CN203455432U - 通用型光电耦合器检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种光电耦合器故障判断检测电路。由供电电池、带锁活动插座，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成；输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5；转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成，本实用新型独立供电，可单独使用，便于携带，实用方便、电路结构简单，测试精确且兼容性高。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试领域，特别是一种光电耦合器故障判断检测电路。
背景技术
光电耦合器作为电路隔离器件，起到信号隔离、耦合传输作用已经在家用电器、变频器等工业生产各领域得到了广泛的应用。若上述应用了光电耦合器的电子设备发生故障时，测试人员在故障诊断过程中，常常需要判断光电耦合器的好坏，常见的方法是利用两块万用表测试，一块万用表用R*1测量光电耦合器输入端，另一个万用表用R*100测量光电耦合器输出端，当输入端导通时，输出端万用表的指针有摆动，则判断光电耦合器正常，这种测试方式不准确，容易误判，影响测试效率。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种高效、成本低且精确判定的光电耦合器测试装置。
本实用新型采用如下技术方案：由供电电池U1、带锁活动插座IC，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3 、电阻R4、电阻R5；所述的转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。
进一步的，所述的供电电池U1采用9V可充电电池。
进一步的，所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
本实用新型的积极技术效果：本实用新型采用供电电池独立供电，可以单独使用，便于携带，使用方便。将待测光电耦合器插入带锁活动插座，调整可调电阻阻值，根据对应发光二极管亮度变化来判断光电耦合器是否损坏，测量准确。利用转换开关电路，一通道、二通道、三通道及四通道光电耦合器均可在本实用新型上进行故障测试，兼容性高。
附图说明
附图1 为本实用新型电路原理图。
具体实施方式
如附图1 所示，本实用新型由供电电池U1、带锁活动插座IC，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成组成，均压电阻R6在进行测试多通道光电耦合器时 起到均衡多通道内的多只发光二极管上所加的电压。输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3 、电阻R4、电阻R5；转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。供电电池U1采用9V可充电电池，不仅实现电源独立，可单独使用，便于携带，而且电池可循环使用，绿色环保。带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
测试时，调整可调电阻Rp 的阻值可改变A 点电压，供被测光耦芯片内发光二极管的亮度调整，对应光电耦合器内部光敏晶体管的阻值发生变化，从而导致发光二极管LED1~LED4 亮度发生变化。将可调电阻Rp 逐步减小，对应输出的发光二极管逐步变亮，以判断其光电耦合器是否损坏。
实际测试中，根据光电耦合器型号选择转换开关电路的相应开关闭合或关断，进行性能测试。
在十六脚带锁活动插座内放入TLP621 或TLP6214 等系列单路或四路光电耦合器，并锁紧，开关K0 闭合，开关K1 和开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d 不动作， 逐步调整可调电阻Rp 由大到小，此时A 点电压逐渐增大。对应发光二极管LED1 或LED1~LED4 将由灭逐步到全亮。反之逐步调整可调电阻Rp 由小到大，对应发光二极管LED1或发光二极管LED1~LED4 由全亮到灭，判定被测光电耦合器无故障，正常工作。
对四通道光电耦合器测试时，若发光二极管LED1 或发光二极管LED1~LED4 不亮、部分发光二极管不亮，则被测光电耦合器损坏或部分损坏。
对于如4N35 等系列高速光电耦合器进行测试时，可采用以下两种方式测试。
测试方式（一）：开关K 0闭合，开关K1断开，开K2a 和开关K2c 闭合，开关K2b 和开关K2d 断开。然后调整可调电阻Rp 由大逐步减小，此时A点逐渐增大，发光二极管LED1由灭到最亮，反之由最亮到灭，普通功能测试结束。若不亮或亮度不可调，该光电耦合器芯片损坏。
测试方式（二）：对于高速光电耦合器测试，开关K 0闭合，开关K1 闭合，开关 K2a 和开关K2c闭合，开关K2b 和开关K2d 断开，调整可调电阻Rp 由大到小或反之，发光二极管LED1 恒亮，高速功能测试好结束。若不亮，该光电耦合器芯片损坏。
Claims (3)
1.通用型光电耦合器检测电路，其特征在于：由供电电池U1、带锁活动插座IC，分压限流电路，输出指示电路及转换开关电路连接组成；所述的分压限流电路由电阻R1与可调电阻Rp及均压电阻R6串联组成；所述的输出指示电路包括并联连接的发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4，及分别与发光二极管LED1、发光二极管LED2、发光二极管LED3、发光二极管LED4串联的电阻R2、电阻R3 、电阻R4、电阻R5；所述的转换开关电路由开关K0、开关K1、开关K2a、开关K2b、开关K2c、开关K2d组成。
2.根据权利要求1所述的通用型光电耦合器检测电路，其特征在于所述的供电电池U1采用9V可充电电池。
3.根据权利要求1所述的通用型光电耦合器检测电路，其特征在于所述的带锁活动插座IC采用十六脚带锁活动插座。
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| CN103884942A (zh) * | 2014-03-31 | 2014-06-25 | 苏州热工研究院有限公司 | 一种光电耦合器的老化试验系统及方法 |
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