CN112136040B - 分析装置、分析方法以及计算机可读取记录介质 - Google Patents
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Abstract
分析装置具备:离子化部,其使被导入到分离柱的载气离子化;质量分离部,其对由离子化部生成的离子进行质量分离;检测部,其以规定的倍增率放大并检测由质量分离部质量分离出的离子,并且输出检测信号;解析部,其对从检测部输出的检测信号进行解析;以及调整部,其基于由检测部检测出的与载气对应的检测信号的大小,进行检测部的倍增率和/或向质量分离部的离子输送系统中的电极施加的电压的调整。
Description
技术领域
本发明涉及一种分析装置、分析方法以及计算机可读取记录介质。
背景技术
在使用了气相色谱质谱分析仪(以下适当称为GC-MS)的分析中,为了维持并提高测定中的精度和灵敏度,进行调整向检测器施加的电压等、装置的各部的调整。
例如,在调整向GC-MS中的检测器施加的电压中,向GC-MS的离子源导入全氟三丁胺(perfluorotributylamine:以下称为PFTBA)等标准试样,基于对该标准试样进行质谱分析而得到的检测强度来进行调整(参照专利文献1)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开2016/117053号
发明内容
发明要解决的问题
但是,存在PFTBA等标准试样的导入量因室温而发生变化等问题。
用于解决问题的方案
根据本发明的第一方式,分析装置具备:离子化部,其使被导入到分离柱的载气离子化;质量分离部,其对由所述离子化部生成的离子进行质量分离;检测部,其以规定的倍增率放大并检测由所述质量分离部质量分离出的所述离子,并且输出检测信号;解析部,其对从所述检测部输出的所述检测信号进行解析;以及调整部,其基于由所述检测部检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,进行所述检测部的所述倍增率和/或向所述质量分离部的离子输送系统的电极施加的电压的调整。
根据本发明的第二方式,优选的是,在第一方式的分析装置中,在向所述分离柱导入了设定流量的所述载气时,所述调整部基于由所述检测部检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小来进行所述调整。
根据本发明的第三方式,优选的是,第一方式的分析装置还具备流量测定部,所述流量测定部测定所述载气的流量,所述调整部基于测定出的所述载气的流量以及由所述检测部检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,来进行所述调整。
根据本发明的第四方式,优选的是,在第一至第三方式中的任一方式的分析装置中,所述离子输送系统是从由透镜电极、离子导向器以及四极杆滤质器构成的组中选择出的至少一个。
根据本发明的第五方式,分析方法包括以下步骤:使被导入到分离柱的载气离子化;对通过离子化而生成的离子进行质量分离;利用检测器以规定的倍增率放大并检测被质量分离出的所述离子,并且输出检测信号;对被输出的所述检测信号进行解析;以及基于由所述检测器检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,进行所述检测器的所述倍增率和/或向所述质量分离时的离子输送系统的电极施加的电压的调整。
根据本发明的第六方式,优选的是,在第五方式的分析方法中,在向所述分离柱导入了设定流量的所述载气时,基于由所述检测器检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小来进行所述调整。
根据本发明的第七方式,优选的是,在第五方式的分析方法中,还包括测定所述载气的流量的步骤,基于测定出的所述载气的流量以及由所述检测器检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,进行所述调整。
根据本发明的第八方式,优选的是,在第五至第七方式中的任一方式的分析方法中,所述离子输送系统是从由透镜电极、离子导向器以及四极杆滤质器构成的组中选择出的至少一个。
根据本发明的第九方式,计算机可读取记录介质记录有程序,所述程序用于使分析装置的处理装置进行调整处理,
所述分析装置使被导入到分离柱的载气离子化,将通过离子化而生成的离子进行质量分离,利用检测器以规定的倍增率放大并检测被质量分离出的所述离子,并且输出其检测信号,对被输出的所述检测信号进行解析,在所述调整处理中,基于由所述检测器检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,来调整所述检测器的所述倍增率和/或向所述质量分离时的离子输送系统的电极施加的电压。
发明的效果
根据本发明,在利用载气进行分析的分析装置中,不一定需要导入PFTBA等标准试样就能够进行质谱仪的调整。
附图说明
图1是示出一个实施方式的分析装置的结构的概要图。
图2是示出一个实施方式所涉及的分析方法的流程的流程图。
图3是示出载气的流量与检测器的倍增率的对应表的图。
图4是示出变形例的分析方法的流程的流程图。
图5是用于说明程序的概念图。
具体实施方式
以下,参照附图来说明用于实施本发明的方式。以下的实施方式的分析装置在规定流量的载气被导入了分离柱时,基于由检测部检测出的与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部的倍增率等质谱仪的各部。
(整体结构)
图1是示出本实施方式的分析装置的结构的概念图。分析装置1是气相色谱质谱分析仪(GC-MS),具备分离部10、连接部20、质谱分析部30以及信息处理部40。
分离部10具备容纳有载气的气体容纳容器G、第一载气流路11、流量调整部12、第二载气流路13、传感器14、第三载气流路15、导入试样S的试样导入部16、柱温度调节部17以及分离柱18。
连接部20具备连接流路21、加热器22以及加热器支承部23。
质谱分析部30具备真空容器31、排气口32、离子化部33、离子调整部34、质量分离部35以及检测部36。离子调整部34和质量分离部35构成离子输送系统。
信息处理部40具备输入部41、通信部42、存储部43、显示部44以及控制部50。控制部50具备装置控制部51和解析部52。装置控制部51具备流量控制部511和调整部512。
(分离部10)
分离部10具备气相色谱仪等的利用载气来分离试样的分离分析装置,基于物理特性和/或化学特性来分离试样S中含有的成分。以下,分离部10设为气相色谱仪来进行说明。在被导入分离柱18时,试样S成为气体,将其称为试样气体。
分离部10的气体容纳容器G容纳载气,与第一载气流路11连接。只要能够利用质谱分析部30的离子化部33使载气离子化并利用检测部36检测载气,则载气的种类就没有特别地限定,但从安全性和线速度的观点出发,优选氦。从气体容纳容器G导入到第一载气流路11的载气被导入流量调整部12。
分离部10的流量调整部12具备压力调整器或流量控制阀等调整器,与第一载气流路11和第二载气流路13连接。流量调整部12对向试样导入部16导入的载气以及经由试样导入部16向分离柱18导入的载气的流量进行调整。从流量调整部12导入到第二载气流路13的载气被导入传感器14。
分离部10的传感器14作为直接或间接地测定流量的流量测定部而发挥作用,具备压力传感器和/或流量传感器,用于测定通过的载气的压力和/或流量。传感器14与第二载气流路13及第三载气流路15连接。传感器14将表示所测定出的载气的压力和/或流量的信号输出到信息处理部40的控制部50(箭头A1)。从传感器14导入到第三载气流路15的载气被导入试样导入部16。
此外,也可以将流量调整部12和传感器14构成为一体。
分离部10的试样导入部16具备试样气化室等导入试样的室,来暂时收容通过未图示的注射器或自动取样器等注入器注入的试样S,在试样S为液体的情况下使其气化,从而将试样气体导入分离柱18。如后述那样,只要在进行载气的检测时能够控制载气向分离柱18的流量,则试样S的导入法就没有特别地限定,能够适当使用分流导入法或无分流导入法等。
分离部10的分离柱18具备毛细管柱等柱。分离柱18通过具备柱加热炉等的柱温度调节部17将温度控制为几百℃以下等。试样气体的各成分基于含有载气的流动相与分离柱18的固定相之间的分配系数等被分离,被分离出的试样气体的各成分在不同的时间从分离柱18流出并被导入连接部20。在以下的实施方式中,将从与向试样导入部16注入了试样S的时间等分析开始对应的时间起直到检测出试样S的特定成分为止的时间称为该成分的保持时间。
(连接部20)
连接部20是将分离部10与质谱分析部30连接的部分,用于将从分离部10的分离柱18流出的气体向质谱分析部30的离子化部33供给。在分离柱18为毛细管柱的情况下,连接部20优选通过直接结合法将分离部10与质谱分析部30连接。
连接部20的连接流路21通过加热器来调整温度,该加热器由包括加热器块(heater block)等的加热器支承部23支承。从分离柱18流出的气体在通过连接流路21后被导入离子化部33。
(质谱分析部30)
质谱分析部30具备质谱仪,质谱分析部30使被导入到离子化部33的气体和气体状的分子离子化,并进行质量分离来进行检测。用箭头A3示意性地示出在离子化部33中生成的离子的路径。
此外,以下,作为质谱仪,使用通过一个四极杆滤质器来进行质量分离的单四极杆质谱仪的例子进行说明。但是,只要能够在维持真空度等期望的分析条件的同时使从分离部10导入的试样S和载气离子化,则构成质谱分析部30的质谱仪的种类没有特别地限定,例如能够使用磁场型、离子阱型、飞行时间型等质谱仪或串联质谱仪。
质谱分析部30的真空容器31具备排气口32。排气口32与未图示的真空排气系统连接,该未图示的真空排气系统包括涡轮分子泵等能够实现10-2Pa以下等高真空的泵及其辅助泵。在图1中,用箭头A4示意性地示出真空容器31的内部的气体被排出的点。
质谱分析部30的离子化部33具备离子源,使被导入到离子化部33的试样S和载气离子化。离子化部33在通过电子离子化来进行离子化的情况下,包括未图示的离子化室、热电子生成用灯丝以及阱电极等,使由热电子生成用灯丝生成的热电子通过向阱电极施加的几十eV等的电压进行加速,并向离子化室内的分子照射来生成离子。在离子化部33中生成的离子被导入离子调整部34。
此外,离子化的方法没有特别地限定,例如也可以使用化学离子化法。
质谱分析部30的离子调整部34具备透镜电极、离子导向器等,通过由向这些透镜电极、离子导向器施加的电压引起的针对离子的电磁作用,来进行使该离子收敛等的调整。从离子调整部34射出的离子被导入质量分离部35。
质谱分析部30的质量分离部35具备四极杆滤质器,对被导入的离子进行质量分离。质量分离部35通过向四极杆滤质器施加的电压,基于m/z的值使离子选择性地通过。由质量分离部35质量分离出的离子向检测部36入射。
质谱分析部30的检测部36具备设置有转换倍增极的电子倍增管等离子检测器,用于检测入射的离子。作为电子倍增管,使用二次电子倍增管或光电倍增管等。检测部36在检测的离子入射、碰撞后,通过未图示的A/D转换器对通过设定的倍增率而得到的检测信号进行A/D转换,并将被数字化的检测信号作为测定数据输出到信息处理部40的控制部50(箭头A5)。
通过入射到二次电子倍增管、光电倍增管等电子倍增管的离子而生成的检测信号的大小根据倍增率的不同而不同,该倍增率是由在这些电子倍增管中为了使二次电子等加速而施加的电压所决定的。如果该倍增率过高,则检测信号过大而饱和,无法得到正确的测定数据。相反,如果该倍增率过低,则无法检测试样S的至少一部分成分,或者检测信号过小而导致S/N比劣化。如后述那样,检测部36中的倍增率由信息处理部40的调整部512进行调整,被设定为适当的值(箭头A6)。
(信息处理部40)
信息处理部40具备电子计算机等信息处理装置,除了作为与用户的接口以外,还进行与各种数据有关的通信、存储、运算等处理。
此外,信息处理部40也可以构成为与测定部100成为一体的一个装置。另外,分析装置1所使用的数据的一部分或全部也可以保存在远程的服务器等中,分析装置1所进行的运算处理的一部分或全部也可以在远程的服务器等中进行。
输入部41构成为包括鼠标、键盘、各种按钮和/或触摸面板等输入装置。输入部41从用户接受载气的种类等的控制测定部100的动作所需的信息和控制部50进行的处理所需的信息等。
通信部42构成为包括能够通过因特网等无线或有线连接方式进行通信的通信装置,发送由解析部52制作出的质谱等通过解析得到的数据等或者适当发送接收必要的数据,所述质谱表示m/z与该m/z的离子所对应的检测信号的大小的关系。
存储部43由非易失性的存储介质构成,存储调整部512用于进行检测部36等的调整的参数、基于来自检测部36的检测信号的测定数据、控制部50用于执行处理的程序以及由解析部52制作出的质谱等通过解析得到的数据等。
显示部44构成为包括液晶监视器等显示装置,用于将分析条件、基于来自检测部36的检测信号的测定数据以及通过由解析部52制作出的质谱等通过解析得到的数据等显示在显示装置中。
(控制部50)
控制部50由CPU等处理器构成,用于控制测定部100的各部的动作,或者将从检测部36输出的检测信号作为测定数据进行处理。此外,处理器还包括FPGA。
(装置控制部51)
控制部50的装置控制部51对测定部100的各部的动作进行控制。
(流量控制部511)
装置控制部51的流量控制部511基于从传感器14输出的载气的压力和/或流量来控制流量调整部12,从而调整载气的流量(箭头A7)。流量控制部511获取在检测部36的电压调整时设定的载气的流量的值。该流量的值被预先存储在存储部43中,例如为1.0ml/min等,但没有特别地限定。流量控制部511将从传感器14输出的流量或根据从传感器14输出的压力计算出的流量(以下,适当将这些流量称为测定出的流量)与被设定的载气的流量进行比较,来控制流量调整部12,以使载气的流量接近被设定的值。
(调整部512)
装置控制部51的调整部512基于被设定的载气的流量来调整检测部36的倍增率。调整部512获取通过来自输入部41的输入等而得到的载气的种类。在存储部43中,与在检测部36的电压调整时设定的载气的流量的值对应地存储有该电压调整时的与载气对应的离子的检测信号的大小的目标值。在此,该目标值只要是表示与规定的载气对应的离子的检测信号的大小的值,则选择离子检测(Selected Ion Monitoring;SIM)中的检测强度、质谱上的与规定的载气对应的m/z的离子的峰的强度、面积等就没有特别地限定。调整部512控制向检测部36施加的电压来设定倍增率,以使得来自检测部36的与载气对应的m/z的离子的检测信号的大小接近该目标值。调整部512优选在载气的检测信号的大小在几秒~几分钟等规定的时间收敛于目标值的90~110%等的规定的数值范围的情况下完成倍增率的设定。
例如,在载气为氦的情况下,调整部512控制检测部36的施加电压,以使得通过被离子化的氦的SIM而得到的检测强度接近目标值。在SIM中检测具有特定的m/z的离子的量的随时间变化。或者,调整部512也可以控制检测部36的施加电压,以使得在通过对总离子监视(Total Ion Monitoring;TIM)等的m/z进行扫描而得到的质谱中与被离子化的氦对应的峰的面积接近目标值。
(解析部520)
控制部50的解析部52将来自检测部36的检测信号作为测定数据进行处理和解析。解析部52使质量分离部35质量分离出的试样S、载气的离子的m/z与检测信号的强度相对应,并计算该离子的检测强度。另外,解析部52将使检测信号的强度与m/z相对应而得到的数据构建为与质谱对应的数据并存储到存储部43中。解析部52根据需要计算质谱的各峰的峰强度或与峰对应的面积,并计算与各峰对应的成分的检测信号的大小。
除此以外,在试样S的分析中,解析部52根据所得到的测定数据并基于与过去的数据的对应关系,来鉴定与质谱的峰对应的成分,或者根据在SIM中得到的检测强度对目标成分进行定量。解析部52生成显示构建出的质谱的数据和通过解析得到的信息的显示图像,并使之显示在显示部44中。
(分析方法的过程)
图2是示出本实施方式的分析方法的流程的流程图。在步骤S1001中,流量调整部12将被设定的流量的载气导入试样导入部16和分离柱18。如果步骤S1001结束,则开始进行步骤S1003。在步骤S1003中,离子化部33使从分离柱18流出并导入到离子化部的载气离子化。如果步骤S1003结束,则开始进行步骤S1005。
在步骤S1005中,质量分离部35将被离子化的载气进行质量分离。如果步骤S1005结束,则开始进行步骤S1007。在步骤S1007中,检测部36检测质量分离出的载气,并将检测信号输出到控制部50。如果步骤S1007结束,则开始进行步骤S1009。
在步骤S1009中,解析部52对输出的检测信号进行解析,并计算与载气对应的检测信号的大小。如果步骤S1009结束,则开始进行步骤S1011。在步骤S1011中,调整部512基于被设定的载气的流量以及与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部36的倍增率。如果步骤S1011结束,则开始进行步骤S1013。
在步骤S1013中,通过注射器或自动取样器等将试样S注入试样导入部16。如果步骤S1013结束,则开始进行步骤S1015。在步骤S1015中,试样导入部16将试样气体导入分离柱18。如果步骤S1015结束,则开始进行步骤S1017。
在步骤S1017中,分离柱18使被导入的试样气体分离。如果步骤S1017结束,则开始进行步骤S1019。在步骤S1019中,离子化部33使从分离柱18流出并导入到离子化部33的试样气体离子化。如果步骤S1019结束,则开始进行步骤S1021。
在步骤S1021中,质量分离部35对被离子化的试样气体进行质量分离。如果步骤S1021结束,则开始进行步骤S1023。在步骤S1023中,检测部36对质量分离出的试样气体进行检测,并输出检测信号。如果步骤S1023结束,则开始进行步骤S1025。
在步骤S1025中,解析部52对在步骤S1023中从检测部36输出的检测信号进行解析,显示部44显示解析结果。如果步骤S1025结束,则处理结束。
根据上述实施方式,能够得到以下作用效果。
(1)关于本实施方式的分析装置1以及分析方法,离子化部33使被导入到分离柱18的载气离子化,质量分离部35对在离子化部33中生成的离子进行质量分离,检测部36以规定的倍增率放大并检测由质量分离部35质量分离出的离子,并且输出检测信号,解析部52对从检测部36输出的检测信号进行解析,在向分离柱18导入了规定的流量的载气时,调整部512基于由检测部36检测出的与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部36的倍增率。由此,不一定需要导入PFTBA等标准试样就能够进行质谱仪的调整。另外,在以往的使用了标准试样的检测器的调整中,PFTBA等标准试样的挥发量因温度而不同,向离子源导入的标准试样的导入量存在偏差,因此必须应对室温的变化,但在本实施方式的分析装置1中不需要这样。
(2)在本实施方式的分析装置1以及分析方法中,在向分离柱18导入了设定流量的载气时,调整部512基于由检测部36检测出的与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部36的倍增率。由此,能够基于在过去的测定等中得到的数据,来适当地调整倍增率。
如下的变形也在本发明的范围内,能够与上述的实施方式组合。在以下的变形例中,关于表示与上述的实施方式相同的构造、功能的部位,使用相同的附图标记来进行参照,并适当省略说明。
(变形例1)
在上述的实施方式中,基于被设定的载气的流量来调整检测部36的倍增率,但也可以根据所测定出的载气的流量来调整检测部36的倍增率。
本变形例的调整部512根据由传感器14测定出的载气的流量,并基于与被预先存储到存储部43中的对应表对应的数据,来计算与测定出的载气的流量对应的检测信号的大小的目标值。
图3是示出调整部512所参照的对应表T的图。在对应表T中示出了载气的流量以及与该载气的流量对应的用于校正载气的检测信号的大小的目标值的倍率。调整部512通过将与作为基准的流量(1ml/min)时的载气对应的检测信号的大小的目标值乘以该倍率,来计算对应表T所示的任意流量的目标值。对于在对应表T中没有记载的流量,能够适当地使用通过直线等对对应表T所示的值进行近似、内插或外插而得到的值等。
例如,在由传感器14得到的载气的流量的测定值为0.5ml/min的情况下,调整部512参照与对应表T对应的数据,来获取与0.5ml/min对应的用于校正的倍率0.4。在存储部43中除了存储有对应表T以外,还存储有1.0ml/min的基准流量时的目标值。调整部512将该基准流量时的目标值乘以0.4,并将0.4ml/min设定为载气的检测信号的大小的目标值。调整部512控制向检测部36施加的电压,以使接近该被设定的目标值。
图4是示出本变形例的分析方法的流程的流程图。步骤S2001至S2009与上述的实施方式中的步骤S1001至1009相同,因此省略说明。如果步骤S2009结束,则开始进行步骤S2011。在步骤S2011中,传感器14测定载气的流量。如果步骤S2011结束,则开始进行步骤S2013。在步骤S2013中,调整部512参照对应表T,并根据测定出的载气的流量来计算与载气对应的检测信号的大小的目标值。如果步骤S2013结束,则开始进行步骤S2015。在步骤S2015中,调整部512基于测定出的载气的流量以及与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部36的倍增率。如果步骤S2015结束,则开始进行步骤S2017。步骤S2017~S2029与步骤S1013~S1025相同,因此省略说明。
本变形例的分析装置1具备传感器14,该传感器14是测定载气的流量的流量测定部,调整部512基于测定出的载气的流量以及由检测部36检测出的与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部36的倍增率。由此,能够基于实际测定出的载气的流量,以更高的精度调整检测部36的倍增率。
在本变形例的分析装置1中,调整部512基于预先得到的对应表T的数据,来计算与测定出的载气的流量对应的检测信号的大小的目标值。由此,即使在所测定出的载气的流量为各种值的情况下,也能够适当地设定检测部36的倍增率。
(变形例2)
在上述的实施方式中,调整部512设定向检测部36施加的电压来调整了倍增率,但也可以设定向离子调整部34、质量分离部35施加的电压。例如,调整部512能够调整对离子调整部34的透镜电极施加的电压,以使载气的检测强度变为最高。由此,能够提高分析试样S时的检测灵敏度。调整部512能够基于载气的检测信号的大小,来调整向从由透镜电极、离子导向器以及四极杆滤质器构成的组中选择出的离子输送系统中的至少一个电极施加的电压,从而调整分析试样S时的检测灵敏度等。
在本变形例的分析装置1以及分析方法中,在向分离柱18导入了规定的流量的载气时,调整部512基于由检测部36检测出的与载气对应的检测信号的大小,来调整向透镜电极、离子导向器以及四极杆滤质器等离子输送系统施加的电压。由此,不一定需要标准试样就能够适当地调节质谱仪的离子输送系统的各种参数,从而调节检测灵敏度等。
(变形例3)
也可以将用于实现分析装置1的信息处理功能的程序记录在计算机可读取的记录介质中,使计算机系统读入并执行该记录介质中记录的与包括由上述调整部512进行的调整在内的测定、解析及显示的处理及其关联的处理的控制有关的程序。此外,在此所说的“计算机系统”包括OS(Operating System:操作系统)、周边设备的硬件。另外,“计算机可读取的记录介质”是指软盘、光磁盘、光盘、存储卡等可移动型记录介质、内置在计算机系统中的硬盘等存储装置。并且,“计算机可读取的记录介质”也可以包括:如经由因特网等网络或电话线路等通信线路发送程序的情况下的通信线那样在短时间内动态地保持程序的记录介质、如该情况下的作为服务器或客户端的计算机系统内部的易失性存储器那样在固定时间内保持程序的记录介质。另外,上述程序也可以是用于实现上述功能的一部分的程序,还可以是通过与已经记录在计算机系统中的程序的组合来实现上述功能的程序。
另外,在应用于个人计算机(以下记载为PC)等的情况下,与上述控制有关的程序能够通过CD-ROM等记录介质或因特网等的数据信号来提供。图5是示出该情形的图。PC 950经由CD-ROM 953接受程序的提供。另外,PC 950具有与通信线路951连接的功能。计算机952是提供上述程序的服务器计算机,将程序存储在硬盘等记录介质中。通信线路951是因特网、个人计算机通信等的通信线路或者专用通信线路等。计算机952使用硬盘读出程序,并经由通信线路951将程序发送到PC 950。即,将程序作为数据信号来通过载波进行输送,并经由通信线路951进行发送。这样,程序能够作为记录介质、载波等各种形式的计算机可读入的计算机程序产品来提供。
作为用于实现上述信息处理功能的程序,包含用于使分析装置1的处理装置进行调整处理的程序,所述分析装置1使载气以及由分离柱18分离出的试样S离子化,对通过离子化而生成的离子进行质量分离,利用检测部36以规定的倍率放大并检测质量分离出的离子,并且输出检测信号,对被输出的检测信号进行解析,在所述调整处理中,在向分离柱18导入了规定的流量的载气时,基于由检测部36检测出的与载气对应的检测信号的大小,来调整检测部的倍增率和/或向离子输送系统中的电极施加的电压。
由此,不一定需要导入PFTBA等标准试样就能够进行质谱仪的调整。
作为本发明的程序而要执行的处理主要包括图2中的步骤S1009和步骤S1011,例如通过图1的控制部50执行程序来进行处理。程序存储在控制部50内,或者预先被存储在存储部43中。即,本发明的程序是在分析装置1的处理装置中使用的程序,该分析装置1使载气以及由分离柱18分离出的试样离子化,对通过离子化而生成的离子进行质量分离,利用检测器以规定的倍增率放大并检测质量分离出的所述离子,并且输出其检测信号,对被输出的所述检测信号进行解析,本发明的程序包括以下过程:计算过程,对由检测器检测出的与载气对应的检测信号进行解析并计算其大小;以及调整过程,基于该检测信号的大小来适当计算检测器的倍增率和/或向质量分离时的离子输送系统中的电极施加的电压,并基于计算出的上述倍增率和/或上述电压来适当调整检测器和/或施加电压。
本发明并不限定于上述实施方式的内容。在本发明的技术思想的范围内能够考虑的其它方式也包括在本发明的范围内。
附图标记说明
1:分析装置;10:分离部;12:流量调整部;14:传感器;16:试样导入部;18:分离柱;20:连接部;21:连接流路;30:质谱分析部;33:离子化部;34:离子调整部;35:质量分离部;36:检测部;40:信息处理部;50:控制部;51:装置控制部;52:解析部;100:测定部;511:流量控制部;512:调整部;G:气体容纳容器;S:试样;T:对应表。
Claims (5)
1.一种分析装置,具备:
离子化部,其使被导入到分离柱的载气离子化;
质量分离部,其对由所述离子化部生成的离子进行质量分离;
检测部,其以规定的倍增率放大并检测由所述质量分离部质量分离出的所述离子,并且输出检测信号;
解析部,其对从所述检测部输出的所述检测信号进行解析;
流量测定部,其测定所述载气的流量;以及
调整部,其基于测定出的所述载气的流量以及由所述检测部检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,进行所述检测部的所述倍增率和/或向所述质量分离部的离子输送系统中的电极施加的电压的调整。
2.根据权利要求1所述的分析装置,其中,
所述离子输送系统是从由透镜电极、离子导向器以及四极杆滤质器构成的组中选择的至少一个。
3.一种分析方法,包括以下步骤:
使被导入到分离柱的载气离子化;
对通过离子化而生成的离子进行质量分离;
利用检测器以规定的倍增率放大并检测被质量分离出的所述离子,并且输出检测信号;
对被输出的所述检测信号进行解析;
测定所述载气的流量;以及
基于测定出的所述载气的流量以及由所述检测器检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,进行所述检测器的所述倍增率和/或向所述质量分离时的离子输送系统的电极施加的电压的调整。
4.根据权利要求3所述的分析方法,其中,
所述离子输送系统是从由透镜电极、离子导向器以及四极杆滤质器构成的组中选择的至少一个。
5.一种计算机可读取记录介质,记录有程序,所述程序用于使分析装置的处理装置进行调整处理,
所述分析装置使被导入到分离柱的载气离子化,将通过离子化而生成的离子进行质量分离,利用检测器以规定的倍增率放大并检测被质量分离出的所述离子,并且输出其检测信号,对被输出的所述检测信号进行解析,测定所述载气的流量,在所述调整处理中,基于测定出的所述载气的流量以及由所述检测器检测出的与所述载气对应的所述检测信号的大小,来调整所述检测器的所述倍增率和/或向所述质量分离时的离子输送系统的电极施加的电压。
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4008388A (en) * | 1974-05-16 | 1977-02-15 | Universal Monitor Corporation | Mass spectrometric system for rapid, automatic and specific identification and quantitation of compounds |
JPH0644944A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Shimadzu Corp | 質量分析計 |
JP2009129868A (ja) * | 2007-11-28 | 2009-06-11 | Shimadzu Corp | 質量分析装置及びその調整方法 |
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Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4256404A (en) * | 1979-09-28 | 1981-03-17 | Phillips Petroleum Company | Optoelectronic feedback control for a spectrometer |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4008388A (en) * | 1974-05-16 | 1977-02-15 | Universal Monitor Corporation | Mass spectrometric system for rapid, automatic and specific identification and quantitation of compounds |
JPH0644944A (ja) * | 1992-07-24 | 1994-02-18 | Shimadzu Corp | 質量分析計 |
JP2009129868A (ja) * | 2007-11-28 | 2009-06-11 | Shimadzu Corp | 質量分析装置及びその調整方法 |
CN103954711A (zh) * | 2014-04-01 | 2014-07-30 | 聚光科技(杭州)股份有限公司 | 一种质谱检测器标定装置及方法 |
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