CN112385092A - 用于接触高电流插座的高电流接触器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种用于接触高电流插座(10)的高电流接触器(14)，其包括：用于引入到所述高电流插座(10)内的接触销(16)，所述接触销带有沿径向方向切分的多个接触段(18)，以用于接触所述高电流插座(10)的内接触面(12)；包围所述接触销(16)的引导套筒(20)，所述引导套筒(20)通过至少间接地以端侧压紧到所述高电流插座(10)上而能够相对于所述接触销(16)从初始位置沿轴向方向运动到相对于所述接触销(16)回缩的接触位置，在所述初始位置中所述引导套筒(20)阻止所述接触段(18)的自主的径向张开，以避免从所述引导套筒(20)轴向伸出的所述接触段(18)和所述内接触面(12)之间的接触，在所述回缩的接触位置中所述引导套筒(20)允许从所述引导套筒(20)轴向伸出的所述接触段(18)的自主的径向张开，以用于接触所述内接触面(12)；其中用于测量至少一个物理特性的检测导线(44、46)通向所述接触段(18)的至少一个接触区域。

Description

用于接触高电流插座的高电流接触器
技术领域
本发明涉及用于接触高电流插座的高电流接触器。
背景技术
特别是由于机动车辆电气化的提高，在生产用于机动车辆的高压部件时越来越要求将高电流接触器与高电流插座连接，以进行功能检验和/或用于测试目的，例如在所谓的生产线末端测试(End-of-Line-Tests)中。通过此类高电流插座至少会在短时间内流过很高的电流，部分超过1000安培。大约500安培的连续电流在此也很常见。必须与高电流插座连接以用于检验不同的电气部件的此类高电流接触器一方面必须承受很高的电流，而另一方面必须承受正在进行的生产或测试运行期间的大量插拔循环。
发明内容
因此，本发明所要解决的技术问题是提供一种用于接触高电流插座的高电流接触器，所述接触器适合于大量的测试周期和高电流。
此技术问题通过带有权利要求1的特征的用于接触高电流插座的高电流接触器来实现。在从属权利要求中详细给出了具有本发明的有效的和非常规的改进方案的有利的构造。
根据本发明的用于接触高电流插座的高电流接触器包括用于插入到高电流插座内的接触销，所述接触销带有沿径向方向开槽的多个接触段，以用于接触高电流插座的内接触面。沿径向方向开槽的接触段在此沿径向方向被预张紧。这意味着，在没有外力作用的情况下，接触销的接触段相对于接触销的纵向轴线以锥形形式张开。
高电流接触器还包括围绕接触销的引导套筒，所述引导套筒可通过至少间接地以端侧压到高电流插座上而相对于接触销从初始位置沿轴向方向运动到相对于接触销回缩的接触位置。引导套筒被构造为在初始位置中阻止接触段的自主的径向张开，以避免从引导套筒轴向伸出的接触段与内接触面之间的接触。在相对于接触销回缩的接触位置中，引导套筒允许从引导套筒径向伸出的接触段的自主的径向张开，以用于接触高电流插座的内接触面。
为在高电流接触器和高电流插座之间建立导电接触，只需将高电流接触器以端侧压到高电流插座上。在无力或无机械载荷的状态中，引导套筒自动处于所述初始位置，在所述初始位置，引导套筒阻止了接触段的自主的径向张开。在初始位置中，因此接触销的接触段的最大外径小于高电流插座的内径。由此，接触销连同其接触段可以被引入到高电流插座内，而不接触高电流插座的内接触面。在此引入过程期间，高电流插座至少间接地以端侧将压力或力施加到引导套筒上。因此，引导套筒相对于接触销的接触段从初始位置移动到所述回缩的接触位置。所述回缩的接触位置对应于在高电流接触器与高电流插座之间建立电接触的一种最终位置或最终位型。通过使接触销的开槽的接触段沿径向方向被预张紧，所述接触段沿径向方向向外推而无外力作用。在引导套筒的回缩的接触位置中，这允许从引导套筒轴向伸出的接触段的自主的径向张开。因此，接触销的接触段径向向外张开，使其与高电流插座的内接触面接触。因此，在高电流接触器和高电流插座之间实现了可靠的接触。
因此，接触销的开槽的接触段如同一种张紧钳起作用，其在引入到高电流插座内时可以径向张开。在将高电流接触器移入到高电流插座内或从高电流插座中移出时，高电流接触器仅具有与作为被测件的高电流插座的端侧接触。因此，在接触段移入到高电流插座内或从高电流插座中移出时，可以避免接触段在高电流插座的内面上摩擦或磨蚀。由此可以避免损坏内接触面的表面或损坏接触段。特别地，高电流接触器可以用于大量的插拔循环，以用于检验大量的高电流插座，而不损坏接触段和待检测的高电流插座的相应的内接触面。换言之，根据本发明的高电流接触器因此实现了高电流插座的无损接触。
另外，用于测量至少一种物理特性的检测导线通向接触段的至少一个接触区域。物理特性优选地为电阻和/或温度。因此，可通过根据本发明的高电流接触器来测量接触段的至少一个接触区域内的电阻和/或温度。只有高电流插座的完好接触才能保证高质量和可重复的测量。这可以通过所述电阻测量来监控。此外，由于在高电流接触器和高电流插座之间的可能的高电流，因此可能出现很高的温度。通过接触区域内的温度测量，可以保证不出现过高的温度，过高的温度可能损坏高电流接触器和/或高电流插座。
本发明的一个有利的实施方案规定，在接触段的至少一个接触区域内布置用于测量至少一个物理特性的传感器装置，并且将所述传感器装置与检测导线连接。物理特性可以是温度和/或电阻。因此，传感器装置可以是用于电阻测量和/或温度测量的传感器装置，其中，所述传感器装置被设计为通过检测导线将代表电阻测量的测量数据和/或代表温度测量的测量数据传输到上级控制单元。
本发明的一种有利的实施方案规定，引导套筒具有锥形的内部部分，所述锥形的内部部分在引导套筒从初始位置运动到回缩的接触位置时与接触销的锥形的外部部分协作，并且由此允许接触段的自主的张开。因此，通过形式为引导套筒的内部部分和接触销的锥形的外部部分的相互协调的锥形部分，以可靠的方式实现了接触段的受控的径向张开。
本发明的另一有利的实施方案规定，引导套筒借助于复位弹簧以可轴向运动的方式支承在壳体部分内，所述复位弹簧将朝初始位置的方向的复位力施加到引导套筒上。在接触销运动进入高电流插座内时，复位弹簧因此施加反力。如果在将高电流接触器引入到高电流插座之后不再将力施加到高电流接触器上，则复位弹簧导致引导套筒又运动回到初始位置。因此，在将高电流接触器从高电流插座中拉出时可以确保接触段由于引导套筒的运动再次被径向地压在一起，因此在将接触销从高电流插座引导出时，接触段和高电流插座的内接触面之间不再有任何接触。
根据本发明的另一有利的实施方案规定，接触销借助于弹簧与引导套筒连接。如果(例如，在尝试将接触销引入到高电流插座内时)意外碰到接触销，则弹簧导致接触销被压入到引导套筒内。由此可以避免损坏接触销。因此，弹簧用作防止接触销过载的机械保护。
在本发明的另一有利的实施方案中规定，接触销具有径向向外延伸的凸缘，所述凸缘防止引导套筒从回缩的接触位置运动超出初始位置。由此可以可靠地阻止引导套筒的超出初始位置的相对运动。因此，接触销总是可靠地保持在引导套筒内。
本发明的另一有利的实施方案规定，将带有用于高电流插座的端侧靠放面的螺母旋拧到引导套筒上，其中，通过改变螺母的轴向位置可改变引导套筒的回缩的接触位置，并且因此可改变通过接触段施加到高电流插座的内接触面上的接触力。为改变轴向位置仅需简单地旋转螺母，使得螺母在高电流插座上沿轴向移动。根据螺母的定位，引导套筒的回缩的接触位置发生变化。开槽的接触段可以沿轴向方向从引导套筒伸出越远，则引导套筒抑制接触段的独自的或自主的张开的程度越小。以此方式，可以改变接触段的可施加到高电流插座的内接触面上的接触力。
根据本发明的另一有利的实施方案规定，将用于电阻测量的传感器装置布置在接触段的至少一个接触区域内并且与检测导线连接，其中所述传感器装置被设计为将代表电阻测量的测量数据通过检测导线传输到上级控制单元。传感器装置优选地以弹性方式安装，例如通过支承在可弹性变形的硅树脂床上。通过此传感器装置可以在被引入的接触销上执行四导体测量或开尔文测量。在导线电阻和连接电阻可能使测量值失真时，可以使用四导体测量以四导体连接部来测量电阻。在四导体测量布置中，已知的电流通过导线中的两个流过电阻。电阻上的压降通过另外的两个导线以高阻方式被引出，并且以电压测量装置测量所述压降。根据欧姆定律，据此计算出待测电阻。此原理类似地适用于借助低电阻分流器的电流测量。在此，未知的电流强度由已知的电阻通过压降来确定。在四导体测量或开尔文测量中，可以补偿测量导线的引线电阻以及高电流插座和测量装置之间的测量点处的接触电阻。相同的原理适用于电容或电感的测量。只有高电流插座的完好接触才能确保高质量和可重复的测量。为适应不断增长的技术发展，必须不断适应对于高电流插座的接触要求。传感器装置通过连接装置与检测导线连接，并且测量数据通过检测导线被发送到控制单元并且在控制单元处被评估。传感器装置优选地被设计为测量高电流插座的电阻。
本发明的另一有利实施方案规定，将用于温度测量的传感器装置布置在接触段的至少一个接触区域内并且与检测导线连接，其中所述传感器装置被设计为通过检测导线将代表温度测量的测量数据传输到上级控制单元或另一控制单元。此传感器装置优选地是温度传感器，其靠放在接触段的至少一个接触区域上。通过此另外的传感器装置，可以特别地测量高电流接触器内的温度。在通过高电流接触器检验高电流插座时，可能出现大约500安培的持续电流和1000安培的峰值电流。在此，高电流接触器和高电流插座可能明显地发热。通过用于温度测量的传感器装置，可以可靠地监测高电流接触器和高电流插座处的相应的温度。对于两种类型的检测导线，即用于电阻测量和温度测量的检测导线，接触销可以具有相应的槽，在所述槽内布置有相应的检测导线。由此，检测导线可以沿轴向方向沿接触销被引导，例如被引导到背离接触段的端部上。
根据本发明的另一有利的实施方案规定，接触销具有用于向接触段供给气态冷却介质的冷却剂孔。冷却剂孔可以例如沿接触销的整个纵向轴线延伸。因此，在需要时，可以以简单的方式将例如具有压缩空气等的形式的气态冷却介质供给到接触段。如果在高电流接触器和连接的高电流插座之间流过高电流，则可以以可靠的方式冷却接触器段。
在本发明的另一有利的实施方案中规定，接触销在其背对接触段的纵向端部上具有用于供给气态冷却介质的连接部。因此，可以以特别简单的方式将气态冷却介质供给到冷却剂孔并且最终供给到接触段。
最后，本发明的另一有利的实施方案规定，高电流接触器具有镍银覆层。这有助于延长高电流接触器的使用寿命，并且有助于改进高电流接触器与高电流插座之间的电接触。
本发明的其他优点、特征和细节从优选的实施例的以下说明中并且参考附图得出。在说明书中上述的特征和特征的组合，以及在附图的描述中和/或在附图中单独示出的以下特征的特征和特征的组合，不仅可以以指定的组合使用，而且可以以其他组合或单独地使用，而不偏离本发明的范围。
附图说明
在附图中：
图1为示出高电流插座的立体图，所述高电流插座带有用于与高电流接触器导电接触的内接触面；
图2为示出用于接触高电流插座的高电流接触器的立体图，其中高电流接触器具有用于引入到高电流插座内的接触销，所述接触销带有沿径向方向开槽的多个接触段，以用于接触高电流插座的内接触面，并且高电流接触器具有包围接触销的引导套筒，接触段从所述引导套筒部分地伸出；并且
图3为示出高电流接触器的侧视剖视图。
在附图中，相同的或功能相同的元件设有相同的附图标号。
具体实施方式
在图1中以立体图示出了高电流插座10。高电流插座10包括用于与在此未示出的高电流接触器14导电接触的内接触面12。高电流插座10可以构建在不同的部件上，例如用于电动车辆的所谓的S盒(S-Box)。为确保高电流插座10的可靠的功能，可以规定例如在所谓的生产线末端测试中借助于所述高电流接触器14对高电流插座10进行测试。在此，至少在短时间内电流可能很高，例如超过1000安培。此外，在测试过程中可能出现大约500安培的持续电流。
在图2中以立体图示出了用于接触高电流插座10的所述高电流接触器14。高电流接触器14优选地由高导电性的铜合金制成。此外，高电流接触器14可以例如设有镍银覆层，以延长使用寿命并且优化高电流接触器14与高电流插座10之间的电接触。
高电流接触器14包括用于引入到高电流插座10内的接触销16，所述接触销16带有沿径向方向开槽的多个接触段18，以用于接触高电流插座10的内接触面12。开槽的接触段18在径向方向上被预张紧。这意味着接触段18在无机械载荷状态下将径向向外弯曲，使得接触段18将形成锥形形状的形式。
高电流接触器14此外包括围绕接触销16的引导套筒20。螺母22被旋拧到引导套筒20上。引导套筒20以可轴向运动的方式支承在壳体部分24内。为了使高电流接触器14与高电流插座10接触，将接触销16引入到高电流插座10内。在此，螺母22的端侧靠放面26与高电流插座10的端侧靠放面28接触。如果现在将高电流接触件14进一步压到高电流插座10上，则由于端侧靠放面26、28之间的接触，引导套筒20相对于接触销16向后移动。
以可轴向运动的方式支承在壳体部分24内的引导套筒20在此可以从此处所示的初始位置运动到相对于接触销16回缩的接触位置。在引导套筒20的初始位置中，引导套筒20防止接触段18自主地径向张开。径向被预张紧的接触段18在此通过引导套筒20在径向方向上被保持压在一起，使其外径小于内接触面12的内径或高电流插座10的内径。接触销16因此可以无接触地被引入到高电流插座10内，因为开槽的接触段18被保持为在径向方向上压在一起。
只要将高电流接触器14足够牢固地压到高电流插座10上，则引导套筒20运动到回缩的接触位置，与在此所示的初始位置相比，接触段18在回缩的接触位置沿轴向方向从导套20伸出更远。在引导套筒20的此回缩的接触位置中，引导套筒20允许从引导套筒20轴向伸出的接触段18的自主的径向张开，以用于接触高电流插座10的内接触面12。引导套筒20从在此所示的初始位置向后移动越远，则其使得接触段18径向张开的程度越大。最晚在到达回缩的接触位置时，接触段18沿径向方向的张开程度已使其靠放在高电流插座10的内接触面12上。由此确保高电流接触器14与高电流插座10之间的可靠的电接触。
例如，在此处所示的引导套筒20的初始位置中，开槽的接触段18的外径可以为大约12.7毫米至13.4毫米。在到达引导套筒20的回缩的接触位置时，接触段18沿径向方向张开至例如15毫米。引导套筒20从初始位置到回缩的接触位置的工作行程在此例如可以是6至7毫米。
因此，径向被预张紧的开槽的接触段18类似于张紧钳的形式起作用，当引导套筒20在将高电流接触器14压到高电流插座10上的过程中被压回时，所述接触段18可以自主地径向展宽或张开。接触段18在此可以无损坏地被引入到高电流插座10内，因为在引入过程中接触段18不在高电流插座10的内接触面12上摩擦。特别地，防止了对接触段18的磨损或损坏，使得高电流接触器14可以非常多的高电流插座10的大量的插接循环或检测循环。
在图3中以侧视剖视图示出了高电流接触器14。引导套筒20具有锥形的内部部分30，所述内部部分30在引导套筒20从初始位置运动到回缩的接触位置时与接触销16的锥形的外部部分32协作，并且由此允许了接触段18的自主的张开。在此再次示出了引导套筒20处于其初始位置，在此初始位置中为避免从引导套筒20轴向伸出的接触段18和高电流插座10的内接触面12之间的接触，引导套筒阻止接触段18的自主的径向张开。如可见，在此初始位置中，接触段18被定向成平行于高电流接触器14的纵向轴线。
引导套筒20借助于复位弹簧34以可轴向运动的方式支承在壳体部分24内，所述复位弹簧将朝初始位置的方向的复位力施加到引导套筒20上。因此，复位弹簧34根据当前图示将引导套筒20向右推。如果不再将高电流接触器14压到高电流插座10上，则复位弹簧34因此自动导致引导套筒20向右移动，即移入此处所示的引导套筒20的初始位置。锥形的内部部分30和锥形的外部部分32对应地沿彼此滑动，其结果是先前张开的接触段18再次在径向方向上被压在一起。因此，可以将接触段18从高电流插座10拉出，而不在高电流插座10的内接触面12上磨蚀。
接触销16借助于弹簧36与引导套筒20连接。此弹簧36用作防止过载的机械保护，例如在将压力施加到接触销16上时。如果例如在试图将接触销16引入到高电流插座10内时无意中将高电流接触器14压到高电流插座10的端侧靠放面28上，则弹簧36可以被压缩，其结果是可以避免损坏接触段18。
接触销16具有径向向外延伸的凸缘38，所述凸缘38防止引导套筒20从回缩的接触位置运动超出初始位置。如可见，引导套筒20以端侧靠放在凸缘38上。复位弹簧34因此不能使引导套筒20相对于接触销16移动超出在此所示的位置。
另一靠放面40与螺母22的端侧靠放面26对置。与接触销16的径向向外延伸的凸缘38相结合，此靠放面40导致引导套筒20的(根据本图示的)从初始位置朝回缩的接触位置的方向的向左移动受到限制。通过以螺母22的端侧靠放面26将高电流接触器14压住或压紧到高电流插座10的端侧靠放面28上，因此引导套筒20只能向后被推到直至螺母22的靠放面40与凸缘38接触。因此，不能压下超过回缩的接触位置。因此，径向被预张紧的接触段18也不能被意外地过宽地张开。
通过改变螺母22的轴向位置，可以改变引导套筒20的回缩的接触位置，并且因此可以改变通过接触段18可施加到高电流插座10的内接触面12上的接触力。为改变螺母22的靠放面40和接触销的凸缘38之间的最大距离，仅需简单地将螺母22根据本图示进一步向左或向右螺旋。根据本图示，螺母22越向右螺旋，即越向接触销16的自由端的方向螺旋，则引导套筒20可以运动得距离接触销16的自由端越远。由此可以调节接触段18可以展宽多远。当然，在将接触段引入到高电流插座10内时，接触段18的展宽受到高电流插座10的限制。因此，通过改变螺母22的轴向位置可以改变接触段18施加到内接触面12上的压紧力。
接触段18中的两个在其相应的接触区域内具有相应的孔42，所述孔42可以与高电流插座10的内接触面12接触。在孔42上分别开口有用于电阻测量的检测导线44、46和未详细图示的用于温度测量的另一检测导线。为了测量电阻，例如可通过检测导线44、46进行四极测量或开尔文测量。在此未特别标记的传感器装置，例如具有开尔文接触器形式的传感器装置，可以集成在孔42内以用于四导体测量。
在高电流接触器14已与高电流插座10导电接触时，未详细图示的用于温度测量的检测导线用于在检测过程期间监测温度。在接触段18的至少一个接触区域内布置有传感器装置，例如温度感应器，以用于温度测量。
检测导线44、46和用于温度测量的未详细图示的检测导线和在此未详细图示的传感器装置被设计为用于高于200度的温度。检测导线44、46和用于温度测量的未进一步图示的检测导线在相应的为此专门制造的并且在此未详细图示的槽内沿接触销16敷设直至背对接触段18的纵向端部48。在此处，检测导线44、46和用于温度测量的未进一步图示的检测导线可以连接在此处未示出的连接部上，以能够评估电阻测量和温度测量。在此连接部上可连接有未进一步图示的上级控制单元。用于电阻测量的传感器装置被设计为通过检测导线44、46将代表电阻测量的测量数据传输到上级控制单元处。同样，用于温度测量的传感器装置被设计为通过在此未详细图示的用于温度测量的检测导线将代表温度测量的测量数据传输到上级控制单元处。
壳体封闭件50用于将引导套筒20沿径向方向固定在壳体部件24内。封闭螺母52将壳体部分24与接触销16连接，并且因此防止接触销16脱落。接触销16上的螺纹54在此接收封闭螺母52。防松螺母56此外旋拧到螺纹54上。沿轴向方向在封闭螺母52和防松螺母56之间存在足够的空间，以例如设置电缆靴和导线，以确保高电流接触器14的供电。
接触销16具有用于向接触段18供给气态冷却介质的冷却剂孔58。如已提及，在检测过程中，很高的电流可能在高电流接触器14和高电流插座10之间流动。其结果是高电流插座10和接触段18可能明显发热。在背对接触段18的纵向端部48上设有用于供给气态冷却介质的连接部60。
通过旋拧在螺纹54上的连接螺母62，可以将例如压缩空气软管固定在连接部60上。连接部60和冷却剂孔58(例如借助压缩空气)实现了高电流接触器14的冷却，特别是接触段18的冷却。这用于降低由于高电流并且特别是由于短循环时间而导致的温度。一系列测试已表明，从压力空气源的1巴的压力起，接触位置的温度(即接触段18和高电流插座10的内接触面12上的温度)已降低一半。
通过接触段18的张紧钳的原理实现了大的接触面，所述接触面与冷却相结合确保了在高电流接触器14上和在高电流插座10上的良好的散热。所阐述的高电流接触器14的原理可以用于带有不同的直径的不同的高电流插座10。
附图标记列表
10 高电流插座
12 内接触面
14 高电流接触器
16 接触销
18 接触段
20 引导套筒
22 螺母
24 壳体部分
26 螺母的端侧靠放面
28 高电流插座的端侧靠放面
30 引导套筒的锥形的内部部分
32 接触销的锥形的外部部分
34 复位弹簧
36 弹簧
38 接触销的凸缘
40 螺母的靠放面
42 接触段内的孔
44 用于电阻测量的检测导线
46 用于电阻测量的检测导线
48 接触销的背对接触段的纵向端部
50 壳体封闭件
52 封闭螺母
54 接触销的螺纹
56 防松螺母
58 冷却剂孔
60 用于供给气态冷却介质的连接部
62 连接螺母

Claims (12)

1.一种用于接触高电流插座(10)的高电流接触器(14)，其包括：
-用于引入到所述高电流插座(10)内的接触销(16)，所述接触销带有沿径向方向开槽的多个接触段(18)，以用于接触所述高电流插座(10)的内接触面(12)；
-包围所述接触销(16)的引导套筒(20)，所述引导套筒通过至少间接地以端侧压紧到所述高电流插座(10)上而能够相对于所述接触销(16)从初始位置沿轴向方向运动到相对于所述接触销(16)回缩的接触位置，在所述初始位置中所述引导套筒(20)阻止所述接触段(18)的自主的径向张开，以避免从所述引导套筒(20)轴向伸出的所述接触段(18)和所述内接触面(12)之间的接触，在所述回缩的接触位置中所述引导套筒(20)允许从所述引导套筒(20)轴向伸出的所述接触段(18)的自主的径向张开，以用于接触所述内接触面(12)；
-其中，用于测量至少一个物理特性的检测导线(44、46)通向所述接触段(18)的至少一个接触区域。
2.根据权利要求1所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述接触套筒(20)具有锥形的内部部分(30)，所述内部部分在所述引导套筒(20)从所述初始位置运动到所述回缩的接触位置时与所述接触销(16)的锥形的外部部分(32)协作，并且由此允许所述接触段(18)的自主的张开。
3.根据权利要求1或2所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述引导套筒(20)借助于复位弹簧(34)以可轴向运动的方式支承在壳体部分(24)内，所述复位弹簧将朝初始位置的方向的复位力施加到所述引导套筒(20)上。
4.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述接触销(16)借助于弹簧(36)与所述引导套筒(20)连接。
5.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述接触销(16)具有径向向外延伸的凸缘(38)，所述凸缘(38)防止所述引导套筒(20)从所述回缩的接触位置运动超出所述初始位置。
6.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，螺母(22)以用于所述高电流插座(10)的端侧靠放面(26)螺旋到所述引导套筒(20)上，其中，通过改变所述螺母(22)的轴向位置能够改变所述引导套筒(20)的所述回缩的接触位置，并且因此能够改变通过所述接触段(18)能够施加到所述高电流插座(10)的内接触面(12)上的接触力。
7.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述物理特性是电阻和/或温度。
8.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，在所述接触段(18)的至少一个接触区域内布置有用于电阻测量的传感器装置，并且所述传感器装置与所述检测导线(44、46)连接，其中，所述传感器装置被设计为将代表电阻测量的测量数据通过所述检测导线(44、46)传输到上级的控制单元。
用于电阻测量的检测导线(44、46)通向所述接触段18的至少一个接触区域。
9.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，在所述接触段(18)的至少一个接触区域内布置有用于温度测量的传感器装置，并且所述传感器装置与所述检测导线(44、46)连接，其中所述传感器装置被设计为将代表温度测量的测量数据通过所述检测导线(44、46)传输到上级的控制单元或者传输到另外的控制单元。
10.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述接触销(16)具有用于将气态冷却介质供给到所述接触段(18)的冷却剂孔(58)。
11.根据权利要求10所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述接触销(16)在其背对所述接触段(18)的纵向端部(48)上具有用于供给气态冷却介质的连接部(60)。
12.根据前述权利要求中任一项所述的高电流接触器(14)，其特征在于，所述高电流接触器(14)具有镍银覆层。
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