CN112462078A - 一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法 - Google Patents

一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法；其通过将测试机和标准机测试所得的n对数组进行对数运算处理，然后再进行曲线拟合得到对应的拟合曲线函数，在实际测试时将实测数据对数运算处理后代入拟合曲线函数得到对应的值，最后再进行乘幂计算得到校准后的数值；通过上述校准方法，使得不论是在荧光信号强度值较低时，还是在荧光信号强度值较高时，所得校准后的数值的偏差都在3％以内，校准偏差极低；可以非常好地适用常见的低值区间荧光免疫检测指标，适用范围宽，使得最终检测结果更加准确及提升仪器检测的准确性，有效解决现有校准方法在荧光信号强度值低时校正偏差过大的问题。

Description

一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法
技术领域
本发明涉及荧光免疫检测技术领域，更具体地说，涉及一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法。
背景技术
行业内通常采用荧光免疫分析仪进行荧光免疫检测，仪器由于自身因素如光源等，使得出厂的各台仪器之间的检测结果存在一定的差异，因此需要对检测结果进行校准从而解决荧光免疫分析仪的台间差。
现有的校准方法是通过采用一套质控条，在待出厂的荧光免疫分析仪和标准机上分别测试得到荧光强度值(或比值)，分别记为实测值和标称值，将实测值和标称值直接进行一元线性拟合得到标准曲线，在荧光免疫分析仪检测时通过将实测值代入上述标准曲线方程即可得到校准后的测试数据。
对于荧光免疫分析仪的检测中，检测指标的浓度一般都特别低，使得荧光信号强度值大多情况下处于低值区间。而上述现有的校准方法在校准低值区间信号强度时偏差过大，即其完全不能适用低值区间的检测校准，因此这种校准方法适用范围较窄，针对常见的荧光免疫检测指标，其校正偏差过大，导致最终检测结果非常不准确。
故，现有技术具有较大的改进空间。
发明内容
本发明的目的是为了弥补现有技术的不足，提出一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法。
为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案实现：
一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，包括以下步骤：
(1)准备n个不同浓度的样本，将每个样本分别在测试机和标准机上进行测试，得到n个测试值T和n个标称值S，即有n对数组(T，S)；
(2)将步骤(1)中得到的n对数组(T，S)按对数运算公式：LT＝loga(T)、LS＝loga(S)分别进行对数运算，得到n对新数据(LT，LS)；
(3)曲线拟合：将步骤(2)得到的n对数据(LT，LS)以LS为纵坐标、LT为横坐标，从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R2≥0.95且为最大的一种曲线进行拟合，得到对应的拟合曲线函数；
(4)将待测试样本在测试机中进行测试，得到实测的荧光信号强度值，所述实测的荧光信号强度值进行步骤(2)的对数运算得到LT’，将所述实测的荧光信号强度值LT’代入步骤(3)中拟合曲线函数的LT中得到对应的LS’值，再将所述Ls’值进行乘幂计算，得到经过校准后的数值Tc＝aLs’。
根据以上方案，步骤(1)中不同浓度的样本至少为5个。
根据以上方案，步骤(1)中测试值T、标称值S分别为单个浓度的样本在测试机、标准机测试多次后所得的平均值。通过单个浓度的样本在测试机、标准机测试多测后取平均值，能进一步减少误差，提高校准的准确性。
根据以上方案，所述a可根据实际需要选择不同的数值，本案优选a为10或e。
根据以上方案，将步骤(3)所述拟合曲线函数预存在测试机中，步骤(5)通过测试机中设定相应程序的计算模块进行，从而直接输出校准后的数值TC。通过测试机进行计算能避免人工计算时出现错误，并有利于提高测试效率。
根据以上方案，步骤(3)中所述常用的拟合曲线包括一次函数曲线、二次函数曲线、三次函数曲线、指数函数曲线、对数函数曲线、幂函数曲线。
根据以上方案，步骤(3)从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R2≥0.95且为最大的一种曲线进行拟合为一元线性函数进行拟合时，按一元线性函数LS＝k·LT+b进行拟合，所述k、b的值按以下公式计算：
Figure BDA0002779144670000021
其中，x为LT，y为LS，
Figure BDA0002779144670000022
为n个LT的平均值，
Figure BDA0002779144670000023
为n个LS的平均值。
本发明的有益效果在于：
本发明设置用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，通过将测试机和标准机测试所得的n对数组(T，S)进行对数运算处理，然后再进行曲线拟合得到对应的拟合曲线函数，在实际测试时将实测数据对数运算处理后代入拟合曲线函数得到对应的值，最后再进行乘幂计算得到校准后的数值；通过上述校准方法，使得不论是在荧光信号强度值较低时，还是在荧光信号强度值较高时，所得校准后的数值的偏差都在3％以内，校准偏差极低；可以非常好地适用常见的低值区间荧光免疫检测指标，适用范围宽，使得最终检测结果更加准确及提升仪器检测的准确性，有效解决现有校准方法在荧光信号强度值低时校正偏差过大的问题。
具体实施方式
为了更好地理解本发明，下面结合实施例进一步阐明本发明的内容，但本发明不仅仅局限于下面的实施例。
实施例1
一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，包括以下步骤：
(1)准备6个不同浓度的样本，编号为K1-K6，将每个样本分别在测试机和标准机上进行测试，得到6个测试值T和6个标称值S，即有6对数组(T，S)；所述测试值T、标称值S分别为单个浓度的样本在测试机、标准机测试3次后所得的平均值；
(2)将步骤(1)中得到的6对数组(T，S)按对数运算公式：LT＝log10(T)、LS＝log10(S)分别进行对数运算，得到6对新数据(LT，LS)；具体的测试及计算结果如下表1：
表1
样本编号 标称值S 测试值T L<sub>S</sub> L<sub>T</sub>
K1 0.0216 0.0205 -1.6655 -1.6882
K2 0.0821 0.0785 -1.0857 -1.1051
K3 0.3177 0.3025 -0.4980 -0.5193
K4 1.7169 1.6428 0.2347 0.2156
K5 6.3261 6.1778 0.8011 0.7908
K6 24.0539 24.8473 1.3812 1.3953
(3)曲线拟合：将步骤(2)得到的6对数据(LT，LS)以LS为纵坐标、LT为横坐标，从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R2≥0.95且为最大的一种曲线即一元线性函数曲线进行拟合，按一元线性函数LS＝k·LT+b进行拟合，所述k、b的值按以下公式计算：
Figure BDA0002779144670000031
其中，x为LT，y为LS，
Figure BDA0002779144670000032
为n个LT的平均值，
Figure BDA0002779144670000033
为n个LS的平均值；经计算k＝0.9903，b＝0.0117，得到对应的拟合曲线函数为LS＝0.9903LT+0.0117，R2＝0.9999；
(4)将待测试样本在测试机中进行测试，得到实测的荧光信号强度值，所述实测的荧光信号强度值进行步骤(2)的对数运算得到LT’，将所述实测的荧光信号强度值LT’代入步骤(3)得到的拟合曲线函数的LT中得到对应的LS’值，再将所述Ls’值进行乘幂计算，得到经过校准后的数值Tc＝10Ls’；其中，将步骤(3)所述拟合曲线函数预存在测试机中，步骤(5)可以通过测试机中设定相应程序的计算模块进行，从而直接输出校准后的数值Tc，有利于提高测试效率。
将6个样本在标准机测试所得数值S与采用实施例1的校准方法处理所得校准后的数值Tc值进行比较，具体结果见下表2：
表2
样本编号 标称值S L<sub>S</sub>’ T<sub>c</sub> 偏差
K1 0.0216 -1.6602 0.0219 1.25％
K2 0.0821 -1.0827 0.0827 0.68％
K3 0.3177 -0.5025 0.3144 -1.04％
K4 1.7169 0.2252 1.6796 -2.18％
K5 6.3261 0.7949 6.2354 -1.43％
K6 24.0539 1.3934 24.7426 2.86％
其中，偏差＝(Tc-S)/S。
从上表2可知，本申请实施例1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，不论是在荧光信号强度值较低时，还是在荧光信号强度值较高时，所得校准后的数值的偏差都在3％以内，校准偏差极低，使得最终检测结果更加准确及提升仪器检测的准确性。
对比例1
一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，包括以下步骤：
(1)准备6个不同浓度的样本，编号为K1-K6，将每个样本分别在测试机和标准机上进行测试，得到6个测试值T和6个标称值S，即有6对数组(T，S)；所述测试值T、标称值S分别为单个浓度的样本在测试机、标准机测试3次后所得的平均值；
具体的测试结果如下表3：
表3
Figure BDA0002779144670000041
Figure BDA0002779144670000051
(2)曲线拟合：将步骤(1)得到的6对数据(T，S)以S为纵坐标、T为横坐标，从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R2≥0.95且为最大的一种曲线即一元线性函数曲线进行拟合，按一元线性函数S＝k·T+b进行拟合，所述k、b的值按以下公式计算：
Figure BDA0002779144670000052
其中，x为T，y为S，
Figure BDA0002779144670000053
为n个T的平均值，
Figure BDA0002779144670000054
为n个S的平均值；经计算k＝0.9672，b＝0.0891，得到对应的拟合曲线函数为S＝0.9672T+0.0891，R2＝0.9998；
(3)将待测试样本在测试机中进行测试，得到实测的荧光信号强度值代入步骤(2)中拟合曲线函数的T中得到对应的S’值即为校准后的数值。
将6个样本在标准机测试所得数值S与采用对比例1的校准方法处理所得校准后的数值S’进行比较，具体结果见下表4：
表4
样本编号 标称值S 测试值T S’ 偏差
K1 0.0216 0.0205 0.1089 404.29％
K2 0.0821 0.0785 0.1650 101.01％
K3 0.3177 0.3025 0.3817 20.14％
K4 1.7169 1.6428 1.6780 -2.26％
K5 6.3261 6.1778 6.0643 -4.14％
K6 24.0539 24.8473 24.1214 0.28％
其中，偏差＝(S’-S)/S。
从上表4可知，对比例1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法在荧光信号强度值较高时所得校准后的数值偏差不大，但是在荧光信号强度值较低时偏差最高超过了400％，即采用对比例1的校准方法在荧光信号强度值低时显然无法获得准确的检测结果。
将表2、表4的偏差数据对比可见，采用本申请实施例1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，不论在在荧光信号强度值较低时，还是在荧光信号强度值较高时，所得校准后的数值的偏差都在3％以内，有效解决现有校准方法在荧光信号强度值低时校正偏差过大的问题。
以上所述仅是本发明的较佳实施方式，故凡依本发明专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本发明专利申请范围内。

Claims (7)

1.一种用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)准备n个不同浓度的样本，将每个样本分别在测试机和标准机上进行测试，得到n个测试值T和n个标称值S，即有n对数组(T，S)；
(2)将步骤(1)中得到的n对数组(T，S)按对数运算公式：LT＝loga(T)、LS＝loga(S)分别进行对数运算，得到n对新数据(LT，LS)；
(3)曲线拟合：将步骤(2)得到的n对数据(LT，LS)以LS为纵坐标、LT为横坐标，从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R2≥0.95且为最大的一种曲线进行拟合，得到对应的拟合曲线函数；
(4)将待测试样本在测试机中进行测试，得到实测的荧光信号强度值，所述实测的荧光信号强度值进行步骤(2)的对数运算得到LT’，将所述实测的荧光信号强度值LT’代入步骤(3)中拟合曲线函数的LT中得到对应的LS’值，再将所述Ls’值进行乘幂计算，得到经过校准后的数值Tc＝aLs’。
2.根据权利要求要求1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，步骤(1)中不同浓度的样本至少为5个。
3.根据权利要求要求1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，步骤(1)中测试值T、标称值S分别为单个浓度的样本在测试机、标准机测试多次后所得的平均值。
4.根据权利要求要求1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，所述a为10或e。
5.根据权利要求要求1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，将步骤(3)所述拟合曲线函数预存在测试机中，步骤(5)通过测试机中设定相应程序的计算模块进行，从而直接输出校准后的数值TC。
6.根据权利要求要求1所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，步骤(3)中所述拟合曲线包括一次函数曲线、二次函数曲线、三次函数曲线、指数函数曲线、对数函数曲线、幂函数曲线。
7.根据权利要求要求6所述用于荧光免疫分析仪台间差校准的方法，其特征在于，步骤(3)从常用的多种拟合曲线中选取拟合优度R2≥0.95且为最大的一种曲线进行拟合为一元线性函数进行拟合时，按一元线性函数LS＝k·LT+b进行拟合，所述k、b的值按以下公式计算：
Figure FDA0002779144660000021
其中，x为LT，y为LS，
Figure FDA0002779144660000022
为n个LT的平均值，
Figure FDA0002779144660000023
为n个LS的平均值，得到对应的拟合曲线函数。
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