CN112629367A - 蜗杆齿形和齿厚检测装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种蜗杆齿形和齿厚检测装置。本发明中的装置包括顶尖座模块、测量模块、底座和导轨模块，测量模块即圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置，包括底座、拉手固定板、样板定位组件、旋转角度主轴、正弦规底板、正弦规安装座、正弦规本体、后限位挡块、样板等。在测量蜗杆齿形时，校对样板与蜗杆螺旋齿接触，装置通过观察校对样板与蜗杆之间的光隙来判断蜗杆齿形误差范围；测量蜗杆齿厚时，法向齿厚样板与蜗杆螺旋齿接触，蜗杆齿厚误差无论大小都会使得百分表偏移零位，由百分表即可计算出齿厚误差大小；由于采用面接触式采集蜗杆螺旋齿的数据点，避免在测量过程中传统的接触式传感器测头逐点测量，从而优化测量步骤，且可获得多个数据点。

Description

蜗杆齿形和齿厚检测装置及方法

技术领域

本发明涉及一种针对已知设计参数的蜗杆批量检测装置及方法，尤其涉及一种对不同蜗杆齿形、齿厚进行检测的装置及方法。

背景技术

蜗杆是一种广泛应用于机械制造行业的传动装置，具有传动比大、传动平稳、能自锁、结构紧凑等优点，但传动效率较低，滑动速度大，容易发热，因此，对蜗杆零件对精度有着较高的要求。而蜗杆的齿形、齿厚的精度不仅会影响其在工作中的磨损率，还与其传动效率和使用寿命息息相关。为防止精度较差的蜗杆零件造成产品质量不达标，蜗杆零件在进入后续机械制造加工生产业前往往需要对其进行质量检测。

目前，主流的接触式蜗杆测量方法需要根据不同的待测蜗杆的齿形、齿厚，预先规划测头的运动路径，该方法虽然精度较高，但测量时间长，测量效率低，生产中不利于大批量的测量工作。随着科技的快速发展，实际应用中对蜗杆零件齿形、齿厚的检测效率提出了更高的要求。

因此，研制一套可对蜗杆的齿形、齿厚进行更高效检测的装置显得尤为重要，该装置需要能够快速判别蜗杆零件齿形参数合格与否，齿厚误差大小，并具有一定的准确度和泛用性，提升和完善企业的产品质量检测能力与质量追溯管理体系。

发明内容

针对背景技术的不足，本发明的目的在于提供一种蜗杆齿形和齿厚检测装置及方法。本装置有较高的精度和效率，并且操作简单，工人能在短时间内掌握整套装置的使用方法。

本发明的一方面提供了蜗杆齿形和齿厚检测装置，它包括蜗杆齿形齿厚检测装置底座、导轨模块、顶尖座模块和测量模块；

所述蜗杆齿形和齿厚检测装置底座和导轨模块用于让所述测量模块或者所述顶尖座模块沿着待测件轴线运动，以改变蜗杆齿形和齿厚检测装置的样板所指向的蜗杆螺旋齿，使蜗杆齿形和齿厚检测装置可测量待测蜗杆的任意螺旋齿。

所述顶尖座模块包括左顶尖座和右顶尖座，用于对待测蜗杆的固定；所述顶尖座包括顶尖座本体、顶尖座锁紧装置、顶尖和顶尖锁紧装置，所述右顶尖座还包括顶尖操作杆；所述顶尖座锁紧装置用于固定顶尖座本体在导轨上的位置，顶尖锁紧装置用于放松和夹紧待测蜗杆，顶尖操纵杆用于带动顶尖沿着待测蜗杆轴线左右运动。

所述测量模块为一圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置，由圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座、滑轨、拉手固定板、样板定位组件、旋转角度主轴、正弦规底板、正弦规安装座、正弦规本体、正弦等径圆柱、百分表、拉簧、后限位挡块、样板、套筒、拉杆、定位杆、零位指示杆组成。

所述圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座安装在蜗杆齿形和齿厚检测装置导轨上，可在导轨上沿蜗杆轴向方向移动，改变所测量的蜗杆螺旋齿；

所述滑轨安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座之上；

所述拉手固定板正面安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座外侧，其上装有拉杆，用于改变正弦规底板在滑轨上的位置；

所述拉杆上安装有一套筒，转动套筒可将拉杆锁死，以固定正弦规底板的位置；

所述正弦规底板安装于滑轨之上，可沿滑轨前后移动；

所述正弦规安装座固定于正弦规底板上；

所述正弦规本体为倒阶梯形，正面安装于正弦规安装座外侧；

所述样板定位组件正面安装于正弦规安装座内侧，用于装夹不同的样板；

所述旋转角度主轴贯穿正弦规本体与正弦规安装座，与样板定位组件连接；

所述正弦等径圆柱充当垫片的作用，安装于正弦规本体的右侧的台阶下，用于倾斜正弦规本体，通过旋转角度主轴带动样板一同倾斜，使得样板与待测蜗杆螺旋升角垂直，提高测量准确度；

所述百分表安装于底座的左上角；

所述零位指示杆安装于正弦规底板内侧，用于与百分表顶针接触，从而改变百分表示数；

所述后限位挡块上安装有拉簧和定位杆，定位杆用于微调正弦规底板在滑轨上的位置，拉簧连接正弦规底板与后限位挡块；

所述圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置通过改变正弦规底板在滑轨上的位置来改变样板定位组件相对于蜗杆零件的垂直距离，可适应不同直径的待测蜗杆。

进一步说，所述样板装夹于样板定位组件上，其种类包括分度圆对刀块、校对样板和法向齿厚样板；所述分度圆对刀块用于定位分度圆位置；所述校对样板用于测量待测蜗杆的齿形误差；所述法向齿厚样板用于测量待测蜗杆的齿厚误差；

所述校对样板和法向齿厚样板与待测蜗杆接触的表面设计成圆弧面，避免测量时对待测件表面造成损伤；

所述的样板采用面接触式采集蜗杆螺旋齿的数据点，能够直观反映待测蜗杆齿形、齿厚误差。

本发明的另一方面还提供了一种蜗杆齿形检测方法，该方法使用上述装置，具体包括：

将标准圆柱水平装夹到两顶尖之间，并使标准圆柱的中心轴与左右顶尖的中心轴线重合，标准圆柱外圆的位置恰好是待测蜗杆零件的理想分度圆位置；

将分度圆对刀块装夹到样板定位组件上，调整后限位挡块上的定位杆，使得分度圆对刀块恰好与标准圆柱接触，此时手动调整表盘指针，使得表盘指针恰好对于零位；

卸下标准圆柱和分度圆对刀块，将待测蜗杆零件水平装夹到两顶尖座之间，并使待测蜗杆零件的中心轴与导轨的中心轴线重合；

将测量对应蜗杆零件参数的样板装夹到测量台的样板定位块位置，根据待测蜗杆零件的型号不同，在正弦规本体的右侧安装不同的垫片，使得样板与待测蜗杆零件的螺旋齿倾角垂直，

在样板定位块上安装校对样板，将其调整至先前定好的分度圆位置，当表盘指针指向零点时，再调整圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座在导轨上的位置，使得校对样板在蜗杆沿蜗杆轴向方向平移，直到校对样板与待测蜗杆螺旋齿齿面接触，而后使用光源从校对样板和蜗杆的接触齿面下方垂直往上照射，若被检螺旋齿齿面与样板测量面之间有微小的尺寸差异，则螺旋齿的齿面与校对样板在接触处将有可见的光隙，观察此光隙的颜色和光强以得到蜗杆零件的误差范围，以此为依据判定待测蜗杆零件齿形参数合格与否。

本发明的另一方面还提供了一种蜗杆齿厚检测方法，该方法使用上述装置，具体包括：

将标准圆柱水平装夹到两顶尖之间，并使标准圆柱的中心轴与左右顶尖的中心轴线重合，标准圆柱外圆的位置恰好是待测蜗杆零件的理想分度圆位置；

将分度圆对刀块装夹到样板定位组件上，调整后限位挡块上的定位杆，使得分度圆对刀块恰好与标准圆柱接触，此时手动调整表盘指针，使得表盘指针恰好对于零位；

卸下标准圆柱和分度圆对刀块，将待测蜗杆零件水平装夹到两顶尖座之间，并使待测蜗杆零件的中心轴与导轨的中心轴线重合；

在样板定位组件上安装法向齿厚样板，而后通过圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座调整其在导轨上的位置，通过拉杆和定位杆调整其径向位置，使得待测蜗杆零件的螺旋齿恰好卡在法向齿厚样板的两弧形测量面之间，观察此时百分表表盘示数，若是大于0，则说明齿厚偏小；若百分表表盘示数小于0，则说明齿厚偏大；根据百分表表盘示数，即可得出待测蜗杆的齿厚误差。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：

1.本发明中的蜗杆齿形、齿厚检测的装置和方法，在满足测量精度要求的前提下，可测量的直径范围大，适用于各种不同型号，不同直径的蜗杆，提高了检测装置的通用性。

2.本发明中的蜗杆齿形、齿厚检测的装置测量时，与蜗杆接触的样板表面设计为圆弧状，保证在测量时不会损伤被测件表面。

3.本发明中的蜗杆齿形检测方法能有效地对任意规格的蜗杆的任意一个螺旋齿的齿形进行检测。

4.本发明中采用光隙法测蜗杆齿形误差大小，可检测0.5μm-20μm的误差；采用对比法测蜗杆齿厚误差大小，两种方法均可避免事先对测头运动路径繁琐的计算，装置设计简洁，操作简单，测量可靠。

5.本发明中所述的样板，由于采用面接触式采集蜗杆螺旋齿的数据点，避免在测量过程中传统的接触式传感器测头逐点测量，从而优化测量步骤，且可获得多个数据点，直观反映待测蜗杆齿形、齿厚误差。

附图说明

图1是本发明的蜗杆齿形、齿厚检测装置的立体结构图。

图2是本发明的蜗杆齿形、齿厚检测装置底座和导轨结构图。

图3是本发明的左顶尖座结构图。

图4是本发明的右顶尖座结构图。

图5是本发明的圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置结构图。

图6是本发明的正弦规倾斜示意图。

图7是本发明的样板倾斜示意图。

图8是本发明的校对样板测量示意图

图9是本发明的法向齿厚样板测量示意图。

图10是本发明的校对样板示意图。

图11是本发明的法向齿厚样板示意图。

图12是本发明的齿形测量流程图。

图13是本发明的齿厚测量流程图。

图中：1、蜗杆齿形齿厚检测装置底座；2、导轨；3、左顶尖座；4、右顶尖座；5、右顶尖；6、左顶尖；7、圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置；8、凹槽；9、基准面；10、左顶尖锁紧装置；11、左顶尖座本体锁紧装置；12、右顶尖锁紧装置；13、顶尖操纵杆；14、右顶尖座本体锁紧装置；15、圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座；16、滑轨；17、拉手固定板；18、样板定位组件；19、旋转角度主轴；20、正弦规底板；21、正弦规安装座；22、正弦规本体；23、正弦等径圆柱；24、百分表；25、拉簧；26、后限位挡块；27、样板；28、套筒；29、拉杆；30、定位杆；31、零位指示杆；32、校对样板；33、法向齿厚样板。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步说明。

蜗杆齿形和齿厚检测装置如图1所示，包括蜗杆齿形齿厚检测装置底座1、导轨模块、顶尖座模块和测量模块7，测量模块7即圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置。

导轨2固定于蜗杆齿形齿厚检测装置底座1上，用于让测量模块7或者顶尖座模块沿着被测件轴线运动，使得蜗杆齿形齿厚检测装置能够对待测蜗杆的不同螺旋齿的齿形和齿厚进行测量；

圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置7、左顶尖座3和右顶尖座4均置于导轨2上，左顶尖座3和右顶尖座4分别置于导轨2的两端，圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置7置于左顶尖座3和右顶尖座4之间。左顶尖6和右顶尖5分别装夹在左顶尖座3和右顶尖座4上。

如图2所示，顶尖座沿着导轨2上所示的凹槽8和基准面9移动。

如图3所示，左顶尖座3设置有左顶尖锁紧装置10和左顶尖座本体锁紧装置11，其中左顶尖座本体锁紧装置11用于固定左顶尖座3在导轨2上的位置，左顶尖锁紧装置10用于放松和夹紧左顶尖6。

如图4所示，右顶尖座4设置有右顶尖锁紧装置12和右顶尖座本体锁紧装置14，其中右顶尖座本体锁紧装置14用于固定右顶尖座4在导轨2上的位置，右顶尖锁紧装置12用于放松和夹紧右顶尖5。顶尖操纵杆13用于带动右顶尖5沿着待测蜗杆轴线左右运动，将顶尖操纵杆13向右拉动时，右顶尖5随之回缩，便于装夹待测蜗杆。

如图5所示，圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置7，由圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15、滑轨16、拉手固定板17、样板定位组件18、旋转角度主轴19、正弦规底板20、正弦规安装座21、正弦规本体22、正弦等径圆柱23、百分表24、拉簧25、后限位挡块26、样板27、套筒28、拉杆29、定位杆30、零位指示杆31等组成，圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15安装在蜗杆齿形和齿厚检测装置导轨2上，可在导轨2上沿待测蜗杆轴向方向移动，改变待测蜗杆螺旋齿；滑轨16安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15之上；正弦规底板20安装于滑轨16之上，可沿滑轨16前后移动；拉手固定板17正面安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15外侧，其上装有拉杆29，用于改变正弦规底板20在滑轨16上的位置，拉杆29上安装有一套筒28，转动套筒28可将拉杆29锁死，以固定正弦规底板20的位置；正弦规安装座21固定于正弦规底板20上，正弦规本体22为倒阶梯形，正面安装于正弦规安装座21外侧；样板定位组件18正面安装于正弦规安装座21内侧，用于装夹不同的样板27；旋转角度主轴19贯穿正弦规本体22与安装座21，与样板定位组件18连接；正弦等径圆柱23充当垫片的作用，安装于正弦规本体22的右侧的台阶下，用于使正弦规本体22产生倾斜，通过旋转角度主轴19带动样板27一同倾斜；百分表24安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15的左上角，正弦规底板20沿滑轨16移动时，零位指示杆31与百分表24顶针接触，从而改变百分表24示数；后限位挡块26上安装有拉簧25和定位杆30，定位杆30用于微调正弦规底板20在滑轨16上的位置，使得百分表24能够精准调零，拉簧25连接正弦规底板20与后限位挡块26，给正弦规底板20提供一个径向的拉力，使得测量时样板27能够紧贴待测蜗杆螺旋齿。

在使用该装置测量之前，先在两顶尖座之间装夹标准圆柱，在样板定位组件18上装夹分度圆对刀块，通过拉杆29调整正弦规底板20在滑轨16上的位置，让分度圆对刀块与标准圆柱相接触，以确定蜗杆分度圆位置，此时将百分表24调零，而后卸下标准圆柱和分度圆对刀块，在两顶尖座之间装夹待测蜗杆。

如图6所示，由于待测蜗杆零件的型号不同，其螺旋升角也不同，需根据不同型号的待测蜗杆零件，在正弦规本体右侧的台阶下方安装相应的正弦等径圆柱23充当垫片，通过倾斜正弦规本体22来带动样板定位组件18旋转，以使得样板27倾斜。

如图7所示，样板27倾斜后与待测蜗杆的螺旋升角垂直，以提高测量准确度。

蜗杆齿形测量的整体流程如图12所示，在样板定位组件18上装夹如图10所示的校对样板32，转动套筒28以松动拉杆29，通过定位杆30微调正弦规底板20在滑轨16上的位置，使得此时零位指示杆31与百分表24的顶针接触，且使得百分表24指针指向零点，再通过调整圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15在导轨2上的位置，使得校对样板32在待测蜗杆沿蜗杆轴向方向平移，直到校对样板32与待测蜗杆螺旋齿齿面接触，而后使用光源从校对样板32和蜗杆的接触齿面下方往上照射。

如图8所示，若被待测蜗杆螺旋齿齿面与校对样板32测量面之间有微小的尺寸差异，则螺旋齿的齿面与校对样板32在接触处将有可见的光隙，若透光颜色为白色，则表明间隙大于2.5μm，此时根据光强，凭经验判断其误差范围；若透光颜色为红色，则表明间隙大小在1μm-2μm之间；若透光颜色为蓝色，则表明间隙大小为1μm；若透光颜色为紫色，则表明间隙大小在0.5μm-1μm；当间隙小于0.5μm时则不透光。以此为依据判定蜗杆的齿形误差范围。采用光隙法测蜗杆齿形误差，该方法可检测0.5μm-20μm的误差，并且可避免事先对测头运动路径繁琐的计算，简化测量步骤。

蜗杆齿厚测量的整体流程如图13所示，在样板定位组件18上装夹如图11所示的法向齿厚样板33，松动拉杆29，而后通过圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座15调整其在导轨2上的位置，通过定位杆30调整正弦规底板20在滑轨16上的位置，使得待测蜗杆的被测螺旋齿恰好卡在法向齿厚样板33的两弧形测量面之间。采用对比法测量蜗杆齿厚误差，该方法可避免事先对测头运动路径繁琐的计算，简化测量步骤。

如图9所示，法向齿厚样板33测量蜗杆齿厚时，样板的位置可表明蜗杆的齿厚误差，而样板的位置由图5中的正弦规底板20的位置决定，其移动时带动零位指示杆与百分表24的顶针接触，使得百分表24指针偏移，此时百分表24示数为样板的位置偏移量，即蜗杆分度圆位置偏移量。对于标准蜗杆，其分度圆直径d为：

d＝mz (1)

式中m为蜗杆蜗杆模数，z为蜗杆齿数。

齿根圆直径d_f为：

d_f＝m(z-2.5) (2)

可得分度圆位置到齿根圆位置距离Δd为：

Δd＝(d/2)-(d_f/2)＝1.25m (3)

且Δd与标准蜗杆齿厚s满足一定的比例系数k的关系(对于不同型号的蜗杆其比例系数k有所差异)，即：

Δd＝ks (4)

由此，设百分表24显示的待测蜗杆分度圆位置偏差为Δd₁，比例系数为k₁则可得该待测蜗杆齿厚偏差Δs为：

Δs＝Δd₁/k₁ (5)

观察此时百分表24示数，若待测蜗杆法向齿厚偏大，则百分表24示数小于0；若蜗杆法向齿厚偏小，则百分表24示数大于0。

对本发明装置中使用的标准圆柱、分度圆对刀块、校对样板、法向齿厚样板、百分表需进行定期校准，才能使蜗杆齿形和齿厚检测装置检测结果真实可靠。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例，并非对本发明作任何限制，凡是根据本发明技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、变更以及等效结构变化，均仍属于本发明技术方案的保护范围内。

Claims (4)

1.蜗杆齿形和齿厚检测装置，其特征在于：包括蜗杆齿形齿厚检测装置底座、导轨模块、顶尖座模块和测量模块；

所述蜗杆齿形和齿厚检测装置底座和导轨模块用于让所述测量模块或者所述顶尖座模块沿着待测件轴线运动，以改变蜗杆齿形和齿厚检测装置的样板所指向的蜗杆螺旋齿，使蜗杆齿形和齿厚检测装置可测量待测蜗杆的任意螺旋齿；

所述顶尖座模块包括左顶尖座和右顶尖座，用于对待测蜗杆的固定；所述顶尖座包括顶尖座本体、顶尖座锁紧装置、顶尖和顶尖锁紧装置，所述右顶尖座还包括顶尖操作杆；所述顶尖座锁紧装置用于固定顶尖座本体在导轨上的位置，顶尖锁紧装置用于放松和夹紧待测蜗杆，顶尖操纵杆用于带动顶尖沿着待测蜗杆轴线左右运动；

所述测量模块为一圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置，由圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座、滑轨、拉手固定板、样板定位组件、旋转角度主轴、正弦规底板、正弦规安装座、正弦规本体、正弦等径圆柱、百分表、拉簧、后限位挡块、样板、套筒、拉杆、定位杆、零位指示杆组成；

所述圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座安装在蜗杆齿形和齿厚检测装置导轨上，可在导轨上沿蜗杆轴向方向移动，改变所测量的蜗杆螺旋齿；

所述滑轨安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座之上；

所述拉手固定板正面安装于圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座外侧，其上装有拉杆，用于改变正弦规底板在滑轨上的位置；

所述拉杆上安装有一套筒，转动套筒可将拉杆锁死，以固定正弦规底板的位置；

所述正弦规底板安装于滑轨之上，可沿滑轨前后移动；

所述正弦规安装座固定于正弦规底板上；

所述正弦规本体为倒阶梯形，正面安装于正弦规安装座外侧；

所述样板定位组件正面安装于正弦规安装座内侧，用于装夹不同的样板；

所述旋转角度主轴贯穿正弦规本体与正弦规安装座，与样板定位组件连接；

所述正弦等径圆柱充当垫片的作用，安装于正弦规本体的右侧的台阶下，用于倾斜正弦规本体，通过旋转角度主轴带动样板一同倾斜，使得样板与待测蜗杆螺旋升角垂直，提高测量准确度；

所述百分表安装于底座的左上角；

所述零位指示杆安装于正弦规底板内侧，用于与百分表顶针接触，从而改变百分表示数；

所述后限位挡块上安装有拉簧和定位杆，定位杆用于微调正弦规底板在滑轨上的位置，拉簧连接正弦规底板与后限位挡块；

所述圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置通过改变正弦规底板在滑轨上的位置来改变样板定位组件相对于蜗杆零件的垂直距离，可适应不同直径的待测蜗杆。

2.根据权利要求1所述的蜗杆齿形和齿厚检测装置，其特征在于：所述样板装夹于样板定位组件上，其种类包括分度圆对刀块、校对样板和法向齿厚样板；所述分度圆对刀块用于定位分度圆位置；所述校对样板用于测量待测蜗杆的齿形误差；所述法向齿厚样板用于测量待测蜗杆的齿厚误差；

所述校对样板和法向齿厚样板与待测蜗杆接触的表面设计成圆弧面，避免测量时对待测件表面造成损伤；

所述的样板采用面接触式采集蜗杆螺旋齿的数据点，能够直观反映待测蜗杆齿形、齿厚误差。

3.蜗杆齿形检测方法，使用权利要求1所述的装置，其特征在于：

将标准圆柱水平装夹到两顶尖之间，并使标准圆柱的中心轴与左右顶尖的中心轴线重合，标准圆柱外圆的位置恰好是待测蜗杆零件的理想分度圆位置；

将分度圆对刀块装夹到样板定位组件上，调整后限位挡块上的定位杆，使得分度圆对刀块恰好与标准圆柱接触，此时手动调整表盘指针，使得表盘指针恰好对于零位；

卸下标准圆柱和分度圆对刀块，将待测蜗杆零件水平装夹到两顶尖座之间，并使待测蜗杆零件的中心轴与导轨的中心轴线重合；

将测量对应蜗杆零件参数的样板装夹到测量台的样板定位块位置，根据待测蜗杆零件的型号不同，在正弦规本体的右侧安装不同的垫片，使得样板与待测蜗杆零件的螺旋齿倾角垂直，

在样板定位块上安装校对样板，将其调整至先前定好的分度圆位置，当表盘指针指向零点时，再调整圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座在导轨上的位置，使得校对样板在蜗杆沿蜗杆轴向方向平移，直到校对样板与待测蜗杆螺旋齿齿面接触，而后使用光源从校对样板和蜗杆的接触齿面下方垂直往上照射，若被检螺旋齿齿面与样板测量面之间有微小的尺寸差异，则螺旋齿的齿面与校对样板在接触处将有可见的光隙，观察此光隙的颜色和光强以得到蜗杆零件的误差范围，以此为依据判定待测蜗杆零件齿形参数合格与否。

4.蜗杆齿厚检测方法，使用权利要求1所述的装置，其特征在于：

将标准圆柱水平装夹到两顶尖之间，并使标准圆柱的中心轴与左右顶尖的中心轴线重合，标准圆柱外圆的位置恰好是待测蜗杆零件的理想分度圆位置；

将分度圆对刀块装夹到样板定位组件上，调整后限位挡块上的定位杆，使得分度圆对刀块恰好与标准圆柱接触，此时手动调整表盘指针，使得表盘指针恰好对于零位；

卸下标准圆柱和分度圆对刀块，将待测蜗杆零件水平装夹到两顶尖座之间，并使待测蜗杆零件的中心轴与导轨的中心轴线重合；

在样板定位组件上安装法向齿厚样板，而后通过圆环面包络圆柱蜗杆法向测量装置底座调整其在导轨上的位置，通过拉杆和定位杆调整其径向位置，使得待测蜗杆零件的螺旋齿恰好卡在法向齿厚样板的两弧形测量面之间，观察此时百分表表盘示数，若是大于0，则说明齿厚偏小；若百分表表盘示数小于0，则说明齿厚偏大；根据百分表表盘示数，即可得出待测蜗杆的齿厚误差。

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