CN102253288A - E1接口阻抗测试装置及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及数据通信设备的E1接口测试技术。本发明解决了现有E1接口阻抗测试系统中成本较高且效率较低的问题，提供了一种E1接口阻抗测试装置及系统，其技术方案可概括为：E1接口阻抗测试装置，其特征在于，包括输入端、峰值检波单元、窗口比较器单元、逻辑电路单元及显示单元，所述输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接。本发明的有益效果是：提高E1接口阻抗测试效率，降低成本，适用于E1接口阻抗测试系统。
Description
技术领域
本发明涉及数据通信设备的E1接口测试技术，特别涉及E1接口阻抗测试装置及方法。
背景技术
E1是欧洲的30路脉码调制PCM，速率是2.048Mbit/S；E1接口是数据通信设备常见的一种接口形态，尤其在路由器上最为常见，通常一台数据通信设备可提供8到32个E1端口。这些数据通信设备在制造完成出厂的时候需要进行检测，接口阻抗是重要的检测项目之一。
当前E1接口阻抗测试系统结构示意图如图1所示，如果要测试75和120欧姆切换是否成功，通常是通过接口电气特性的电压值来判断切换是否成功。根据标准要求75欧姆峰值电压是2.37±0.237V，120欧姆峰值电压是3±0.3V。因为这里要求的电压都是峰值电压，端口在发送数据时还有低电平。所以该电压值无法通过万用表直接测试，测试时需要将发送和接收端环回进行电压测试，并通过示波器查看电压波形。
以上所述现有E1接口阻抗测试方案的缺点：一方面采用示波器测试仪器成本较高，仪器数量受到限制，而且测试仪器数量少导致测试效率低，对于工厂检验，仪器的操作太复杂。所有有必要提出一种新的E1接口阻抗测试方案。
发明内容
本发明的目的就是克服目前E1接口阻抗测试系统中成本较高且效率较低的缺点，提供一种E1接口阻抗测试装置及系统。
本发明解决其技术问题，采用的技术方案是，E1接口阻抗测试装置，其特征在于，包括输入端、峰值检波单元、窗口比较器单元、逻辑电路单元及显示单元，所述输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接；
所述峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元；
所述窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元；
所述逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息。
具体的，所述峰值检波单元包括二极管D1及电容C1，所述二极管正极与输入端连接，负极作为输出端与窗口比较器单元连接，电容C1的一端与二极管负极连接，另一端与输入端的公共信号地端连接。
进一步的，所述窗口比较器单元包括比较器一、比较器二、比较器三、比较器四、3.3V基准电压输入端、2.7V基准电压输入端、2.607V基准电压输入端及2.133V基准电压输入端，所述比较器一的正相输入端与3.3V基准电压输入端连接，比较器二的负相输入端与2.7V基准电压输入端连接，比较器三的正相输入端与2.607V基准电压输入端连接，比较器四的负相输入端与2.133V基准电压输入端连接，比较器一的负相输入端与比较器二的正相输入端连接，并与比较器三的负相输入端及比较器四的正相输入端连接，再与峰值检波单元连接，比较器一的输出端、比较器二的输出端、比较器三的输出端及比较器四的输出端分别与逻辑电路单元连接。
进一步的，所述装置还包括基准电压源单元，所述基准电压源单元与窗口比较器单元连接，用于为窗口比较器单元提供基准电压。
具体的，所述基准电压源单元包括电容C2、5V电源输入端、并联稳压集成电路、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、3.3V基准电压输出端、2.7V基准电压输出端、2.607V基准电压输出端、2.133V基准电压输出端及地线，所述电阻R1的一端与5V电源输入端连接，另一端与电容C2的一端连接，并与并联稳压集成电路的负极连接，且与电阻R2的一端连接，再与3.3V基准电压输出端连接，电阻R2的另一端与并联稳压集成电路的参考端连接，并与电阻R3的一端连接，电容C2的另一端与地线连接，并联稳压集成电路的正极与地线连接，电阻R3的另一端与地线连接，3.3V基准电压输出端与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端与2.7V基准电压输出端连接，并与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端与2.607V基准电压输出端连接，并与电阻R6的一端连接，电阻R6的另一端与2.133V基准电压连接，并与电阻R7的一端连接，电阻R7的另一端与地线连接。
再进一步的，所述并联稳压集成电路为TL431并联稳压集成电路。
具体的，所述显示单元为指示灯。
再进一步的，所述显示单元包括发光二极管一、发光二极管二、发光二极管三、发光二极管四、发光二极管五及电源，所述发光二极管一、发光二极管二、发光二极管三、发光二极管四及发光二极管五的正极相连，并与电源连接，发光二极管一、发光二极管二、发光二极管三、发光二极管四及发光二极管五的负极分别与逻辑电路单元连接。
E1接口阻抗测试系统，包括被测设备，所述被测设备包括发送端及接收端，其特征在于，还包括E1接口阻抗测试装置及三通头分线器，所述三通头分线器的三个端口分别与被测设备发送端、接收端及E1接口阻抗测试装置连接；所述E1接口阻抗测试装置，包括输入端、峰值检波单元、窗口比较器单元、逻辑电路单元及显示单元，所述输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接；
所述峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元；
所述窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元；
所述逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息。
具体的，所述E1接口阻抗测试装置还包括基准电压源单元，所述基准电压源单元与窗口比较器单元连接，用于为窗口比较器单元提供基准电压。
本发明的有益效果是，通过上述E1接口阻抗测试装置及系统，其采用E1接口阻抗测试装置代替示波器进行检测，由于其结构简单，则相较于示波器每台几千元的价格，成本低廉，且可以做成更多端口同时检测，可以提高检测效率，另外也适用于工厂大批量生产检测，且无需按键操作，直接观察显示单元的显示比示波器更直观、方便，不易出现人为判断错误。
附图说明
图1是现有E1接口阻抗测试系统结构示意图。
图2是本发明实施例的E1接口阻抗测试系统结构示意图。
图3是本发明实施例的E1接口阻抗测试装置的结构示意图。
图4是本发明实施例的基准电压源单元的结构示意图。
其中，U1为比较器一，U2为比较器二，U3为比较器三，U4为比较器四，U5为并联稳压集成电路，D2为发光二极管一，D3为发光二极管二，D4为发光二极管三，D5为发光二极管四，D6为发光二极管五，VCC为5V电源输入端。
具体实施方式
下面结合实施例及附图，详细描述本发明的技术方案。
本发明E1接口阻抗测试系统结构示意图参见图2。本发明的E1接口阻抗测试装置由输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接组成，其中，峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元，窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元，逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息。本发明的E1接口阻抗测试系统由三通头分线器的三个端口分别与被测设备发送端、接收端及E1接口阻抗测试装置连接组成，其中，E1接口阻抗测试装置由输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接组成，峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元，窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元，逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息。
实施例
本实施例的E1接口阻抗测试系统结构示意图参见图2，本例的E1接口阻抗测试装置的结构示意图参见图3，本例的基准电压源单元的结构示意图参见图4。本实施例E1接口阻抗测试装置由输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接，基准电压源单元与窗口比较器单元连接组成，其中，峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元，窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元，逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息，基准电压源单元用于为窗口比较器单元提供基准电压。本例的E1接口阻抗测试系统由三通头分线器的三个端口分别与被测设备发送端、接收端及E1接口阻抗测试装置连接组成，其中，E1接口阻抗测试装置由输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接，基准电压源单元与窗口比较器单元连接组成组成，峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元，窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元，逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息，基准电压源单元用于为窗口比较器单元提供基准电压。
这里，峰值检波单元由二极管D1及电容C1组成，其中，二极管D1正极与输入端连接，负极作为输出端与窗口比较器单元连接，电容C1的一端与二极管D1负极连接，另一端与输入端的公共信号地端连接。
窗口比较器单元由比较器一U1、比较器二U2、比较器三U3、比较器四U4、3.3V基准电压输入端、2.7V基准电压输入端、2.607V基准电压输入端及2.133V基准电压输入端组成，其中，比较器一U1的正相输入端与3.3V基准电压输入端连接，比较器二U2的负相输入端与2.7V基准电压输入端连接，比较器三U3的正相输入端与2.607V基准电压输入端连接，比较器四U4的负相输入端与2.133V基准电压输入端连接，比较器一U1的负相输入端与比较器二U2的正相输入端连接，并与比较器三U3的负相输入端及比较器四U4的正相输入端连接，再与峰值检波单元连接，比较器一U1的输出端、比较器二U2的输出端、比较器三U3的输出端及比较器四U4的输出端分别与逻辑电路单元连接。
基准电压源单元由电容C2、5V电源输入端VCC、并联稳压集成电路U5、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、3.3V基准电压输出端、2.7V基准电压输出端、2.607V基准电压输出端、2.133V基准电压输出端及地线组成，其中，电阻R1的一端与5V电源输入端连接，另一端与电容C2的一端连接，并与并联稳压集成电路U5的负极连接，且与电阻R2的一端连接，再与3.3V基准电压输出端连接，电阻R2的另一端与并联稳压集成电路U5的参考端连接，并与电阻R3的一端连接，电容C2的另一端与地线连接，并联稳压集成电路U5的正极与地线连接，电阻R3的另一端与地线连接，3.3V基准电压输出端与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端与2.7V基准电压输出端连接，并与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端与2.607V基准电压输出端连接，并与电阻R6的一端连接，电阻R6的另一端与2.133V基准电压连接，并与电阻R7的一端连接，电阻R7的另一端与地线连接，并联稳压集成电路U5可以为TL431并联稳压集成电路。
显示单元可以为指示灯，其可以由发光二极管一D2、发光二极管二D3、发光二极管三D4、发光二极管四D5、发光二极管五D6及电源组成，其中，发光二极管一D2、发光二极管二D3、发光二极管三D4、发光二极管四D5及发光二极管五D6的正极相连，并与电源连接，发光二极管一D2、发光二极管二D3、发光二极管三D4、发光二极管四D5及发光二极管五D6的负极分别与逻辑电路单元连接。
测试时，E1接口阻抗测试装置直接对被测设备的信号进行峰值检波，然后经过窗口比较器单元后由逻辑电路单元控制5个指示灯对检测结果进行指示，而75欧姆阻抗特性时电压值在2.133～2.607V之间，120欧姆阻抗特性时电压值在2.7～3.3V之间，由此可以设计定义E1接口阻抗测试装置上面5个发光二极管(D2、D3、D4、D5、D6)含义如表1：
表1：指示灯定义表
则根据表1，可以得出输入信号条件及结果显示对比如表2：
表2：测试状态表
Claims (10)
1.E1接口阻抗测试装置，其特征在于，包括输入端、峰值检波单元、窗口比较器单元、逻辑电路单元及显示单元，所述输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接；
所述峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元；
所述窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元；
所述逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息。
2.如权利要求1所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述峰值检波单元包括二极管D1及电容C1，所述二极管正极与输入端连接，负极作为输出端与窗口比较器单元连接，电容C1的一端与二极管负极连接，另一端与输入端的公共信号地端连接。
3.如权利要求1所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述窗口比较器单元包括比较器一、比较器二、比较器三、比较器四、3.3V基准电压输入端、2.7V基准电压输入端、2.607V基准电压输入端及2.133V基准电压输入端，所述比较器一的正相输入端与3.3V基准电压输入端连接，比较器二的负相输入端与2.7V基准电压输入端连接，比较器三的正相输入端与2.607V基准电压输入端连接，比较器四的负相输入端与2.133V基准电压输入端连接，比较器一的负相输入端与比较器二的正相输入端连接，并与比较器三的负相输入端及比较器四的正相输入端连接，再与峰值检波单元连接，比较器一的输出端、比较器二的输出端、比较器三的输出端及比较器四的输出端分别与逻辑电路单元连接。
4.如权利要求1-3任一项所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述装置还包括基准电压源单元，所述基准电压源单元与窗口比较器单元连接，用于为窗口比较器单元提供基准电压。
5.如权利要求4所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述基准电压源单元包括电容C2、5V电源输入端、并联稳压集成电路、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、3.3V基准电压输出端、2.7V基准电压输出端、2.607V基准电压输出端、2.133V基准电压输出端及地线，所述电阻R1的一端与5V电源输入端连接，另一端与电容C2的一端连接，并与并联稳压集成电路的负极连接，且与电阻R2的一端连接，再与3.3V基准电压输出端连接，电阻R2的另一端与并联稳压集成电路的参考端连接，并与电阻R3的一端连接，电容C2的另一端与地线连接，并联稳压集成电路的正极与地线连接，电阻R3的另一端与地线连接，3.3V基准电压输出端与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端与2.7V基准电压输出端连接，并与电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端与2.607V基准电压输出端连接，并与电阻R6的一端连接，电阻R6的另一端与2.133V基准电压连接，并与电阻R7的一端连接，电阻R7的另一端与地线连接。
6.如权利要求5所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述并联稳压集成电路为TL431并联稳压集成电路。
7.如权利要求4所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述显示单元为指示灯。
8.如权利要求4所述E1接口阻抗测试装置，其特征在于，所述显示单元包括发光二极管一、发光二极管二、发光二极管三、发光二极管四、发光二极管五及电源，所述发光二极管一、发光二极管二、发光二极管三、发光二极管四及发光二极管五的正极相连，并与电源连接，发光二极管一、发光二极管二、发光二极管三、发光二极管四及发光二极管五的负极分别与逻辑电路单元连接。
9.E1接口阻抗测试系统，包括被测设备，所述被测设备包括发送端及接收端，其特征在于，还包括E1接口阻抗测试装置及三通头分线器，所述三通头分线器的三个端口分别与被测设备发送端、接收端及E1接口阻抗测试装置连接；所述E1接口阻抗测试装置，包括输入端、峰值检波单元、窗口比较器单元、逻辑电路单元及显示单元，所述输入端与峰值检波单元连接，峰值检波单元与窗口比较器单元连接，窗口比较器单元与逻辑电路单元连接，逻辑电路单元与显示单元连接；
所述峰值检波单元用于对输入端输入的信号进行峰值检波并传输给窗口比较器单元；
所述窗口比较器单元用于对接收的峰值检波后的信号进行比较，并将比较结果传输给逻辑电路单元；
所述逻辑电路单元用于根据接收到的比较结果进行判断进而控制显示单元显示相应信息。
10.如权利要求9所述E1接口阻抗测试系统，其特征在于，所述E1接口阻抗测试装置还包括基准电压源单元，所述基准电压源单元与窗口比较器单元连接，用于为窗口比较器单元提供基准电压。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20111123 |