CN113933279B - 荧光分析组件检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种荧光分析组件检测装置及检测方法，涉及荧光分析组件检测技术领域。该荧光分析组件检测装置包括电源组件、合格光源、合格光检测板和控制组件；合格光源、合格光检测板和目标荧光分析组件均与电源组件连接；目标荧光分析组件的目标光检测板用于接收合格光源光线并转化为第一信号；合格光检测板用于接收目标荧光分析组件的目标光源光线并转化为第二信号；控制组件设有第一标准信号和第二标准信号，目标光检测板和目标光源均与控制组件连接。该荧光分析组件检测装置通过将第一信号和第二信号分别与第一标准信号和第二标准信号进行对比即可判断目标光检测板和目标光源是否符合标准，不需将荧光免疫检测设备整机送去大型实验室。

Description

荧光分析组件检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及荧光分析组件检测技术领域，尤其是涉及一种荧光分析组件检测装置及检测方法。

背景技术

免疫层析检测技术是一种建立在层析和抗原-抗体特异性免疫反应基础上的技术，其常用于临床现场。免疫层析技术包括荧光免疫层析这一检测方式，而用于进行荧光免疫层析的设备即为荧光免疫检测设备。

荧光免疫检测设备的核心部件包括荧光读取组件和荧光分析组件，为保证荧光免疫检测设备的台间差和预定功率，在其出厂前需对荧光分析组件的光源和光检测板(集成有光敏元件的微电路板)进行检测。且为了在日常使用过程中保证荧光免疫检测设备在可接受的范围内运行，在荧光免疫检测设备使用预设时间后，也需对荧光分析组件的光源和光检测板进行检测和校正。

但是现有的对荧光分析组件的光源和光检测板进行检测的方式，通常是将荧光免疫检测设备整机送去大型的实验室进行检测，导致检测成本较为高昂。

发明内容

本发明的目的在于提供一种荧光分析组件检测装置和方法，以缓解现有技术中存在的现有的对荧光分析组件的光源和光检测板进行检测的方式，通常是将荧光免疫检测设备整机送去大型的实验室进行检测，导致检测成本较为高昂的技术问题。

第一方面，本发明提供一种荧光分析组件检测装置，包括电源组件、合格光源、合格光检测板和控制组件；

所述合格光源、所述合格光检测板和目标荧光分析组件均与所述电源组件连接；所述合格光源用于向目标荧光分析组件内的位于所述合格光源光路上的目标光检测板发射光线，所述目标光检测板用于接收该光线并将其转化为第一信号；所述合格光检测板用于设置在目标荧光分析组件内的目标光源的光路上，以接收所述目标光源发射的光线并将该光线转化为第二信号；

所述控制组件设有第一标准信号和第二标准信号，所述目标光检测板与所述控制组件连接，所述控制组件用于接收所述第一信号，并将其与所述第一标准信号进行对比以判断所述目标光检测板是否符合标准；所述合格光检测板与所述控制组件连接，所述控制组件用于接收所述第二信号，并将其与所述第二标准信号进行对比以判断所述目标光源是否符合标准。

在可选的实施方式中，所述控制组件包括存储器，所述存储器用于在所述目标光检测板接收所述目标光源发射的光线且将该光线转化为第三信号时，记录所述第三信号与所述第一信号之间的差值以作为补偿值。

在可选的实施方式中，所述荧光分析组件检测装置还包括箱体，所述箱体顶部设有卡接孔，所述卡接孔用于卡接目标荧光分析组件；

所述合格光源和所述合格光检测板均安装于所述箱体内，且均位于所述卡接孔的一侧，所述合格光源和所述合格光检测板分别能够与所述卡接孔处的目标荧光分析组件的光路出口相互面对。

在可选的实施方式中，所述箱体内安装有位于所述卡接孔一侧的支撑容器，所述支撑容器内形成有检测腔；

所述支撑容器的顶部设有与所述检测腔连通的第一穿孔，所述第一穿孔与所述卡接孔连通，所述检测腔用于容纳所述卡接孔处的目标荧光分析组件；

所述支撑容器底部设有与所述检测腔连通的第二穿孔，所述第二穿孔用于与所述检测腔内的目标荧光分析组件的光路出口连通。

在可选的实施方式中，所述检测腔内安装有分隔板以将所述检测腔划分为第一检测腔和第二检测腔，所述第一检测腔和所述第二检测腔分别用于容纳所述目标荧光分析组件；

所述支撑容器的顶部的与所述第一检测腔对应的位置以及与所述第二检测腔对应的位置，均设有所述第一穿孔；所述支撑容器的底部的与所述第一检测腔对应的位置以及与所述第二检测腔对应的位置，均设有所述第二穿孔；

所述合格光源用于安装在所述第一检测腔的第二穿孔处，所述合格光检测板用于安装在第二检测腔的第二穿孔处。

在可选的实施方式中，所述箱体的顶部开设有位于所述卡接孔一侧的供电孔；

所述电源组件包括相互连接的电源本体和电源接头，所述电源本体安装于所述箱体内，所述电源接头安装于所述供电孔内；

所述电源接头与目标荧光分析组件可拆卸电连接。

在可选的实施方式中，所述荧光分析组件检测装置还包括转换组件，所述转换组件安装于所述箱体内；

所述合格光源和所述合格光检测板均与所述转换组件的输出端连接，所述转换组件用于驱动所述合格光源和所述合格光检测板择一与所述卡接孔处的目标荧光分析组件的光路出口相互面对。

第二方面，本发明提供一种荧光分析组件检测方法，应用如前述实施方式任一项所述的荧光分析组件检测装置，包括：

使用合格光源照射目标荧光分析组件内的目标光检测板，并将目标光检测板对合格光源的光线反馈的信号记为第一信号；

判断第一信号是否与第一标准信号匹配；

使用目标荧光分析组件内的目标光源照射合格光检测板，并将合格光检测板对目标光源的光线反馈的信号记为第二信号；

判断第二信号是否与第二标准信号匹配。

在可选的实施方式中，还包括：

若第一信号、第二信号分别与第一标准信号、第二标准信号匹配，则使用目标光源照射目标光检测板，并将目标光检测板对目标光源的光线反馈的信号记为第三信号；

判断第三信号是否与第一信号匹配。

在可选的实施方式中，还包括：

若第三信号与第一信号不匹配，则计算第三信号与第一信号的差值，并将该差值记为补偿值。

本发明提供的荧光分析组件检测装置包括电源组件、合格光源、合格光检测板和控制组件；合格光源、合格光检测板和目标荧光分析组件均与电源组件连接；合格光源用于向目标荧光分析组件内的位于合格光源光路上的目标光检测板发射光线，目标光检测板用于接收该光线并将其转化为第一信号；合格光检测板用于设置在目标荧光分析组件内的目标光源的光路上，以接收目标光源发射的光线并将该光线转化为第二信号；控制组件设有第一标准信号和第二标准信号，目标光检测板与控制组件连接，控制组件用于接收第一信号，并将其与第一标准信号进行对比以判断目标光检测板是否符合标准；合格光检测板与控制组件连接，控制组件用于接收第二信号，并将其与第二标准信号进行对比以判断目标光源是否符合标准。其中，目标光源和目标光检测板均为目标荧光分析组件内待检测的核心零件，其为现有器件。目标光检测板通常为集成有光敏元件的电路板，光检测板可对光敏元件接收到的光信号进行处理并将处理后的信号传输给控制组件。使用本发明的荧光分析组件检测装置检测目标荧光分析组件的目标光源和目标光检测板时，先将合格光源、合格光检测板和目标荧光分析组件均与电源组件连接，并使得目标光检测板位于合格光源光路上，以及使得合格光检测板位于目标光源的光路上。继而利用合格光源照射目标光检测板，以及利用目标光源照射合格光检测板，此时目标光检测板可以将其接收到的光线转化为第一信号，合格光检测板将其接收到的光线转化为第二信号。由于目标光检测板和合格光检测板均与控制组件连接，因而控制组件可以接收第一信号和第二信号，并自动将第一信号和第二信号分别与第一标准信号、第二标准信号进行对比，此时通过判断第一信号是否与第一标准信号匹配即可判断出目标光检测板是否符合要求，通过判断第二信号是否与第二标准信号匹配即可判断出目标光源是否符合要求。

相较于现有技术，本发明提供的荧光分析组件检测装置通过与待检测的目标荧光分析组件相互配合，使得目标光检测板位于合格光源光路上以及使得合格光检测板位于目标光源的光路上，即可得到用于检测目标光检测板的第一信号以及得到用于检测目标光源的第二信号，而控制组件可以自动将第一信号和第二信号分别与第一标准信号和第二标准信号进行对比，进而可以根据对比结果得知目标光检测板和目标光源是否符合要求。因此该荧光分析组件检测装置可以对目标荧光分析组件的核心零件进行检测，不需将荧光免疫检测设备整机送去大型实验室，可以有效降低检测成本。并且，相较于现有的荧光免疫检测设备，该荧光分析组件检测装置体积更小，更易于使用。

本发明提供的荧光分析组件检测方法应用前述荧光分析组件检测装置，包括：使用合格光源照射目标荧光分析组件内的目标光检测板，并将目标光检测板对合格光源的光线反馈的信号记为第一信号；判断第一信号是否与第一标准信号匹配；使用目标荧光分析组件内的目标光源照射合格光检测板，并将合格光检测板对目标光源的光线反馈的信号记为第二信号；判断第二信号是否与第二标准信号匹配。本实施例的荧光分析组件检测方法应用前述荧光分析组件检测装置，该方法同样可以通过将荧光分析组件检测装置与待检测的目标荧光分析组件相互配合，从而检测出目标荧光分析组件的核心零件是否符合要求，该荧光分析组件检测方法也不需将荧光免疫检测设备整机送去大型实验室，可以有效降低检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的目标荧光分析组件的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的荧光分析组件检测装置和目标荧光分析组件的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的荧光分析组件检测装置的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的荧光分析组件检测装置的内部结构示意图；

图5为本发明实施例提供的荧光分析组件检测装置和目标荧光分析组件的局部剖视图；

图6为本发明实施例提供的支撑容器的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的支撑容器的俯视图；

图8为本发明实施例提供的荧光分析组件检测方法的流程图；

图9为本发明实施例提供的荧光分析组件检测方法的另一流程图；

图10为本发明实施例提供的荧光分析组件检测方法的又一流程图。

图标：1-电源组件；2-合格光源；3-合格光检测板；4-目标荧光分析组件；40-目标光检测板；41-目标光源；42-壳体；43-二向色镜；44-光路出口；45-侧翼板；5-箱体；50-卡接孔；51-供电孔；6-支撑容器；60-检测腔；600-卡槽；61-第一穿孔；62-第二穿孔；63-分隔板；630-第一检测腔；6300-第一环形凸台；631-第二检测腔；6310-第二环形凸台；7-显示屏。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

下面结合附图，对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

实施例一：

如图2-图5所示，本实施例提供的荧光分析组件检测装置包括电源组件1、合格光源2、合格光检测板3和控制组件；合格光源2、合格光检测板3和目标荧光分析组件4均与电源组件1电连接；合格光源2用于向目标荧光分析组件4内的位于合格光源2光路上的目标光检测板40发射光线，目标光检测板40用于接收该光线并将其转化为第一信号；合格光检测板3用于设置在目标荧光分析组件4内的目标光源41的光路上，以接收目标光源41发射的光线并将该光线转化为第二信号；控制组件设有第一标准信号和第二标准信号，目标光检测板40与控制组件连接，控制组件用于接收第一信号，并将其与第一标准信号进行对比以判断目标光检测板40是否符合标准；合格光检测板3与控制组件连接，控制组件用于接收第二信号，并将其与第二标准信号进行对比以判断目标光源41是否符合标准。

图1为目标荧光分析组件4的结构示意图，目标荧光分析组件4为现有器件，目标光源41和目标光检测板40均为目标荧光分析组件4内待检测的核心零件。光源通常为UV灯，目标光检测板40通常为集成有光敏元件的电路板，光检测板可对光敏元件接收到的光信号进行处理并将处理后的信号传输给控制组件。

此外，如图5所示，目标光检测板40和目标光源41均安装于目标荧光分析组件4的壳体42内，且目标光检测板40位于目标光源41的光路上。在目标光检测板40和目标光源41之间，壳体42内还安装有倾斜的二向色镜43，二向色镜43用于透过或反射目标光源41的光线。壳体42侧壁的与二向色镜43反射光路对应的位置还设有光路出口44，目标光源41在二向色镜43处反射后的光线可以通过该光路出口44照射到壳体42外的合格光检测板3上，以及，壳体42外的合格光源2发射的光线可以依次穿过该光路出口44和二向色镜43后照射到目标光检测板40上。因而在使用本实施例提供的荧光分析组件检测装置检测目标荧光分析组件4的目标光检测板40和目标光源41时，需分别使得合格光源2和合格光检测板3分别面对光路出口44。

使用本实施例的荧光分析组件检测装置检测目标荧光分析组件4的目标光源41和目标光检测板40时，如图5所示，先将合格光源2、合格光检测板3和目标荧光分析组件4均与电源组件1电连接，并使得合格光源2面对光路出口44以使目标光检测板40位于合格光源2的光路上，以及将合格光检测板3面对光路出口44以使合格光检测板3位于目标光源41的光路上。继而将合格光源2和目标光检测板40均与电源组件1导通，利用合格光源2照射目标光检测板40，以及将目标光源41和合格光检测板3均与电源组件1导通，利用目标光源41照射合格光检测板3。此时目标光检测板40可以将其接收到的光线转化为第一信号，合格光检测板3将其接收到的光线转化为第二信号。

其中，控制组件可以选用单片机、可编程逻辑控制器、计算机等器件。控制组件中预先设有第一标准信号和第二标准信号，该标准信号可通过荧光免疫分析设备在正常工作时的待测荧光值分布处理得到的，其可以用于作为对比标准以判断第一信号和第二信号是否符合要求。由于目标光检测板40和合格光检测板3均与控制组件连接，因而控制组件可以接收第一信号和第二信号，并自动将第一信号和第二信号分别与第一标准信号、第二标准信号进行对比，此时通过判断第一信号是否与第一标准信号匹配即可判断出目标光检测板40是否符合要求，通过判断第二信号是否与第二标准信号匹配即可判断出目标光源41是否符合要求。

相较于现有技术，本实施例提供的荧光分析组件检测装置通过与待检测的目标荧光分析组件4相互配合，使得目标光检测板40位于合格光源2光路上以及使得合格光检测板3位于目标光源41的光路上，即可得到用于检测目标光检测板40的第一信号以及得到用于检测目标光源41的第二信号，而控制组件可以自动将第一信号和第二信号分别与各自的标准信号进行对比，进而可以根据对比结果得知目标光检测板40和目标光源41是否符合要求。

因此该荧光分析组件检测装置可以对目标荧光分析组件4的核心零件进行检测，不需将荧光免疫检测设备整机送去大型实验室，可以有效降低检测成本。并且，相较于现有的荧光免疫检测设备，该荧光分析组件检测装置体积更小，更易于使用。

现有技术中目标光检测板40和目标光源41通常是分开进行检测的，即在不同的设备中分别测试光源性能和光检测板性能，二者分别满足各自的检测范围值即认定为合格。然而目标光检测板40和目标光源41在正常使用时是组装在荧光免疫检测设备中配合使用的，在检测过程中分别合格并不代表在组装配合正常使用时也是合格的。

在实际应用过程中，为避免可见光的干扰，光源通常选用近紫外光谱段的光源。若第一信号与第一标准信号匹配，则表明目标光检测板40符合要求，若第二信号与第二标准信号匹配，则表明目标光源41也符合要求。但目标荧光分析组件4实际应用于临床的荧光免疫层析过程中时，是目标光源41发射光线后作为激发光通过二向色镜43反射到待测荧光物质上，待测荧光物质再发射光线并通过二向色镜43的折射(透射)后到达目标光检测板40，目标光检测板40再将光电信号(第三信号)反馈给上位机，然而无论是目标光源41还是合格光源2，其均为连续的发光波段，也即，即使第一信号和第二信号均分别与标准信号匹配(目标光源41和目标光检测板40是分开进行测试的)，也存在目标光源41与合格光源2不完全相同的可能性，也即第三信号与第一信号可能不匹配。

进一步的，控制组件包括存储器，存储器用于在第一信号和第二信号分别与第一标准信号和第二标准信号匹配的情况下记录第三信号与第一信号的差值，第三信号为目标光检测板40接收目标光源41发射的光线且将该光线转化而得。该差值作为补偿值，在目标荧光分析组件4完成测试后组装到荧光免疫检测设备中使用时作为补偿值，即目标光检测板40的实测值加上该补偿值作为待测荧光物质的测试值的表示，可有效解决光源和光检测板分开测试均合格但组装配合使用时检测有可能不合格的技术问题。上述“目标荧光分析组件4完成测试后”指的是第一信号与第一标准信号匹配且第二信号与第二标准信号匹配。

进一步的，存储器还可以记录第一信号和第二信号，进而便于利用控制组件自动判断第一信号以及第二信号是否均与标准信号匹配。

其中，补偿值与目标光检测板40的实测值进行结合的过程可以利用现有的补偿电路实现。

第一信号、第二信号、第三信号以及标准信号均可以使用模数转换电路将其电压和/或电流信号转化为数字信号，以便于比对。

以第一信号与第一标准信号匹配为例，“匹配”指的是，第一标准信号为范围值，判断测试得到的第一信号是否落入该范围值，如在其内则认为匹配，如在其外则认为不匹配。

上述“第一标准信号”、“第二标准信号”可以在数值上相同也可以不同。

在检测目标光检测板40和目标光源41的过程中，为降低检测结果的误差，可以通过多次检测的方式判断检测结果，具体的，可以通过对比多次检测后得到的第一信号之间的差异判断目标光检测板40的检测结果是否准确，以及通过对比多次检测后得到的第二信号之间的差异判断目标光源41的检测结果是否准确。进一步的，在对比差异时，可以通过计算CV(Coefficient of Variation，变异系数，简写为CV)值比较差异。

如图2、图3和图4所示，本实施例的荧光分析组件检测装置还包括箱体5，箱体5顶部设有卡接孔50，卡接孔50用于卡接目标荧光分析组件4；合格光源2和合格光检测板3均安装于箱体5内，且均位于卡接孔50的一侧，合格光源2和合格光检测板3分别能够与卡接孔50处的目标荧光分析组件4的光路出口44相互面对。

箱体5用于容纳合格光源2和合格光检测板3，可以保护合格光源2和合格光检测板3，以及可以提升合格光源2和合格光检测板3的安装稳定性和使用便捷性。

卡接孔50则用于支撑目标荧光分析组件4，便于使得目标荧光分析组件4的光路出口44面对合格光源2或合格光检测板3。且卡接孔50可以起到限位作用，使得目标荧光分析组件4可以稳定位于箱体5上。

此外，当将目标荧光分析组件4安装于卡接孔50处后，合格光源2或合格光检测板3即可与目标荧光分析组件4的光路出口44相互面对，此时不需工作人员调整目标荧光分析组件4的位置以使合格光源2或合格光检测板3与光路出口44相互面对，从而可以有效提升该荧光分析组件检测装置的使用便捷性。

如图4、图6和图7所示，箱体5内安装有位于卡接孔50一侧的支撑容器6，支撑容器6内形成有检测腔60；支撑容器6的顶部设有与检测腔60连通的第一穿孔61，第一穿孔61与卡接孔50连通，检测腔60用于容纳卡接孔50处的目标荧光分析组件4；支撑容器6底部设有与检测腔60连通的第二穿孔62，第二穿孔62用于与检测腔60内的目标荧光分析组件4的光路出口44连通。

检测腔60用于容纳卡接孔50处的目标荧光分析组件4，可以进一步的限定目标荧光分析组件4的位置，提升目标荧光分析组件4在箱体5上的稳定性。

其中，第一穿孔61用于防止支撑容器6遮挡卡接孔50处的目标荧光分析组件4伸入检测腔60内，而第二穿孔62用于防止支撑容器6遮挡光路出口44，进而防止合格光源2或合格光检测板3无法与光路出口44相互面对。

箱体5内安装有支撑容器6时，为防止在检测腔60内取放目标荧光分析组件4的过程干扰合格光源2和合格光检测板3的安装稳定性，本实施例优选合格光源2和合格光检测板3均位于支撑容器6外侧。

如图5和图6所示，检测腔60内安装有分隔板63以将检测腔60划分为第一检测腔630和第二检测腔631，第一检测腔630和第二检测腔631分别用于容纳目标荧光分析组件4；支撑容器6的顶部的与第一检测腔630对应的位置以及与第二检测腔631对应的位置，均设有第一穿孔61；如图4所示，支撑容器6的底部的与第一检测腔630对应的位置以及与第二检测腔631对应的位置，均设有第二穿孔62；合格光源2用于安装在第一检测腔630的第二穿孔62处，合格光检测板3用于安装在第二检测腔631的第二穿孔62处。

将检测腔60划分为第一检测腔630和第二检测腔631，便于利用第一检测腔630和第二检测腔631分别对目标光源41和目标光检测板40进行检测。具体的，在分别检测目标光源41和目标光检测时，不需移动箱体5内合格光源2和合格光检测板3的安装位置，通过将目标荧光分析组件4分别置于第一检测腔630和第二检测腔631内，即可使得合格光源2和合格光检测板3分别面对目标荧光分析组件4的光路出口44，进而即可进行检测过程。

需要说明的是，当检测腔60划分为第一检测腔630和第二检测腔631时，箱体5顶部与第一检测腔630对应的位置需设有与第一检测腔630的第一穿孔61连通的卡接孔50，且箱体5顶部与第二检测腔631对应的位置需设有与第二检测腔631的第二穿孔62连通的卡接孔50。

进一步的，如图4所示，第一检测腔630外可以设有与其第二穿孔62连通的第一环形凸台6300，第二检测腔631外可以设有与其第二穿孔62连通的第二环形凸台6310，合格光源2可以通过螺钉等紧固件固定于第一环形凸台6300上，合格光检测板3可以通过螺钉等紧固件固定于第二环形凸台6310上。

如图2和图3所示，箱体5的顶部开设有位于卡接孔50一侧的供电孔51；电源组件1包括相互连接的电源本体和电源接头，电源本体安装于箱体5内，电源接头安装于供电孔51内；电源接头与目标荧光分析组件4可拆卸电连接。

箱体5还可以用于保护电源本体以及为电源本体提供安装位置，进一步的，控制组件也可以安装于箱体5上。

供电孔51则用于支撑电源接头，而电源接头则用于与目标荧光分析组件4可拆卸电连接，从而可以提升目标荧光分析组件4和电源之间的安拆便捷性。

其中，在箱体5内部，电源本体与电源接头之间可以通过导线连接，合格光源2以及合格光检测板3也分别可以通过导线与电源本体连接。

为便于向目标荧光分析组件4供电，检测腔60划分为第一检测腔630和第二检测腔631时，箱体5顶部的靠近第一检测腔630的位置以及靠近第二检测腔631的位置均可以设有供电孔51。

检测腔60未被划分为第一检测腔630和第二检测腔631时，为便于分别对目标光源41和目标光检测板40进行检测，该荧光分析组件检测装置还可以包括转换组件，转换组件安装于箱体5内；合格光源2和合格光检测板3均与转换组件的输出端连接，转换组件用于驱动合格光源2和合格光检测板3择一与卡接孔50处的目标荧光分析组件4的光路出口44相互面对。

该荧光分析组件检测装置包括转换组件时，通过转换组件切换合格光源2和合格光检测板3的位置即可使得合格光源2和合格光检测板3择一与检测腔60内的目标荧光分析组件4的光路出口44相互面对，此时不需移动检测腔60内的目标荧光分析组件4，可以提升该荧光分析组件检测装置的使用便捷性。

具体的，转换组件可以采用现有的马达和齿轮组成的转盘机构。

如图6和图7所示，检测腔60的内壁设有与目标荧光分析组件4的侧翼板45相适配的卡槽600，卡槽600与卡接孔50连通，用于容纳侧翼板45。

现有的荧光分析组件的壳体42的一侧通常设有侧翼板45，因而如图1所示，本实施例中的目标荧光分析组件4的壳体42的一侧也设有侧翼板45。为了容纳侧翼板45以及利用侧翼板45对目标荧光分析组件4进行进一步的限位，本实施例优选检测腔60的内壁设有与目标荧光分析组件4的侧翼板45相适配的卡槽600，且该卡槽600与卡接孔50连通。

将目标荧光分析组件4安装于检测腔60内时，其壳体42上的侧翼板45穿过卡接孔50后伸入卡槽600内，继而卡槽600会与侧翼板45相互配合，将目标荧光分析组件4稳定限位于检测腔60内。

如图2和图3所示，箱体5外部还可以安装有显示屏7，显示屏7与控制组件连接，显示屏7用于接收并显示控制组件的判断结果。

实施例二：

本实施例的荧光分析组件检测方法应用如实施例一中的荧光分析组件检测装置，如图8和图9所示，该方法包括：

S1：使用合格光源2照射目标荧光分析组件4内的目标光检测板40，并将目标光检测板40对合格光源2的光线反馈的信号记为第一信号；

S2：判断第一信号是否与第一标准信号匹配；

S3：使用目标荧光分析组件4内的目标光源41照射合格光检测板3，并将合格光检测板3对目标光源41的光线反馈的信号记为第二信号；

S4：判断第二信号是否与第二标准信号匹配。

本实施例的荧光分析组件检测方法应用实施例一中的荧光分析组件检测装置，该方法同样是通过将荧光分析组件检测装置与待检测的目标荧光分析组件4相互配合而对目标荧光分析组件4的核心零件进行检测，具体的，在步骤S1中，可以利用荧光分析组件检测装置中的合格光源2照射目标荧光分析组件4内的目标光检测板40而得到用于检测目标光检测板40的第一信号，继而可以在步骤S2中利用控制组件判断第一信号是否与控制组件中的第一标准信号匹配。而在步骤S3中，可以利用目标荧光分析组件4内的目标光源41照射荧光分析组件检测装置中的合格光检测板3而得到用于检测目标光源41的第二信号，继而可以在步骤S4中利用控制组件判断第二信号是否与控制组件中的第二标准信号匹配。而通过判断第一信号是否与第一标准信号匹配即可判断出目标光检测板40是否符合要求，通过判断第二信号是否与第二标准信号匹配即可判断出目标光源41是否符合要求。

可以看出，本实施例的荧光分析组件检测方法也可以通过将荧光分析组件检测装置与待检测的目标荧光分析组件4相互配合，从而检测出目标荧光分析组件4的核心零件是否符合要求，该荧光分析组件检测方法也不需将荧光免疫检测设备整机送去大型实验室，可以有效降低检测成本。

如图10所示，本实施例的荧光分析组件检测方法还包括：

S5：若第一信号、第二信号分别与第一标准信号、第二标准信号匹配，则使用目标光源41照射目标光检测板40，并将目标光检测板40对目标光源41的光线反馈的信号记为第三信号；

S6：判断第三信号是否与第一信号匹配。

在实际应用过程中，为避免可见光的干扰，荧光分析组件中的光源通常选用近紫外光谱段的光源。若第一信号与第一标准信号匹配，则表明目标光检测板40符合要求，若第二信号与第二标准信号匹配，则表明目标光源41也符合要求。但目标荧光分析组件4实际应用于临床的荧光免疫层析过程中时，是目标光源41发射光线后作为激发光通过二向色镜43反射到待测荧光物质上，待测荧光物质再发射光线并通过二向色镜43的折射(透射)后到达目标光检测板40，目标光检测板40再将光电信号(第三信号)反馈给上位机，然而无论是目标光源41还是合格光源2，其均为连续的发光波段，也即，即使第一信号和第二信号均分别与标准信号匹配(目标光源41和目标光检测板40是分开检测的)，也存在目标光源41与合格光源2不完全相同的可能性，也即第三信号与第一信号可能不匹配。

为解决目标光源41和目标光检测板40在正常使用时因组装在荧光免疫检测设备中配合使用的而使得即使在检测过程中分别合格但在组装配合正常使用时可能被认为不合格的技术问题，因此本实施例优选还包括步骤S5和步骤S6，经过步骤S5和步骤S6后，即可判断出第三信号是否与第一信号匹配，进而可以判断出目标光源41与合格光源2是否完全相同。

其中，控制组件可以包括存储器。如图8所示，在步骤S2后，若第一信号与第一标准信号匹配，则进行步骤S20：将第一信号存储于存储器中。若第一信号与第一标准信号不匹配，则结束检测过程。

如图9所示，在步骤S4后，若第二信号与第二标准信号匹配，则进行步骤S40：将第二信号存储于存储器中。若第二信号与第二标准信号不匹配，则结束检测过程。

存储器记录第一信号和第二信号，便于在步骤S5中利用控制组件自动判断第一信号以及第二信号是否与各自对应的标准信号匹配。

若第三信号与第一信号匹配，则目标光源41与合格光源2相同，目标光检测板40的检测过程结束。若第三信号与第一信号不匹配，则如图10所示，本实施例的荧光分析组件检测方法还包括：

S7：若第三信号与第一信号不匹配，则计算第三信号与第一信号的差值，并将该差值记为补偿值。

当第三信号与第一信号不匹配，则二者之间存在差异，但分开检测时目标光源41和目标光检测板40均是合格的，此时可以对目标光检测板40进行补偿，将步骤7的补偿值加到正常测试时的测试值中，并将该补偿值与测试值的和作为测试结果记录，可消除第一信号和第三信号之间的误差，使得待测物的表征的测试结果更加接近真值。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (9)

1.一种荧光分析组件检测装置，其特征在于，包括电源组件(1)、合格光源(2)、合格光检测板(3)和控制组件；

所述合格光源(2)、所述合格光检测板(3)和目标荧光分析组件(4)均与所述电源组件(1)连接；所述合格光源(2)用于向目标荧光分析组件(4)内的位于所述合格光源(2)光路上的目标光检测板(40)发射光线，所述目标光检测板(40)用于接收该光线并将其转化为第一信号；所述合格光检测板(3)用于设置在目标荧光分析组件(4)内的目标光源(41)的光路上，以接收所述目标光源(41)发射的光线并将该光线转化为第二信号；

所述控制组件设有第一标准信号和第二标准信号，所述目标光检测板(40)与所述控制组件连接，所述控制组件用于接收所述第一信号，并将其与所述第一标准信号进行对比以判断所述目标光检测板(40)是否符合标准；所述合格光检测板(3)与所述控制组件连接，所述控制组件用于接收所述第二信号，并将其与所述第二标准信号进行对比以判断所述目标光源(41)是否符合标准；

所述控制组件包括存储器，所述存储器用于在所述目标光检测板(40)接收所述目标光源(41)发射的光线且将该光线转化为第三信号时，记录所述第三信号与所述第一信号之间的差值以作为补偿值。

2.根据权利要求1所述的荧光分析组件检测装置，其特征在于，所述荧光分析组件检测装置还包括箱体(5)，所述箱体(5)顶部设有卡接孔(50)，所述卡接孔(50)用于卡接目标荧光分析组件(4)；

所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)均安装于所述箱体(5)内，且均位于所述卡接孔(50)的一侧，所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)分别能够与所述卡接孔(50)处的目标荧光分析组件(4)的光路出口(44)相互面对。

3.根据权利要求2所述的荧光分析组件检测装置，其特征在于，所述箱体(5)内安装有位于所述卡接孔(50)一侧的支撑容器(6)，所述支撑容器(6)内形成有检测腔(60)；

所述支撑容器(6)的顶部设有与所述检测腔(60)连通的第一穿孔(61)，所述第一穿孔(61)与所述卡接孔(50)连通，所述检测腔(60)用于容纳所述卡接孔(50)处的目标荧光分析组件(4)；

所述支撑容器(6)底部设有与所述检测腔(60)连通的第二穿孔(62)，所述第二穿孔(62)用于与所述检测腔(60)内的目标荧光分析组件(4)的光路出口(44)连通。

4.根据权利要求3所述的荧光分析组件检测装置，其特征在于，所述检测腔(60)内安装有分隔板(63)以将所述检测腔(60)划分为第一检测腔(630)和第二检测腔(631)，所述第一检测腔(630)和所述第二检测腔(631)分别用于容纳所述目标荧光分析组件(4)；

所述支撑容器(6)的顶部的与所述第一检测腔(630)对应的位置以及与所述第二检测腔(631)对应的位置，均设有所述第一穿孔(61)；所述支撑容器(6)的底部的与所述第一检测腔(630)对应的位置以及与所述第二检测腔(631)对应的位置，均设有所述第二穿孔(62)；

所述合格光源(2)用于安装在所述第一检测腔(630)的第二穿孔(62)处，所述合格光检测板(3)用于安装在第二检测腔(631)的第二穿孔(62)处。

5.根据权利要求2所述的荧光分析组件检测装置，其特征在于，所述箱体(5)的顶部开设有位于所述卡接孔(50)一侧的供电孔(51)；

所述电源组件(1)包括相互连接的电源本体和电源接头，所述电源本体安装于所述箱体(5)内，所述电源接头安装于所述供电孔(51)内；

所述电源接头与目标荧光分析组件(4)可拆卸电连接。

6.根据权利要求2所述的荧光分析组件检测装置，其特征在于，所述荧光分析组件检测装置还包括转换组件，所述转换组件安装于所述箱体(5)内；

所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)均与所述转换组件的输出端连接，所述转换组件用于驱动所述合格光源(2)和所述合格光检测板(3)择一与所述卡接孔(50)处的目标荧光分析组件(4)的光路出口(44)相互面对。

7.一种荧光分析组件检测方法，应用如权利要求1-6任一项所述的荧光分析组件检测装置，其特征在于，包括：

使用合格光源(2)照射目标荧光分析组件(4)内的目标光检测板(40)，并将目标光检测板(40)对合格光源(2)的光线反馈的信号记为第一信号；

判断第一信号是否与第一标准信号匹配；

使用目标荧光分析组件(4)内的目标光源(41)照射合格光检测板(3)，并将合格光检测板(3)对目标光源(41)的光线反馈的信号记为第二信号；

判断第二信号是否与第二标准信号匹配。

8.根据权利要求7所述的荧光分析组件检测方法，其特征在于，还包括：

若第一信号、第二信号分别与第一标准信号、第二标准信号匹配，则使用目标光源(41)照射目标光检测板(40)，并将目标光检测板(40)对目标光源(41)的光线反馈的信号记为第三信号；

判断第三信号是否与第一信号匹配。

9.根据权利要求8所述的荧光分析组件检测方法，其特征在于，还包括：

若第三信号与第一信号不匹配，则计算第三信号与第一信号的差值，并将该差值记为补偿值。