CN107883871A - 一种蜗杆测量方法 - Google Patents

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CN107883871A CN201711007836.4A CN201711007836A CN107883871A CN 107883871 A CN107883871 A CN 107883871A CN 201711007836 A CN201711007836 A CN 201711007836A CN 107883871 A CN107883871 A CN 107883871A
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Abstract

本发明公开了测量技术领域内的一种蜗杆测量方法，包括以下步骤：（1）将被测蜗杆竖直装夹到回转台上；（2）调整传感器的起始位置；（3）控制回转台匀速转动及滑动支架匀速向上移动，直至蜗杆螺旋齿面上的光斑点达到测量终点Pn的位置，等时间间隔采样光斑点Pi的位置信息；（4）分析采集点Pi的坐标，计算圆柱蜗杆的螺旋线误差值；（5）调整传感器的起始位置；（6）控制回转台不动及滑动支架沿着z轴正向做匀速上升运动，直至蜗杆轴截面xoz内齿廓线上的光斑点达到测量终点Pn’的位置，等时间间隔采样光斑点Pi’的位置信息；（7）分析采集点Pi’的坐标，计算蜗杆的齿廓形状、齿距和齿厚误差值；本发明测量效率高，测量精度高。

Description

一种蜗杆测量方法
技术领域
本发明涉及一种测量方法，特别涉及一种蜗杆的测量方法。
背景技术
目前，蜗杆测量技术中，广泛使用的是触发式或扫描式传感测量头与被测工件几何形体表面接触而记录形体表面点的三维坐标位置的接触时测量法，这种方法的测量精度不高，操作比较繁琐。在测量蜗杆的齿廓形状时，为了保证测头与蜗杆罗阔紧密接触并沿着齿廓形状运动，需要提前规划测头的运动路径，耗费大量的计算时间，同时，由于测头半径较大，会带来测量横向分辨率低的问题，当接触时测头与蜗杆齿面接触时，由于测头体积的存在使得理论接触点与实际接触点的位置存在差异，实际接触点的法向量是不断改变的，要在被测工件接触面的法向补偿测头半径存在一定困难，计算过程复杂，测量效率低下。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的在于解决上述现有技术中测量精度不高且计算复杂的技术问题，提供一种蜗杆测量方法，本发明测量精度高，计算简单，测量效率高。
本发明的目的是这样实现的：一种蜗杆测量方法，包括以下步骤，
（1）将被测蜗杆竖直装夹到回转台上，并使被测蜗杆的中心轴与回转台的回转中心轴线重合；
（2）调整激光位移传感器的起始测量位置：控制滑动支架的移动使激光位移传感器发出的激光垂直于蜗杆中心轴线且光斑点照射在蜗杆轴截面内第一个完整齿廓线与分度圆柱面的交点P1位置；
（3）控制回转台以w的角速度匀速转动，同时，控制滑动支架以m/s的速度向上移动，使激光位移传感器沿z轴正向做配合回转台旋转的匀速上升运动，直至被测蜗杆螺旋齿面上的光斑点达到测量终点Pn的位置，在此过程中，光栅、圆光栅和激光位移传感器等时间间隔采样光斑点Pi的位置信息，具体的为光栅反馈的x轴坐标xi、y轴坐标yi、z轴坐标zi、θ轴坐标θi及激光位移传感器的读数Hi；
（4）分析采集点的坐标，计算圆柱蜗杆的螺旋线误差值；
（5）调整激光位移传感器的起始测量位置：控制滑动支架的移动使激光位移传感器发出的激光垂直于蜗杆中心轴线且光斑点照射在蜗杆轴截面内第一个完整齿廓的根部P1’位置；
（6）控制回转台固定不动，同时，控制滑动支架沿着z轴正向做匀速上升运动，直至被测蜗杆轴截面xoz内齿廓线上的光斑点达到测量终点Pn’的位置，对应光栅、圆光栅和激光位移传感器等时间间隔采样光斑点Pi’的位置信息，读取光栅反馈的x轴坐标xi、z轴坐标zi及激光位移传感器的读数Hi’；
（7）分析采集点Pi'{x,z}的坐标，计算蜗杆的齿廓形状误差值，并用牛顿插值法拟合离散的采样点Pi’，以计算蜗杆的齿距和齿厚误差值；
其中，PX为被测蜗杆公称齿距，坐标系xyz是以回转台底部的中心建立的，x轴与y轴导轨移动的方向平行，y轴与z轴导轨移动的方向平行，z轴与滑动支架上下移动的方向平行，坐标系xyz的原点设置在回转台的台面与回转台旋转中心轴线的交点处；另外，步骤（2）-步骤（4）作为一个整体步骤，步骤（5）-步骤（7）作为另一个整体步骤时，两者之间的顺序可根据测量需要相互调换；
测量方法中使用的测量装置包括工作台和控制系统，所述工作台上设有回转台和三坐标平移机构，所述三坐标平移机构包括固定在工作台上的x轴导轨，所述x轴导轨上滑动设有y轴导轨，y轴导轨上滑动设有z轴导轨，所述z轴导轨上滑动设有滑动支架，所述滑动支架上固连有激光位移传感器，所述控制系统控制y轴导轨、z轴导轨和滑动支架的移动以及回转台的转动，所述x轴导轨、y轴导轨和z轴导轨上均设有用于检测光斑点位置坐标的光栅，各个光栅分别与y轴导轨、z轴导轨和滑动支架的移动方向平行，所述回转台的圆周上设有用于检测回转台轴坐标的圆光栅，z轴正向为向上提升的方向，x轴正向为朝向三坐标平移机构的方向，y轴正向为z轴导轨移动方向向前的方向。
为了实现激光位移传感器的位置调节，所述三轴平移机构采用配有光栅的精密滚珠丝杠导轨传动，并由伺服电机驱动丝杠转动；所述回转台由伺服旋转力矩电机驱动其转动，所述控制系统控制伺服电机和伺服旋转力矩电机的动作。
为了便于螺旋线误差的分析，所述步骤（2）中，激光位移传感器的起始测量位置借助零标圆柱来标定，具体的为将零标圆柱装夹在回转台上，保证零标圆柱的中心轴线与回转台的旋转中心轴线重合，控制系统控制z轴导轨沿着y轴导轨移动，使y轴光栅坐标值为0；控制系统控制y轴导轨沿着x轴导轨移动，使得激光位移传感器的读数置0后再将y轴导轨向x轴正向移动△r的距离；在使用零标圆柱标定结束后，将零标圆柱从回转台撤下，装夹被测蜗杆，并使用控制系统同时调整激光位移传感器（4）的z向高度和回转台旋转角度θ，使得激光位移传感器读数回零；其中，△r被测蜗杆的分度圆柱半径与零标圆柱的半径之差，且蜗杆分度圆柱的半径大于零标圆柱的半径。
作为本发明的进一步改进，所述螺旋线上的光斑采样点Pi在坐标系xyz中的实际坐标值为Pi（xi-Hi,yi,zi, θi），yi=0，θi=w*Δt rad，其中，xi、yi、zi、θi为各个光栅反馈的坐标值，Δt为激光位移传感器的采样时间间隔，Hi为激光位移传感器的读数，i=（1,2,3,…N）为采样点序号。
为了便于齿廓形状、齿距和齿厚误差的分析，所述步骤（5）中，所述激光位移传感器的起始测量位置也由零标圆柱来确定，具体的为，将零标圆柱装夹在回转台上，保证零标圆柱的中心轴线与回转台的中心轴线重合，控制z轴导轨的y向移动，使y轴光栅坐标值为0；移动y轴导轨，使得激光位移传感器的读数置0后，再将y轴导轨向x轴正向移动△r的距离；在使用零标圆柱标定结束后，将零标圆柱从回转台撤下，装夹被测蜗杆，控制系统控制滑动支架沿着z轴移动，使得激光位移传感器的读数置0的同时滑动支架停止移动。
作为本发明的进一步改进，所述蜗杆的轴向齿廓线上的光斑采样点Pi’在坐标系xoz中的实际坐标值为Pi’（xi-Hi’,zi），其中，xi为x轴导轨上光栅反馈的坐标值,Hi’为激光位移传感器的读数，i=（1,2,3,…N）为采样点序号。
本发明与现有技术相比，具有以下技术效果：采用激光位移传感器的测试头采集各个测量点的坐标位置，分析采集点的坐标值，得到被测蜗杆的螺旋线、齿廓形状、齿距和齿厚误差，可从蜗杆的整体测量中得到多项误差值，测量效率高；测量之前，使用零标圆柱对激光位移传感器的起始位置进行标定，方便后期各个误差的分析，计算简单，测量精度高；本发明可应用于法向直廓蜗杆、阿基米德蜗杆、渐开线蜗杆、锥面包络圆柱蜗杆等多种形式的圆柱蜗杆的测量工作中。
附图说明
图1为本发明中使用的测量装置的立体结构示意图。
图2为本发明中蜗杆测量的数据采样方式的主视图。
图3为本发明中蜗杆测量的数据采样方式的俯视图。
图4为本发明中进行蜗杆螺旋线测量的起始测量位置及激光位移传感器运动过程示意图。
图5为蜗杆螺旋线误差计算示意图。
图6为蜗杆的齿廓形状、齿距和齿厚测量的起始位置及传感器运动过程示意图。
图7为本发明中计算齿廓形状误差的示意图。
图8为本发明中计算齿距、齿厚误差的示意图。
其中，1回转台，2被测蜗杆，3尾顶机构，4激光位移传感器，5滑动支架，6 z轴导轨，7 y轴导轨，8 x轴导轨，9工作台，10圆光栅的读数头，11圆光栅，12光栅的读数头，13光栅。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做出进一步说明。
一种蜗杆测量方法，包括以下步骤，
（1）将被测蜗杆2竖直装夹到回转台1上，并使被测蜗杆2的中心轴与回转台1的回转中心轴线重合；
（2）调整激光位移传感器4的起始测量位置：控制滑动支架5的移动使激光位移传感器4发出的激光垂直于蜗杆中心轴线且光斑点照射在蜗杆轴截面内第一个完整齿廓线与分度圆柱面的交点P1位置；
（3）控制回转台1以w的角速度匀速转动，同时，控制滑动支架5以 m/s的速度向上移动（如图3所示），使激光位移传感器4沿z轴正向做配合回转台1旋转的匀速上升运动，直至被测蜗杆2螺旋齿面上的光斑点达到测量终点Pn的位置，在此过程中，光栅13、圆光栅11和激光位移传感器4等时间间隔采样光斑点Pi的位置信息，具体的为光栅13反馈的x轴坐标xi、y轴坐标yi、z轴坐标zi、θ轴坐标θi及激光位移传感器4的读数Hi；
（4）分析采集点的坐标，计算圆柱蜗杆的螺旋线误差值；
（5）调整激光位移传感器4的起始测量位置：控制滑动支架5的移动使激光位移传感器4发出的激光垂直于蜗杆中心轴线且光斑点照射在蜗杆轴截面内第一个完整齿廓的根部P1’位置；
（6）控制回转台1固定不动，同时，控制滑动支架5沿着z轴正向做匀速上升运动（如图5所示），直至被测蜗杆2轴截面xoz内齿廓线上的光斑点达到测量终点Pn’的位置，对应光栅13、圆光栅11和激光位移传感器4等时间间隔采样光斑点Pi’的位置信息，读取光栅13反馈的x轴坐标xi、z轴坐标zi及激光位移传感器4的读数Hi’；
（7）分析采集点Pi'{x,z}的坐标，计算蜗杆的齿廓形状误差值，并用牛顿插值法拟合离散的采样点Pi’，以计算蜗杆的齿距和齿厚误差值；
其中，PX为被测蜗杆2公称齿距，坐标系xyz是以回转台1底部的中心建立的，x轴与y轴导轨7移动的方向平行，y轴与z轴导轨6移动的方向平行，z轴与滑动支架5上下移动的方向平行，坐标系xyz的原点设置在回转台1的台面与回转台1旋转中心轴线的交点处；另外，步骤（2）-步骤（4）作为一个整体步骤，步骤（5）-步骤（7）作为另一个整体步骤时，两者之间的顺序可根据测量需要相互调换；激光位移传感器4的读数为被测工件表面上的光斑点在激光直线方向上偏离传感器零位的位移。
测量方法中使用的测量装置（如图1所示）包括工作台9和控制系统，工作台9上设有回转台1和三坐标平移机构，三坐标平移机构包括固定在工作台9上的x轴导轨8，x轴导轨8上滑动设有y轴导轨7，y轴导轨7上滑动设有z轴导轨6，z轴导轨6上滑动设有滑动支架5，滑动支架5上固连有激光位移传感器4，控制系统控制y轴导轨7、z轴导轨6和滑动支架5的移动以及回转台1的转动，x轴导轨8、y轴导轨7和z轴导轨6上均设有用于检测光斑点位置坐标的光栅13，具体的为（如图1所示），一个光栅13设置在z轴导轨6的右侧，光栅13的读数头12设置在z轴导轨6的前侧；还有一个光栅13设置在y轴导轨7的右侧，光栅13的读数头12设置在此光栅13的上侧；另一个光栅13及光栅的读数头12均设置在x轴导轨8的前侧，方便读数；各个光栅13分别与y轴导轨7、z轴导轨6和滑动支架5的移动方向平行，回转台1的圆周上设有用于检测回转台1轴坐标的圆光栅11，圆光栅的读数头10设置在圆光栅11的外侧；z轴正向为向上提升的方向，x轴正向为朝向三坐标平移机构的方向，y轴正向为z轴导轨6移动方向向前的方向；尾顶机构3的底部正对回转台1的旋转中心，并顶住蜗杆上侧所在平面。
为了实现激光位移传感器4的位置调节，三轴平移机构采用配有光栅13的精密滚珠丝杠导轨传动，并由伺服电机驱动丝杠转动；回转台1由伺服旋转力矩电机驱动其转动，控制系统控制伺服电机和伺服旋转力矩电机的动作。
为了便于螺旋线误差的分析，步骤（2）中，激光位移传感器4的起始测量位置借助零标圆柱来标定，具体的为将零标圆柱装夹在回转台1上，保证零标圆柱的中心轴线与回转台1的旋转中心轴线重合，控制系统控制z轴导轨6沿着y轴导轨7移动，使y轴光栅13坐标值为0，此时，激光位移传感器4发出的激光所在直线方向的延长线与零标圆柱的中心轴线空间正交；控制系统控制y轴导轨7沿着x轴导轨8移动，使得激光位移传感器4的读数置0后再将y轴导轨7向x轴正向移动△r的距离；在使用零标圆柱标定结束后，将零标圆柱从回转台1撤下，装夹被测蜗杆2，并使用控制系统同时调整激光位移传感器4（4）的z向高度和回转台1旋转角度θ，使得激光位移传感器4读数回零；其中，△r被测蜗杆2的分度圆柱半径与零标圆柱的半径之差，且蜗杆分度圆柱的半径大于零标圆柱的半径。
螺旋线上的光斑采样点Pi在坐标系xyz中的实际坐标值为Pi（xi-Hi,yi,zi, θi），yi=0，θi=w*Δt rad，其中，xi、yi、zi、θi为各个光栅13反馈的坐标值，Δt为激光位移传感器4的采样时间间隔，Hi为激光位移传感器4的读数，i=（1,2,3,…N）为采样点序号。
如图4所示，螺旋线误差的计算具体的为，对于每个理想采样点，如果以第一个采样点坐标：为起始点，第i个采样点的x轴方向理论坐标值均为：，则第i个采样点的螺旋线误差为：；若待测蜗杆头数为1，且螺旋线误差评定范围从第i1个点到第i2个点，此蜗杆的螺旋线误差值为：；
若待测蜗杆头数为k，本次测量的是第j个头，且该头的螺旋线误差评定范围是从第i1个点到第i2个点，则此蜗杆的螺旋线误差值为：；
其中，D1为被测蜗杆2分度圆柱面的直径。
为了便于齿廓形状、齿距和齿厚误差的分析，步骤（5）中，激光位移传感器4的起始测量位置也由零标圆柱来确定，具体的为，将零标圆柱装夹在回转台1上，保证零标圆柱的中心轴线与回转台1的中心轴线重合，控制z轴导轨6的y向移动，使y轴光栅13坐标值为0，此时，激光位移传感器4发出的激光所在直线方向的延长线与零标圆柱的中心轴线空间正交；移动y轴导轨7，使得激光位移传感器4的读数置0后，再将y轴导轨7向x轴正向移动△r的距离；在使用零标圆柱标定结束后，将零标圆柱从回转台1撤下，装夹被测蜗杆2，控制系统控制滑动支架5沿着z轴移动，使得激光位移传感器4的读数置0，同时滑动支架5停止移动。
蜗杆的轴向齿廓线上的光斑采样点Pi’在坐标系xoz中的实际坐标值为Pi’（xi-Hi’,zi），其中，xi为x轴导轨8上光栅13反馈的坐标值,Hi’为激光位移传感器4的读数，i=（1,2,3,…N）为采样点序号。
齿廓形状误差计算具体的为，对于每一个理想采样点，如果以第一个 采样点坐标P1{x1-H1,z1}为起始点，第i个采样点的齿廓形状误差计算如 下：如图7所示，在被测蜗杆2轴截面xoz内的齿廓线上第i个采样点的 z坐标的理论值为z'i＝z1-(xi-Hi-x1+H1)·tanαx，该点的齿形误差为 若被测蜗杆2头数z1＝1，且齿廓形状误差评定范围是从第i1个点到第i2个点，则此蜗杆的齿廓形状误差值为 若待测蜗杆头数z1＝k’，k>1，本次测量的 是第j’个头，且该头的齿廓形状误差评定范围是从第i1’个点到第i2’ 个点，此头的齿廓形状误差为：则此蜗 杆的齿廓形状误差值为：
其中，αx为蜗杆齿形角，n为蜗杆齿面单位法矢的模，nz为齿面单 位法矢在z轴方向的分量的模。
在工件所在的坐标系（计算坐标系）平面x’o’z’中用牛顿插值拟合发拟合离散的采样点Pi’，得到蜗杆轴截面内的实际齿廓线；由于，国标中规定齿距和齿厚的误差要在分度圆上判定，所以在计算拟合的实际齿廓线与蜗杆分度圆柱面的交点坐标为PLi和PRi，以判定蜗杆齿距和齿厚的误差结果，其中，PLi表示蜗杆轴截面齿廓线与分度圆柱面的左交点，PRi表示蜗杆轴截面齿廓线与分度圆柱面的右交点；
如图8所示，在计算坐标系x’o’z’中将拟合的齿廓线与直线x=D1/2联立方程组求解可得PLi和PRi的坐标：，，其中，，n’为测量齿数；
蜗杆分度圆柱面上的公称齿距，公称齿厚，则对于被测蜗杆2中的第i个齿，左侧第i个轴向齿距误差：；右侧第i个轴向齿距误差：ΔfRpxi＝|zRi+1-zRi|-Px，第i个齿厚误差：ΔEsi＝|zRi-zLi|-Sfn'；蜗杆的左侧轴向齿距误差：；右侧轴向齿距误差：；蜗杆齿厚误差：。
本发明中采用激光位移传感器4的测试头采集各个测量点的坐标位置，分析采集点的坐标值，得到被测蜗杆2的螺旋线、齿廓形状、齿距和齿厚误差，可从蜗杆的整体测量中得到多项误差值，测量效率高；测量之前，使用零标圆柱对激光位移传感器4的起始位置进行标定，方便后期各个误差的分析，测量精度高；本发明可应用于法向直廓蜗杆、阿基米德蜗杆、渐开线蜗杆、锥面包络圆柱蜗杆等多种形式的圆柱蜗杆的测量工作中。
本发明并不局限于上述实施例，在本发明公开的技术方案的基础上，本领域的技术人员根据所公开的技术内容，不需要创造性的劳动就可以对其中的一些技术特征作出一些替换和变形，这些替换和变形均在本发明保护范围内。

Claims (6)

1.一种蜗杆测量方法，其特征在于，包括以下步骤，
（1）将被测蜗杆竖直装夹到回转台上，并使被测蜗杆的中心轴与回转台的回转中心轴线重合；
（2）调整激光位移传感器的起始测量位置：控制滑动支架的移动使激光位移传感器发出的激光垂直于蜗杆中心轴线且光斑点照射在蜗杆轴截面内第一个完整齿廓线与分度圆柱面的交点P1位置；
（3）控制回转台以w的角速度匀速转动，同时，控制滑动支架以的速度向上移动，使激光位移传感器沿z轴正向做配合回转台旋转的匀速上升运动，直至被测蜗杆螺旋齿面上的光斑点达到测量终点Pn的位置，在此过程中，光栅、圆光栅和激光位移传感器等时间间隔采样光斑点Pi的位置信息，具体的为光栅反馈的x轴坐标xi、y轴坐标yi、z轴坐标zi、θ轴坐标θi及激光位移传感器的读数Hi；
（4）分析采集点Pi{x,y,z,θ}的坐标，计算圆柱蜗杆的螺旋线误差值；
（5）再次调整激光位移传感器的起始测量位置：控制滑动支架的移动使激光位移传感器发出的激光垂直于蜗杆中心轴线且光斑点照射在蜗杆轴截面内第一个完整齿廓的根部P1’位置；
（6）控制回转台固定不动，同时，控制滑动支架沿着z轴正向做匀速上升运动，直至被测蜗杆轴截面xoz内齿廓线上的光斑点达到测量终点Pn’的位置，对应光栅、圆光栅和激光位移传感器等时间间隔采样光斑点Pi’的位置信息，读取光栅反馈的x轴坐标xi、z轴坐标zi及激光位移传感器的读数Hi’；
（7）分析采集点P'i{x,z}的坐标，计算蜗杆的齿廓形状误差值，并用牛顿插值法拟合离散的采样点Pi’，以计算蜗杆的齿距和齿厚误差值；
其中，PX为被测蜗杆公称齿距，坐标系xyz是以回转台底部的中心建立的，x轴与y轴导轨移动的方向平行，y轴与z轴导轨移动的方向平行，z轴与滑动支架上下移动的方向平行，坐标系xyz的原点设置在回转台的台面与回转台旋转中心轴线的交点处；另外，步骤（2）-步骤（4）作为一个整体步骤，步骤（5）-步骤（7）作为另一个整体步骤时，两者之间的顺序可根据测量需要相互调换；
测量方法中使用的测量装置包括工作台和控制系统，所述工作台上设有回转台和三坐标平移机构，所述三坐标平移机构包括固定在工作台上的x轴导轨，所述x轴导轨上滑动设有y轴导轨，y轴导轨上滑动设有z轴导轨，所述z轴导轨上滑动设有滑动支架，所述滑动支架上固连有激光位移传感器，所述控制系统控制y轴导轨、z轴导轨和滑动支架的移动以及回转台的转动，所述x轴导轨、y轴导轨和z轴导轨上均设有用于检测光斑点位置坐标的光栅，各个光栅分别与y轴导轨、z轴导轨和滑动支架的移动方向平行，所述回转台的圆周上设有用于检测回转台轴坐标的圆光栅，z轴正向为向上提升的方向，x轴正向为朝向三坐标平移机构的方向，y轴正向为z轴导轨移动方向向前的方向。
2.根据权利要求1所述的一种蜗杆测量方法，其特征在于，所述三轴平移机构采用配有光栅的精密滚珠丝杠导轨传动，并由伺服电机驱动丝杠转动；所述回转台由伺服旋转力矩电机驱动其转动，所述控制系统控制伺服电机和伺服旋转力矩电机的动作。
3.根据权利要求2所述的一种蜗杆测量方法，其特征在于，所述步骤（2）中，激光位移传感器的起始测量位置借助零标圆柱来标定，具体的为将零标圆柱装夹在回转台上，保证零标圆柱的中心轴线与回转台的旋转中心轴线重合，控制系统控制z轴导轨沿着y轴导轨移动，使y轴光栅坐标值为0；控制系统控制y轴导轨沿着x轴导轨移动，使得激光位移传感器的读数置0后再将y轴导轨向x轴正向移动△r的距离；在使用零标圆柱标定结束后，将零标圆柱从回转台撤下，装夹被测蜗杆，并使用控制系统同时调整激光位移传感器（4）的z向高度和回转台旋转角度θ，使得激光位移传感器读数回零；其中，△r被测蜗杆的分度圆柱半径与零标圆柱的半径之差，且蜗杆分度圆柱的半径大于零标圆柱的半径。
4.根据权利要求3所述的一种蜗杆测量方法，其特征在于，所述螺旋线上的光斑采样点Pi在坐标系xyz中的实际坐标值为Pi（xi-Hi,yi,zi, θi），yi=0，θi=w*Δt rad，其中，xi、yi、zi、θi为各个光栅反馈的坐标值，Δt为激光位移传感器的采样时间间隔，Hi为激光位移传感器的读数，i=（1,2,3,…N）为采样点序号。
5.根据权利要求2所述的一种蜗杆测量方法，其特征在于，所述步骤（5）中，所述激光位移传感器的起始测量位置也由零标圆柱来确定，具体的为，将零标圆柱装夹在回转台上，保证零标圆柱的中心轴线与回转台的中心轴线重合，控制z轴导轨的y向移动，使y轴光栅坐标值为0；移动y轴导轨，使得激光位移传感器的读数置0后，再将y轴导轨向x轴正向移动△r的距离；在使用零标圆柱标定结束后，将零标圆柱从回转台撤下，装夹被测蜗杆，控制系统控制滑动支架沿着z轴移动，使得激光位移传感器的读数置0的同时滑动支架停止移动。
6.根据权利要求5所述的一种蜗杆测量方法，其特征在于，所述蜗杆的轴向齿廓线上的光斑采样点Pi’在坐标系xoz中的实际坐标值为Pi’（xi-Hi’,zi），其中，xi为x轴导轨上光栅反馈的坐标值,Hi’为激光位移传感器的读数，i=（1,2,3,…N）为采样点序号。
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