CN112041999A - 有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法，本发明的目的在于，提供一种能够在多个视角有效地检测混色不良的有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法。本发明的另一目的在于，提供一种能够迅速且有效地检查作为检查对象的单元的整个区域的有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法。

Description

有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及一种有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法，用于有效地检测在沉积有机发光二极管的过程中由于掩模不良等而发生的混色现象等的颜色异常现象。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light Emitting Diodes，OLED)是指，当电流流过荧光性有机化合物时，利用发光的电致发光现象，自身发光的自发光有机物质。有机发光二极管具有如下优点：可在低电压下被驱动且可以做成薄型，具有宽的视角和快的响应速度等。有机发光二极管根据颜色实现方式分为三色(红色、绿色、蓝色)独立像素法、颜色变换法(CCM)、滤色器法等，根据使用的发光材料中包含的有机物质的量分为低分子OLED和高分子OLED，根据驱动方式分为无源矩阵(passive matrix；PM)和有源矩阵(active matrix；AM)。

在制造三色独立像素法的有机发光二极管的过程中，通常使用掩模，以使R、G、B各自的有机物质精确地沉积在预定的不同特定位置上。但是，在此过程中，当掩模的位置未对准或掩模本身存在缺陷时，其他颜色沾到原来要显示的颜色的位置上，而发生混色(colormix)现象。

为了解决这种混色不良问题，在韩国专利公开第2008-0002024号(“阴影掩模及利用该阴影掩模的有机电致发光器件的制造方法”，2008年1月4日，以下‘现有文献’)中公开了防止掩模下垂且改善开口部减小的掩模结构。虽然通过使用根据现有文献改善的结构的掩模，能够降低混色现象的发生率，但是很难完全排除混色现象的发生。因此，即使改善制造工序，也绝对有必要检测所制造的有机发光二极管显示器的混色不良。

现有的用于检测混色不良的检测器由以下方式形成：从有机发光二极管的正面获取图像，以在一个单元中确定多个测量点并对其进行采样的方式检查颜色有无异常。

然而，在混色不良严重的情况下，当从正面观察有机发光二极管时，明显地看出颜色差异，但在混色不良不严重的情况下，很难从正面判断颜色差异。因此，现有的仅从正面获取图像的检测器具有无法检测虽然程度不严重但确实存在的混色不良的问题。

另外，在以往，由于工作时间的限制，没有检查单元整个区域，而是仅对经采样的测量点进行检查，在对显示器质量的要求逐渐提高的现阶段来看，检查单元整个区域的必要性也在增加。因此，需要一种能够对单元整个区域迅速地检测混色不良的技术。

[现有技术文献]

[专利文献]

1.韩国专利公开第2008-0002024号(“阴影掩模及利用该阴影掩模的有机电致发光器件的制造方法”，2008年1月4日)

发明内容

发明要解决的问题

因此，提出本发明以解决如上所述的现有技术问题，本发明的目的在于，提供一种有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法，能够在多个视角有效地检测混色不良。本发明的另一目的在于，提供一种有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法，能够迅速且有效地检查作为检查对象的单元的整个区域。

用于解决问题的手段

用于实现上述目的的本发明的有机发光二极管的混色不良检测装置100，检查多个有机发光二极管以二维方式排列而成的平面形状的单元，可包括：透镜部120，能够被设置成与所述单元的表面平行或倾斜；传感器部130，形成为多个图像传感器以二维方式排列而成的平面形状，感测通过所述透镜获得的所述单元的图像，并且能够被设置成与所述透镜部120的表面平行或倾斜；以及控制部，调节所述透镜部120的角度或所述传感器部130的角度。

此时，在将所述单元的表面称为物平面1，将所述透镜部120的透镜的中心面称为透镜平面2，将所述传感器部130的表面称为传感器平面3的情况下，所述控制部可以调节所述透镜部120的角度或所述传感器部130的角度，以满足所述物平面1的延长面、所述透镜平面2的延长面和所述传感器平面3的延长面相交于一直线的沙姆定律。

另外，在将所述透镜的中心点称为透镜中心点Q，将所述传感器部130的中心点称为传感器中心点P，将连接所述透镜中心点Q和所述传感器中心点P的直线与所述物平面1相交的点称为基准点T，将满足沙姆定律的点称为沙姆点S，将所述物平面1与所述透镜平面2形成的角称为光学系统倾斜角α，将需要从所述透镜平面2和所述传感器平面3平行的状态开始，根据所述光学系统倾斜角α以满足沙姆定律的方式旋转所述传感器部130的角度称为沙姆角θ的情况下，所述控制部可以通过以下式计算所述沙姆角θ：

其中，θ为沙姆角，α为光学系统倾斜角，C为基准点T与传感器中心点之间的距离，R为基准点T与沙姆点之间的距离。

另外，所述有机发光二极管的混色不良检测装置100可包括倾斜马达135，用于调节所述传感器部130的角度。

另外，所述有机发光二极管的混色不良检测装置100可包括变焦马达125，用于调节所述透镜部120与所述传感器部130之间的距离。

此外，在通过堆叠多个透镜来形成所述透镜部120时，所述透镜平面2可以被确定为最靠近所述物平面1的透镜的中心面。

另外，本发明的有机发光二极管的混色不良检测方法，使用如上所述形成的有机发光二极管的混色不良检测装置100，可包括：基准图像感测步骤，感测基准图像，所述基准图像是所述光学系统倾斜角为0且所述透镜平面2和所述传感器平面3平行的状态下的所述单元的整个区域的图像；视角倾斜调节步骤，将所述光学系统倾斜角α调节为非0的角度；沙姆定律满足步骤，将所述传感器平面3的角度调节为所述沙姆角θ以满足沙姆定律；倾斜图像感测步骤，感测倾斜图像，所述倾斜图像是所述沙姆定律满足步骤之后的状态下的所述单元的整个区域的图像；以及混色不良检测步骤，通过分析所述基准图像和所述倾斜图像来检测混色不良。

此时，所述混色不良检测步骤可包括：图像变换步骤，将所述倾斜图像的外廓形状变换为与所述基准图像的外廓形状相同，并生成变换图像；分区划分步骤，将所述基准图像和所述变换图像划分为预定的多个分区；以及检测信息获取步骤，针对各所述分区获取包括平均颜色和光强度的检测信息。

另外，所述混色不良检测步骤可以包括从以下步骤中选择的至少一个步骤：基准图像不良判断步骤，相互比较针对所述基准图像的各分区的检测信息，根据预定的基准来判断是否发生了混色不良；变换图像不良判断步骤，相互比较针对所述变换图像的各分区的检测信息，根据预定的基准来判断是否发生了混色不良；以及图像比较不良判断步骤，相互比较所述基准图像的选择出的分区和与其对应的所述变换图像的分区之间的所述检测信息，根据预定的基准判断是否发生了混色不良。

另外，在所述图像变换步骤中，可以通过利用仿射变换(affine transformation)来生成所述变换图像。

发明效果

根据本发明，通过克服现有的由于仅可在正面观察时(即，当视角垂直时)进行检测，从而无法检测微小的混色不良的局限性，并且使用沙姆定律实现在检测光学系统上倾斜的视角，因此，具有能够执行对多个视角的混色不良检测的大的效果。

而且，根据本发明，与现有的仅对单元整个区域中的多个点采样来执行检测不同，通过获取整个单元的图像来执行混色不良检测，从而具有能够迅速且有效地对单元整个区域执行混色不良检测的大的效果。

附图说明

图1示出物平面、焦平面、透镜平面和传感器平面的形成状态。

图2示出当光学系统倾斜时，根据焦平面倾斜的散焦状态。

图3示出散焦的图像的示例。

图4示出调节成满足沙姆定律的光学系统。

图5示出聚焦的图像的示例。

图6示出用于计算相机的倾斜角度的原理说明图。

图7至图10示出本发明的检测装置的实施例。

图11是示出本发明的检测方法的流程图。

附图标记说明

10：相机

1：物平面 1'：焦平面

2：透镜平面 3：传感器平面

3'：初始传感器平面

100：检测装置

110：壳体

120：透镜部 125：变焦马达

130：传感器部 135：倾斜马达

Q：透镜中心点 P：传感器中心点

T：基准点 S：沙姆点

具体实施方式

以下，参考附图对根据具有如上所述的构成的本发明的有机发光二极管的混色不良检测装置及检测方法进行详细说明。

[1]本发明的检测装置以及检测方法的原理

图1示出了物平面、焦平面、透镜平面和传感器平面的形成状态的几个示例。如图1所示，假设使用具有镜头的相机10拍摄某一物平面1。此时，如图1所示，相机10的镜头形成的透镜平面2、由镜头形成的焦平面1’和形成有从焦平面1’获得的图像的传感器平面3基本上始终是平行的。当物平面1和焦平面1’重合时，从传感器平面3获得的图像在所有区域都聚焦良好。

图2示出当光学系统倾斜时根据焦平面倾斜的散焦状态。在图2中，A-B对应于当物平面1与相机视角垂直时的焦平面1’，而A'-B'对应于当相机视角倾斜时的焦平面1’。如上所述，如果物平面1和焦平面1’重合，则能够获得焦点对准(即，聚焦)的图像，但是，如图2所示，当焦平面1’相对于物平面1倾斜时，如图3所示，会获得即使在一部分实现了聚焦，但在另一部分焦点未对准(即，散焦)的图像。在图3的示例中，示出了在中间部分获得焦点对准的图像，而在外廓部分中获得焦点未对准的图像。

如上所述，现有的检测有机发光二极管的混色不良的装置利用从正面观察的状态下采样的多个点获取的信息来执行检测。当混色程度不严重时，从正面难以判断是混色不良，但是从稍微倾斜的侧面观察，则可以看出发生了混色不良。然而，就现有的检测装置而言，光学系统是基于从正面观察而设计的，当倾斜光学系统进行观察时，如图2所示，只能得到散焦的图像，从而难以获得可靠的检测结果。

为了解决该问题，本发明将沙姆(Scheimpflug)定律应用于检测光学系统。沙姆定律是指，当物平面1和透镜平面2不平行且具有一定的倾斜角度时，“物平面1、透镜平面2、传感器平面3的延长面始终相交于一直线”。物平面1是固定的表面，因此，可以通过适当地倾斜透镜平面2或传感器平面3来满足沙姆定律。当满足这样的沙姆定律时，即使物平面1和透镜平面2以一定角度设置，也可以获得焦点对准的图像。

图4示出调节成满足上述沙姆定律的光学系统。如图4所示，假设透镜平面2相对于物平面1形成预定角度并倾斜地设置。由于通常透镜和传感器平行地设置，因此在初始状态下，如图4所示，初始传感器平面3'平行于透镜平面2形成。然而，在这种状态下，如图3的示例所示，获得散焦的图像。此时，如图4所示，若倾斜传感器以使传感器平面3的延长面满足沙姆定律，则如上所述，能够获得聚焦的图像。图5示出即使视角以这种方式倾斜地形成也聚焦的图像的示例。当比较图3和图5时，在图3中，可以看出由于外扩部分焦点未对准而使图像模糊，而在图5中，可以看出中心部分和两侧外廓部分焦点均对准。

图6示出用于计算相机的倾斜角度的原理说明图。通过图6对本发明的检测装置原理进行更详细的说明。首先，用于解释原理的每个部分定义如下。在图6中，将所述单元的表面称为物平面1，将所述透镜部120的透镜的中心面称为透镜平面2，将所述传感器部130的表面称为传感器平面3。在图6中，在最初透镜和传感器平行的状态下示为初始传感器平面3’，当满足沙姆定律时，示为传感器平面3。

另外，将所述透镜的中心点称为透镜中心点Q，将所述传感器部130的中心点称为传感器中心点P，将连接所述透镜中心点Q和所述传感器中心点P的直线与所述物平面1相交的点称为基准点T，将满足沙姆定律的点称为沙姆点S。另外，将所述物平面1与所述透镜平面2形成的角称为光学系统倾斜角α，将需要从所述透镜平面2和所述传感器平面3平行的状态开始，根据所述光学系统倾斜角α以满足沙姆定律的方式旋转所述传感器部130的角度称为沙姆角θ。

如图6所示，当基准点T和透镜中心点Q之间的距离称为X，且基准点T和沙姆点S之间的距离称为R时，R值可以表示为公式1。

[公式1]

当传感器中心点P和沙姆点S之间的距离称为

且基准点T和传感器中心点P之间的距离称为C时，根据第二余弦定律，

值可以表示为公式2。

[公式2]

此外，当

的延长线和C的延长线形成的角度称为β时，β值可以表示为公式3。

[公式3]

将公式2代入到公式3并整理β，可以获得以下公式4。

[公式4]

此时，若用β表示沙姆角θ，则沙姆角θ可以表示为以下公式5。

[公式5]

若将公式4代入到公式5并整理θ，则可以通过公式6获得沙姆角θ值。

[公式6]

[2]本发明的有机发光二极管的混色不良检测装置

图7至图10示出本发明的检测装置的实施例，如图所示，本发明的有机发光二极管的混色不良检测装置100包括透镜部120、传感器部130和控制部(未图示)，以检查多个有机发光二极管以二维方式排列而成的平面形态的单元。另外，如图所示，本发明的有机发光二极管的混色不良检测装置100还可包括壳体110，以能够稳定地容纳并模块化所述透镜部120、所述传感器部130等。

所述透镜部120能够被设置成与所述单元的表面平行或倾斜。此时，由于所述透镜部120等稳定地支撑在所述壳体110，因此通过将模块化的所述检测装置100本身附接到单独的移动装置并移动，从而可以使所述透镜部120的透镜平面2设置成与所述单元的表面平行或倾斜。当所述透镜部120由单个透镜形成时，透镜平面2被显然地确定为单个透镜中心面。此外，当通过堆叠多个透镜来形成所述透镜部120时，透镜平面2被确定为最靠近所述物平面1的透镜的中心面。

所述传感器部130形成为多个图像传感器以二维方式排列而成的平面形状，起到感测通过所述透镜获得的所述单元的图像的作用。另外，由于所述传感器部130能够被设置成与所述透镜部120的表面平行或倾斜，因此即使所述检测装置100以某一光学系统倾斜角α设置，也可以单独移动所述传感器部130以满足沙姆定律。为了使所述传感器部130旋转，所述检测装置100还可包括倾斜马达135，用于调节所述传感器部130的角度。

所述控制部用于调节所述透镜部120或所述传感器部130的角度。当所述控制部想要调节所述传感器部130的角度时，所述控制部可以控制所述倾斜马达135。此外，在所述控制部想要调节所述透镜部120的角度的情况下，如图所示，当由于所述检测装置100被模块化因此需要移动附接有所述检测装置100本身的移动装置以形成某一光学系统倾斜角α时，所述控制部可以控制所述移动装置。

在所述控制部将所述透镜部120的角度调节为某一光学系统倾斜角α之后，所述控制部可以调节所述传感器部130角度，使得满足所述物平面1的延长面、所述透镜平面2的延长面和所述传感器平面3的延长面相交于一直线的沙姆定律。当然，如果预先确定所述传感器部130角度，则所述控制部可以形成为根据所述传感器部130角度调节所述透镜部120的角度。在任何情况下，所述控制部(根据上述原理)可以通过以下式计算所述沙姆角θ。

其中，θ为沙姆角，α为光学系统倾斜角，C为基准点与传感器中心点之间的距离，R为基准点与沙姆点之间的距离。

另外，所述检测装置100还可包括变焦马达125，用于调节所述透镜部120与所述传感器部130之间的距离。可以通过调节所述透镜部120与所述传感器部130之间的距离来调节透镜倍率，并且通过调节透镜倍率，可以容易且有效地获得多个尺寸的所述单元的图像。

[3]本发明的有机发光二极管的混色不良检测方法

通过利用如上所述的本发明的有机发光二极管的混色不良检测装置100，对检测混色不良的检测方法进行更详细的说明。如图11所示，本发明的有机发光二极管的混色不良检测方法包括基准图像感测步骤、视角倾斜调节步骤、沙姆定律满足步骤、倾斜图像感测步骤、混色不良检测步骤。

在所述基准图像感测步骤中，感测基准图像，该基准图像是所述光学系统倾斜角α为0且所述透镜平面2和所述传感器平面3平行的状态下的所述单元的整个区域的图像。当所述光学系统倾斜角α为0且所述透镜平面2和所述传感器平面3平行时，由于物平面-透镜平面-传感器平面均平行，因此与沙姆定律无关，可以获得焦点对准的图像。另外，由于在透镜正面面向物体的状态下获取图像，因此可以获得没有形状失真的图像。例如，当作为目标的所述单元为矩形形状时，在所述基准图像感测步骤获得的基准图像也以矩形形状呈现。

在所述视角倾斜调节步骤中，将所述光学系统倾斜角α调节为非0的角度。如上所述，当使用从正面拍摄的图像进行混色不良检查时，存在无法检测程度不严重的混色不良的情况。在这种情况下，可以通过倾斜视角并倾斜地观察来检测这种混色不良。

在所述沙姆定律满足步骤中，将所述传感器平面3的角度调节为所述沙姆角θ以满足沙姆定律。如上所述，当倾斜视角并倾斜地观察时，就透镜平面-传感器平面通常固定为平行状态的光学系统而言，由于焦平面和物平面大幅度的错开，从而获得焦点未对准的图像。当检测用图像的焦点未对准时，即使分析图像，也无法正确地进行有机发光二极管的混色不良检测，因此即使倾斜视角，也需要获得焦点对准的图像。此时，如以上原理说明中所述，即使光学系统和物平面倾斜，如果满足沙姆定律，也可以获得焦点对准的图像。即，为了即使在如此倾斜的视角下也能够获得聚焦的图像，本发明的检测装置100形成为能够调节透镜平面-传感器平面之间的角度。

在所述倾斜图像感测步骤中，感测倾斜图像，该倾斜图像是所述沙姆定律满足步骤之后的状态下的所述单元的整个区域的图像。如上所述，当物平面、透镜平面、传感器平面的延长面相交于一直线而满足沙姆定律时，可以获得焦点对准的图像。因此，能够通过分析所述倾斜图像来检测视角倾斜的状态下的混色不良。另一方面，此时，例如，如果作为目标的所述单元为矩形形状，则在所述倾斜图像感测步骤获得的倾斜图像以失真的形状，如梯形呈现。

在所述混色不良检测步骤中，通过分析所述基准图像和所述倾斜图像来检测混色不良。此时，可以存在多种分析所述基准图像和所述倾斜图像的方式，以下，以图11的实施例为基准进行说明。

如图11所示，所述混色不良检测步骤可包括图像变换步骤、分区划分步骤、检测信息获取步骤。

在所述图像变换步骤中，将所述倾斜图像的外廓形状变换为与所述基准图像的外廓形状相同，并生成变换图像。如上所述，例如，当所述单元为矩形形状时，所述基准图像(没有失真)以矩形形状呈现，所述倾斜图像(由于失真)以梯形形状呈现。此时，通过利用对应所述基准图像和所述倾斜图像的每个点来进行坐标变换的方式，即，仿射变换(affinetransformation)，从而容易地将所述倾斜图像生成为所述变换图像。由于仿射变换仅是空间上的变换，从而不影响图像的亮度，因此即使通过使用利用仿射变换生成的所述变换图像来检查混色不良，也没有任何问题。

在所述分区划分步骤中，所述基准图像和所述变换图像可以被划分为预定的多个分区。如上述的示例，当所述单元为矩形形状时，可以分为M个行和N个列以分为M×N个分区，此时，用户可以根据需要适当决定M、N值。

在所述检测信息获取步骤中，针对每个所述分区获取包括平均颜色和光强度的检测信息。可以使用如上所述获取的检测信息检查混色不良，根据检查方式，可以执行基准图像不良判断步骤、变换图像不良判断步骤、图像比较不良判断步骤中的至少一个步骤。

在所述基准图像不良判断步骤中，相互比较针对所述基准图像的各分区的检测信息，根据预定的基准来判断是否发生了混色不良。例如，当在整个所述单元打开R颜色的状态下获取所述基准图像时，如果是没有发生混色不良的理想情况，则在所有M×N个分区中获得的检测信息将相同。此外，当在任意一个分区中发生混色不良时，即，作为一例，如果在应印刷有R有机发光物质的位置混合G或B有机发光物质，则在该分区中，与其他分区相比，R值将较低且G或B值将较高。如果发现了这样的分区，则可以判定在该分区中发生了混色不良。然而，在如上所述的理想情况下，所有分区中的检测信息示为相同，但实际上，由于一些噪声等，所有分区中的检测信息并不能完全相同。因此，当判断混色不良时，优选以如下方式判断混色不良：如果各分区中的检测信息在预定的适当的水准范围内，则判断为正常，而如果超出该范围，则判断为不良。

在所述变换图像不良判断步骤中，类似于所述基准图像不良判断步骤，通过使用所述变换图像来判断混色不良发生。即，相互比较针对所述变换图像的各分区的检测信息，根据预定的基准来判断是否发生了混色不良。如上所说明，当混色不良程度严重时，在从正面观察的图像(即，所述基准图像)中也能容易地检测出混色不良，但当混色不良程度不严重时，可能无法很好地从正面检测混色不良。在这种情况下，通过使用倾斜观察的图像(即，所述变换图像)执行混色不良检测，可以检测到由于程度不严重而从正面未检测到的混色不良。

在所述图像比较不良判断步骤中，相互比较所述基准图像的选择出的分区和与其对应的所述变换图像的分区之间的所述检测信息，从而根据预定的基准判断是否发生了混色不良。在所述基准图像不良判断步骤或所述变换图像不良判断步骤各自中，单独使用所述基准图像或所述变换图像来判断混色不良。在如上所述的理想情况下，当没有不良时，所有分区中的检测信息应示为相同，但实际上，由于如照明等的噪声，根据位置可能会出现细微的亮度差异等。但是，如果考虑到这些变量来确定不良判断基准，则存在基准范围会过宽的风险。此外，在所述图像比较不良判断步骤中，由于通过以所述基准图像为基准比较所述变换图像来判断混色不良，因此不良判断基准范围没有必要过宽。另外，以此方式，可以更有效地检测从正面观察时未检测到但从倾斜角度观察时可检测的混色不良。

在所述混色不良检测步骤中，没有必要全部执行如上所述的基准图像不良判断步骤、变换图像不良判断步骤、图像比较不良判断步骤。例如，当最先执行基准图像不良判断步骤且在基准图像中检测到混色不良时，由于已经检测到混色不良，因此不必执行其余两个步骤。此外，当在基准图像中未检测到混色不良时，需要确认在变换图像中是否检测到混色不良，此时，可以在变换图像不良判断步骤和图像比较不良判断步骤两个步骤中仅执行一个来执行混色不良检测，也可以执行两个步骤。

附加地，在获取一张基准图像后，可以改变光学系统倾斜角而获取多张倾斜图像，并执行混色不良检测。例如，获取一张基准图像后，获取光学系统倾斜角向右侧倾斜45度的情况和向左侧倾斜45度的情况下的两张倾斜图像，可以通过使用所有三张图像来执行混色不良检测。此时，当然，当获取和检测各倾斜图像时，可以以与倾斜图像数量一样多的次数反复执行上述的与倾斜图像相关的步骤。

本发明不限于上述实施例，适用范围广泛，并且在不脱离权利要求所要求保护的本发明的主旨的情况下，本发明所属领域的任何普通技术人员都可以实施各种修改。

工业适用性

根据本发明，通过应用沙姆定律在检测光学系统中实现倾斜的视角，从而可以执行针对各种视角的混色不良检测。另外，通过获取整个单元的图像并执行混色不良检测，可以迅速并有效地执行对单元的整个区域的混色不良检测。

Claims (10)

1.一种有机发光二极管的混色不良检测装置，所述有机发光二极管的混色不良检测装置检查多个有机发光二极管以二维方式排列而成的平面形状的单元，其特征在于，所述有机发光二极管的混色不良检测装置包括：

透镜部，能够被设置成与所述单元的表面平行或倾斜；

传感器部，形成为多个图像传感器以二维方式排列而成的平面形状，感测通过所述透镜获得的所述单元的图像，并且能够被设置成与所述透镜部的表面平行或倾斜；以及

控制部，调节所述透镜部的角度或所述传感器部的角度。

2.根据权利要求1所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

在将所述单元的表面称为物平面，将所述透镜部的透镜的中心面称为透镜平面，将所述传感器部的表面称为传感器平面的情况下，

所述控制部调节所述透镜部的角度或所述传感器部的角度，以满足所述物平面的延长面、所述透镜平面的延长面和所述传感器平面的延长面相交于一直线的沙姆定律。

3.根据权利要求2所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

在将所述透镜的中心点称为透镜中心点，将所述传感器部的中心点称为传感器中心点，将连接所述透镜中心点和所述传感器中心点的直线与所述物平面相交的点称为基准点，将满足沙姆定律的点称为沙姆点，

将所述物平面与所述透镜平面形成的角称为光学系统倾斜角，将需要从所述透镜平面和所述传感器平面平行的状态开始，根据所述光学系统倾斜角以满足沙姆定律的方式旋转所述传感器部的角度称为沙姆角的情况下，

所述控制部通过以下式计算所述沙姆角：

其中，θ为沙姆角，α为光学系统倾斜角，C为基准点与传感器中心点之间的距离，R为基准点与沙姆点之间的距离。

4.根据权利要求1所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

所述有机发光二极管的混色不良检测装置包括倾斜马达，用于调节所述传感器部的角度。

5.根据权利要求1所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

所述有机发光二极管的混色不良检测装置包括变焦马达，用于调节所述透镜部与所述传感器部之间的距离。

6.根据权利要求2所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，

在通过堆叠多个透镜来形成所述透镜部时，所述透镜平面被确定为最靠近所述物平面的透镜的中心面。

7.一种有机发光二极管的混色不良检测方法，使用根据权利要求3所述的有机发光二极管的混色不良检测装置，其特征在于，所述有机发光二极管的混色不良检测方法包括：

基准图像感测步骤，感测基准图像，所述基准图像是所述光学系统倾斜角为0且所述透镜平面和所述传感器平面平行的状态下的所述单元的整个区域的图像；

视角倾斜调节步骤，将所述光学系统倾斜角调节为非0的角度；

沙姆定律满足步骤，将所述传感器平面的角度调节为所述沙姆角以满足沙姆定律；

倾斜图像感测步骤，感测倾斜图像，所述倾斜图像是所述沙姆定律满足步骤之后的状态下的所述单元的整个区域的图像；以及

混色不良检测步骤，通过分析所述基准图像和所述倾斜图像来检测混色不良。

8.根据权利要求7所述的有机发光二极管的混色不良检测方法，其特征在于，

所述混色不良检测步骤包括：

图像变换步骤，将所述倾斜图像的外廓形状变换为与所述基准图像的外廓形状相同，并生成变换图像；

分区划分步骤，将所述基准图像和所述变换图像划分为预定的多个分区；以及

检测信息获取步骤，针对各所述分区获取包括平均颜色和光强度的检测信息。

9.根据权利要求8所述的有机发光二极管的混色不良检测方法，其特征在于，

所述混色不良检测步骤包括从以下步骤中选择的至少一个步骤：

基准图像不良判断步骤，相互比较针对所述基准图像的各分区的检测信息，根据预定的基准来判断是否发生了混色不良；

变换图像不良判断步骤，相互比较针对所述变换图像的各分区的检测信息，根据预定的基准来判断是否发生了混色不良；以及

图像比较不良判断步骤，相互比较所述基准图像的选择出的分区和与其对应的所述变换图像的分区之间的所述检测信息，根据预定的基准判断是否发生了混色不良。

10.根据权利要求8所述的有机发光二极管的混色不良检测方法，其特征在于，

在所述图像变换步骤中，通过利用仿射变换来生成所述变换图像。

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