CN203490339U - 一种光电耦合器故障测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试领域,特别是一种光电耦合器故障判断测试装置。其由供电电池U1、带锁活动插座,分压限流电路,输出指示电路及转换开关电路连接组成;分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp串联组成;输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4,及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5;转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成,本实用新型独立供电,可以单独使用,便于携带,实用方便、电路结构简单,测试精确且兼容性高。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试领域,特别是一种光电耦合器故障判断测试装置。
背景技术
光电耦合器作为电路隔离器件,起到信号隔离、耦合传输作用已经在家用电器、变频器等工业生产各领域得到了广泛的应用。若上述应用了光电耦合器的电子设备发生故障时,测试人员在故障诊断过程中,常常需要判断光电耦合器的好坏,常见的方法是利用两块万用表测试,一块万用表用R*1测量光电耦合器输入端,另一个万用表用R*100测量光电耦合器输出端,当输入端导通时,输出端万用表的指针有摆动,则判断光电耦合器正常,这种测试方式不准确,容易误判,影响测试效率。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种高效、成本低且精确判定的光电耦合器测试装置。
本实用新型采用如下技术方案:由供电电池U1、带锁活动插座IC,分压限流电路,输出指示电路及转换开关电路连接组成;所述的分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp串联组成;所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4,及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3 、电阻R4、电阻R5;所述的转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。
进一步的,所述的供电电池U1采用9V可充电电池。
进一步的,所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
本实用新型的积极技术效果:本实用新型采用供电电池独立供电,可以单独使用,便于携带,使用方便。将待测光电耦合器插入带锁活动插座,调整可调电阻阻值,根据对应发光二极管亮度变化来判断光电耦合器是否损坏,测量准确。利用转换开关电路,一通道、二通道、三通道及四通道光电耦合器均可在本实用新型上进行故障测试,兼容性高。
附图说明
附图1 为本实用新型电路原理图。
具体实施方式
如附图1 所示,本实用新型由供电电池U1、带锁活动插座IC,分压限流电路,输出指示电路及转换开关电路连接组成;分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp串联组成组成。输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4,及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3 、电阻R4、电阻R5;转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。供电电池U1采用9V可充电电池,不仅实现电源独立,可单独使用,便于携带,而且电池可循环使用,绿色环保。带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
测试时,调整可调电阻Rp 的阻值可改变A 点电压,供被测光耦芯片内发光二极管的亮度调整,对应光电耦合器内部光敏晶体管的阻值发生变化,从而导致发光二极管LED1~LED4 亮度发生变化。将可调电阻Rp 逐步减小,对应输出的发光二极管逐步变亮,以判断其光电耦合器是否损坏。
实际测试中,根据光电耦合器型号选择转换开关电路的相应开关闭合或关断,进行性能测试。
在十六脚带锁活动插座内放入TLP621 或TLP6214 等系列单路或四路光电耦合器,并锁紧,开关K0 闭合,开关K1 和开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d 不动作, 逐步调整可调电阻Rp 由大到小,此时A 点电压逐渐增大。对应发光二极管LED1 或LED1~LED4 将由灭逐步到全亮。反之逐步调整可调电阻Rp 由小到大,对应发光二极管LED1或发光二极管LED1~LED4 由全亮到灭,判定被测光电耦合器无故障,正常工作。
对四通道光电耦合器测试时,若发光二极管LED1 或发光二极管LED1~LED4 不亮、部分发光二极管不亮,则被测光电耦合器损坏或部分损坏。
对于如4N35 等系列高速光电耦合器进行测试时,可采用以下两种方式测试。
测试方式(一):开关K 0闭合,开关K1断开,开K2a 和开关K2c 闭合,开关K2b 和开关K2d 断开。然后调整可调电阻Rp 由大逐步减小,此时A点逐渐增大,发光二极管LED1由灭到最亮,反之由最亮到灭,普通功能测试结束。若不亮或亮度不可调,该光电耦合器芯片损坏。
测试方式(二):对于高速光电耦合器测试,开关K 0闭合,开关K1 闭合,开关 K2a 和开关K2c闭合,开关K2b 和开关K2d 断开,调整可调电阻Rp 由大到小或反之,发光二极管LED1 恒亮,高速功能测试好结束。若不亮,该光电耦合器芯片损坏。
Claims (3)
1.一种光电耦合器故障测试装置,其特征在于:由供电电池U1、带锁活动插座IC,分压限流电路,输出指示电路及转换开关电路连接组成;所述的分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp串联组成;所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4,及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3 、电阻R4、电阻R5;所述的转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。
2.根据权利要求1所述的一种光电耦合器故障测试装置,其特征在于所述的供电电池U1采用9V可充电电池。
3.根据权利要求1所述的一种光电耦合器故障测试装置,其特征在于所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
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CN112285540A (zh) * | 2019-07-23 | 2021-01-29 | 杭州海康汽车技术有限公司 | 一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路 |
CN112285540B (zh) * | 2019-07-23 | 2024-03-22 | 杭州海康汽车技术有限公司 | 一种输入采集控制检测方法及输入采集控制检测电路 |
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GR01 | Patent grant | ||
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