CN112285540B - 一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路，该方法包括：检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。该方法可以提高光耦故障检测的准确性。

Description

一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路

技术领域

本申请涉及汽车电子及工业控制技术领域，尤其涉及一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路。

背景技术

嵌入式系统通过DIO(Digit Input/Output，数字输入/输出端口)口获取与外界连接的端口状态信息，由于系统外部环境复杂，很容易将高压或负电压引入电路，导致系统非预期的情况发生，大大降低系统的可靠性，因此，可以采用电气隔离的方式检测外部信号状态的变化。常用的输入光耦隔离电路的示意图可以如图1所示。

目前，为了检测输入光耦隔离电路是否存在故障，可以采用图2所示的控制检测电路验证光耦(OC(opticalcoupler)1)是否发生故障。

在图2所示控制检测电路中，预先定义检测输入端(D1X)的安全态为低电平(逻辑表达为0)，系统不需要处理。当MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)在检测到检测输出端(GP1X)输出高电平(逻辑表达为1)时，MCU控制控制端(GP2X_Control)输出高电平，以使OC2处于工作状态；此时，若D1X输入高电平，则当MCU检测到GP1X由输出高电平变化为输出低电平(即发生1→0的跳变)时，确定OC1和OC2正常；当MCU检测到GP1X保持输出高电平，则确定OC1或/和OC2故障。

然而实践发现，上述控制检测电路中，D1X输入低电平和OC1故障的状态耦合，即当MCU检测到GP1X输出高电平时，若D1X输入低电平(OC1处于关闭状态)，则无论OC1是否故障，GP1X均保持输出高电平，即无法检测出OC1是否存在故障。

发明内容

有鉴于此，本申请提供一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路。

具体地，本申请是通过如下技术方案实现的：

根据本申请实施例的第一方面，提供一种输入采集控制检测方法，包括：

检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；

当所述输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；

当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示所述输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定所述输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；

当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定所述第一光耦发生故障。

根据本申请实施例的第二方面，提供一种输入采集控制检测电路，包括输入光耦隔离电路，所述输入光耦隔离电路的输出端与微控制单元相连，其特征在于，所述输入采集控制检测电路还包括叠加电路，所述叠加电路的输入端与所述微控制单元的控制端相连；所述叠加电路的输出端连接到所述输入光耦隔离电路的输入端；

输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，所述微控制单元的控制端向叠加电路输出检测控制信号，所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号。

本申请实施例的输入采集控制检测方法，通过在检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，并检测输入光耦隔离电路输出的信号是否发生变化；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变化为第一信号时，确定第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号保持为第二信号时，确定第一光耦发生故障，提高了光耦故障检测的准确性。

附图说明

图1是一种输入光耦隔离电路的结构示意图；

图2是一种控制检测电路的结构示意图；

图3是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测方法的流程图；

图4是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测方法的流程图；

图5是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测方法的流程图；

图6是本申请一示例性实施例示出的一种输入采集控制检测电路的结构示意图；

图7A是本申请一示例性实施例示出的一种具体场景中的输入采集控制检测电路的结构示意图；

图7B是本申请又一示例性实施例示出的一种具体场景中的输入采集控制检测电路的结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

为了使本领域技术人员更好地理解本申请实施例提供的技术方案，并使本申请实施例的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请实施例中技术方案作进一步详细的说明。

请参见图3，为本申请实施例提供的一种输入采集控制方法的流程示意图，如图3所示，该输入采集控制方法可以包括以下步骤：

需要说明的是，本发明实施例提供的输入采集控制方法可以应用于输入采集控制电路中的微处理单元(MCU)；其中，输入采集控制电路的结构可以在下文中进行说明。

步骤S300、检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号。

本申请实施例中，MCU与输入光耦隔离电路的输出端相邻，并检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号。

为便于描述，下文中将输入光耦隔离电路进行了光电转换时输出的信号称为第一信号，即当输入光耦隔离电路中的光耦未发生故障，且导通时，输入光耦隔离电路的输出端输出第一信号；将输入光耦隔离电路未进行光电转换时输出的信号称为第二信号，即当输入光耦隔离电路中的光耦发生故障，或未发生故障，但未导通时，输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号。

步骤S310、当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于该检测信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号。

本申请实施例中的，考虑到输入光耦隔离电路输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号(即上述第二信号)可能是由于第一光耦发生故障导致的，也可能是第一光耦未发生故障，但输入电平不满足工作条件导致的。因此，可以通过检测第一光耦的输入电平满足工作条件后，输入光耦隔离电路输出端输出的信号是否发生变化，确定当前输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号的原因。

示例性的，当输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障，且输入电平满足工作条件时，输入光耦隔离电路会进行光电转换。

相应地，在本申请实施例中，当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，MCU向叠加电路输出检测控制信号，该检测控制信号用于触发叠加电路向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，即叠加电路向输入光耦隔离电路输出该叠加控制信号，可以使第一光耦的输入电平满足工作条件，即第一光耦中的发光二极管的正极和负极之间的电平差在发光二极管的工作范围内。

举例来说，由于输入光耦隔离的输入端输入电平一般输入第一光耦中的二极管的正极，二极管的负极一般接地，且正常状态(光耦未发生故障，且不存在外部电平叠加的情况)下，输入光耦隔离电路的输入端输入高电平时，光耦隔离电路中的第一光耦的输入电平会满足工作条件；输入光耦隔离电路的输入端输入低电平时，光耦隔离电路中的第一光耦的输入电平会不满足工作条件。

因此，在检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，为了使第一光耦的输入电平满足工作条件，可以通过叠加外部信号，使得在输入光耦隔离电路的输入端输入高电平或低电平的情况下，第一光耦的输入电平均能满足工作条件。

步骤S320、当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变化为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障。

步骤S330、当检测到输入光耦隔离电路输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。

本申请实施例中，考虑到若第一光耦未发生故障，则当第一光耦的输入电平满足工作条件时，第一光耦会导通，输入光耦隔离电路会进行光电转换，输入光耦隔离电路的输出端会输出第一信号。

因此，MCU向叠加电路输出检测控制信号时，可以检测光耦隔离电路的输出端输出的信号是否变化。

示例性的，当MCU向叠加电路输出控制检测信号时，若检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变化为第一信号，则可以确定第一光耦未发生故障，并确定步骤S300中检测到的输出光耦隔离电路的输出端输出第二信号是由于第一光耦的输入电平不满足工作状态导致的。

示例性的，当MUC向叠加电路输出控制检测信号时，若检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变化为第一信号，则可以确定输入光耦电路的输入端输入低电平。

若检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出第二信号，则MCU可以确定第一光耦发生故障。

可见，在图3所示方法流程中，通过在检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，并检测输入光耦隔离电路输出的信号是否发生变化；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变化为第一信号时，确定第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号保持为第二信号时，确定第一光耦发生故障，提高了光耦故障检测的准确性。

请参见图4，为本申请实施例提供的另一种输入采集控制方法的流程示意图，如图4所示，该输入采集控制方法可以包括以下步骤：

步骤S400、检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号。

步骤S410、当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向隔离变换电路/芯片的输入端输出高电平，以使隔离变换电路/芯片基于高电平向输入光耦隔离电路输出负电平。

本申请实施例中，以叠加电路为隔离变换电路/芯片为例，该隔离变换电路/芯片的输出端与输入光耦隔离电路中的第一光耦中的发光二极管的负极相连，其具体电路结构将在下文中结合具体实例进行说明，本申请实施例在此不做赘述。

本申请实施例中，当MCU检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，MCU向隔离变换电路/芯片的输入端输出高电平(即上述检测控制信号为高电平)，触发隔离变换电路/芯片向输入光耦隔离电路中的第一光耦中的发光二极管的负极输出负电平(即上述叠加控制信号为负电平)。

此时，在输入光耦隔离电路的输入端输入高电平或低电平的情况下，均能使第一光耦的输入电平满足工作条件。

步骤S420、当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变化为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障。

步骤S430、当检测到输入光耦隔离电路输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。

本申请实施例中，考虑到若第一光耦未发生故障，则当第一光耦的输入电平满足工作条件时，第一光耦会导通，输入光耦隔离电路会进行光电转换，输入光耦隔离电路的输出端会输出第一信号。

因此，MCU向隔离变换电路/芯片的输入端输出高电平时，可以检测光耦隔离电路的输出端输出的信号是否变化。

示例性的，当MCU向隔离变换电路/芯片的输入端输出高电平时，若检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变换为第一信号，则可以确定第一光耦未发生故障，并确定步骤S400中检测到的输出光耦隔离电路的输出端输出第二信号是由于第一光耦的输入电平不满足工作状态导致的。

若检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出第二信号，则MCU可以确定第一光耦发生故障。

请参见图5，为本申请实施例提供的另一种输入采集控制方法的流程示意图，如图5所示，该输入采集控制方法可以包括以下步骤：

步骤S500、检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号。

步骤S510、当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向第二光耦输出高电平，以使第二光耦基于高电平向或门的另一输入端输出高电平。

本申请实施例中，以隔离电路为第二光耦为例。

在一个示例中，检测输入光耦隔离电路的输入端与第一光耦中的发光二极管的正极之间部署有或门，检测输入光耦隔离电路的输入端与或门的一个输入端相连，或门的输出端与第一光耦中的发光二极管的正极相连；

第二光耦中的三极管的集电极与或门的另一输入端相连，其具体电路结构将在下文中结合具体实例进行说明，本申请实施例在此不做赘述。

本申请实施例中，当MCU检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，MCU向第二光耦输出高电平(即上述检测控制信号为高电平)，触发第二光耦向或门的另一输入端输出高电平(即上述叠加控制信号为负电平)。

此时，在输入光耦隔离电路的输入端输入高电平或低电平的情况下，均能使第一光耦的输入电平满足工作条件。

步骤S520、当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变化为表示输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障。

步骤S530、当检测到输入光耦隔离电路输出端保持输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定第一光耦发生故障。

本申请实施例中，考虑到若第一光耦未发生故障，则当第一光耦的输入电平满足工作条件时，第一光耦会导通，输入光耦隔离电路会进行光电转换，输入光耦隔离电路的输出端会输出第一信号。

因此，MCU向第二光耦输出高电平时，可以检测光耦隔离电路的输出端输出的信号是否变化。

示例性的，当MCU向第二光耦输出高电平时，若检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变换为第一信号，则可以确定第一光耦未发生故障，并确定步骤S500中检测到的输出光耦隔离电路的输出端输出第二信号是由于第一光耦的输入电平不满足工作状态导致的。

若检测到输入光耦隔离电路的输出端保持输出第二信号，则MCU可以确定第一光耦发生故障。

请参见图6，为本申请实施例提供的一种输入采集控制检测电路的结构示意图，如图6所示，该输入采集控制检测电路包括输入光耦隔离电路610、微控制单元(MCU)620以及叠加电路630；其中，输入光耦隔离电路610的输出端(图中示为GP1X)与MCU460相连，叠加电路630的输入端与MCU620的控制端(图中示为GP2X_Control)相连，叠加电路630的输出端与输入光耦隔离电路中的输入端相连。

需要说明的是，上述输入采集控制检测电路(包括输入光耦隔离电路610或/和叠加电路630的输入/输出端还可以根据需求部署电容或/电阻，接地或连接特定电源)，其具体实现可以在下文中结合具体实例进行图示，本申请实施例在此不做赘述。

本申请实施例中，当输入光耦隔离电路的输出端输出表示输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，MCU620的控制端向叠加电路输出检测控制信号，该叠加电路基于该检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号。

示例性的，当输入光耦隔离电路610进行了光电转换时，即输入光耦隔离电路610中的第一光耦611未故障，且输入电平满足工作条件时，输入光耦隔离电路610的输出端输出第一信号；当输入光耦隔离电路620未进行光电转换，即第一光耦611故障，或未故障，但输入电平不满足工作条件时，输入光耦隔离电路610的输出端输出第二信号。

当MCU620向叠加电路630输出检测控制信号时，叠加电路630基于检测控制信号向输入光耦隔离电路610输出触发光电转换的叠加控制信号，此时，输入光耦隔离电路610中的第一光耦611的输入电平满足工作条件。

为了使本领域技术人员更好地理解本申请实施例提供的技术方案，下面结合具体应用场景对本申请实施例提供的技术方案进行说明。

实施例一

请参见图7A，为本申请实施例提供的一种输入采集控制检测电路的结构示意图，如图7A所示，在该实施例中，以叠加电路包括隔离变化电路/芯片为例。

在该实施例中，输入采集控制检测电路的工作逻辑如下所示：

1、隔离变换电路/芯片在未工作的情况下，偏置开关将G1X与PGND(保护地)导通。在D1X输入高电平的情况下，OC1(第一光耦)导通(发光二极管正极为高电平，负极接地，正常工作，发出光线，受光体(三极管)接收光线导通)，GP1X与GND(地)接通，GP1X输出低电平(即上述第一信号为低电平)。当MCU检测到GP1X输出低电平时，确定OC1处于正常工作状态(即未发生故障，且导通)。

2、当MCU检测到GP1X输出高电平(表示OC1未导通，输入光耦隔离电路未进行光电转换，即上述第二信号为高电平)的情况下，MCU控制GP2X_Control输出高电平(即上述检测控制信号为高电平)，使能隔离变换电路/芯片，偏置开关将G1X与PGND断开，隔离变换电路/芯片向OC1中的发光二极管的负极输出负电平(即上述叠加控制信号为负电平)，D1X输入为高电平或低电平的情况下均导通OC1，若OC1未发生故障，则GP1X输出发生跳变(1→0)，从而验证OC1是否故障。

3、GP1X输出为低电平的情况下不对OC1进行校验检测。

示例性的，图7A所示输入采集控制检测电路的逻辑电路真值表如表1所示：

表1

根据表1可知，初始状态下，GP2X_Contral＝0(即输出低电平)，若GP1X＝0(即输出低电平)，则确定OC1未发生故障(即正常)，D1X＝1(输入高电平)，OC1导通；若GP1X＝1(即输出高电平)，则确定OC1未导通，此时，当确定D1X＝1时，确定OC1发生故障(即失效)，当不确定D1X＝0或D1X＝1时，控制GP2X_Contral＝1(即输出高电平)，使能隔离变换电路/芯片，向OC1中的发光二极管的负极输入负电平，若GP1X发生1→0跳变，则确定OC1未发生故障；若GP1X保持为1，则确定OC1发生故障。

实施例二

请参见图7B，为本申请实施例提供的另一种输入采集控制检测电路的结构示意图，如图7B所示，在该实施例中，以叠加电路包括第二光耦为例。

在该实施例中，不同于图7A所示的光耦，VCC通过二极管与第一光耦(该实施例中为OC3)中的三极管的基极相连(图7A中，OC1中的三极管的集电极与VCC相连))，当OC3导通时，GP1X输出高电平；D1X与OC3的正极之间部署有或门，D1X与或门的一个输入端相连，或门的输出端与OC3中的发光二极管的正极相连；第二光耦(该实施例中为OC4)中的三极管的集电极与或门的另一输入端相连。

在该实施例中，输入采集控制检测电路的工作逻辑如下所示：

1、OC4在未导通的情况下，OC4向或门的输入端输入低电平(即参与或逻辑运算的为0)，因此，OC3输入的电平为D1X实际输入的电平(即当D1X实际输入高电平(1)时，OC3输入高电平；当D1X实际输入低电平(0)时，OC3输入低电平)。在D1X输入高电平的情况下，OC3(第一光耦)导通，VCC与GP1X接通，GP1X输出高电平(即上述第一信号为高电平)。当MCU检测到GP1X输出高电平时，确定OC1处于正常工作状态。

2、当MCU检测到GP1X输出低电平(表示OC3未导通，输入光耦隔离电路未进行光电转换，即上述第二信号为低电平)的情况下，MCU控制GP2X_Control输出高电平(即上述检测控制信号为高电平)，使能OC4(第二光耦)控制电路，若OC4未发生故障，则OC4导通，向或门输入端输入高电平(1)(即上述叠加控制信号为高电平)，D1X输入为高电平或低电平的情况下，或门均输出高电平，导通OC3，若OC3未发生故障，则GP1X输出发生条件(0→1)，从而验证OC3是否故障。

3、GP1X输出高电平的情况下不对OC3进行校验检测。

示例性的，图7B所示输入采集控制检测电路的逻辑电路真值表如表2所示：

表2

根据表2可知，初始状态下，GP2X_Control＝0(即输出低电平)，若GP1X＝1(即输出高电平)，则确定OC3未发生故障(即正常)，D1X＝1(输入高电平)，OC3导通；若GP1X＝0(即输出低电平)，则确定OC3未导通，此时，当确定DX1时，确定OC3发生故障(即失效)，当不确定DX1＝0或D1X＝1时，控制GP2X_Control＝1(即输出高电平)，使能OC4控制电路，OC4导通，向或门的输入端输出高电平，若GP1X发生0→1跳变，则确定OC3未发生故障；若GP1X保持为0，则确定OC3/OC4故障。

本申请实施例中，通过在检测到输入光耦隔离电路的输出端输出第二信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使叠加电路基于检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，并检测输入光耦隔离电路输出的信号是否发生变化；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号由第二信号变化为第一信号时，确定第一光耦未发生故障；当检测到输入光耦隔离电路的输出端输出的信号保持为第二信号时，确定第一光耦发生故障，提高了光耦故障检测的准确性。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种输入采集控制检测方法，其特征在于，包括：

检测输入光耦隔离电路的输出端输出的信号；

当所述输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；

当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示所述输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，确定所述输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；

当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，确定所述第一光耦发生故障。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述叠加电路包括隔离变换电路/芯片；所述隔离变换电路/芯片的输出端与所述输入光耦隔离电路中的第一光耦中的发光二极管的负极相连；

所述向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，包括：

向所述隔离变换电路/芯片的输入端输出高电平，以使所述隔离变换电路/芯片基于所述高电平向输入光耦隔离电路输出负电平。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测输入光耦隔离电路的输入端与所述第一光耦中的发光二极管的正极之间部署有或门，所述检测输入光耦隔离电路的输入端与所述或门的一个输入端相连，所述或门的输出端与所述第一光耦中的发光二极管的正极相连；

所述叠加电路包括第二光耦，所述第二光耦中的三极管的集电极与所述或门的另一输入端相连。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述向叠加电路输出检测控制信号，以使所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号，包括：

向所述第二光耦输出高电平，以使所述第二光耦基于所述高电平向所述或门的另一输入端输出高电平。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端由输出的信号变换为表示所述输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，所述方法还包括：

确定所述输入光耦隔离电路的输入端输入低电平。

6.一种输入采集控制检测电路，包括输入光耦隔离电路，所述输入光耦隔离电路的输出端与微控制单元相连，其特征在于，所述输入采集控制检测电路还包括叠加电路，所述叠加电路的输入端与所述微控制单元的控制端相连；所述叠加电路的输出端连接到所述输入光耦隔离电路的输入端；

输入光耦隔离电路的输出端输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，所述微控制单元的控制端向叠加电路输出检测控制信号，所述叠加电路基于所述检测控制信号向输入光耦隔离电路输出触发光电转换的叠加控制信号；

当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端输出的信号变换为表示所述输入光耦隔离电路进行了光电转换的信号时，所述微控制单元确定所述输入光耦隔离电路中的第一光耦未发生故障；

当检测到所述输入光耦隔离电路的输出端保持输出表示所述输入光耦隔离电路未进行光电转换的信号时，所述微控制单元确定所述第一光耦发生故障。

7.根据权利要求6所述的输入采集控制检测电路，其特征在于，所述叠加电路包括隔离变换电路/芯片；

所述隔离变换电路/芯片的输出端与所述输入光耦隔离电路中的第一光耦中的发光二极管的负极相连。

8.根据权利要求7所述的输入采集控制检测电路，其特征在于，所述检测控制信号为高电平；所述叠加控制信号为负电平。

9.根据权利要求6所述的输入采集控制检测电路，其特征在于，所述输入采集控制检测电路还包括或门；

所述检测输入光耦隔离电路的输入端与所述或门的一个输入端相连，所述或门的输出端与所述第一光耦中的发光二极管的正极相连；

所述叠加电路包括第二光耦，所述第二光耦中的三极管的集电极与所述或门的另一输入端相连。

10.根据权利要求9所述的输入采集控制检测电路，其特征在于，所述检测控制信号为高电平；所述叠加控制信号为高电平。