CN111987009B - 一种pd芯片响应度测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明属于光通信行业，尤其涉及一种PD芯片响应度测试系统。本发明的系统包括探针台部分、光源部分、响应度显示部分，是一种简单、易操作、成本较低的PD芯片响应度测试系统，可以在芯片正式投入生产前，将不良品筛选出来，极大程度的提高生产良率与生产效率，避免了不良品流入生产造成的工时浪费以及其他原材料损失。
Description
技术领域
本发明属于光通信行业，尤其涉及一种PD芯片响应度测试系统。
背景技术
随着光通信行业的迅猛发展，现在对ROSA(Receiver Optical Subassembly，光接收模块)的需求量也越来越大。PD芯片作为ROSA的关键组件，在投产过程中，从外观上很难判断PD芯片性能是否良好，一旦投入生产线，需要到生产后期才能发现PD芯片是否出现性能不良情况，此时，对产品进行返修不仅会耗费大量时间，还容易导致其它原材料的报废，增加成本。目前的PD芯片均没有在投产前期进行响应度检测或者测试，也没有相关响应度检测方法的报道。
发明内容
本发明的目的是提升PD芯片生产良率，在芯片投入生产线之前对PD芯片响应度进行快速、简单的测试，筛选出不良芯片，减少不必要的成本浪费。为实现该目的，本发明提供了一种PD芯片响应度测试系统，可以减少不必要的成本浪费，有效提升产品良率以及生产效率。
本发明的技术方案：
一种PD芯片响应度测试系统，主要由探针台部分、光源部分和响应度显示部分组成；
所述探针台部分包括三个三轴位移平台、两个探针台1和一个PD芯片治具，三轴位移平台并列布置，两个探针台1和PD芯片治具分别安装在一个三轴位移平台上，且两个探针台1位于PD芯片治具的两侧；两个探针支架的底端分别安装在两个探针台1上，两个探针分别安装在探针支架顶端；PD芯片治具用于安装PD芯片，且PD芯片治具上设有光纤夹头支架；测试时，通过三轴位移平台调节探针台1和PD芯片治具的位置。
所述光源部分包括光源装置6和会聚光插针5，会聚光插针5与光源装置6通过光纤连接，会聚光插针5安装在光纤夹头支架上，使会聚光插针5垂直对准PD芯片7，将光照射在PD芯片7上，为PD芯片7提供光源；
所述响应度显示部分包括皮安表4、ROSA半成品2和电源3；ROSA半成品2中含有跨阻放大器且不含PD芯片；电源3的正负极分别通过引线与跨阻放大器的正负极电源引脚相连，跨阻放大器的PIN<A>和PIN<K>引脚分别与两个探针的一端相连，两个探针的另一端分别与PD芯片7的正负极相连，并保证与PIN<A>引脚相连的探针与PD芯片7的正极相连，与PIN<K>引脚相连的探针与PD芯片7的负极相连，ROSA半成品2和电源3共同为PD芯片7加电；皮安表4与跨阻放大器输出脚RSSI相连，显示待测PD芯片7产生的电流数值。
本发明的有益效果：本发明提出了一种简单、易操作、成本较低的PD芯片响应度测试系统，可以在芯片正式投入生产前，将不良品筛选出来，极大程度的提高生产良率与生产效率，避免了不良品流入生产造成的工时浪费以及其他原材料损失。
附图说明
图1为本发明测试系统的整体结构示意图。
图中：1探针台；2 ROSA半成品；3电源；4皮安表；5会聚光插针；6光源装置；7 PD芯片。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式对本发明进行详细说明。
如图1所示，本发明的PD芯片响应度测试系统，主要由探针台部分、光源部分、响应度显示部分组成。
测试时，首先将待测的PD芯片7放置于PD芯片治具正中心圆盘上，通过三轴位移平台调节PD芯片治具和探针台的位置，从而调节PD芯片和探针的位置，使PD芯片7正负极分别与两个探针连接；电源3的正负极与ROSA半成品2中的跨阻放大器的正负极电源引脚相连，跨阻放大器的PIN<A>、PIN<K>与两个探针连接，为待测PD芯片7加电；光源装置6为待测的PD芯片7提供10μW光源，10μW光源通过光纤传输至会聚光插针5，会聚光插针5垂直于待测PD芯片7正上方；PD芯片7产生响应电流并通过跨阻放大器输出脚RSSI传输至皮安表4，根据公式：响应度＝响应电流/光源功率(A/W)可得响应度数值。
Claims (1)
1.一种PD芯片响应度测试方法，其特征在于，包括PD芯片响应度测试系统；所述的PD芯片响应度测试系统主要由探针台部分、光源部分和响应度显示部分组成；
所述探针台部分包括三个三轴位移平台、两个探针台（1）和一个PD芯片治具，三轴位移平台并列布置，两个探针台（1）和PD芯片治具分别安装在一个三轴位移平台上，且两个探针台（1）位于PD芯片治具的两侧；两个探针支架的底端分别安装在两个探针台（1）上，两个探针分别安装在探针支架顶端；PD芯片治具用于安装PD芯片，且PD芯片治具上设有光纤夹头支架；测试时，通过三轴位移平台调节探针台（1）和PD芯片治具的位置；
所述光源部分包括光源装置（6）和会聚光插针（5），会聚光插针（5）与光源装置（6）通过光纤连接，会聚光插针（5）安装在光纤夹头支架上，使会聚光插针（5）垂直对准PD芯片（7），将光照射在PD芯片（7）上，为PD芯片（7）提供光源；
所述响应度显示部分包括皮安表（4）、ROSA半成品（2）和电源（3）；ROSA半成品（2）中含有跨阻放大器且不含PD芯片；电源（3）的正负极分别通过引线与跨阻放大器的正负极电源引脚相连，跨阻放大器的PIN<A>和PIN<K>引脚分别与两个探针的一端相连，两个探针的另一端分别与PD芯片（7）的正负极相连，并保证与PIN<A>引脚相连的探针与PD芯片（7）的正极相连，与PIN<K>引脚相连的探针与PD芯片（7）的负极相连，ROSA半成品（2）和电源（3）共同为PD芯片（7）加电；皮安表（4）与跨阻放大器输出脚RSSI相连，显示待测PD芯片（7）产生的电流数值；
测试时，首先将待测的PD芯片（7）放置于PD芯片治具正中心圆盘上，通过三轴位移平台调节PD芯片治具和探针台的位置，从而调节PD芯片和探针的位置，使PD芯片（7）正负极分别与两个探针连接；电源（3）的正负极与ROSA半成品（2）中的跨阻放大器的正负极电源引脚相连，跨阻放大器的PIN<A>、PIN<K>与两个探针连接，为待测PD芯片（7）加电；光源装置（6）为待测的PD芯片（7）提供10μW光源，10μW光源通过光纤传输至会聚光插针（5），会聚光插针（5）垂直于待测PD芯片（7）正上方；PD芯片（7）产生响应电流并通过跨阻放大器输出脚RSSI传输至皮安表（4），根据公式：响应度=响应电流/光源功率可得响应度数值。
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