CN112666453A - 一种测试集成电路数字功能及输出输入电平和速度的测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及电子测试技术领域，具体来说是一种测试集成电路数字功能及输出输入电平和速度的测试方法，所述方法如下：测试中使用对高频噪声及反射波抗干扰高的数值而不测试被测元件的输入输出高低电平的上下限值，测试集成电路数字输入输出高低电平的上下限值的测试则另外通过做低速测试被测集成电路的输入输出部分的电子线路的输入输出高低电平值作为是否合格标准，其优点在于：在能准确测试集成电路数字功能及输出输入电平和速度的同时降低对于测试设备的性能的要求。

Description

一种测试集成电路数字功能及输出输入电平和速度的测试 方法
技术领域
本发明涉及电子测试技术领域，具体来说是一种测试集成电路数字功能及 输出输入电平和速度的测试方法。
背景技术
目前测试数字集成电路或数模混合集成电路的数字功能和速度及输入输出 高低电平值VIH,VIL,VOH,VOL是否合格是用测试设备将生产厂商所提供的测试 数据以其所要求的速度标准输入到被测集成电路里同时用测试数据对比被测集 成电路的输出是否正确以达到被测集成电路的数字功能及速度测试，在数字功 能测试的同时测试设备输入到被测集成电路的输入信号高低电平值必须是生产 厂商要求的输入高低电平值(VIH,VIL)的下限与上限同时也要检测被测集成电 路的输出高低电平要达到生产厂商要求的输入高低电平值(VOH,VOL)的下限与 上限。这种方法就是将测试数字功能，速度及输入输出高低电平 (VIH,VIL,VOH,VOL)的上下限值是否合格同时进行测试。这种方法的正确性是 没有问题的，在早期集成电路速度不快的情况下对测试设备的性能的要求也是 不难达到的，但随着集成电路速度的大幅提高，因这种测试方法在高速功能测 试中使用了输入输出高低电平(VIH,VIL,VOH,VOL)的极限值而大大降低了抗干 扰能力从而会因高频噪声及反射波干扰的原因而不准确而且使得测试设备的设 计及生产十分困难及昂贵。
发明内容
本发明的目的在于提供一种创新的测试方法以降低对测试设备性能的要求 而达到同样目的。
为了实现上述目的，设计一种测试集成电路数字功能及输出输入电平和速 度的测试方法，其特征在于，所述方法如下：测试中使用对高频噪声及反射波 抗干扰高的数值而不测试被测元件的输入输出高低电平的上下限值，测试集成 电路数字输入输出高低电平的上下限值的测试则另外通过做低速测试被测集成 电路的输入输出部分的电子线路的输入输出高低电平值作为是否合格标准。
进一步的，测试集成电路数字功能的测试中使用对高频噪声及反射波抗干 扰高的数值而不测试被测元件的输入输出高低电平的上下限值，所述测试集成 电路数字输入输出高低电平的上下限值的测试则另外通过做低速测试被测集成 电路的输入输出部分的电子线路的输入输出高低电平值，然后用过对输入输出 部分的电子线路的分析模拟计算出高低速测试的差别用以调整此值作为是否合 格标准。
本发明同现有技术相比，其优点在于：在能准确测试集成电路数字功能及 输出输入电平和速度的同时降低对于测试设备的性能的要求。
具体实施方式
本发明的原理对本专业的人来说是非常清楚的。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明的测试方法是将测试输出输高低电平(VIH,VIL,VOH,VOL)的上下 限值从传统测试分离出来成为两部分,一为集成电路数字功能及速度测试，二为 输入输出高低电平(VIH,VIL,VOH,VOL)的上下限值测试。
在第一部分的功能及速度测试中不使用输入输出高低电平 (VIH,VIL,VOH,VOL)的上下限值而使用对高频噪声及反射波干扰容忍度高的 数值，这样就提高了抗干扰性而不会影响到集成电路数字功能及速度的测试结 果同时测试设备也无需在高速数字功能测试中提供可微调的输入输出高低电平 使得测试设备的设计及生产的困难度大幅降低。例如在测试使用SSTL18标准的 输入接口的VIL，VIH电平时，如使用极限值0.775v的VIL值和1.025v的VIH 值，逻辑0和1的电平区别只有0.25v，因此0.25v噪声就会将好元件测成坏元件。而如用本发明的测试方法可用0v左右的VL值和1.8左右的VIH值，逻辑 0和1的电平区别增加到近1.8v，抗干扰能力增加了超过6倍，更重要的是在高 速测试中无需提供精确的输入输出高低电平(VIH,VIL,VOH,VOL)极限值电平, 高速测试线路将可大大简化。
在第二部分的输入输出高低电平(VIH,VIL,VOH,VOL)的上下限值测试中 因输入输出高低电平值只关系到被测集成电路的输入输出部分的电子线路从而 只需低速测试被测集成电路的输入输出部分的电子线路的输入输出高低电平 值，低频率值与高频率值相差不大如需要更精细值也可通过对输入输出部分的 电子线路的分析模拟计算出两值的差别将低频值加以调整。因在低速测试所以 对测试设备性能要求不高从而大幅度降低了测试设备的设计及生产的困难度。

Claims (2)

1.一种测试集成电路数字功能及输出输入电平和速度的测试方法，其特征在于，所述方法如下：
测试中使用对高频噪声及反射波抗干扰高的数值而不测试被测元件的输入输出高低电平的上下限值，测试集成电路数字输入输出高低电平的上下限值的测试则另外通过做低速测试被测集成电路的输入输出部分的电子线路的输入输出高低电平值作为是否合格标准。
2.如权利要求1所述的一种测试集成电路数字功能及输出输入电平和速度的测试方法，其特征在于测试集成电路数字功能的测试中使用对高频噪声及反射波抗干扰高的数值而不测试被测元件的输入输出高低电平的上下限值，所述测试集成电路数字输入输出高低电平的上下限值的测试则另外通过做低速测试被测集成电路的输入输出部分的电子线路的输入输出高低电平值，然后用过对输入输出部分的电子线路的分析模拟计算出高低速测试的差别用以调整此值作为是否合格标准。
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