CN112562507A - 一种显示面板及其检测方法 - Google Patents
一种显示面板及其检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112562507A CN112562507A CN202011411736.XA CN202011411736A CN112562507A CN 112562507 A CN112562507 A CN 112562507A CN 202011411736 A CN202011411736 A CN 202011411736A CN 112562507 A CN112562507 A CN 112562507A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pixel unit
- circuit
- display panel
- pixel
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 9
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 4
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09F—DISPLAYING; ADVERTISING; SIGNS; LABELS OR NAME-PLATES; SEALS
- G09F9/00—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements
- G09F9/30—Indicating arrangements for variable information in which the information is built-up on a support by selection or combination of individual elements in which the desired character or characters are formed by combining individual elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
本发明公开了一种显示面板及其检测方法。显示面板包括多个像素单元、多条扫描线、多条数据线以及多条栅极信号走线；其中每一排扫描线仅设有一个过孔；过孔将栅极信号走线分为第一段和第二段，第一段与第二段在过孔所在的像素单元内断路。本发明通过将传统走线过孔依序线状密集排列的方式打乱，过孔的位置随意排布，避免了在显示区内因线状密集排列的过孔导致的线性显示不均匀成像。并进一步减少标准像素单元电路图像为一组进行对比分析，不需要检测并判定包括栅极信号走线、过孔以及断路位置的像素单元电路图像，极大地提高了图像检测效率，从而提升了设备检测能力。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术邻域，特别涉及一种显示面板及显示面板的检测方法。
背景技术
因应市场的需求，大尺寸、高解析度及超窄边框的显示面板的检测方法成为市场的趋势，随着窄边框技术导入，栅极信号走线(Gate Line)、数据走线(Data Line)和公共电极走线设计到同一边的技术称为3in 1技术，以压缩三边边框实现超窄边框。其相对于栅极信号走线与数据走线设置在不同侧出线的方式更能缩减边框宽度。
如图1所示，图1为现有的一种显示面板的结构示意图，采用3in 1技术，显示面板90包括像素单元91，和驱动像素单元91的行驱动单元92以及数据驱动单元93，像素单元91内设有像素电路。行驱动单元92与数据驱动单元93位于同一侧，行驱动单92通过栅极信号走线911穿过位于显示面板90上的过孔912与扫描线913连接，扫描线913与像素电路中的薄膜晶体管的栅极电性连接。数据驱动单元93通过数据走线914与像素电路中的薄膜晶体管的源极电性连接。但现有的行驱动单元92逐行扫描的方式限定了过孔912在显示面板90上为依序排列，呈现线状排列，这样过孔912的规律分布方式使得栅极信号走线911的电阻和寄生电容存在规律分布，这种设计容易由于入力点驱动能力较强导致规律线性显示不均匀(Mura)，影响显示品质。
若过孔912在显示面板90上的线状排列方式被打乱，则会将原有的像素单元91内的像素电路结构变形为多种结构形式，出现如图2A、图2B、图2C、图2D所示的四种像素单元结构，图2A为无栅极信号走线的像素单元平面结构，图2B为无栅极信号走线且有过孔的像素单元平面结构，图2C为仅有栅极信号走线的像素单元平面结构，图2D为有栅极信号走线且有过孔的像素单元平面结构，而且由于过孔912位置被打乱，导致在制程中检测像素电路中走线是否存在短路时，自动光学检查机(AOI)无法检测或者由于像素单元91类型复杂化导致检测速度极大减慢。
发明内容
本发明的一个目的在于解决显示面板中行驱动线路连接显示区栅极线的过孔依序线状密集排列的方式导致规律线性显示不均匀的技术问题；本发明的另一个目的在于解决显示面板中若过孔的线状排列方式被打乱，导致在制程中检测像素电路中走线是否存在短路时，自动光学检查机(AOI)无法检测或者检测速度换慢的技术问题。
解决上述问题的技术方案是，本发明提供了一种显示面板，包括多个像素单元、多条扫描线、多条数据线以及多条栅极信号走线；所述多个像素单元呈阵列式排布，每一像素单元内设有一像素驱动电路，所述像素驱动电路中设有至少一薄膜晶体管；所述多条扫描线与每一像素驱动电路的薄膜晶体管的栅极电性连接；所述多条数据线与每一像素驱动电路的薄膜晶体管的源极电性连接，用于传输数据信号；所述多条栅极信号走线与每一条扫描线交叉设置，用于传输扫描信号；每一列所述栅极信号走线穿过一过孔与其中一排的所述扫描线电性连接；其中，每一排所述扫描线仅设有一个所述过孔；所述过孔将所述栅极信号走线分为第一段和第二段，所述扫描信号沿所述第一段传输至所述过孔处时传输至所述扫描线，所述第一段与所述第二段在所述过孔所在的像素单元内断路。
进一步地，所述扫描信号沿纵向在所述栅极信号走线上从上至下传输，所述第一段与所述第二段的断路位置位于所述过孔下方一侧。
进一步地，所述第一段与所述第二段的断路位置的长度小于所述过孔所在的像素单元沿所述栅极信号走线一侧的边长。
进一步地，通过蚀刻所述栅极信号走线的方式制作所述第一段与所述第二段。
进一步地，所述栅极信号走线与所述数据线平行设置，在制作所述第一段与所述第二段前的所有栅极信号走线的长度相等。
进一步地，所述显示面板还包括：栅极驱动单元，电连接于多条栅极信号走线，用于输出扫描信号。
进一步地，所述显示面板还包括：源极驱动电路，电连接于多条数据线，用于输出数据信号。
为了解决上述问题，本发明还提供一种前文所述显示面板的检测方法，其包括以下步骤：
设置标准像素单元电路图像步骤，设置一图像库用于存储标准像素单元电路图像，所述标准像素单元电路图像包括第一对照组，所述第一对照组由有栅极信号走线且无过孔无断路位置的像素单元电路平面图像构成；
显示面板像素单元电路图像获取步骤，对显示面板中的各个像素单元分别获取其电路图像并储存；
图像对比分类步骤，将获取的像素单元电路图像分为两组，第一组像素单元电路图像中包括栅极信号走线且无过孔，第二组像素单元电路图像中包括栅极信号走线、过孔以及断路位置；以及
图像检测步骤，将第一组像素单元电路图像与第一对照组进行对比检测，当出现灰阶差异超出预设阈值范围时，则判定其为异常像素单元。
进一步地，在图像检测步骤中，还包括将所述第二组像素单元电路图像设定成非检区，直接判定为合格像素单元。
进一步地，在设置标准像素单元电路图像步骤中，所述标准像素单元电路图像还包括第二对照组，所述第二对照组由有栅极信号走线且有过孔有断路位置的像素单元电路平面图像构成；在图像检测步骤中，还包括将所述第二组像素单元电路图像与所述第二对照组进行对比检测，当出现灰阶差异超出预设阈值范围时，则判定其为异常像素单元。
本发明的有益效果是，提供了一种显示面板及显示面板的检测方法，通过将传统走线过孔依序线状密集排列的方式打乱，过孔的位置随意排布，避免了在显示区内因线状密集排列的过孔导致的线性显示不均匀(mura)成像，优化了产品的显示效果，并且能够实现窄边框。并进一步设置断路位置将栅极信号走线打断为第一段和第二段，避免短路，而且能够借助断路位置的识别而降低自动光学检查机识别过孔位置的难度。并进一步减少标准像素单元电路图像为一组进行对比分析，不需要检测并判定包括栅极信号走线、过孔以及断路位置的像素单元电路图像，极大地提高了图像检测效率，从而提升了设备检测能力。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为现有的一种显示面板的结构示意图。
图2A为无栅极信号走线的像素单元平面结构示意图。
图2B为无栅极信号走线且有过孔的像素单元平面结构示意图。
图2C为仅有栅极信号走线的像素单元平面结构示意图。
图2D为有栅极信号走线且有过孔的像素单元平面结构示意图。
图3为本发明实施例中提供了一种显示面板的结构示意图。
图4为本发明实施例中的一种显示面板的检测方法的流程图。
图5为本发明实施例中所述第一对照组的图像平面结构示意图。
图6为本发明实施例中所述第一组像素单元电路图像的平面结构示意图。
图7为本发明实施例中所述第二组像素单元电路图像的平面结构示意图。
图8为本发明实施例中所述第二对照组的平面结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是附图中的方向，本文所使用的方向用语是用来解释和说明本发明，而不是用来限定本发明的保护范围。当某些组件，被描述为“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接置于所述另一组件上；也可以存在一中间组件，所述组件置于所述中间组件上，且所述中间组件置于另一组件上。
在附图中，结构相同的部件以相同数字标号表示，各处结构或功能相似的组件以相似数字标号表示。此外，为了便于理解和描述，附图所示的每一组件的尺寸和厚度是任意示出的，本发明并没有限定每个组件的尺寸和厚度。
如图3所示，本发明实施例中提供了一种显示面板100，包括多个像素单元10、多条扫描线20、多条数据线30以及多条栅极信号走线40；所述多个像素单元10呈阵列式排布，形成多排和多列像素单元10，每一像素单元10内设有一像素驱动电路，用于显示画面，所述像素单元10包括红色像素单元R、绿色像素单元G、蓝色像素单元B中的任一种，所述像素驱动电路中设有至少一薄膜晶体管11；所述多条扫描线20与每一像素驱动电路的薄膜晶体管的栅极电性连接；所述多条数据线30与每一像素驱动电路的薄膜晶体管的源极电性连接，用于传输数据信号；所述多条栅极信号走线40与每一条扫描线20交叉设置，用于传输扫描信号；每一列所述栅极信号走线40穿过一过孔41与其中一排的所述扫描线20电性连接；其中，每一排所述扫描线20仅设有一个所述过孔41；所述过孔41将所述栅极信号走线40分为第一段401和第二段402，所述扫描信号沿所述第一段401传输至所述过孔41处时传输至所述扫描线20，所述第一段401与所述第二段402在所述过孔41所在的像素单元10内断路。为便于理解，在图中将所述第一段401与所述第二段402的短路位置标注为42。
本实施例通过将传统走线过孔依序线状密集排列的方式打乱，过孔41的位置随意排布，避免了在显示区内因线状密集排列的过孔导致的线性显示不均匀(mura)成像，优化了产品的显示效果，并且能够实现窄边框。并进一步设置断路位置将栅极信号走线40打断为第一段401和第二段402，避免短路。
本实施例中，所述扫描信号沿纵向在所述栅极信号走线40上从上至下传输，所述断路位置42设于所述过孔41下方一侧的所述栅极信号走线40上。
本实施例中，所述断路位置42的长度小于所述过孔41所在的像素单元10沿所述栅极信号走线40一侧的边长。
本实施例中，所述断路位置42通过蚀刻所述栅极信号走线40的方式制作。亦即通过蚀刻所述栅极信号走线40的方式制作所述第一段401与所述第二段402。
本实施例中，所述栅极信号走线40与所述数据线30平行设置，所述栅极信号走线40沿纵向贯穿所述显示面板100的显示区，在制作所述所述第一段401与所述第二段402前的所有栅极信号走线40的长度相等。
如图3所示，本实施例中，所述显示面板100还包括栅极驱动单元50，所述栅极驱动单元50电连接于多条栅极信号走线40，用于输出扫描信号。
如图3所示，本实施例中，所述显示面板100还包括源极驱动电路60，所述源极驱动电路60电连接于多条数据线30，用于输出数据信号。
如图4所示，为了解决上述问题，本发明还提供一种前文所述显示面板100的检测方法，优选使用自动光学检查机进行自动检测，其包括以下步骤S1-S4。
S1、设置标准像素单元电路图像步骤，设置一图像库用于存储标准像素单元电路图像，所述标准像素单元电路图像包括第一对照组101，所述第一对照组101由有栅极信号走线40且无过孔41无断路位置42的像素单元电路平面图像构成。其中如图5所示，为所述第一对照组101的平面结构示意图。
S2、显示面板像素单元电路图像获取步骤，对显示面板100中的各个像素单元10分别获取其电路图像并储存。
S3、图像对比分类步骤，将获取的像素单元电路图像分为两组，第一组像素单元电路图像110中包括栅极信号走线40且无过孔41，第二组像素单元电路图像120中包括栅极信号走线40、过孔41以及断路位置42。其中如图6所示，为所述第一组像素单元电路图像110的平面结构示意图。如图7所示，为所述第二组像素单元电路图像120的平面结构示意图。其中本实施例能够借助识别断路位置来确定过孔位置，从而降低了自动光学检查机识别过孔位置的难度。
S4、图像检测步骤，将第一组像素单元电路图像110与第一对照组101进行对比检测，当出现灰阶差异超出预设阈值范围时，则判定其为异常像素单元。
本实施例中，在图像检测步骤S4中，还包括将所述第二组像素单元电路图像120设定成非检区，直接判定为合格像素单元。此方案不用改造设备，节省成本，仅增加了将所述第二组像素单元电路图像120设定成非检区的时间。
在另一实施例中，在设置标准像素单元电路图像步骤S1中，所述标准像素单元电路图像还包括第二对照组102，所述第二对照组102由有栅极信号走线40且有过孔41有断路位置42的像素单元电路平面图像构成；其中如图8所示，为所述第二对照组102的平面结构示意图。在图像检测步骤S4中，还包括将所述第二组像素单元电路图像120与所述第二对照组102进行对比检测，当出现灰阶差异超出预设阈值范围时，则判定其为异常像素单元。此方案设备改造成本高，但可减轻将所述第二组像素单元电路图像120设定成非检区的时间，并能提升设备检测能力，实现对全部的像素单元电路的有效检测。
本发明的有益效果是，提供了一种显示面板及显示面板的检测方法，通过将传统走线过孔依序线状密集排列的方式打乱，过孔的位置随意排布，避免了在显示区内因线状密集排列的过孔导致的线性显示不均匀(mura)成像，优化了产品的显示效果，并且能够实现窄边框。并进一步设置断路位置将栅极信号走线打断为第一段和第二段，避免短路，而且能够借助断路位置的识别而降低自动光学检查机识别过孔位置的难度。并进一步减少标准像素单元电路图像为一组进行对比分析，不需要检测并判定包括栅极信号走线、过孔以及断路位置的像素单元电路图像，极大地提高了图像检测效率，从而提升了设备检测能力。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种显示面板，其特征在于，包括：
多个像素单元，呈阵列式排布，每一像素单元内设有一像素驱动电路，所述像素驱动电路中设有至少一薄膜晶体管；
多条扫描线，与每一像素驱动电路的薄膜晶体管的栅极电性连接；
多条数据线，与每一像素驱动电路的薄膜晶体管的源极电性连接，用于传输数据信号；以及
多条栅极信号走线，与每一条扫描线交叉设置，用于传输扫描信号；每一列所述栅极信号走线穿过一过孔与其中一排的所述扫描线电性连接；其中，每一排所述扫描线仅设有一个所述过孔；所述过孔将所述栅极信号走线分为第一段和第二段，所述扫描信号沿所述第一段传输至所述过孔处时传输至所述扫描线，所述第一段与所述第二段在所述过孔所在的像素单元内断路。
2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述扫描信号沿纵向在所述栅极信号走线上从上至下传输，所述第一段与所述第二段的断路位置位于所述过孔下方一侧。
3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一段与所述第二段的断路位置的长度小于所述过孔所在的像素单元沿所述栅极信号走线一侧的边长。
4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，通过蚀刻所述栅极信号走线的方式制作所述第一段与所述第二段。
5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述栅极信号走线与所述数据线平行设置，在制作所述第一段与所述第二段前的所有栅极信号走线的长度相等。
6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：
栅极驱动单元，电连接于多条栅极信号走线，用于输出扫描信号。
7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括：
源极驱动电路，电连接于多条数据线，用于输出数据信号。
8.一种如权利要求1至7中任一项所述显示面板的检测方法，其特征在于，包括步骤：
设置标准像素单元电路图像步骤，设置一图像库用于存储标准像素单元电路图像，所述标准像素单元电路图像包括第一对照组，所述第一对照组由有栅极信号走线且无过孔无断路位置的像素单元电路平面图像构成；
显示面板像素单元电路图像获取步骤，对显示面板中的各个像素单元分别获取其电路图像并储存；
图像对比分类步骤，将获取的像素单元电路图像分为两组，第一组像素单元电路图像中包括栅极信号走线且无过孔，第二组像素单元电路图像中包括栅极信号走线、过孔以及断路位置；以及
图像检测步骤，将第一组像素单元电路图像与第一对照组进行对比检测，当出现灰阶差异超出预设阈值范围时，则判定其为异常像素单元。
9.根据权利要求8所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
在图像检测步骤中，还包括将所述第二组像素单元电路图像设定成非检区，直接判定为合格像素单元。
10.根据权利要求8所述的显示面板的检测方法，其特征在于，
在设置标准像素单元电路图像步骤中，所述标准像素单元电路图像还包括第二对照组，所述第二对照组由有栅极信号走线且有过孔有断路位置的像素单元电路平面图像构成；
在图像检测步骤中，还包括将所述第二组像素单元电路图像与所述第二对照组进行对比检测，当出现灰阶差异超出预设阈值范围时，则判定其为异常像素单元。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011411736.XA CN112562507B (zh) | 2020-12-03 | 2020-12-03 | 一种显示面板及其检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011411736.XA CN112562507B (zh) | 2020-12-03 | 2020-12-03 | 一种显示面板及其检测方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112562507A true CN112562507A (zh) | 2021-03-26 |
| CN112562507B CN112562507B (zh) | 2022-07-12 |
Family
ID=75048795
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202011411736.XA Active CN112562507B (zh) | 2020-12-03 | 2020-12-03 | 一种显示面板及其检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112562507B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023279456A1 (zh) * | 2021-07-09 | 2023-01-12 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板及显示装置 |
Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1881389A (zh) * | 2005-06-13 | 2006-12-20 | 索尼株式会社 | 液晶显示装置、缺陷像素检查方法和检查程序及存储介质 |
| US20090096770A1 (en) * | 2007-10-10 | 2009-04-16 | Kazuyoshi Kawabe | Detecting defects in display panel pixels |
| WO2010001973A1 (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-07 | シャープ株式会社 | 画像検査処理装置、画像検査処理方法、プログラム、及び、記録媒体 |
| WO2013118306A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出用プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 |
| CN103278948A (zh) * | 2013-05-30 | 2013-09-04 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 用于显示面板的线类不良检测的方法和检测装置 |
| CN103513477A (zh) * | 2012-06-26 | 2014-01-15 | 富泰华工业（深圳）有限公司 | 液晶显示器及其检测方法 |
| US20150054542A1 (en) * | 2013-08-23 | 2015-02-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device and method of detecting defect in the organic light-emitting display device |
| US20160225300A1 (en) * | 2015-01-30 | 2016-08-04 | Samsung Display Co., Ltd. | Display panel inspecting apparatus and display device including the same |
| CN106201143A (zh) * | 2016-07-18 | 2016-12-07 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种触控显示装置 |
| CN106920496A (zh) * | 2017-05-12 | 2017-07-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的检测方法和检测装置 |
| CN107818748A (zh) * | 2017-11-23 | 2018-03-20 | 上海自旭光电科技有限公司 | 显示面板检测方法与装置 |
| CN110136618A (zh) * | 2019-05-31 | 2019-08-16 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板检测电路、显示装置和显示面板检测方法 |
| WO2020003445A1 (ja) * | 2018-06-28 | 2020-01-02 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 表示パネル、表示パネルの検査方法および表示パネルの製造方法 |
| CN110987938A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-04-10 | 意力(广州)电子科技有限公司 | 一种显示屏幕的自动视觉检测方法及装置 |
-
2020
- 2020-12-03 CN CN202011411736.XA patent/CN112562507B/zh active Active
Patent Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1881389A (zh) * | 2005-06-13 | 2006-12-20 | 索尼株式会社 | 液晶显示装置、缺陷像素检查方法和检查程序及存储介质 |
| US20090096770A1 (en) * | 2007-10-10 | 2009-04-16 | Kazuyoshi Kawabe | Detecting defects in display panel pixels |
| WO2010001973A1 (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-07 | シャープ株式会社 | 画像検査処理装置、画像検査処理方法、プログラム、及び、記録媒体 |
| WO2013118306A1 (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-15 | シャープ株式会社 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出用プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 |
| CN103513477A (zh) * | 2012-06-26 | 2014-01-15 | 富泰华工业（深圳）有限公司 | 液晶显示器及其检测方法 |
| CN103278948A (zh) * | 2013-05-30 | 2013-09-04 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 用于显示面板的线类不良检测的方法和检测装置 |
| US20150054542A1 (en) * | 2013-08-23 | 2015-02-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device and method of detecting defect in the organic light-emitting display device |
| US20160225300A1 (en) * | 2015-01-30 | 2016-08-04 | Samsung Display Co., Ltd. | Display panel inspecting apparatus and display device including the same |
| CN106201143A (zh) * | 2016-07-18 | 2016-12-07 | 厦门天马微电子有限公司 | 一种触控显示装置 |
| CN106920496A (zh) * | 2017-05-12 | 2017-07-04 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示面板的检测方法和检测装置 |
| CN107818748A (zh) * | 2017-11-23 | 2018-03-20 | 上海自旭光电科技有限公司 | 显示面板检测方法与装置 |
| WO2020003445A1 (ja) * | 2018-06-28 | 2020-01-02 | 堺ディスプレイプロダクト株式会社 | 表示パネル、表示パネルの検査方法および表示パネルの製造方法 |
| CN110136618A (zh) * | 2019-05-31 | 2019-08-16 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板检测电路、显示装置和显示面板检测方法 |
| CN110987938A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-04-10 | 意力(广州)电子科技有限公司 | 一种显示屏幕的自动视觉检测方法及装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2023279456A1 (zh) * | 2021-07-09 | 2023-01-12 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板及显示装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN112562507B (zh) | 2022-07-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104698637B (zh) | 阵列基板、测试方法、显示面板及显示装置 | |
| US8428334B2 (en) | Inspection System | |
| KR100517860B1 (ko) | 액정구동기판의 검사장치 | |
| KR101137863B1 (ko) | 박막트랜지스터 어레이 기판 | |
| CN111158177B (zh) | 检测结构、显示面板、检测装置及检测系统 | |
| CN107068027B (zh) | 液晶显示面板、液晶显示面板检测系统及方法 | |
| CN204964956U (zh) | 一种阵列基板及显示面板 | |
| CN112562507B (zh) | 一种显示面板及其检测方法 | |
| CN111540756B (zh) | 一种显示面板和显示装置 | |
| US7053649B1 (en) | Image display device and method of testing the same | |
| US9778527B2 (en) | Array substrate and method for detecting the same | |
| US11222568B2 (en) | Spliced display device | |
| KR100796700B1 (ko) | 액티브 매트릭스형 디스플레이의 화소검사장치 및화소검사방법 | |
| JP2009270870A (ja) | ディスプレイ検査装置 | |
| US20240046845A1 (en) | Display panel and display device | |
| WO2010146745A1 (ja) | 表示パネルの検査方法、及び表示装置の製造方法 | |
| CN110992905B (zh) | 一种双栅极tft面板及其快检电路和快检方法 | |
| US20070090856A1 (en) | Non-contact detecting device for a panel | |
| JP2000276073A (ja) | 平面表示装置 | |
| JP3448290B2 (ja) | 液晶パネル検査装置 | |
| US20240087492A1 (en) | Display substrate, test method for the same and display device | |
| JPH08313396A (ja) | 液晶パネルの検査方法 | |
| JPH0569430B2 (zh) | ||
| JP2006267787A (ja) | 表示用パネル及びその製造方法 | |
| JPH0611455A (ja) | 光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |