CN112161991A - 一种ccd上下协同测试机构 - Google Patents
一种ccd上下协同测试机构 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112161991A CN112161991A CN202011048603.0A CN202011048603A CN112161991A CN 112161991 A CN112161991 A CN 112161991A CN 202011048603 A CN202011048603 A CN 202011048603A CN 112161991 A CN112161991 A CN 112161991A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ccd
- groove
- annular
- ccd device
- annular groove
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 7
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 6
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 claims description 5
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 208000003464 asthenopia Diseases 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
本发明公开了一种CCD上下协同测试机构,包括治具、上层CCD装置以及下层CCD装置,所述治具上表面设有凹槽A,所述凹槽A的槽底设有镂空部A并使所述凹槽A的槽底形成一环形槽底A,所述贴合区和所述产品本体沿竖直方向投影于所述镂空部A,所述环形非贴合区沿竖直方向投影于所述环形槽底A上且所述环形槽底A支撑所述环形非贴合区,所述上层CCD装置设于所述凹槽A的上侧并用于采集产品本体上表面的图像,所述下层CCD装置设于所述凹槽A的下侧并用于采集产品本体下表面的图像。本发明公开的上下协同测试机构,取消多工位,只采用单工位进行测试,单工位结构紧凑,减少调试时间。
Description
技术领域
本发明涉及产品测试领域,具体涉及一种CCD上下协同测试机构。
背景技术
视觉检测系统就是用工业相机代替人眼睛去完成识别,测量,定位等功能。一般视觉检测系统由相机、镜头、光源组合合成,可以代替人工完成条码字符、裂痕、包装、表面图层是否完整、凹陷等检测,使用视觉检测系统能有效的提高生产流水线的检测速度和精度,大大提高产量和质量,降低人工成本,同时防止因为人眼疲劳而产生的误判。现有技术中同一产品的上表面和下表面都需要进行视觉检测时,通常设置多个工位,产品在多个工位之间转移并在不同工位分别对产品的上表面和下表面进行视觉检测,需要多工位拍照,节拍长,占用空间大,多工位拍照,调试时间长。
发明内容
本发明的目的是提供一种只采用单位共进行测试的CCD上下协同测试机构,取消多工位,只采用单工位进行测试。
为达到上述目的,本发明采用的技术方案是:一种CCD上下协同测试机构,用于对产品的上表面和下表面进行视觉检测,所述产品包括透明标签和连接于所述透明标签上的产品本体,所述透明标签包括与所述产品本体贴合在一起的贴合区和环绕所述贴合区的环形非贴合区,所述CCD上下协同测试机构包括:
治具单元,其包括治具,所述治具上表面设有凹槽A,所述凹槽A的槽底设有镂空部A并使所述凹槽A的槽底形成一环形槽底A,所述贴合区和所述产品本体沿竖直方向投影于所述镂空部A,所述环形非贴合区沿竖直方向投影于所述环形槽底A上且所述环形槽底A支撑所述环形非贴合区;
上表面图像采集单元,其包括上层CCD装置,所述上层CCD装置设于所述凹槽A的上侧并用于采集产品本体上表面的图像;
下表面图像采集单元,其包括下层CCD装置,所述下层CCD装置设于所述凹槽A的下侧并用于采集产品本体下表面的图像;
所述上表面图像采集单元还包括带动所述上层CCD装置平移和升降的第一运动系统,所述下表面图像采集单元还包括带动所述下层CCD装置平移和升降的第二运动系统;
所述上表面图像采集单元和所述治具单元安装于第一支架上,所述下表面图像采集单元安装于第二支架上,所述第一支架和所述第二支架分开设置;
所述第一支架为矩形固定板,其上设有所述第一运动系统,该第一运动系统包括水平设置和竖直设置的精密滑台,以使所述上层CCD装置实现精密位移;
所述第二支架为L形固定板,L形固定板的一侧设有加强板,另一侧设有所述第二运动系统,该第二运动系统包括水平设置和竖直设置的精密滑台,以使所述下层CCD装置实现精密位移;
所述治具单元还包括设于所述治具外周的第一环形光源。
进一步的,所述上层图像采集单元还包括设于所述上层CCD装置与所述凹槽A之间且碗底镂空的倒扣碗状光源。
进一步的,所述下表面图像采集装置还包括设于所述下层CCD装置与所述凹槽A之间的第二环形光源。
进一步的,所述治具包括底板和可拆卸式连接于所述底板上的载具,所述凹槽A设于所述载具上。
进一步的,所述载具设置为多种型号,不同型号的所述载具的凹槽A尺寸不同,不同型号的所述载具的外轮廓尺寸相同。
进一步的,所述底板上表面设有凹槽B,所述凹槽B的槽底设有镂空部B并使所述凹槽B的槽底形成一环形槽底B,所述镂空部A沿竖直方向投影于所述镂空部B上,所述环形槽底A沿竖直方向投影于所述环形槽底B上且所述环形槽底B支撑所述环形槽底A。
进一步的,所述环形非贴合区真空吸附于所述环形槽底A上。
进一步的,所述上表面图像采集单元还包括带动所述上层CCD装置平移和升降的第一运动系统,所述下表面图像采集单元还包括带动所述下层CCD装置平移和升降的第二运动系统。
由于上述技术方案运用,本发明与现有技术相比具有下列优点:
1.本发明公开的上下协同测试机构,取消多工位,只采用单工位进行测试,单工位结构紧凑,减少了调试时间;
2.实际应用证明:本发明的设备可以应用于工业化的生产流水线,替代人工,不仅降低了人工成本,防止因为人眼疲劳而产生的误判,而且提高生产流水线的检测速度和精度,大大提高产量和质量;
3.本发明的第一支架采用矩形固定板,其上的水平设置和竖直设置的精密滑台,可以使上层CCD装置进行稳定的、高精密的步进调节;具有高精度、高重复性,因而可以适用于高精密度的自动化产业,如本发明的包括透明标签和连接于所述透明标签上的产品;所述第二支架为L形固定板,除了和第一支架具有一样的矩形固定板和精密滑台之外,L形固定板一侧的加强板可以更好地支撑整个设备,保证其精密度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的一些附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明公开的产品的主视图;
图2为本发明公开的产品的俯视图;
图3为本发明公开的CCD上下协同测试机构的侧视图;
图4为本发明公开的CCD上下协同测试机构的立体图;
图5为本发明公开的治具的立体图。
其中,11、透明标签;12、产品本体;21、镂空部A;22、环形槽底A;23、第一环形光源;24、底板;25、载具;31、上层CCD装置;32、倒扣碗状光源;33、第一运动系统;41、下层CCD装置;42、第二环形光源;43、第二运动系统;51、第一支架;52、第二支架。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
实施例一
参见图1至图5,如其中的图例所示,一种CCD上下协同测试机构,用于对产品的上表面和下表面进行视觉检测,上述产品包括透明标签11和连接于透明标签11上的产品本体12,透明标签11包括与产品本体12贴合在一起的贴合区和环绕贴合区的环形非贴合区,上述CCD上下协同测试机构包括:
治具单元,其包括治具,治具上表面设有凹槽A,凹槽A的槽底设有镂空部A21并使凹槽A的槽底形成一环形槽底A22,贴合区和产品本体12沿竖直方向投影于镂空部A21,环形非贴合区沿竖直方向投影于环形槽底A22上且环形槽底A22支撑环形非贴合区;
上表面图像采集单元,其包括上层CCD装置31,上层CCD装置31设于凹槽A的上侧并用于采集产品本体12上表面的图像;
下表面图像采集单元,其包括下层CCD装置41,下层CCD装置41设于凹槽A的下侧并用于采集产品本体12下表面的图像。
本实施例中优选的实施方式,上述治具单元还包括设于治具外周的第一环形光源23。
本实施例中优选的实施方式,上述上层图像采集单元还包括设于上层CCD装置31与凹槽A之间且碗底镂空的倒扣碗状光源32。
本实施例中优选的实施方式,上述下表面图像采集装置还包括设于所述下层CCD装置与所述凹槽A之间的第二环形光源42。
本实施例中优选的实施方式,上述治具包括底板24和可拆卸式连接于底板24上的载具25,凹槽A设于载具25上。
本实施例中优选的实施方式,载具25设置为多种型号,不同型号的载具的凹槽A尺寸不同,不同型号的载具的外轮廓尺寸相同。同一台CCD上下协同测试机构可适用于不同尺寸产品的检测,只需要更换载具即可。
本实施例中优选的实施方式,底板24上表面设有凹槽B,凹槽B的槽底设有镂空部B并使凹槽B的槽底形成一环形槽底B,镂空部A沿竖直方向投影于所述镂空部B,环形槽底A22沿竖直方向投影于环形槽底B上且环形槽底B支撑环形槽底A22。
本实施例中优选的实施方式,上述环形非贴合区真空吸附于环形槽底A22上。
本实施例中优选的实施方式,上述上表面图像采集单元还包括带动上层CCD装置31平移和升降的第一运动系统33,上述下表面图像采集单元还包括带动所述下层CCD装置41平移和升降的第二运动系统43。方便上层CCD装置和下层CCD装置调节位置。
本实施例中优选的实施方式,上述上表面图像采集单元和治具单元安装于第一支架51上,上述下表面图像采集单元安装于第二支架52上,第一支架51和第二支架52分开设置。所述第一支架为矩形固定板,其上设有所述第一运动系统,该第一运动系统包括水平设置和竖直设置的精密滑台,以使所述上层CCD装置实现精密位移;所述第二支架为L形固定板,L形固定板的一侧设有加强板,另一侧设有所述第二运动系统,该第二运动系统包括水平设置和竖直设置的精密滑台,以使所述下层CCD装置实现精密位移;参见图3~4所示。
下面介绍本发明的工作过程,包括如下步骤:
(1)将产品放置在载具25的凹槽A中,环形槽底A22支撑环形非贴合区,产品本体12的下表面从镂空部A露出;
(2)上层CCD装置31对产品本体12的上表面进行两次拍照,用于检测不同的参数;
(3)下层CCD装置41对产品本体12的下表面进行两次拍照,用于检测不同的参数;
上述步骤(2)和步骤(3)同步进行。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (7)
1.一种CCD上下协同测试机构,用于对产品的上表面和下表面进行视觉检测,其特征在于,所述产品包括透明标签和连接于所述透明标签上的产品本体,所述透明标签包括与所述产品本体贴合在一起的贴合区和环绕所述贴合区的环形非贴合区,所述CCD上下协同测试机构包括:
治具单元,其包括治具,所述治具上表面设有凹槽A,所述凹槽A的槽底设有镂空部A并使所述凹槽A的槽底形成一环形槽底A,所述贴合区和所述产品本体沿竖直方向投影于所述镂空部A,所述环形非贴合区沿竖直方向投影于所述环形槽底A上且所述环形槽底A支撑所述环形非贴合区;
上表面图像采集单元,其包括上层CCD装置,所述上层CCD装置设于所述凹槽A的上侧并用于采集产品本体上表面的图像;
下表面图像采集单元,其包括下层CCD装置,所述下层CCD装置设于所述凹槽A的下侧并用于采集产品本体下表面的图像;
所述上表面图像采集单元还包括带动所述上层CCD装置平移和升降的第一运动系统,所述下表面图像采集单元还包括带动所述下层CCD装置平移和升降的第二运动系统;
所述上表面图像采集单元和所述治具单元安装于第一支架上,所述下表面图像采集单元安装于第二支架上,所述第一支架和所述第二支架分开设置;
所述第一支架为矩形固定板,其上设有所述第一运动系统,该第一运动系统包括水平设置和竖直设置的精密滑台,以使所述上层CCD装置实现精密位移;
所述第二支架为L形固定板,L形固定板的一侧设有加强板,另一侧设有所述第二运动系统,该第二运动系统包括水平设置和竖直设置的精密滑台,以使所述下层CCD装置实现精密位移;
所述治具单元还包括设于所述治具外周的第一环形光源。
2.如权利要求1所述的CCD上下协同测试机构,其特征在于,所述上层图像采集单元还包括设于所述上层CCD装置与所述凹槽A之间且碗底镂空的倒扣碗状光源。
3.如权利要求1所述的CCD上下协同测试机构,其特征在于,所述下表面图像采集装置还包括设于所述下层CCD装置与所述凹槽A之间的第二环形光源。
4.如权利要求1所述的CCD上下协同测试机构,其特征在于,所述治具包括底板和可拆卸式连接于所述底板上的载具,所述凹槽A设于所述载具上。
5.如权利要求4所述的CCD上下协同测试机构,其特征在于,所述载具设置为多种型号,不同型号的所述载具的凹槽A尺寸不同,不同型号的所述载具的外轮廓尺寸相同。
6.如权利要求4所述的CCD上下协同测试机构,其特征在于,所述底板上表面设有凹槽B,所述凹槽B的槽底设有镂空部B并使所述凹槽B的槽底形成一环形槽底B,所述镂空部A沿竖直方向投影于所述镂空部B,所述环形槽底A沿竖直方向投影于所述环形槽底B上且所述环形槽底B支撑所述环形槽底A。
7.如权利要求1所述的CCD上下协同测试机构,其特征在于,所述环形非贴合区真空吸附于所述环形槽底A上。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011048603.0A CN112161991A (zh) | 2020-09-29 | 2020-09-29 | 一种ccd上下协同测试机构 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011048603.0A CN112161991A (zh) | 2020-09-29 | 2020-09-29 | 一种ccd上下协同测试机构 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112161991A true CN112161991A (zh) | 2021-01-01 |
Family
ID=73860711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011048603.0A Pending CN112161991A (zh) | 2020-09-29 | 2020-09-29 | 一种ccd上下协同测试机构 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112161991A (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114505827A (zh) * | 2022-03-10 | 2022-05-17 | 江苏宏芯亿泰智能装备有限公司 | 玻璃支撑装置、玻璃边缘缺陷的检测装置及检测系统 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN209992403U (zh) * | 2019-01-03 | 2020-01-24 | 深圳市中泰米业有限公司 | 一种大米精度检测装置 |
CN210243510U (zh) * | 2019-08-06 | 2020-04-03 | 深圳信息职业技术学院 | 一种图像处理的识别装置 |
CN211014044U (zh) * | 2019-10-18 | 2020-07-14 | 深圳市启诚仪器设备有限公司 | 一种全方位检测的ccd检测机 |
-
2020
- 2020-09-29 CN CN202011048603.0A patent/CN112161991A/zh active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN209992403U (zh) * | 2019-01-03 | 2020-01-24 | 深圳市中泰米业有限公司 | 一种大米精度检测装置 |
CN210243510U (zh) * | 2019-08-06 | 2020-04-03 | 深圳信息职业技术学院 | 一种图像处理的识别装置 |
CN211014044U (zh) * | 2019-10-18 | 2020-07-14 | 深圳市启诚仪器设备有限公司 | 一种全方位检测的ccd检测机 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114505827A (zh) * | 2022-03-10 | 2022-05-17 | 江苏宏芯亿泰智能装备有限公司 | 玻璃支撑装置、玻璃边缘缺陷的检测装置及检测系统 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN108436281B (zh) | 一种轮毂全自动标识装置及方法 | |
CN205890146U (zh) | 一种面板物料自动精确定位及旋转搬运的装置 | |
CN112255245A (zh) | 一种Mini LED晶圆正反面外观缺陷检测方法及装置 | |
CN214668695U (zh) | 一种键帽缺陷检测设备 | |
CN109813718A (zh) | 一种led芯片模组缺陷检测装置及方法 | |
CN211980569U (zh) | 一种com芯片测试机设备 | |
CN112161991A (zh) | 一种ccd上下协同测试机构 | |
CN220104887U (zh) | 电池模组检测设备 | |
CN108169240A (zh) | 泡沫镍表面缺陷检测装置 | |
CN215768287U (zh) | 一种产品涂胶缺陷检测设备 | |
CN216847510U (zh) | 一种激光雕刻机雕刻质量三维检测组件 | |
CN209027768U (zh) | 一种oled屏幕上料视觉对位系统 | |
CN113172418B (zh) | 一种用于壳体组件的全自动组装设备 | |
CN206177368U (zh) | 手机尺寸综合测试仪 | |
CN112720692B (zh) | 一种基于视觉定位功能的高精度声膜智能冲切生产线 | |
CN206638168U (zh) | 一种几何尺寸快速检测装置 | |
CN115954309B (zh) | 高精度芯片植盖方法及植盖装置 | |
CN214747814U (zh) | 一种玻璃制品的三维成像系统 | |
CN217369288U (zh) | 多面体物料的缺陷检测装置 | |
CN212410030U (zh) | 一种图像传感器表面缺陷检测装置 | |
CN213986152U (zh) | 一种六面辅料检测设备 | |
CN211402189U (zh) | 手机摄像头玻璃盖板外观缺陷检测设备 | |
CN215727631U (zh) | 检测装置 | |
CN220279332U (zh) | 镜片加工厚度自动检测机构 | |
CN218298005U (zh) | 金属环玻璃保护盖的外观检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20210101 |