CN220063180U - 光学模组的检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光学模组的检测装置，包括：底座，所述底座限定出容纳槽，所述容纳槽用于设置光学模组；光阑件，所述光阑件设于所述底座的入光侧，所述光阑设有与所述光学模组相对的入光孔；发光组件，所述发光组件包括光源支架和光源，所述光源支架与所述底座配合，所述光源设于所述光源支架，且被配置为向所述入光孔发出不同角度的光线。根据本实用新型的光学模组的检测装置，通过底座上的容纳槽可以容纳并固定待检测的光学模组，通过光阑件可以引导不同角度的入射光线经由入光孔到达光学模组，以激发光谱响应，通过发光组件可以为检测作业提供多个角度的入射光线，从而获得更多的检测数据，提高检测结果的准确性。

Description

光学模组的检测装置

技术领域

本实用新型涉及传感器检测技术领域，尤其是涉及一种光学模组的检测装置。

背景技术

相关技术中指出，目前的微型/小型化光谱传感/光谱成像技术，通常采用以下的工作方式：采用传感器进行光信号的获取，之后进行不同程度的数据处理，最终获得光谱信息。在此过程中所使用的传感器能够获得待测光频域上的信息，实现方式包括：具有光调制结构的光探测器阵列，或是滤光片(或滤光结构)阵列与光探测器阵列的组合；其中的滤光片(或滤光结构)可以是在频域或者波长域上窄带、宽带、周期等滤波方式。利用这种计算重构技术，能够避免传统光谱技术中的分光空间光路，实现体积较小的光谱仪或光谱相机。

因此光谱传感器模组对整机模组的品质要求也越来越高，需要保证进光的光斑照在滤光结构上，因此小型的光谱传感器在测试过程中需要稳定可靠的测试装置以保证光线可以尽可能的照射到光谱芯片上。而由于光谱传感器模组本身的多样性，不同种类的模组具有不同的结构形态和外形，因此在对光谱传感器模组的安装过程中容易产生装配误差，并且光谱传感器模组的装配质量难以把控，因此需要提供一种能够对光谱传感器模组进行光学性能检测的装置。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型在于提出一种光学模组的检测装置，所述检测装置可以克服上述技术问题。

根据本实用新型的光学模组的检测装置，包括：底座，所述底座限定出容纳槽，所述容纳槽用于设置光学模组；光阑件，所述光阑件设于所述底座的入光侧，所述光阑设有与所述光学模组相对的入光孔；发光组件，所述发光组件包括光源支架和光源，所述光源支架与所述底座配合，所述光源设于所述光源支架，且被配置为向所述入光孔发出不同角度的光线。

根据本实用新型的光学模组的检测装置，通过底座上的容纳槽可以容纳并固定待检测的光学模组，通过光阑件可以引导不同角度的入射光线经由入光孔到达光学模组，以激发光谱响应，通过发光组件可以为检测作业提供多个角度的入射光线，从而获得更多的检测数据，提高检测结果的准确性。

可选地，所述检测装置还包括基台，所述基台的外径大于所述底座的外径，所述底座设于所述基台，所述光源支架可转动地与所述基台连接。

可选地，所述基台上设有沿所述基台的周向延伸的滑轨，所述光源支架上设有与所述滑轨适配滑动部，所述滑动部与所述滑轨滑动配合。

可选地，所述滑轨形成于所述基台的周向侧壁。

可选地，所述基台上开设有与所述底座适配的装配孔，所述底座嵌设于所述装配孔内。

可选地，所述光源支架在参考面的投影呈条状，所述光源支架的两端分别与所述基台连接，所述参考面平行于所述基台沿厚度方向的一侧表面。

可选地，所述光源支架呈弧形。

可选地，多个所述光源之间的间距不同。

可选地，所述检测装置还包括：匀光片，所述匀光片设于所述底座，并盖设于所述入光孔的入光侧。

可选地，所述检测装置还包括：固定支柱，所述固定支柱设于所述底座，所述光阑件与所述固定支柱连接。

可选地，所述光阑件在所述固定支柱上的位置可调，以调节所述光阑件与所述底座的间距。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

图1是根据本实用新型实施例的检测装置的结构示意图；

图2是根据本实用新型实施例的检测装置的部分结构示意图。

附图标记：

检测装置100：

底座1，容纳槽11，

基台2，

光阑件3，入光孔31，

匀光片4，

发光组件5，光源支架51，光源52，

固定支柱6。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下面参考图1和图2描述根据本实用新型实施例的光学模组的检测装置。

本实用新型实施例的光学模组的检测装置100，包括：底座1、光阑件3和发光组件5。

具体地，底座1可以呈圆台状、方台状或其他形状，底座1的构造可以根据实际需要合理选择，底座1可以限定出容纳槽11，光学模组可以设于容纳槽11内，容纳槽11的形状与光学模组适配。光阑件3设于底座1的入光侧，光阑设有与光学模组相对的入光孔31，光阑件3可以将不同角度的光线引导至光学模组。

参考图1，发光组件5可以包括光源支架51和光源52，光源支架51与底座1配合，例如，光源支架51可以直接与底座1连接，或者也可以与底座1间接连接，光源支架51可以与底座1固定连接，也可以相对底座1运动。光源52为至少一个，光源52设于光源支架51并与光源支架51连接，光源52可以被配置为向入光孔31发出不同角度的光线，例如，光源52可以发出60°、50°、40°、30°或0°的光线，此处的角度是指光线与入光孔31轴线的夹角。

例如，当光源52为一个时，光源52在光源支架51上的位置可调，即光源52可相对光源支架51运动例如滑动，从而实现发射不同角度的光线；或者，当光源52为多个时，多个光源52分布在光源支架51上的不同位置处，从而实现发射不同角度的光源52。通过配置多个角度的光线，可以更全面地检测光学模组上的光谱响应，从而提高检测结果的准确性。

其中，光学模组可以为光谱传感器模组，也可以为光谱芯片。

例如，光谱传感器模组可以包括镜头及与芯片连接的PCB板，因此在本实施例中光学模组的外形不规则。本申请提供的检测装置100的底座1可适配于不同结构和不同形状的待测光学模组，可以更快捷稳定的固定光学模组，以便对光学模组的性能进行光学验证。

需要说明的是，待测的光谱传感器模组包括光谱芯片和光学组件，其中光学组件被保持在光谱芯片的感光路径，其中光谱芯片包括光电探测层和位于光电探测层的感测路径上的光调制层，光电探测层被配置为获得经过光调制层调制的光信号，光学组件被配置为接收来自被摄目标的光信号并将光信号导引至光谱芯片。可以理解的是，光学模组的具体结构在此仅仅作为示例的，而非限制。

根据本实用新型实施例的光学模组的检测装置100，通过底座1上的容纳槽11可以容纳并固定待检测的光学模组，通过光阑件3可以引导不同角度的入射光线经由入光孔31到达光学模组，以激发光谱响应，通过发光组件5可以为检测作业提供多个角度的入射光线，从而获得更多的检测数据，提高检测结果的准确性。

可选地，参考图1，光源52可以为多个，多个光源52均与光源支架51连接，多个光源52可以为能够发射相同波长光线的光源52，或者，也可以为分别发射不同波长光线的光源52，每个光源52的种类可以根据实际需要灵活调整，如此，能够提高检测效率。

可选地，多个光源52可以处于同一个平面内，或者也可以处于不同的平面内。

可选地，参考图1和图2，检测装置100还可以包括基台2，基台2的外径大于底座1的外径，底座1设于基台2，光源支架51可转动地与基台2连接，这样，能够为光源支架51提供更大的安装空间，从而增大光源支架51尺寸，以便于在光源支架51上安装多个处于不同角度的光源52。

可选地，基台2上设有沿自身的周向延伸的滑轨(图未示出)，例如，基台2的上表面的邻近边沿的位置可以形成有沿基台2的周向延伸的环形凹槽，环形凹槽构成滑轨；或者，基台2的周向侧壁形成有沿径向向内凹陷的环形凹槽，环形凹槽构成滑轨；当然本实用新型不限于此，滑轨也可以为独立于基台2的结构件，此时，滑轨通过机械装配的方式设置于基台2上，可以理解地，滑轨的具体构造可以根据需要进行选择。光源支架51上设有与滑轨适配滑动部，滑动部与滑轨滑动配合，如此，通过滑动部在滑轨上的滑动，能够实现光源支架51相对底座1和光学模组的转动，从而提供更多角度的入射光线，能够进一步提高检测结果的准确性。

可选地，滑轨形成于基台2的周向侧壁，如此，有利于增大光源支架51的尺寸，从而为光源52提供更大的安装空间，增加光源52数量，提高检测效率和检测结果的准确性，同时，结构简单，便于制造。

可选地，基台2上还开设有与底座1适配的装配孔，底座1嵌设于装配孔内，如此，能够降低底座1相对各个光源52的高度，有利于光线入射，并且，使底座1的安装更加稳定。

可选地，光源支架51在参考面的投影呈条状，光源支架51的两端分别与基台2连接，参考面平行于基台2沿厚度方向的一侧表面，例如，光源支架51可以整体上呈弧形，也可以构造具有彼此相互垂直的多段，本实用新型对此不做限制，光源支架51的具体结构可以合理选择，如此，光源支架51结构简单，便于制造。可以理解地，光源支架51在参考面内的投影经过入光孔31，如此，能够使各个光源52更容易对准入光孔31。

可选地，参考图1，光源支架51呈弧形，例如圆弧形，此时，将各个光源52朝向圆弧圆心即可对准入光孔31，使得光源支架51结构简单，制造耗费材料较少。

可选地，多个光源52之间的间距不同，即各个光源52发射的光线的角度呈不规则分布，这样可以使检测结果更加准确。

在一些实施例中，参考图2，检测装置100还可以包括：匀光片4。具体地，匀光片4设于底座1，并盖设于入光孔31的入光侧，即光源52发射出的光线会依次经过匀光片4、入光孔31达到光学模组，通过设置匀光片4，能够提高入射光线的均匀度。

可选地，参考图1和图2，检测装置100还可以包括：固定支柱6。具体地，固定支柱6设于底座1，光阑件3与固定支柱6连接，例如，固定支柱6可以为光滑柱体，或者也可以为螺纹柱，固定支柱6的一端与底座1固定连接，另一端可以穿设于光阑件3，从而实现光阑件3的固定。

可选地，光阑件3在固定支柱6上的位置可调，以调节光阑件3与底座1的间距，从而使光阑件3与光学模组间隔开，从而避免光学模组表面发生摩擦或挤压而损坏。

本实施例的检测装置100的使用方法如下：将待测的光学模组如光谱传感器模组或者光学芯片放置在底座1的容纳槽11内，然后将光阑件3盖设于容纳槽11上侧，将匀光片4设置在入光孔31的上侧，逐个开启各个光源52，使各个光源52发出的光线朝向入光孔31，然后检测并获取光学模组上对各个角度入射光线的光谱响应；然后转动光源支架51，重复上述操作，对所获取的数据进行数据分析，进而判断光学模组的光学性能。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置100或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，还可以是通信；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (11)

1.一种光学模组的检测装置，其特征在于，包括：

底座，所述底座限定出容纳槽，所述容纳槽用于设置光学模组；

光阑件，所述光阑件设于所述底座的入光侧，所述光阑设有与所述光学模组相对的入光孔；

发光组件，所述发光组件包括光源支架和光源，所述光源支架与所述底座配合，所述光源设于所述光源支架，且被配置为向所述入光孔发出不同角度的光线。

2.根据权利要求1所述的光学模组的检测装置，其特征在于，还包括基台，所述基台的外径大于所述底座的外径，所述底座设于所述基台，所述光源支架可转动地与所述基台连接。

3.根据权利要求2所述的光学模组的检测装置，其特征在于，所述基台上设有沿所述基台的周向延伸的滑轨，所述光源支架上设有与所述滑轨适配滑动部，所述滑动部与所述滑轨滑动配合。

4.根据权利要求3所述的光学模组的检测装置，其特征在于，所述滑轨形成于所述基台的周向侧壁。

5.根据权利要求2所述的光学模组的检测装置，其特征在于，所述基台上开设有与所述底座适配的装配孔，所述底座嵌设于所述装配孔内。

6.根据权利要求2所述的光学模组的检测装置，其特征在于，所述光源支架在参考面的投影呈条状，所述光源支架的两端分别与所述基台连接，

所述参考面平行于所述基台沿厚度方向的一侧表面。

7.根据权利要求6所述的光学模组的检测装置，其特征在于，所述光源支架呈弧形。

8.根据权利要求7所述的光学模组的检测装置，其特征在于，多个所述光源之间的间距不同。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的光学模组的检测装置，其特征在于，还包括：匀光片，所述匀光片设于所述底座，并盖设于所述入光孔的入光侧。

10.根据权利要求1-8中任一项所述的光学模组的检测装置，其特征在于，还包括：固定支柱，所述固定支柱设于所述底座，所述光阑件与所述固定支柱连接。

11.根据权利要求10所述的光学模组的检测装置，其特征在于，所述光阑件在所述固定支柱上的位置可调，以调节所述光阑件与所述底座的间距。