CN112631470A - 显示面板及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示面板及电子设备，该显示面板包括显示区域，包括多个触控电极；检测区域，包括：多个检测端子，用于输入测试信号；多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接。本发明的显示面板及电子设备，可以避免显示区域受损，提高了产品良率。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板及电子设备。
背景技术
为了减小显示面板的厚度，通常在显示面板上直接制作触控层，从而便于折叠。
目前触控层包括多个触控电极，触控电极通过检测线与检测端子连接，检测端子输入有检测信号，然而在显示面板的基底制作过程中或者像素驱动电路的测试过程中容易积累静电，静电容易通过检测线传递至显示区域内，使得显示区域受损，从而降低了产品良率。
发明内容
本发明提供一种显示面板及电子设备，可以避免显示区域受损，提高了产品良率。
本发明提供一种显示面板，所述显示面板包括：
显示区域，包括多个触控电极；
检测区域，包括：
多个检测端子，用于输入测试信号；
多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；
多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接。
可选地，所述检测线通过电阻与所述金属走线连接。
可选地，所述电阻与所述显示区域内的半导体层同层设置。
可选地，多条所述检测线包括多条第一检测线和多条第二检测线，所述第一检测线与所述第二检测线交错设置；
所述多条金属走线包括多条第一金属走线和多条第二金属走线；
所述第一检测线与对应的所述第一金属走线连接；所述第二检测线与对应的所述第二金属走线连接；其中所述第一金属走线与所述第二金属走线位于不同的金属层。
可选地，所述第一金属走线与所述第一检测线的连接点的位置与所述第二金属走线与所述第二检测线的连接点的位置不重叠。
可选地，所述第一检测线的材料与所述第二检测线的材料相同。
可选地，所述第一检测线的长度与所述第二检测线的长度不等。
可选地，所述检测端子通过连接线与所述检测线连接，所述连接线与所述第一金属走线或者所述第二金属走线同层设置且材料相同。
可选地，所述显示区域还包括：
多个接入端子；所述接入端子与所述金属走线一一对应，所述金属走线通过对应的接入端子与所述触控电极连接。
本发明还提供一种电子设备，其包括上述显示面板。
本发明的显示面板及电子设备，包括显示区域，包括多个触控电极；检测区域，包括：多个检测端子，用于输入测试信号；多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接；由于检测线与触控电极同层设置；因此即使在显示面板的基底制作过程中或像素驱动电路的测试过程积累有静电也无法传递至显示区域，因此避免显示区域受损，提高了产品良率。
附图说明
图1为本发明一实施例提供的显示面板的显示区域的俯视图。
图2为本发明一实施例提供的显示面板的检测区域的俯视图。
图3为本发明一实施例提供的显示面板处于基底制程阶段或像素驱动电路检测阶段的检测区域的俯视图。
图4为本发明另一实施例提供的显示面板的检测区域的局部的俯视图。
图5为本发明一实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。
现有的显示面板的制备工艺包括依次制备基底、显示层、封装层以及触控层。
基底包括衬底基板和开关阵列层，衬底基板的材质包括玻璃、二氧化硅、聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、聚乳酸、聚对苯二甲酸乙二醇酯、聚酰亚胺或聚氨酯中的一种或多种。
开关阵列层由下至上依次包括半导体层、栅绝缘层、第一金属层、第一绝缘层、第二金属层、第二绝缘层以及第三金属层，在一优选实施方式中，半导体层的材料可为多晶硅或者非晶硅。其中第一金属层包括栅极，此外还可包括扫描线。
第二金属层包括第一源极和第一漏极，第三金属层包括第二源极和第二漏极。在一实施方式中，第二源极与第一源极连接，第二漏极与第一漏极连接，从而减小阻抗。第二金属层或者第三金属层包括数据线。
所述栅绝缘层的材料可包括SiO2、SiNx以及Al2O3中的一种或多种。所述第一绝缘层、所述第二绝缘层的材料均可与栅绝缘层的材料相同。第二金属层和第三金属层的材料均可包括铜、钼、钛以及铝中的至少一种。
显示层包括多个发光元件，比如包括红色发光单元、绿色发光单元以及蓝色发光单元，发光元件包括第一电极、发光层以及第二电极。在一实施方式中，第一电极为阳极、第二电极为阴极。第一电极的材料可为ITO/Ag/ITO的叠层结构。发光层的材料可包括第一发光材料、第二发光材料以及第三发光材料，第二电极设于发光层上，第二电极的材料可为透明导电材料。当然可以理解的显示层的结构不限于此。
封装层设于所述第二电极上；在一实施方式中，所述封装层包括第一无机层(图中未示出)。在另一实施方式中，所述封装层包括第一无机层和设于所述第一无机层上的第二无机层(图中均未示出)；此外所述封装层还可包括有机层，有机层设于第一无机层和第二无机层之间。
触控层包括多个触控电极，在一实施方式中多个触控电极的形状为网格状。
现有的检测线通常位于第一金属层。在基底的制作过程中会积累静电ESD，这些静电会从检测端子沿着检测线到达显示区域内。
检测线与触控电极之间可接入有电阻。然而在基底的制作过程中或像素驱动电路的测试过程中容易积累静电，当静电积累到一定量时，容易使得电阻炸伤，因此使得静电仍然会进入显示区域内，导致显示区域受到影响，降低了产品良率。
请参阅图1至图3，图1为本发明一实施例提供的显示面板的显示区域的俯视图。
如图1所示，本实施例的显示面板100包括显示区域和检测区域(图中均未标出)，所述显示区域包括多个触控电极10，触控电极10包括第一触控电极11和第二触控电极12。在一实施方式中，第一触控电极11可为发射电极，第二触控电极12可为接收电极。
在一实施方式中，第一触控电极11包括多个沿第一方向排列的且彼此连接的第一触控单元111，其中第二触控电极12包括多个沿第二方向排列的且彼此连接的第二触控单元121，所述第二触控单元121在设定平面上的投影与所述第一触控单元111在所述设定平面上的投影不重叠，其中第一触控单元111沿第一方向排列，第二触控单元121沿第二方向排列，多个第一触控单元111通过第一触控引线21与接入端子30连接，多个第二触控单元121通过第二触控引线22与接入端子30连接。所述设定平面为第一方向和第二方向构成的平面，在一实施方式中，该设定平面为水平面。所述第一方向与所述第二方向交叉设置，优选为所述第一方向与所述第二方向垂直。可以理解的，上述触控电极10的具体结构不限于此。
如图2所示，所述检测区域包括：多个检测端子40、多条检测线50以及多条金属走线60。
多个检测端子40用于输入测试信号；在一实施方式中，多个检测端子40包括第一检测端子和第二检测端子(图中均未标出)，在一实施方式中，第一检测端子与第一触控电极11对应，第二检测端子与第二触控电极12对应，第一检测端子用于输入第一测试信号，所述第二检测端子用于输入第二测试信号，第一测试信号比如为发射测试信号，第二测试信号比如为接收测试信号。在一实施方式中，第一触控电极11和第二触控电极12可位于同一导电层。
所述检测线50与所述检测端子40一一对应；所述检测线50的一端与对应的检测端子40连接，所述检测线50与所述触控电极10同层设置。在一优选实施方式中，所述检测线50与所述触控电极10的材料相同，在一实施方式中，所述触控电极10的材料为金属材料，比如为Ti/A1/Ti，当然具体材料不限于此。在其他实施方式中，所述触控电极10的材料也可为透明导电材料，具体材料不限于此。
所述金属走线60分别与所述检测线50以及所述触控电极10一一对应，所述检测线50的另一端通过金属走线60与对应的触控电极10连接。
在一些实施例中，所述检测线50通过电阻80与所述金属走线60连接。在一优选实施方式中，该电阻80的阻值大于预设值，或者说该电阻80采用电阻率较大的材料制作得到。在一实施方式中，为了简化制程工艺，降低生产成本，所述电阻80与所述显示区域内的半导体层同层设置。在一优选实施方式中，电阻的材料与半导体层的材料相同，半导体层的材料可为多晶硅或者非晶硅。当然，在其他实施方式中，电阻也可不与半导体层同层设置。该电阻的作用是：阻止干扰信号(比如静电)进入显示区域内，从而避免显示区域受到影响。
在一些实施例中，为了减小检测区域的面积，多条所述检测线50包括多条第一检测线51和多条第二检测线52，所述第一检测线51与所述第二检测线52交错设置。
所述多条金属走线60包括多条第一金属走线61和多条第二金属走线62。
所述第一检测线51与对应的所述第一金属走线61连接；所述第一检测线51可通过过孔与对应的所述第一金属走线61连接；所述第二检测线52与对应的所述第二金属走线62连接；所述第二检测线52也可通过过孔与对应的所述第二金属走线62连接；其中所述第一金属走线61与所述第二金属走线62位于不同的金属层。在一实施方式中，第一金属走线61位于第二金属层，第二金属走线62位于第三金属层，具体不限。
在一实施方式中，所述第一金属走线61与所述第一检测线51的连接点的位置与所述第二金属走线62与所述第二检测线52的连接点的位置不重叠，也即第一检测线的连接点与第二检测线的连接点错开设置，从而缩小了相邻两个检测线之间的间距，节省了空间，进而进一步减小了检测区域的面积。
在一实施方式中，为了提高检测的准确性，所述第一检测线51的材料与所述第二检测线52的材料相同。比如，所述第一检测线51的材料为Ti/A1/Ti。
在一实施方式中，所述第一检测线51的长度与所述第二检测线52的长度不等。比如第一检测线51的长度小于所述第二检测线52的长度，或者在其他实施方式中，第一检测线51的长度大于所述第二检测线52的长度。可以理解的第一检测线51的宽度和第二检测线52的宽度可相等。
在一些实施例中，所述检测端子40通过连接线70与所述检测线50连接，所述连接线70与所述第一金属走线61或者所述第二金属走线62同层设置且材料相同，也即连接线70位于第二金属层或者第三金属层，从而简化制程工艺。当然可以理解的，连接线70也可位于第一金属层。
在一些实施例中，结合图1和图2，所述显示区域还包括：多个接入端子30，所述接入端子30与所述金属走线60一一对应，所述金属走线60通过对应的接入端子30与所述触控电极10连接。
可以理解的，在显示面板制作完成后，该接入端子30用于与触控芯片连接，也即该接入端子30与触控芯片绑定。
如图3所示，由于检测线50与触控电极10同层设置；在显示面板的基底制作过程中或者像素驱动电路的测试过程中，检测线还未形成，从而使得显示区域与检测端子之间断开连接，因此即使在基底制作过程中或像素驱动电路的测试过程积累有静电，也无法传递至显示区域内，因此不会对显示区域造成损坏，提高了产品良率。此外由于没有检测线，因此静电也不会传输至电阻，从而避免炸伤电阻。
请参阅图4，图4为本发明一实施例提供的显示面板的检测区域的局部俯视图。
如图4所示，本实施例的检测区域与上一实施例的区别在于：本实施例的所述检测线50直接与所述金属走线60连接，也即本实施例的检测区域未设置电阻。可以理解的，图4与图2的区别仅在于右侧区域不同，左侧区域的结构与图2中左侧区域的结构相同。
由于在检测区域未设置电阻，因此简化制程工艺，降低了生产成本。
可以理解的，本发明的显示面板可为有机发光二极管显示面板，也可为液晶显示面板。在一优选实施方式中，为了进一步提高显示效果以及减小面板的厚度，本发明的显示面板为有机发光二极管显示面板。
本发明的显示面板的制作工艺具体包括：制备显示面板，该显示面板包括多个子显示面板，然后对像素驱动电路进行测试，之后将显示面板切割为多个子显示面板，对各子显示面板进行调试以及画面测试，之后再对各子显示面板的触控电极进行检测，如果检测合格，则再进行后续制程，比如贴合偏光片以及绑定等工艺。
请参阅图5，图5为本发明提供的电子设备的结构示意图。
该电子设备200可以包括显示面板100、控制电路91以及壳体90。需要说明的是，图5所示的电子设备200并不限于以上内容，其还可以包括其他器件，比如还可以包括摄像头、天线结构、指纹解锁模块等。
其中，显示面板100设置于壳体90上。
在一些实施例中，显示面板100可以固定到壳体90上，显示面板100和壳体90形成密闭空间，以容纳控制电路91等器件。
在一些实施例中，壳体90可以为由柔性材料制成，比如为塑胶壳体或者硅胶壳体等。
其中，该控制电路91安装在壳体90中，该控制电路91可以为电子设备200的主板，控制电路91上可以集成有电池、天线结构、麦克风、扬声器、耳机接口、通用串行总线接口、摄像头、距离传感器、环境光传感器、受话器以及处理器等功能组件中的一个、两个或多个。
其中，该显示面板100安装在壳体90中，同时，该显示面板100电连接至控制电路91上，以形成电子设备200的显示面。该显示面板100可以包括显示区域和非显示区域。该显示区域可以用来显示电子设备200的画面或者供用户进行触摸操控等。该非显示区域可用于设置各种功能组件。
所述电子设备包括但不限定于手机、平板电脑、计算机显示器、游戏机、电视机、显示屏幕、可穿戴设备及其他具有显示功能的生活电器或家用电器等。
本发明的显示面板及电子设备，包括显示区域，包括多个触控电极；检测区域，包括：多个检测端子，用于输入测试信号；多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接；由于检测线与触控电极同层设置；因此即使在显示面板的基底制作过程中或像素驱动电路的测试过程积累有静电也无法传递至显示区域，因此避免显示区域受损，提高了产品良率。
以上对本发明提供的显示面板及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明。同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：
显示区域，包括多个触控电极；
检测区域，包括：
多个检测端子，用于输入测试信号；
多条检测线，所述检测线与所述检测端子一一对应；所述检测线的一端与对应的检测端子连接，所述检测线与所述触控电极同层设置；
多条金属走线，所述金属走线分别与所述检测线以及所述触控电极一一对应，所述检测线的另一端通过所述金属走线与对应的触控电极连接。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测线通过电阻与所述金属走线连接。
3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述电阻与所述显示区域内的半导体层同层设置。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，
多条所述检测线包括多条第一检测线和多条第二检测线，所述第一检测线与所述第二检测线交错设置；
所述多条金属走线包括多条第一金属走线和多条第二金属走线；
所述第一检测线与对应的所述第一金属走线连接；所述第二检测线与对应的所述第二金属走线连接；其中所述第一金属走线与所述第二金属走线位于不同的金属层。
5.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，
所述第一金属走线与所述第一检测线的连接点的位置与所述第二金属走线与所述第二检测线的连接点的位置不重叠。
6.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线的材料与所述第二检测线的材料相同。
7.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线的长度与所述第二检测线的长度不等。
8.根据权利要求4所述的显示面板，其特征在于，
所述检测端子通过连接线与所述检测线连接，所述连接线与所述第一金属走线或者所述第二金属走线同层设置且材料相同。
9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示区域还包括：
多个接入端子；所述接入端子与所述金属走线一一对应，所述金属走线通过对应的接入端子与所述触控电极连接。
10.一种电子设备，其特征在于，包括如权利要求1至9任意一项所述的显示面板。
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