CN108107301B

CN108107301B - 光耦测试装置

Info

Publication number: CN108107301B
Application number: CN201810169021.4A
Authority: CN
Inventors: 卢铭; 韦并东; 卢桥
Original assignee: Guangxi Yuchai Machinery Co Ltd
Current assignee: Guangxi Yuchai Machinery Co Ltd
Priority date: 2018-02-28
Filing date: 2018-02-28
Publication date: 2023-09-19
Anticipated expiration: 2038-02-28
Also published as: CN108107301A

Abstract

本发明公开了一种光耦测试装置，包括操作面板和测试电路，所述操作面板上设有指示模块、按钮模块、与光耦的输入端正极对应的正极插座、与光耦的输入端负极对应的负极插座、与光耦的输出端发射极对应的发射极插座、与光耦的输出端集电极对应的集电极插座，所述指示模块包括光耦电源灯、光耦测试灯，所述按钮模块包括光耦上电开关、光耦测试开关，所述测试电路设有第一测试电路和第二测试电路，所述第一测试电路与所述光耦电源灯、光耦上电开关、正极插座和负极插座连接，所述第二测试电路与所述光耦测试灯、光耦测试开关、集电极插座和发射极插座连接。本发明操作简单方便，测试效率高，易于推广。

Description

光耦测试装置

技术领域

本发明涉及光耦测试技术领域，更具体地说，它涉及一种光耦测试装置。

背景技术

光耦又称光电隔离器，一般由三部分组成：光的发射、光的接收、信号放大，它是以光为媒介来传输电信号的器件，光耦包括发光器和受光器，通常把发光器和受光器封装在同一管壳内，当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，光电流经过进一步放大后从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。

光耦主要特点：1.输入和输出端之间绝缘，其绝缘电阻一般都大于10000MΩ，耐压一般可超过1kV；2.信号从发光器单向传输到受光器不会出现反馈，其输出信号不会影响输入端；3.共模抑制比大，可抑制干扰并消除噪音；4.容易和逻辑电路配合；5.响应速度快，时间常数通常在毫秒甚至微秒级。由于它具有体积小、寿命长、无触点、抗干扰能力强、输出和输入之间绝缘、单向传输信号等优点，在数字电路上获得了广泛的应用。

目前，普遍采取万用表测量来测试光耦的好坏，该方法存在以下问题：

1.使用万用表按照正确方可检测出好坏，仅限电子维修人员处理，操作复杂、局限性大；

2.对光耦生产厂家，采用万用表检测，测试效率低，推广性差。

发明内容

本发明要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本发明提供一种操作简单、测试效率高且容易推广的光耦测试装置。

本发明的技术方案是这样的：一种光耦测试装置，包括操作面板和测试电路，所述操作面板上设有指示模块、按钮模块、与光耦的输入端正极对应的正极插座、与光耦的输入端负极对应的负极插座、与光耦的输出端发射极对应的发射极插座、与光耦的输出端集电极对应的集电极插座，所述指示模块包括光耦电源灯、光耦测试灯，所述按钮模块包括光耦上电开关、光耦测试开关，所述测试电路设有第一测试电路和第二测试电路，所述第一测试电路与所述光耦电源灯、光耦上电开关、正极插座和负极插座连接，所述第二测试电路与所述光耦测试灯、光耦测试开关、集电极插座和发射极插座连接。

作为进一步地改进，所述第一测试电路包括第一电源、第一电阻，所述正极插座通过所述光耦上电开关与所述第一电源正极连接，所述第一电阻和光耦电源灯串联后连接于所述负极插座与第一电源负极之间。

进一步地，所述第二测试电路包括第二电源、第二电阻、第三电阻、第四电阻和三极管，所述集电极插座经所述光耦测试开关后分别与所述第二电源正极、三极管的集电极连接，所述发射极插座通过所述第二电阻与所述三极管的基极连接，所述第四电阻和光耦测试灯串联后连接于所述三极管的发射极与第二电源负极之间，所述第三电阻一端与所述发射极插座连接，另一端与所述第二电源负极连接。

进一步地，所述指示模块还包括第一电源灯，所述按钮模块还包括第一电源开关，所述第一测试电路还包括第五电阻，所述第一电源开关连接于所述第一电源正极与光耦上电开关之间，所述第五电阻一端分别与所述第一电源开关和光耦上电开关连接，另一端与所述第一电源灯正极连接，所述第一电源灯负极与所述第一电源负极连接。

进一步地，所述指示模块还包括第二电源灯，所述按钮模块还包括第二电源开关，所述第二测试电路还包括第六电阻，所述第二电源开关连接于所述第二电源正极与光耦测试开关之间，所述第六电阻一端分别与所述第二电源开关和光耦测试开关连接，另一端与所述第二电源灯正极连接，所述第二电源灯负极与所述第二电源负极连接。

有益效果

本发明与现有技术相比，具有的优点为：

1、通过将光耦安装在操作面板上，根据光耦电源灯和光耦测试灯的显示状态即可判断光耦是否合格，还能判断具体是光耦的损坏类型，操作简单方便，测试效率高，易于推广，安全实用，提高维修速度；

2、设置正极插座、负极插座、发射极插座和集电极插座方便于安装光耦，提高测试效率；

3、设置第一电源灯和第二电源灯能显示第一电源和第二电源的好坏，方便于排除电源故障，避免电源故障影响测试工作。

附图说明

图1为本发明中操作面板的结构示意图；

图2为本发明中的电路图。

其中：1-输入端正极、2-输入端负极、3-输出端发射极、4-输出端集电极、5-正极插座、6-负极插座、7-发射极插座、8-集电极插座、9-操作面板、10-测试电路、11-第一测试电路、12-第二测试电路、13-指示模块、14-按钮模块、100-光耦、LED1-第一电源灯、LED2-第二电源灯、LED3-光耦电源灯、LED4-光耦测试灯、J1-第一电源开关、J2-第二电源开关、J3-光耦上电开关、J4-光耦测试开关、R1-第一电阻、R2-第二电阻、R3-第三电阻、R4-第四电阻、R5-第五电阻、R6-第六电阻、Q-三极管。

具体实施方式

下面结合附图中的具体实施例对本发明做进一步的说明。

参阅图1-2，一种光耦测试装置，包括操作面板9和测试电路10，操作面板9上设有指示模块13、按钮模块14、与光耦100的输入端正极1对应的正极插座5、与光耦100的输入端负极2对应的负极插座6、与光耦100的输出端发射极3对应的发射极插座7、与光耦100的输出端集电极4对应的集电极插座8，设置正极插座5、负极插座6、发射极插座7和集电极插座8方便于安装光耦100，提高测试效率，指示模块13包括光耦电源灯LED3、光耦测试灯LED4，按钮模块14包括光耦上电开关J3、光耦测试开关J4，测试电路10设有第一测试电路11和第二测试电路12，第一测试电路11与光耦电源灯LED3、光耦上电开关J3、正极插座5和负极插座6连接，第二测试电路12与光耦测试灯LED4、光耦测试开关J4、发射极插座7和集电极插座8连接，具体的，第一测试电路11包括第一电源V1、第一电阻R1，正极插座5通过光耦上电开关J3与第一电源V1正极连接，第一电阻R1和光耦电源灯LED3串联后连接于负极插座6与第一电源V1负极之间，第二测试电路12包括第二电源V2、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4和三极管Q，集电极插座8经光耦测试开关J4后分别与第二电源V2正极、三极管Q的集电极连接，发射极插座7通过第二电阻R2与三极管Q的基极连接，第四电阻R4和光耦测试灯LED4串联后连接于三极管Q的发射极与第二电源V2负极之间，第三电阻R3一端与发射极插座7连接，另一端与第二电源V2负极连接，通过将光耦100安装在操作面板9上，根据光耦电源灯LED3和光耦测试灯LED4的显示状态即可判断光耦100是否合格，还能判断具体是光耦100的损坏类型，操作简单方便，测试效率高，易于推广，安全实用，提高维修速度。

指示模块13还包括第一电源灯LED1，按钮模块14还包括第一电源开关J1，第一测试电路11还包括第五电阻R5，第一电源开关J1连接于第一电源V1正极与光耦上电开关J3之间，第五电阻R5一端分别与第一电源开关J1和光耦上电开关J3连接，另一端与第一电源灯LED1正极连接，第一电源灯LED1负极与第一电源V1负极连接；指示模块13还包括第二电源灯LED2，按钮模块14还包括第二电源开关J2，第二测试电路12还包括第六电阻R6，第二电源开关J2连接于第二电源V2正极与光耦测试开关J4之间，第六电阻R6一端分别与第二电源开关J2和光耦测试开关J4连接，另一端与第二电源灯LED2正极连接，第二电源灯LED2负极与第二电源V2负极连接；设置第一电源灯LED1和第二电源灯LED2能显示第一电源V1和第二电源V2的好坏，方便于排除电源故障，避免电源故障影响测试工作。

在本实施例中，第一电源V1为5伏直流电源，第二电源V2为24伏直流电源，第一电阻R1的阻值为1000欧姆，第二电阻R2的阻值为100欧姆，第三电阻R3的阻值为1000欧姆，第四电阻R4的阻值为50欧姆，第五电阻R5的阻值为200欧姆，第六电阻R6的阻值为1000欧姆。

光耦测试包括以下具体步骤，

步骤1：将光耦100的输入端正极1、输入端负极2、输出端发射极3和输出端集电极分别插装于正极插座5、负极插座6、发射极插座7和集电极插座8；

步骤2：闭合第一电源开关J1，若第一电源灯LED1亮表示第一电源V1正常并进入步骤2，否则第一电源V1损坏；

步骤3：闭合第二电源开关J2，若第二电源灯LED2亮表示第二电源V2正常并进入步骤3，否则第二电源V2损坏；

步骤4：闭合光耦上电开关J3，若光耦电源灯LED3亮表示满足光耦工作条件并进入步骤4，否则光耦100损坏；

步骤5：闭合光耦测试开关J4，若光耦测试灯LED4亮表示光耦100合格，否则光耦100损坏。

以上所述的仅是本发明的优选实施方式，应当指出对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。

Claims

1.一种光耦测试装置，其特征在于：包括操作面板（9）和测试电路（10），所述操作面板（9）上设有指示模块（13）、按钮模块（14）、与光耦（100）的输入端正极（1）对应的正极插座（5）、与光耦（100）的输入端负极（2）对应的负极插座（6）、与光耦（100）的输出端发射极（3）对应的发射极插座（7）、与光耦（100）的输出端集电极（4）对应的集电极插座（8），所述指示模块（13）包括光耦电源灯（LED3）、光耦测试灯（LED4），所述按钮模块（14）包括光耦上电开关（J3）、光耦测试开关（J4），所述测试电路（10）设有第一测试电路（11）和第二测试电路（12），所述第一测试电路（11）与所述光耦电源灯（LED3）、光耦上电开关（J3）、正极插座（5）和负极插座（6）连接，所述第二测试电路（12）与所述光耦测试灯（LED4）、光耦测试开关（J4）、发射极插座（7）和集电极插座（8）连接；

所述第一测试电路（11）包括第一电源（V1）、第一电阻（R1），所述正极插座（5）通过所述光耦上电开关（J3）与所述第一电源（V1）正极连接，所述第一电阻（R1）和光耦电源灯（LED3）串联后连接于所述负极插座（6）与第一电源（V1）负极之间；

所述第二测试电路（12）包括第二电源（V2）、第二电阻（R2）、第三电阻（R3）、第四电阻（R4）和三极管（Q），所述集电极插座（8）经所述光耦测试开关（J4）后分别与所述第二电源（V2）正极、三极管（Q）的集电极连接，所述发射极插座（7）通过所述第二电阻（R2）与所述三极管（Q）的基极连接，所述第四电阻（R4）和光耦测试灯（LED4）串联后连接于所述三极管（Q）的发射极与第二电源（V2）负极之间，所述第三电阻（R3）一端与所述发射极插座（7）连接，另一端与所述第二电源（V2）负极连接。

2.根据权利要求1所述的光耦测试装置，其特征在于：所述指示模块（13）还包括第一电源灯（LED1），所述按钮模块（14）还包括第一电源开关（J1），所述第一测试电路（11）还包括第五电阻（R5），所述第一电源开关（J1）连接于所述第一电源（V1）正极与光耦上电开关（J3）之间，所述第五电阻（R5）一端分别与所述第一电源开关（J1）和光耦上电开关（J3）连接，另一端与所述第一电源灯（LED1）正极连接，所述第一电源灯（LED1）负极与所述第一电源（V1）负极连接。

3.根据权利要求1所述的光耦测试装置，其特征在于：所述指示模块（13）还包括第二电源灯（LED2），所述按钮模块（14）还包括第二电源开关（J2），所述第二测试电路（12）还包括第六电阻（R6），所述第二电源开关（J2）连接于所述第二电源（V2）正极与光耦测试开关（J4）之间，所述第六电阻（R6）一端分别与所述第二电源开关（J2）和光耦测试开关（J4）连接，另一端与所述第二电源灯（LED2）正极连接，所述第二电源灯（LED2）负极与所述第二电源（V2）负极连接。