。控制器通获取示波器波的检测数据，通过数据获取波形对应的各个位置点，然后调节探头对应的示波器端口的Deskew参数，使多个探头在示波器测得的检测数据所反映的波形逐步趋向一致，达到各个探头在示波器中反映的波形纵轴对齐或完全重合的状态，这时多个探头之间的时序差异被基本消除，能满足后续的信号检测。

本技术方案是，所述确定所述检测通道与探头插座之间的对应关系后，控制器获取探头的波形检测数据，调节探头在示波器中的Deskew参数，至所述波形检测数据对应的波形纵轴对齐，具体为：控制中心以第一个获取到的波形检测数据对应的波形为参照；控制中心获取下一个波形检测数据，调节该波形检测数据对应的探头在示波器中的Deskew参数，使其与第一个获取到的波形检测数据对应的波形纵轴对齐，继续获取下一个波形检测数据，至所有波形检测数据对应的波形重合。

探头时序校准的过程中，以最早检测形成的波形检测数据为参照，后续各个探头的校准以其为基准，快速实现各个探头间时序的有效同一，消除相互间的时序差异。

本技术方案是，所述控制中心以第一个获取到的波形检测数据为参照时，还包括控制器调节示波器的scale，对波形检测数据对应的波形进行放大。

对波形检测数据的波形进行放大，使各个波形之间的差异、分界和交点更加明确，有助于时序校准后的复查和提升时序校准过程的准确性。

与现有技术相比，本发明的有益效果为：通过时钟发生器的设置为多个探头进行时序校准的提供了共同的时钟源，使多个探头能在同样的信号下进行比对，为多探头时序校准提供必要条件；其次，提供了一个能同时容纳多探头快速有效装夹的治具，完善了时序校准的测试环境；最后，通过采用CPU直接控制示波器的控制芯片进行时序的调节，优化时序校准的操作过程，实现示波器能快速精确地对多探头进行时序校准的技术效果。

附图说明

图1为本发明中多探头时序校准治具的示意图。

图2为本发明中多探头时序校准治具与示波器连接示意图。

附图标记说明：多探头时序校准治具100，检测通道110，检测位111，自动校准按钮121，控制器130，时钟发生器131，开关113，示波器200，单端探头251，差分探头252，端口240，控制芯片210。

具体实施方式

本发明附图仅用于示例性说明，不能理解为对本发明的限制。为了更好说明以下实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。

实施例1

如图1所示，本实施例是一种多探头时序校准治具100，包括：两检测通道110；每个检测通道110设三个用于与探头相连的检测位111，检测通道110每次接入一个检测位111；时钟发生器131，与检测通道110电相连，为检测通道110提供统一的时钟信号；控制器130，与时钟发生器131电相连，控制时钟发生器131运作；控制器130用于与示波器200相连，通过调节与示波器200相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。

多探头时序校准治具100与示波器200配合使用，以适用于具有不同端口240数量的示波器200，并使示波器200上所有连接待用的探头都能接入，同时进行时序校准治具。基于同一类探头实际应用中具有不同的规格，所以每个通道都具有匹配探头触头设计的检测位。同一通道每次只接入一个检测位用于对应示波器200的功能设置，有助于探头的线路分布清晰易查。统一的时钟信号有助于提供各个使检测通道110处于一个相同的检测环境，消除信号源导致的差异，方便多个探头之间相互比对。控制器130与示波器200的控制芯片210相连，通过程序控制示波器200进行检测数据的获取和示波器200具体参数的调节。

本实施例中提供了多个检测通道110和检测位111用于同时固定多个不同的探头，解决了多探头同时进行时序校准的装夹问题；同时对多个检测通道110提供了统一的时钟信号，解决了示波器200因缺少检测信号导致无法测量差分探头252的问题，并进一步为多个探头校准提供了一致的时钟信号，消除了信号源导致的误差，使多探头时序校准时具有相互参照，校准更准确；通过控制器130同时对多探头时序校准治具100和示波器200进行控制，解决了人工操作慢，多端口240参数调节繁琐的问题，使时序校准和调节能快速自动进行；本实施例分别从补充时序校准的必要条件，完善时序校准的测试环境，优化时序校准的操作过程三方面实现示波器200能快速精确地对多探头进行时序校准的技术效果。

本实施例中，检测位111包括一个测试单端探头251的单端检测位111和两个测试差分探头252的差分检测位111，其中一个是点触式的差分探头252检测位111，一个是焊接式的差分探头252检测位111。具体检测位根据实际探头触点的结构和应用位置等不同，可以再进一步按触点的结构划分不同的检测位111。单端探头251和差分探头252是最常用信号检测探头，本实施例在同一检测通道110中能满足单端信号测试和差分信号测试的需求，确保多探头时序校准治具100有足够的适用性。

本实施例中，检测位111设有带夹持触头的引线。为了适应部分探头的触点具有引脚短，多个引脚间间隔小，引脚细小和外形圆滑，如圆柱或尖锥等特点，这导致探头难以进行装夹。不同种类、测试不同位置、不同品牌的探头具有更多的结构差异，常规的插入式装夹难以满足探头的固定。本实施例通过引线对检测位111进行延伸，使其能灵活地通过不同角度，不同的间隙接触探头的引脚。然后通过具有夹持触头的设计，利用具有尖锐夹持齿且小型的夹持触头对引脚进行固定，使探头无需焊接就能与检测位111进行稳定连接，解决了现有探头引脚难以装夹的问题，达到了快速装夹探头，从而加快校准检测速度的技术效果。

本实施例中，检测位111的引线为两条，相邻引线之间设有活动的绝缘挡隔。具体绝缘挡隔可以是旋转连接在夹持触头一侧的活动板。该设计是基于部分探头具有多个相互间隔较小引脚，细小的夹持触头能夹紧探头引脚，但无法保证在操作的过程中两个夹持触头一直分离，不造成任何碰撞。而一旦夹持触头发生碰撞会造成短路，导致探头或元器件损毁，为了避免夹持触头之间的碰撞，通过在相邻引线之间设置绝缘挡隔，使两相邻的夹持触头不会直接接触，对检测元件形成了进一步的保护。

本实施例中，夹持触头为磁性夹持触头。磁性夹持触头能通过磁性吸附进一步加强对探头引脚的固定，使一些无法完全夹紧或引脚过小的探头能通过磁性提升对引脚的固定效果。

本实施例中，时钟发生器131的频率为25MHz。控制时钟发生器的频率是为了控制探头检测的波形，频率越高，示波器200检测的波形越密集，密集的波形不利于相互之间的对比和参照，而且由于示波器200的检测精度，会降低时序校准护的准确性。

本实施例中，同一检测通道110设有切换检测位111的开关113。开关113设置有助于在装夹时完成对通道检测位111的选定，通过检测位111的选定同时方便接入过程中对探头接入是否正确进行判定，让使用者能更快速根据选定的标记确定对应的端口240问题。开关113是普通的旋钮开关，通过旋钮开关可以简单有效地实现检测通道110中不同检测位111的切换。

实施例2

本实施例是一种多探头时序校准治具100，包括：四检测通道110；每个检测通道110设有两个用于与探头相连的检测位111，检测通道110每次接入一个检测位111；时钟发生器131，与检测通道110电相连，为检测通道110提供统一的时钟信号；控制器130，与时钟发生器131电相连，控制时钟发生器131运作；控制器130用于与示波器200相连，通过调节与示波器200相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。

多探头时序校准治具100与示波器200配合使用，以适用于具有不同端口240数量的示波器200，并使示波器200上所有连接待用的探头都能接入，同时进行时序校准治具。基于同一类探头实际应用中具有不同的规格，所以每个通道都具有匹配探头触头设计的检测位。同一通道每次只接入一个检测位用于对应示波器200的功能设置，有助于探头的线路分布清晰易查。统一的时钟信号有助于提供各个使检测通道110处于一个相同的检测环境，消除信号源导致的差异，方便多个探头之间相互比对。控制器130与示波器200的控制芯片210相连，通过程序控制示波器200进行检测数据的获取和示波器200具体参数的调节。

本实施例提供了多个检测通道110和检测位111用于同时固定多个不同的探头，解决了多探头同时进行时序校准的装夹问题；同时对多个检测通道110提供了统一的时钟信号，解决了示波器200因缺少检测信号导致无法测量差分探头252的问题，并进一步为多个探头校准提供了一致的时钟信号，消除了信号源导致的误差，使多探头时序校准时具有相互参照，校准更准确；通过控制器130同时对多探头时序校准治具100和示波器200进行控制，解决了人工操作慢，多端口240参数调节繁琐的问题，使时序校准和调节能快速自动进行；本实施例分别从补充时序校准的必要条件，完善时序校准的测试环境，优化时序校准的操作过程三方面实现示波器200能快速精确地对多探头进行时序校准的技术效果。

本实施例中，检测位111包括测试单端探头251的单端检测位111和测试差分探头252的差分检测位111。具体单端探头251和差分探头252的检测位根据实际探头触点的结构和应用位置等不同，可以再进一步按触点的结构划分不同的检测位111。单端探头251和差分探头252是最常用信号检测探头，本实施例在同一检测通道110中能满足单端信号测试和差分信号测试的需求，确保多探头时序校准治具100有足够的适用性。

本实施例中，检测位111设有带夹持触头的引线。为了适应部分探头的触点具有引脚短，多个引脚间间隔小，引脚细小和外形圆滑，如圆柱或尖锥等特点，这导致探头难以进行装夹。不同种类、测试不同位置、不同品牌的探头具有更多的结构差异，常规的插入式装夹难以满足探头的固定。本实施例通过引线对检测位111进行延伸，使其能灵活地通过不同角度，不同的间隙接触探头的引脚。然后通过具有夹持触头的设计，利用具有尖锐夹持齿且小型的夹持触头对引脚进行固定，使探头无需焊接就能与检测位111进行稳定连接，解决了现有探头引脚难以装夹的问题，达到了快速装夹探头，从而加快校准检测速度的技术效果。

本实施例中，单端探头251检测位111的引线为一条，差分探头252检测位111的引线为两条，差分探头252检测位111的相邻引线之间设有活动的绝缘挡隔。具体在两个相连的夹持触头之间形成活动的连接。该设计是基于部分探头具有多个相互间隔较小引脚，细小的夹持触头能夹紧探头引脚，但无法保证在操作的过程中两个夹持触头一直分离，不造成任何碰撞。而一旦夹持触头发生碰撞会造成短路，导致探头或元器件损毁，为了避免夹持触头之间的碰撞，通过在相邻引线之间设置绝缘挡隔，使两相邻的夹持触头不会直接接触，对检测元件形成了进一步的保护。

本实施例中，时钟发生器131的频率为33MHz。控制时钟发生器的频率是为了控制探头检测的波形，频率越高，示波器200检测的波形越密集，密集的波形不利于相互之间的对比和参照，而且由于示波器200的检测精度，会降低时序校准护的准确性。

实施例3

本实施例是一种使用的多探头时序校准治具100的探头时序校准方法，将需要使用的两个单端探头251和两个差分探头252分别安装在示波器200的测试端口240，CH1、CH2、CH3和CH4中，四个探头的测试端与多探头时序校准治具100上从左往右的四个通道上，对应的检测位111相连；所述控制器130与示波器200的控制芯片210相连，将示波器200和多探头时序校准治具100接上电源。具体方法：启动多探头时序校准治具100和示波器200，点动触发多探头时序校准治具100的自动校准按钮121，多探头时序校准治具100的控制器130控制时钟发生器131同时向四个检测通道110上的对应检测位111发送时钟信号，并逐一导通各个检测通道110，检测通道110上设有指示灯，通过指示灯的提示可以进一步确定检测通道110与探头插座之间的对应关系；确定检测通道110与探头插座之间的对应关系后，控制器130自动获取探头的波形检测数据，调节探头在示波器200中的Deskew参数，至波形检测数据对应的波形纵轴对齐。

每次更换探头，更换示波器200接口或开关示波器200都会令连接示波器200的探头产生一定的变化，所以在探头时序校准前需要先要把待测的探头接入示波器200，然后再将各个探头分别装夹在不同检测通道110的检测位111上。同时发送时钟信号有助于各个检测通道110的时钟信号源一致，逐一导通用于测试各个检测通道110与示波器200各个端口240上的探头对应，方便使用者进行接线检查。示波器200检测到探头的时钟信号输入，并形成波形显示。控制器130通获取示波器200波的检测数据，通过数据获取波形对应的各个位置点，然后调节探头对应的示波器200端口240的Deskew参数，使多个探头在示波器200测得的检测数据所反映的波形逐步趋向一致，达到各个探头在示波器200中反映的波形纵轴对齐或完全重合的状态，这时多个探头之间的时序差异被基本消除，能满足后续的信号检测。

本实施例中，确定检测通道110与探头插座之间的对应关系后，控制器130获取探头的波形检测数据，调节探头在示波器200中的Deskew参数，至波形检测数据对应的波形纵轴对齐，具体为：控制中心以第一个获取到的波形检测数据对应的波形为参照，用一般为多探头时序校准治具100的第一检测通道110；控制中心获取下一个波形检测数据，调节该波形检测数据对应的探头在示波器200中的Deskew参数，使其与第一个获取到的波形检测数据对应的波形纵轴对齐，继续获取下一个波形检测数据，至所有波形检测数据对应的波形重合。探头时序校准的过程中，以最早检测形成的波形检测数据为参照，后续各个探头的校准以其为基准，快速实现各个探头间时序的有效同一，消除相互间的时序差异。

本实施例中，控制中心以第一个获取到的波形检测数据为参照时，还包括控制器130调节示波器200的scale，对波形检测数据对应的波形进行放大。对波形检测数据的波形进行放大，使各个波形之间的差异、分界和交点更加明确，有助于时序校准后的复查和提升时序校准过程的准确性

本实施例中，同一检测通道110设有切换检测位111的开关113。开关113设置有助于在装夹时完成对通道检测位111的选定，通过检测位111的选定同时方便接入过程中对探头接入是否正确进行判定，让使用者能更快速根据选定的标记确定对应的端口240问题。开关113可以是普通的两极开关，通过两极开关可以简单有效地实现检测通道110中不同检测位111的切换显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明技术方案所作的举例，而并非是对本发明的具体实施方式的限定。凡在本发明权利要求书的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种多探头时序校准治具，其特征在于，包括：

至少两检测通道；每个所述检测通道设有至少两个用于与探头相连的检测位，所述检测通道每次检测时仅接入一个检测位；

时钟发生器，与检测通道电相连，为检测通道提供统一的时钟信号；

控制器，与时钟发生器电相连，控制时钟发生器运作；

所述控制器用于与示波器相连，通过调节与示波器相连的探头的Deskew参数来调节探头检测的触发时序。

2.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述检测位至少包括测试单端探头的单端检测位和测试差分探头的差分检测位。

3.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述检测位设有带夹持触头的引线。

4.根据权利要求3所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，检测位的引线超过一条，相邻引线之间设有活动的绝缘挡隔。

5.根据权利要求3所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述夹持触头为磁性夹持触头。

6.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，所述时钟发生器的频率不高于25MHz。

7.根据权利要求1所述的一种多探头时序校准治具，其特征在于，同一检测通道设有切换检测位的开关。

8.一种使用权利要求1-7任一项所述的多探头时序校准治具的探头时序校准方法，其特征在于，所述探头安装在示波器的探头插座上，所述探头的测试端与所述检测位相连；所述控制器与示波器的控制芯片相连，所述方法包括：

启动多探头时序校准治具，控制器控制时钟发生器向检测通道同时发送时钟信号，并逐一导通各个检测通道，确定检测通道与探头插座之间的对应关系；

确定所述检测通道与探头插座之间的对应关系后，控制器获取多探头的波形检测数据，调节探头在示波器中的Deskew参数，至多探头的所述波形检测数据对应的波形纵轴对齐。

9.根据权利要求8所述的一种探头时序校准方法，其特征在于，

所述确定所述检测通道与探头插座之间的对应关系后，控制器获取探头的波形检测数据，调节探头在示波器中的Deskew参数，至所述波形检测数据对应的波形纵轴对齐，具体为：

控制器以第一个获取到的波形检测数据对应的波形为参照；

控制中心获取下一个波形检测数据，调节该波形检测数据对应的探头在示波器中的Deskew参数，使该波形检测数据对应的波形与第一个获取到的波形检测数据对应的波形纵轴对齐，继续获取下一个波形检测数据，至所有波形检测数据对应的波形重合。

10.根据权利要求9所述的一种探头时序校准方法，其特征在于，所述控制中心以第一个获取到的波形检测数据为参照时，还包括控制器调节示波器的Scale，对波形检测数据对应的波形进行放大。

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