CN111833821A - 显示驱动电路及其操作方法 - Google Patents

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CN111833821A CN202010180325.8A CN202010180325A CN111833821A CN 111833821 A CN111833821 A CN 111833821A CN 202010180325 A CN202010180325 A CN 202010180325A CN 111833821 A CN111833821 A CN 111833821A
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郑智镛
宋容周
安贞雅
李河俊
陈永燮
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Abstract

提供了一种显示驱动电路及其操作方法。所述电路驱动显示面板,该显示面板包括数据线、感测线以及连接到数据线和感测线的子像素。所述显示驱动电路包括驱动数据线的数据驱动器集成电路。数据驱动器集成电路包括驱动块和感测块。驱动块包括多个数模转换器(DAC),每一个DAC对于接收到的子像素数据执行数模转换以生成输出电压并将DAC的输出电压提供给数据线。感测块在第一操作模式下测量从DAC输出的灰度电压,并在第二操作模式下测量从感测线接收的子像素的像素电压。

Description

显示驱动电路及其操作方法
相关申请的交叉引用
本申请要求于2019年4月22日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请第10-2019-0046943号的优先权,其公开通过引用被全文合并于此。
技术领域
与本公开相符的装置、设备和方法涉及半导体设备,更具体地涉及驱动显示面板使得图像显示在显示面板上的显示驱动电路、以及显示驱动电路的操作方法。
背景技术
显示装置包括显示图像的显示面板以及驱动显示面板的显示驱动电路。显示驱动电路可以通过从外部接收图像数据并将与接收到的图像数据相对应的图像信号施加到显示面板的数据线来驱动显示面板。近来,有机发光二极管(organic light-emittingdiode,OLED)显示面板被更广泛地使用,在所述OLED显示面板中像素阵列的多个子像素均包括OLED。
在OLED显示面板中,当子像素之间的电特性(诸如子像素中设置的驱动晶体管的阈值电压和迁移率)不一致并且电特性由于例如子像素的劣化而改变时,OLED显示面板上显示的图像的质量可能下降。因此,已经对为此劣化提供补偿的技术进行了研究。
发明内容
一方面是提供显示驱动电路以及显示驱动电路的操作方法,在该显示驱动电路中可防止根据数据驱动器中设置的多个数模转换电路的输出偏移的图像质量的下降。
根据一个或更多个实施例的一方面,提供一种显示驱动电路,其被配置为驱动显示面板,所述显示面板包括多条数据线、多条感测线以及连接到所述多条数据线和所述多条感测线的多个子像素,所述显示驱动电路包括数据驱动器集成电路,被配置为驱动所述多条数据线,其中所述数据驱动器集成电路包括:驱动块,所述驱动块包括多个数模转换器(digital-analog converter,DAC),每一个DAC被配置为对于接收到的子像素数据执行数模转换以生成输出电压并将所述多个DAC的所述输出电压提供给所述多条数据线;以及感测块,被配置为在第一操作模式下测量从所述多个DAC输出的灰度电压以及在第二操作模式下测量从所述多条感测线接收的所述多个子像素的像素电压。
根据一个或更多个实施例的另一方面,提供一种显示驱动电路,所述显示驱动电路包括:数据驱动器,所述数据驱动器包括驱动块,所述数据驱动器被配置为生成多个数据电压,在校准模式下在内部提取从所述驱动块输出的多个数据电压,以及在感测模式下读取从显示面板的多个子像素接收的多个像素电压;以及定时控制器,被配置为基于所述多个子像素的电特性和基于在所述多个数据电压的基础上提取的所述驱动块的依据通道的输出特性(output properties according to channels)对被提供给所述数据驱动器的图像数据执行数据补偿,以及向所述数据驱动器提供补偿后的图像数据。
根据一个或更多个实施例的另一方面,提供一种对接收到的图像数据执行数据补偿的显示驱动电路的操作方法,所述操作方法包括:由数据驱动器测量驱动块的依据通道的输出特性,所述驱动块被配置为生成将被提供给显示面板的数据电压;由所述数据驱动器测量所述显示面板的多个子像素的电特性;以及由所述数据驱动器在基于所述输出特性和基于所述电特性补偿后的图像数据的基础上驱动所述显示面板。
根据一个或更多个实施例的另一方面,提供一种显示驱动电路,其包括:数据驱动器集成电路,被配置为通过多个数模转换器(DAC)驱动显示面板的多条数据线,确定用于图像数据的补偿数据,以及在校准模式下执行所述DAC的校准以生成校准数据;以及定时控制器,被配置为基于所述补偿数据和所述校准数据对被提供给所述数据驱动器集成电路的所述图像数据执行数据补偿,并将补偿后的图像数据提供给所述数据驱动器集成电路。
附图说明
从结合附图进行的以下详细描述,实施例将被更清楚地理解,在附图中:
图1是根据示例实施例的显示系统的框图;
图2是根据示例实施例的显示装置的示图;
图3是根据示例实施例的子像素的等效电路图;
图4示出根据示例实施例的图2中示出的显示装置的数据驱动器的校准操作;
图5A和图5B均是示出根据示例实施例的测量子像素的电特性的方法的曲线图;
图6是示出根据示例实施例的数模转换器(DAC)输出的依据灰度的偏移(offsetsaccording to grayscales)的曲线图;
图7A至图7C示出根据示例实施例的测量DAC的依据灰度的输出(outputsaccording to grayscales)的方法、以及存储基于所测量的依据灰度的输出的依据灰度的偏移的方法;
图8是根据示例实施例的数据驱动器的电路图;
图9是根据示例实施例的数据驱动器的电路图;
图10是根据示例实施例的包括定时控制器和数据驱动器的显示系统的示图;
图11是根据示例实施例的包括定时控制器和数据驱动器的显示系统的示图;
图12是根据示例实施例的显示装置的操作方法的流程图;
图13示出根据示例实施例的显示装置;以及
图14示出根据示例实施例的显示装置。
具体实施方式
在下文中,将参考附图描述各种实施例。
图1是根据示例实施例的显示系统的框图。
根据示例实施例的显示系统1可以被安装在具有图像显示功能的电子设备中。例如,该电子设备可以包括智能电话、平板个人计算机(personal computer,PC)、便携式多媒体播放器(portable multimedia player,PMP)、照相机、可穿戴设备、电视机、数字视频盘(digital video disk,DVD)播放器、冰箱、空调、空气净化器、机顶盒、各种类型的医疗仪器、导航设备、全球定位系统(global positioning system,GPS)接收器、用于车辆的设备、家具、各种类型的测量设备或者类似物。
参考图1,显示系统1可以包括显示驱动电路10、显示面板20和主处理器(hostprocessor)30,并且显示驱动电路10可以包括定时控制器200和数据驱动器100。显示驱动电路10可以进一步包括栅驱动器300(见图2)。
通常,主处理器30可以控制显示系统1。主处理器30可以生成要在显示面板20上显示的图像数据,并将图像数据和控制命令发送到显示驱动电路10。处理器30可以是图形处理器。然而,主处理器30不限于此,并且可以被实现为各种类型的处理器,诸如微处理器、多媒体处理器和应用处理器。在一些实施例中,主处理器30可以被实现为集成电路(integrated circuit,IC)或片上系统(system on chip,SOC)。
显示面板20包括像素阵列,该像素阵列包括多条信号线和多个像素。多个像素以矩阵形式布置。像素阵列中的每一个像素可以包括多个子像素SPX(见图2)。各种颜色组合的子像素可以构成一个像素。例如,红色(R)、绿色(G)和蓝色(B)子像素可以构成一个像素。换句话说,像素可以具有RGB结构。然而,像素不限于此,并且可以进一步包括用于提高亮度的白色(W)子像素,或者替代地,像素可以通过其他颜色的子像素的组合来被实现。
在一些实施例中,显示面板20可以是有机发光二极管(OLED)显示面板,在OLED显示面板中每一个子像素包括OLED。然而,显示面板20不限于此,并且可以被实现为另一类型的平板显示器或柔性显示面板。
定时控制器200可以基于从主处理器30接收到的控制命令来控制数据驱动器100和栅驱动器300的驱动定时。定时控制器200可以针对从主处理器接收的图像数据执行各种图像处理以改变图像数据的格式、补偿显示面板20的子像素的电特性、减少功耗等等。例如,当显示面板20具有RGBW结构并且接收到的图像数据具有与RGB结构相对应的RGB数据格式时,定时控制器200可以执行数据格式改变处理以将图像数据的数据格式从RGB数据格式改变成RGBW数据格式。
数据驱动器100可以将从定时控制器200接收到的图像数据转换为模拟数据信号,并将该模拟数据信号提供给显示面板20以驱动显示面板20。另外,数据驱动器100可以测量多个子像素的电特性。数据驱动器100可以在显示模式下驱动显示面板20,并且在感测模式下测量多个子像素的电特性。
数据驱动器100可包括数模转换器(DAC)11(以下称为DAC)和模数转换器(ADC)21(以下称为ADC)。DAC 11可以被称为通道驱动器。为了说明的方便,在图1中示出了一个DAC11和一个ADC 21,然而数据驱动器100可以实际上包括多个DAC 11和至少一个ADC 21。多个DAC 11可以各自驱动显示面板20的一条信号线(例如数据线DL)(见图2)或者时分驱动多条信号线。
从主处理器30接收的图像数据可以包括分别与多个子像素相对应的多条子像素数据Dspx。DAC 11可以将子像素数据Dspx转换为模拟数据信号,即数据电压Vd,并且将数据电压Vd提供给子像素。数据电压Vd可以是多个灰度电压当中的与子像素数据Dspx的数据值相对应的灰度电压。
ADC 21可以将根据子像素的电特性测量的模拟感测值转换为数字信号。例如,在感测模式下,ADC 21可以读出从显示面板20提供的像素电压Vps作为感测数据Dsen。
数据驱动器100可以将感测数据Dsen提供给定时控制器200,并且定时控制器200可以基于感测数据Dsen,执行图像处理以补偿多个子像素的电特性之间的偏差和/或多个子像素的劣化。定时控制器200可以基于感测数据Dsen提取多个子像素中的每一个子像素的电特性,基于电特性确定补偿值,并且存储补偿值。定时控制器200可以基于补偿值,为要被提供给多个子像素中的每一个子像素的子像素数据提供补偿。如上所述,在对多个子像素的电特性的补偿中,补偿要被提供给子像素的子像素数据的数据值的数据补偿方法被称为外部补偿。
同时,在根据图1的显示系统1中,定时控制器200可以在执行外部补偿时将输出特性,即输出偏移(建立的输出电压与实际输出电压之间的差;以下被称为偏移),施加到数据驱动器100的DAC 11。为此,在校准模式下,数据驱动器100可以将DAC 11的输出,即数据电压Vd,提供给ADC 21,并且ADC 21可以读出数据电压Vd。在一些实施例中,DAC 11可以输出与可以由子像素数据Dspx表示的灰度的全部或一些相对应的数据电压Vd,并且ADC 21可以读出依据灰度的数据电压Vd以生成感测数据Dsen。
在校准模式下,定时控制器200可以从数据驱动器100接收指示依据灰度的数据电压Vd的感测数据Dsen,基于感测数据Dsen提取DAC 11的输出特性,并存储提取的输出特性。在一些实施例中,定时控制器200可以基于感测数据Dsen提取依据灰度的输出偏移,并且存储依据灰度的输出偏移。
如上所述,数据驱动器100可以包括多个DAC 11,并且定时控制器200可以在执行外部补偿时基于多个子像素中的每一个子像素的电特性以及多个DAC 11中的每一个的输出特性(也称为依据通道的输出特性)确定补偿值,并基于所确定的补偿值补偿图像数据。例如,当要提供给第一子像素的子像素数据Dspx代表120灰度时,定时控制器200可以基于第一子像素的电特性以及驱动第一子像素的DAC 11的对于120灰度的偏移(即从DAC 11输出的对应于120灰度的数据电压Vd的偏移)来确定补偿值,并通过使用所确定的补偿值来补偿子像素数据Dspx。定时控制器200可以基于所确定的补偿值来改变子像素数据Dspx的数据值。
如上所述,在显示系统1中,数据驱动器100可以使用被提供来测量多个子像素的电特性的ADC 21来内部测量多个DAC 11的输出,并且在执行外部补偿时,数据驱动器100可以将所确定的补偿值应用于所述多个DAC 11的输出特性。因此,外部补偿的准确度可以被改善。
图2是根据示例实施例的显示装置的示图,图3是根据示例实施例的子像素的等效电路图。
图2更具体地示出图1的显示驱动电路10和显示面板20。参考图1的对显示驱动电路10和显示面板20的描述可以应用于本实施例。
参考图2,显示装置2可以包括显示驱动电路10和显示面板20。
显示面板20包括多条信号线(即多条数据线DL、多条感测线SL、多条第一栅线GL1和多条第二栅线GL2)和连接到所述多条信号线的多个子像素SPX。对应于多种颜色的多个相邻子像素SPX可以构成一个像素(单位像素)。
子像素SPX可以连接到数据线DL、感测线SL、第一栅线GL1和第二栅线GL2。布置在同一行中的子像素SPX分别连接到不同的数据线DL。在一些实施例中,布置在同一行中的子像素SPX当中的相邻子像素SPX可以连接到同一感测线SL。例如,一个单位像素中包括的子像素SPX可以连接到相同的感测线SL。然而,实施例不限于此,并且布置在同一行中的子像素SPX可以分别连接到不同的感测线SL。
参考图3,子像素SPX可以包括开关晶体管SWT、驱动晶体管DT、OLED 25、存储电容器Cst和感测晶体管SST。然而,图3中的子像素SPX的配置和结构仅是子像素电路的示例,并且子像素SPX的配置和结构可以被以各种方式修改。
第一驱动电压ELVDD和第二驱动电压ELVSS可以被施加到子像素SPX。第一驱动电压ELVDD可以相对高于第二驱动电压ELVSS。
开关晶体管SWT、感测晶体管SST和驱动晶体管DT可以包括非晶硅(a-Si)、薄膜晶体管(TFT)、多晶硅(poly-Si)TFT、氧化物TFT、有机TFT或类似物。
开关晶体管SWT可以连接至第一栅线GL1和数据线DL,响应于通过第一栅线GL1施加的扫描电压Vsc而导通,将通过数据驱动器100的数据焊盘DP和数据线DL提供的数据电压Vd提供到驱动晶体管DT的栅极节点N1。
感测晶体管SST可以连接至第二栅线GL2和感测线SL,并且响应于通过第二栅线GL2施加的感测导通(sensing-on)电压Vso而导通。在此情况下,数据驱动器100的感测开关SSW可以响应于初始信号INT而接通,并且通过感测线SL将初始化电压Vint(或称为复位电压)提供给子像素SPX。感测晶体管SST可以将从数据驱动器100提供的初始化电压Vint提供给驱动晶体管DT的源极节点N2。另外,感测晶体管SST可以在感测模式下导通,并且将从驱动晶体管DT或OLED 25接收的电流输出到感测线SL。
存储电容器Cst可以存储通过开关晶体管SWT施加到驱动晶体管DT的栅极节点N1的数据电压Vd和通过感测晶体管SST提供给驱动晶体管DT的源极节点N2的初始化电压Vint之间的差,从而在预定时段(例如一帧)内向驱动晶体管DT提供恒定的驱动电压Vgs。
第一驱动电压ELVDD被施加到驱动晶体管DT的漏极节点,并且驱动晶体管DT可以向OLED 25提供与驱动电压Vgs成比例的驱动电流IDT
OLED 25包括连接到驱动晶体管DT的源极节点N2的阳极、被施加第二驱动电压ELVSS的阴极、以及阴极和阳极之间的有机发射层。阴极可以是所有子像素共享的公共电极。当从驱动晶体管DT提供驱动电流IDT时,OLED 25可以从有机发射层发出光。光的强度可以与驱动电流IDT成比例。驱动晶体管DT的驱动电流IDT可以表示为等式1。
[等式1]
IDT=β(Vgs-Vth)2=β(Vd-Vint-Vth)2
这里,β表示由驱动晶体管DT的迁移率确定的常数值。
在β感测模式下,子像素SPX的电特性可以被测量。开关晶体管SWT可以将通过数据线DL施加的感测数据电压Vd提供给驱动晶体管DT。随着感测晶体管SST导通,与驱动晶体管DT的栅极节点N1和源极节点N2的电压之间的差(即驱动电压Vgs)成比例的驱动电流IDT可以经感测线SL流动,并且感测线SL的寄生电容器(即线电容器Cli)可以被充电。
根据各种感测序列,ADC 21可以在驱动晶体管DT的源极节点N2的电压达到饱和状态或源极节点N2的电压线性增加的时间点测量像素电压Vps,即通过感测焊盘SP接收的感测线SL的电压。在源极节点N2的电压V_N2达到饱和状态的时间点测量的像素电压Vps可以包括关于驱动晶体管DT的阈值电压Vth(以下,阈值电压指设置在子像素中的驱动晶体管DT的阈值电压)的信息,并且在源极节点N2的电压V_N2线性增加的时间点测量的像素电压Vps可以包括驱动晶体管DT的迁移率(以下,迁移率指子像素中包括的驱动晶体管DT的迁移率)。
参考图2,显示驱动电路10可以包括数据驱动器100、定时控制器200和栅驱动器300。数据驱动器100、定时控制器200和栅驱动器300可以在一个集成电路(IC)中实现。可替代地,数据驱动器100、定时控制器200和栅驱动器300可以分别形成在不同的IC中。
栅驱动器300可以使用从定时控制器200接收的栅控制信号来驱动显示面板20的多条第一栅线GL1和多条第二栅线GL2。在显示模式和感测模式下,栅驱动器基于栅控制信号在多条第一栅线GL1的每条第一栅线GL1的相关驱动时段中向相关的第一栅线GL1提供栅导通电压(即扫描电压Vsc)的脉冲,并且在其他时段中提供栅截止电压。在感测模式下,栅驱动器300在多条第二栅线GL2的每条第二栅线GL2的相关驱动时段中基于栅控制信号向相关的第二栅线GL2提供栅导通电压(即感测导通电压Vso)的脉冲,并且在其他时段中提供栅截止电压。
数据驱动器100可以包括驱动块110、感测块120和开关块130。驱动块110可以生成数据电压Vd。在显示模式和感测模式下,驱动块110可以将从定时控制器200提供的图像数据或内部建立的感测数据转换为作为模拟信号的数据电压Vd,并将数据电压Vd输出至显示面板20的数据线DL。驱动块110可以包括多个DAC 11,并且多个DAC 11可以各自将被输入的子像素数据Dspx(见图1)转换为数据电压Vd。
在校准模式下,驱动块110可以根据一些或所有灰度或者根据先前建立的代表性灰度来生成用于校准的数据电压Vd,并将数据电压Vd提供给感测块120。驱动块110可以通过开关块130将用于校准的数据电压Vd提供给感测块120。
在校准模式下,开关块130可以将驱动块110的输出提供给感测块120。响应于从定时控制器200提供的校准模式信号,开关块130可以根据基于一些或所有灰度的灰度或者根据从多个DAC 11中的每一个输出的先前建立的代表性灰度,将驱动块110的输出(即数据电压Vd)提供给感测块120。在感测模式和显示模式下,开关块130可以阻止驱动块110和感测块120之间的连接。
在感测模式下,感测块120可以测量多个子像素的电特性。感测块120可以感测多个子像素中的至少一些子像素连接到的感测线SL中的每条的电压,即像素电压Vps。感测块120可以包括一个或更多个ADC 21,并且ADC21可以读出所感测的像素电压Vps。在校准模式下,感测块120也可以测量从开关块130接收的数据电压Vd。ADC 21可以读出所感测的数据电压Vd。
感测块120可以将作为感测数据Dsen(见图1)的读出的像素电压Vps或读出的数据电压Vd提供给定时控制器200。在感测模式下,感测数据Dsen可以包括指示子像素的电特性的测量值,即关于多个子像素的像素电压的信息,并且在校准模式下,感测数据Dsen可以包括指示驱动块110的电特性的测量值,即关于多个DAC 11中的每一个的依据灰度的输出电压的信息。
定时控制器200可以包括偏移提取器31和补偿值(compensation value,CV)确定器32。偏移提取器31和补偿值确定器32可以被实现为软件(或固件)、硬件或者软件和硬件的组合。
偏移提取器31可以基于在校准模式下接收的感测数据Dsen来提取驱动块110的输出特性。例如,偏移提取器31可以基于感测数据Dsen提取多个DAC 11中的每一个的依据灰度的偏移。所提取的输出特性可以存储在设置在定时控制器200内部或外部的存储器中。
补偿值确定器32可以基于多个子像素中的每一个的电特性和驱动块110的输出特性来确定补偿值或者更新已经存储的补偿值。补偿值确定器32可以基于在感测模式下接收到的感测数据Dsen来提取诸如多个子像素的阈值电压或迁移率的电特性。
在一些实施例中,补偿值确定器32可以在确定用于补偿多个子像素中的每一个子像素的电特性的补偿值时,考虑到驱动相关子像素的DAC 11的依据灰度的偏移来确定所述相关子像素的补偿值。因此,可以针对一个子像素确定多个补偿值,即依据灰度的补偿值。针对多个子像素中的每一个子像素的所确定的依据灰度的补偿值可以被存储在设置在定时控制器200内部或外部的存储器中,并用于在执行外部补偿时补偿子像素数据的偏差和/或劣化。
在一些实施例中,补偿值确定器32可以基于多个子像素中的每一个子像素的电特性来确定补偿值。当执行数据补偿时,驱动子像素的DAC 11的偏移可以与针对子像素确定的补偿值一起被用于数据补偿。
驱动块110的输出特性和用于子像素的补偿值最初可以在显示装置2的制造过程中被提取和存储。其后,驱动块110的输出特性和用于子像素的补偿值可以在数据驱动器100在显示面板20的通电之后的引导段、断电时的结束段和/或帧显示段之间的虚设段(或垂直消隐段)中执行校准操作和/或子像素感测操作时被更新。
在一些实施例中,定时控制器200可以执行数据补偿。然而,定时控制器200不限于此,并且在另外的实施例中,定时控制器200可以将驱动块110的输出特性和/或用于多个子像素中的每一个的补偿值发送到主处理器30(见图1),主处理器30可以基于驱动块110的输出特性和/或用于多个子像素的补偿值来生成图像数据,或者对生成的图像数据执行数据补偿并且将补偿后的图像数据提供给定时控制器200。
图4示出根据实施例的图2的显示装置的数据驱动器的校准操作。
参考图4,驱动块110可以包括DAC 11,并且感测块120可以包括ADC21。开关块130可以包括在校准模式下将驱动块110电连接至感测块120的内部连接开关ISW(在下文中被称为第一开关)。
在校准模式下,第一开关ISW可以响应于校准模式信号SCM而接通,以将从DAC 11输出的数据电压Vd提供给感测块120。ADC 21可以读出数据电压Vd。在校准模式下,DAC 11可以输出依据灰度的数据电压Vd,并且感测块120可以读出DAC 11的依据灰度的数据电压Vd。在校准模式下读出的数据电压被提供给定时控制器200(见图1和2)作为感测数据Dsen。在感测模式和显示模式下,第一开关ISW可以被关断以阻止/防止数据电压Vd被提供给感测块120。
如上所述,在根据示例实施例的数据驱动器100中,在校准模式下,感测块120和驱动块110通过开关块130被内部连接,从而感测块120可以在内部读取驱动块110的输出电压而不使用数据焊盘DP和感测焊盘SP。
图5A和图5B是各自示出根据示例实施例的测量子像素的电特性的方法的曲线图。图5A示出测量子像素的阈值电压的方法,而图5B示出测量子像素的迁移率的方法。
参考图3和图5A,在第一感测模式下,开关晶体管SWT可以导通并且将从DAC 11提供的用于感测的数据电压Vd提供给驱动晶体管DT的栅极节点N1。
在感测晶体管SST导通之前,即在时间点T1之前,驱动晶体管DT的源极节点N2的电压V_N2具有从栅极节点N1的电压V_N1减小了阈值电压Vth的值(例如Vd-Vth)。
接下来,当感测晶体管SST和数据驱动器100的感测开关SSW在时间点T1导通时,源极节点N2的电压V_N2减小到初始化电压Vint。此时,OLED 25不响应于通过感测晶体管SST提供给源极节点N2的初始化电压Vint而发光。
感测开关SSW在时间点t2被接通,并且开关晶体管SWT和感测晶体管SST可以保持在导通状态。电流IDT响应于存储在存储电容器Cst中的电压(即驱动电压Vgs)而流过驱动晶体管DT,并且电流IDT可以给感测线SL的寄生电容器(即线电容器Cli)充电。随着线电容器Cli被充电,驱动晶体管DT的源极节点N2的电压V_N2可以增大。此时,随着施加到驱动晶体管DT的驱动电压Vgs减小,电流IDT也减小。
当驱动电压Vgs达到驱动晶体管DT的阈值电压Vth时,电流不流过驱动晶体管DT,并且源极节点N2的电压V_N2保持恒定。源极节点N2的电压V_N2可以增加到从栅极节点N1的电压V_N1减小了阈值电压Vth的值(即Vd-Vth)。在源极节点N2的电压V_N2饱和之后,在时间点t3,ADC 21可以感测感测线SL的电压,即像素电压Vps,以读出像素电压Vps。驱动晶体管DT的阈值电压Vth可以基于像素电压Vps被提取。例如,当数据电压Vd是5V并且像素电压Vps被提取为4.4V时,阈值电压Vth可以是0.6V。当像素电压Vps被提取为4.3V时,阈值电压Vth可以是0.7V。
当基于提取的阈值电压Vth执行阈值电压补偿时,从DAC 11输出的数据电压Vd被调整为Vd+Vth。因此,基于等式1和调整后的数据电压Vd,驱动晶体管DT的电流IDT可以被表示为等式2。
[等式2]
IDT=β((Vd+Vth)-Vint-Vth)2=β(Vd-Vint)2
根据等式2,由于从确定驱动晶体管DT的电流IDT的因素中排除了阈值电压Vth,所以即使当阈值电压Vth改变时,驱动晶体管DT的电流IDT也具有恒定值。因此,根据阈值电压Vth的变化的图像的质量下降可以被防止。
参考图3和图5B,在第二感测模式下,开关晶体管SWT可以被导通,以将从DAC 11提供的用于感测的数据电压Vd提供给驱动晶体管DT的栅极节点N1。另外,当感测开关晶体管SST和数据驱动器100的感测开关SSW导通时,初始化电压Vint可以被施加到源极节点N2。因此,施加到驱动晶体管DT的驱动电压Vgs是Vd-Vint。接下来,随着开关晶体管SWT和感测开关SSW在时间点t1被关断并且恒定的电流IDT流过驱动晶体管DT,驱动晶体管DT的源极节点N2的电压V_N2线性增加。在源极节点N2的电压V_N2线性增加的时间点,即在时间点T2,ADC21可以感测感测线SL的电压,即像素电压Vps,以读出像素电压Vps。基于被读出的像素电压Vps可以提取驱动晶体管DT的迁移率。随着迁移率增加,读出的像素电压Vps的电压电平可以增加。因此,在图5B中示出的曲线a、b和c当中,曲线c可以具有最高的迁移率,并且曲线a可以具有最低的迁移率。
当基于提取的迁移率执行迁移率补偿时,从DAC输出的数据电压Vd可以被调整为Vd+ΔVm。ΔVm表示用于补偿迁移率变化的电压。当执行阈值电压补偿和迁移率补偿时,驱动晶体管DT的电流IDT可以表示为等式3。电压增加ΔVm可以具有与迁移率被调整时类似的特性。
[等式3]
IDT=β((Vd+Vth+ΔVm)-Vint-Vth)2=β'((Vd+Vth)-Vint-Vth)2
=β'(Vd-Vint)2
这里,β'表示由驱动晶体管DT的补偿后的迁移率确定的常数值。
图6是示出根据示例实施例的来自图1中的DAC 11的输出的依据灰度的偏移的曲线图。
参考图6,如曲线G1和曲线G2中所示,相比于在中间灰度中,在低灰度或高灰度中DAC 11的输出的偏移可以更高。替代地,根据制造数据驱动器100的工艺,DAC 11的输出的偏移可以如曲线G3和曲线G4中所示那样根据灰度而改变。然而,在曲线G3和G4中偏移可以在低灰度或高灰度中被快速改变。
这样,多个DAC 11的输出的偏移可以彼此不同,并且单个DAC 11可以具有根据灰度而变化的偏移。即,多个DAC 11中的第一DAC可具有针对第一灰度值的第一偏移,并且多个DAC 11中的第二DAC可具有针对第一灰度值的第二偏移,其中第二偏移不同于第一偏移。在背景技术中,即使当针对上述子像素的电特性执行数据补偿时,由于输出偏差,即DAC 11的偏移,数据补偿的准确度也可能降低。
如上所述,根据示例实施例的显示系统1(见图1)和显示装置2(见图2)可以测量驱动块110中的多个DAC 11中的每一个的针对灰度的输出电压,即基于测量值的多个DAC 11的依据灰度的偏移,通过使用显示面板20中的多个子像素SPX的电特性和驱动块110的输出特性来执行准确的数据补偿。如此,用于准确的数据补偿的补偿算法的复杂性和数据补偿操作的迭代可以被减少。另外,由于对驱动块110的输出特性执行补偿,即由于对多个DAC11的偏移执行补偿,所以不需要用于偏移的减小的电路。因此,数据驱动器100的尺寸,即数据驱动IC的尺寸,可以减小。
图7A至图7C示出根据各种示例实施例的测量DAC 11的依据灰度的输出的方法以及存储基于所测量的依据灰度的输出的依据灰度的偏移的方法。
参考图7A,在校准模式下,DAC 11可以输出针对例如从作为最小灰度GSmin的第一灰度GS0到作为最大灰度Gsmax的第二百五十六灰度GS255的所有灰度的灰度电压Vd_GS0至Vd_GS255,即针对所有灰度的数据电压,并且ADC 21可以读出灰度电压Vd_GS0至Vd_GS255。定时控制器200可基于读取的灰度电压Vd_GS0至Vd_GS255提取针对所有灰度的偏移OFF_0至OFF_255,并将所提取的偏移存储为校准数据CALa。在图7A中示出的实施例中,针对多个DAC 11中的每一个(即所有通道中的每一个),定时控制器200(见图2)可以对于所有灰度将偏移OFF_0至OFF_255存储为查找表(LUT)。
参考图7B,所有灰度被分类成多个灰度组,并且在校准模式下,DAC 11可以输出用于所述多个灰度组中的每一个的代表性灰度的灰度电压。例如,如图7B的示例中所示,可以通过将二百五十六个灰度分组为四个六十四个灰度的组来确定四个灰度组,用于每一个灰度组的一个代表性灰度的灰度电压可以被输出。例如,代表性灰度可以是每一个灰度组的中间灰度。ADC 21可以读取代表性灰度电压Vd_R1至Vd_R4。
定时控制器200可以基于读出的代表性灰度电压Vd_R1至Vd_R4提取与每一个灰度组相对应的第一偏移OFF_R1至第四偏移OFF_R4,并将所提取的偏移存储为校准数据CALb。当包括在接收的图像数据中的子像素数据指示160灰度时,定时控制器200可以基于被提供该子像素数据的子像素的电特性(阈值电压和/或迁移率)以及驱动该子像素的ADC 21的表明160灰度的第三偏移OFF_R3,来执行对子像素数据的偏差和/或劣化的数据补偿。
参考图7C,所有灰度被分类成多个灰度组,并且DAC 11可以输出用于所述多个灰度组中的每一个灰度组的代表性灰度的灰度电压。与图7B中不同,所述多个灰度组可以具有不同的范围。例如,低灰度区域GSR_L和高灰度区域GSR_H可以被分类为具有比中间灰度区域GSR_M的密度更高的密度,相应地,低灰度区域GSR_L和高灰度区域GSR_H中的灰度组的每一个的灰度范围可以小于中间灰度区域GSR_M中的每一个灰度组的灰度范围。
如参考图6所描述的那样,由于偏移在低灰度区域GSR_L或高灰度区域GSR_H中快速变化,所以与在中间灰度区域GSR_M中相比,更多数量的灰度电压可以在低灰度区域GSR_L和高灰度区域GSR_H中被测量并且被用在数据补偿中,因此偏移的改变特性可以被更准确地应用。
图8是根据示例实施例的数据驱动器的电路图。
参考图8,数据驱动器100b可以包括驱动块110b、感测块120b、开关块130和灰度电压生成器140。数据驱动器100b可以被实现为一个或更多个数据驱动IC,并且包括多个数据焊盘DP1至DPn和多个感测焊盘SP1至SPm(n是正整数,m是小于或等于n的正整数)。多个数据焊盘DP1至DPn可以电连接至显示面板20的多条数据线DL1至DLn,并且多个感测焊盘SP1至SPn可以电连接至显示面板20的多条感测线SL1至SLn。
驱动块110b可以包括第一DAC 11_1至第n DAC 11_n,并且第一DAC11_1至第n DAC11_n可以各自分别包括解码器DEC1至DECn和源放大器SA1至SAn(也可以称为通道放大器或通道缓冲器)。第一DAC 11_1至第n DAC 11_n可各自将所接收到的多条子像素数据SPD1至SPDn转换成模拟信号,即第一数据电压Vd1至第n数据电压Vdn。每一个解码器DEC可以从灰度电压生成器140接收多个灰度电压GSV,基于子像素数据选择多个灰度电压GSV中的一个,并且输出所选择的灰度电压。每一个源放大器SA可以缓冲并输出所选择的灰度电压。例如,灰度电压生成器140可以生成二百五十六(256)个灰度电压GSV,即用于256个灰度的灰度电压GSV,并且将灰度电压GSV提供给第一DAC 11_1至第n DAC 11_n中的每一个中包括的解码器DEC。第一子像素数据可以包括八个位,并且解码器DEC可以从256个灰度电压GSV当中选择与子像素数据的数据值相对应的灰度电压GSV,并且输出所选择的灰度电压GSV。当第一条子像素数据SPD1至第n条子像素数据SPDn相同时,从第一DAC 11_1至第n DAC 11_n输出的第一数据电压Vd1至第n数据电压Vdn可以彼此理想地相同。然而,如上所述,由于第一DAC11_1至第n DAC 11_n的输出偏移,第一数据电压Vd1至第n数据电压Vdn可以彼此不同。
开关块130可以包括多个第一开关ISW1至ISWn,并且在校准模式下,所述多个第一开关ISW1至ISWn可以响应于校准信号SCM而被接通,并将第一DAC 11_1至第n DAC 11_n的输出(即第一数据电压Vd1至第n数据电压Vdn)提供至感测块120b。所述多个第一开关ISW1至ISWn可以连接在第一DAC 11_1至第n DAC 11_n的输出节点ON1至ONn与感测块120b的输入节点Nin之间。感测块120b的ADC 21可以顺序地读取第一DAC 11_1至第n DAC 11_n的输出。因此,多个第一开关ISW1至ISWn可以被顺序地接通。例如,校准信号SCM可以包括分别在不同时间点被转变至接通电平(switch-on level)的第一脉冲信号至第n脉冲信号,并且多个第一开关ISW1至ISWn可以响应于第一脉冲信号至第n脉冲信号当中的相应的脉冲信号而被接通。因此,多个第一开关ISW1至ISWn可以被顺序地接通,并且第一DAC 11_1至第n DAC11_n的第一数据电压VD1至第n数据电压VDn可以被顺序地提供给感测块120b。
在图8中示出的实施例中,开关块130还可以包括分别连接在第一DAC11_1至第nDAC 11_n的输出节点ON1至ONn与第一数据焊盘DP1至第n数据焊盘DPn之间的多个输出开关。所述输出开关可以在显示模式或感测模式下接通,并且将第一DAC 11_1至第n DAC 11_n的第一数据电压Vd1至第n数据电压Vdn提供给显示面板的多条数据线DL1至DLn。在校准模式下,输出开关可以被关断。
图9是根据示例实施例的数据驱动器的电路图。
参考图9,数据驱动器100c可以包括驱动块110c、感测块120c和开关块130c。数据驱动器100c可以进一步包括其他未示出的配置,例如灰度电压生成器。
在图9中,驱动块110c可以包括第一DAC 11_1至第n DAC 11_n,并且感测块120c可以包括ADC 21、多路复用器22以及多个采样/保持电路23_1至23_m。所述多个采样/保持电路23_1至23_m可以通过多个感测焊盘SP1至SPm分别连接至显示面板20的多条感测线SL1至SLm。
在感测模式下,多个采样/保持电路23_1至23_m可以对于多条感测线SL1至SLm的电压(即像素电压)执行采样,并且保持所采样的值。由所述多个采样/保持电路23_1至23_m采样的像素电压可以被多路复用器22顺序地选择,并且被提供给ADC 21。
开关块130c可以包括多个第一开关ISW11至ISWm3。所述多个第一开关ISW11至ISWm3可以连接至第一DAC 11_1至第n DAC 11_n和所述多个采样/保持电路23_1至23_m。在校准模式下,所述多个开关ISW11至ISWm3可以响应于校准信号SCM而接通,并且将所述多个DAC 11_1至11_n的输出(即数据电压)提供给所述多个采样/保持电路23_1至23_m。当连接到相同采样/保持电路的开关顺序地接通时,可以防止多个电压向采样/保持电路(23_1至23_m)的同时施加。例如,第一开关ISW11、ISW12和ISW13可以连接至第一采样/保持电路23_1,并且当第一开关ISW11被接通以将第一DAC 11_1的输出提供给第一采样/保持电路23_1且由第一采样/保持电路23_1采样的第一DAC 11_1的输出通过多路复用器22被发送到ADC21时,第一开关ISW12可以被接通以将第二DAC 11_2的输出提供给第一采样/保持电路23_1。如上所述,所述多个DAC 11_1至11_n的输出可以被顺序地从ADC 21读出。
在一些实施例中,开关块130c可以进一步包括连接在所述多个采样/保持电路23_1至23_m与所述多个感测焊盘SP1至SPm之间的多个输入开关。所述多个输入开关可以在感测模式下被接通,并且将多条感测线SL1至SLm的电压(即像素电压)提供给所述多个采样/保持电路23_1至23_m。在校准模式下,输入开关可以被关断。
图10是根据示例实施例的定时控制器的示图。
参考图10,定时控制器200a可以包括偏移提取器31、补偿值确定器32、存储器33、数据补偿单元34和控制信号生成器35。定时控制器200a可以进一步包括其他未示出的配置。定时控制器200a的配置(例如偏移提取器31、补偿值确定器32、存储器33、数据补偿单元34和控制信号生成器35)可以被实现为软件(或固件)、硬件或者软件和硬件的组合。
偏移提取器31可以基于在校准模式下接收的感测数据Dsen提取驱动块110的输出特性,例如多个DAC的依据灰度的偏移。所提取的输出特性可以存储在存储器33中作为校准数据CAL。
补偿值确定器32可以确定补偿值或更新已经存储的补偿值。补偿值确定器32可以基于在感测模式下接收的感测数据Dsen来提取多个子像素的电特性,例如驱动晶体管的阈值电压或迁移率。补偿值确定器32可以基于多个子像素的电特性来确定补偿值。在图10中示出的实施例中,补偿值确定器32可以访问存储在存储器33中的校准数据CAL,并且基于校准数据CAL和多个子像素的电特性来确定补偿值。确定的补偿值可以存储在存储器33中作为补偿数据CD。
数据补偿单元34可以对从主处理器30接收的图像数据IDT的偏差和/或劣化执行数据补偿。图像数据IDT可以包括与子像素中的每一个相对应的子像素数据,并且数据补偿单元34可以基于存储在存储器33中的补偿数据DA和校准数据CAL来补偿子像素数据。在图10中示出的实施例中,当补偿数据CD的补偿值是应用了子像素和驱动块110的电特性的值时,数据补偿单元34可以基于存储器33中存储的补偿数据CD来补偿子像素数据。数据补偿单元34可以将补偿后的图像数据CDIT提供给数据驱动器100。
控制信号生成器35可以使用从主处理器30接收到的定时信号来生成用于控制数据驱动器100的驱动定时的数据控制信号CTRL,并将数据控制信号CTRL输出到数据驱动器100。另外,控制信号生成器35可以生成用于控制栅驱动器300的驱动定时的栅控制信号,并且将栅控制信号输出到栅驱动器300。例如,控制信号生成器35可以从主处理器30接收诸如时钟信号、数据使能信号、水平同步信号、垂直同步信号的多个定时信号,并基于接收到的多个定时信号生成被提供给开关块130的校准模式信号SCM。控制信号生成器35可以进一步生成各种控制信号。
图11是根据示例实施例的显示系统的框图。
参考图11,显示系统1b可以包括主处理器300b、定时控制器200b和数据驱动器100。
在图11中示出的实施例中,主处理器300b可以执行数据补偿。定时控制器200b的补偿值确定器32可以基于子像素的电特性和校准数据CAL来确定子像素的补偿值。在感测模式下,补偿值确定器32可以确定多个子像素当中的一些子像素的补偿值(称为部分补偿值)。所确定的部分补偿值CV_P可以被临时存储在存储器33中,并且然后被发送到主处理器300b。
主处理器300b可以包括存储器41和图像数据生成器42。在一些实施例中,存储器41可以设置在主处理器300b的外部。存储器41可以存储补偿数据CD。当从定时控制器200b接收指示部分子像素的补偿值的部分补偿数据PCD时,补偿数据CD当中的部分补偿值可以基于接收到的部分补偿数据PCD被更新。
图像数据生成器42可以基于补偿数据CD来生成图像数据或者可以对生成的图像数据执行数据补偿,从而生成补偿后的图像数据CIDT。
定时控制器200b可以接收补偿后的图像数据CIDT,并且在对补偿后的图像数据CIDT执行图像处理之后将补偿后的图像数据CIDT提供给数据驱动器100,或者不执行图像处理而将补偿后的图像数据CIDT提供给数据驱动器100。即,定时控制器200b可以包括数据处理器36,并且数据处理器36可以对补偿后的图像数据CIDT执行图像处理。例如,数据处理器36可以对于补偿后的图像数据CIDT改变数据格式或者执行用于功耗的减少的图像处理。
图12是根据示例实施例的显示装置的操作方法的流程图。图12的操作方法可以在图2的显示装置2中执行。上述的显示装置2的操作方法可以应用于本实施例。
参考图2和图12,在操作S110中,驱动块110的输出特性可以被测量。操作S110可以在校准模式下执行。例如,校准模式可以在显示装置2通电时在引导段中被建立。在校准模式下,数据驱动器100可以使用设置在感测块120中的ADC 21来内部地读出驱动块110的输出特性,例如驱动块110中设置的多个DAC 11的依据灰度的电压。数据驱动器100可以将多个DAC11的针对灰度的读出电压发送至定时控制器200。定时控制器200可以基于多个DAC11的依据灰度的电压来提取多个DAC 11的依据灰度的偏移,并且将所提取的依据灰度的偏移(即校准数据)存储在存储器中。
在操作S120中,子像素的电特性可以被测量。操作S120可以在感测模式下执行。感测模式可以在显示装置2的通电时的引导段、帧显示段之间的虚设段(或水平消隐段)和/或显示装置2的断电时的结束段中建立。迁移率感测可以在第一感测模式下执行,并且阈值电压感测可以在第二感测模式下执行。需要相当长时间段(几十秒到几分钟)的阈值电压感测可以在断电时的结束段中执行。当感测模式被建立时,显示面板20中设置的多个子像素中的一些子像素的电特性可以被测量,并且所述多个子像素中的所有子像素的电特性的测量可以通过多个感测操作来执行。
在感测模式下,数据驱动器100可以通过感测焊盘接收多个像素电压,并且ADC11可以读出接收到的多个像素电压。数据驱动器100可以将多个读出的像素电压发送到定时控制器200。定时控制器200可以基于多个像素电压来提取诸如迁移率和阈值电压的子像素的电特性,并基于提取的结果确定对于多个子像素中的每一个子像素的补偿值。在一些实施例中,定时控制器200可以基于子像素的电特性和驱动器的输出特性来确定对于多个子像素中的每一个的补偿值。在确定补偿值时,定时控制器200可以参考存储器中存储的校准数据。定时控制器200可以在存储器中存储包括针对多个子像素中的每一个子像素的补偿值的补偿数据。
在操作S130中,可以对输入图像数据执行数据补偿,即外部补偿。定时控制器200可以基于驱动块110的输出特性和子像素的电特性来补偿输入图像数据。定时控制器200可以基于存储在存储器中的补偿数据来补偿输入图像数据,或者基于补偿数据和校准数据来补偿输入图像数据。当执行数据补偿时,不仅子像素的电特性而且驱动器的输出特性被补偿,因而数据补偿的准确度可以提高。
在操作S140中,可以基于补偿后的图像数据来驱动显示面板20。定时控制器200可以将补偿后的图像数据发送到数据驱动器100,数据驱动器100可以将补偿后的图像数据转换为数据电压并将数据电压提供给显示面板的数据线。由于补偿后的图像数据包括根据子像素的电特性和驱动块110的输出特性补偿的数据值,所以显示面板20的图像质量可以提高。
图13是根据示例实施例的显示装置的示例。包括具有中等尺寸或大尺寸的显示面板20d的显示装置1000可以应用于电视机、监视器等等。
参考图13,显示装置1000可以包括数据驱动器100d、定时控制器200d、栅驱动器300d和显示面板20d。
数据驱动器100d可以包括多个数据驱动IC(DDIC),它们以卷带自动结合(tapeautomatic bonding,TAB)方法安装在附接到显示面板20的诸如带载封装(tape carrierpackage,TCP)、膜上芯片(chip on film,COF)或柔性印刷电路(flexible printedcircuit,FPC)的电路膜中,或者安装在显示面板20d的非显示区域上。
栅驱动器300d可以包括多个栅驱动IC(GDIC),其以TAB方法安装在附接到显示面板20d的电路膜中,或者以COG方法安装在显示面板20d的非显示区域上。替代地,可以以面板内栅驱动器(gate-driver in panel,GIP)方法将栅驱动器300d直接形成在显示面板20d的下基板上。栅驱动器300d形成在像素阵列(其中子像素SPX形成在显示面板20d中)外的非显示区域中,并且可以以与子像素的工艺相同的薄膜晶体管(TFT)工艺形成。
定时控制器200d可以包括一个或更多个IC或模块。定时控制器200d可以通过建立的接口与多个数据驱动IC(DDIC)和多个栅驱动IC(GDIC)通信。
定时控制器200d可以划分从外部接收的图像数据,并且将多个划分的图像数据分别提供给多个数据驱动IC(DDIC)。另外,定时控制器200d可以生成控制多个数据驱动ICDDIC和多个栅驱动IC GDIC的控制信号,并将控制信号提供给多个数据驱动IC DDIC和多个栅驱动IC GDIC。
同时,多个数据驱动IC(DDIC)可以各自包括多个DAC以及一个或更多个ADC。在校准模式下,多个数据驱动IC(DDIC)可以各自在内部通过使用ADC读出多个DAC的输出,并且将读出的多个DAC的输出提供给定时控制器200d。另外,在感测模式下,多个数据驱动ICDDIC可以各自提取显示面板20d的子像素的像素电压,并将所提取的像素电压发送到定时控制器200d。定时控制器200d可以从接收到的多个DAC的输出提取DDIC中的每一个的输出特性,即多个DAC的偏移,并从子像素的像素电压提取子像素的电特性。定时控制器200d可以基于子像素的电特性和DDIC中的每一个的输出特性来补偿图像数据。因此,数据补偿的准确度和显示装置的图像质量可以提高。
图14示出根据示例实施例的显示装置的示例。包括小尺寸显示面板20e的显示装置2000可以应用于诸如智能电话或平板个人计算机(平板PC)的移动设备。
参考图14,显示装置2000可以包括显示驱动电路10e和显示面板20e。显示驱动电路10e可以包括一个或更多个IC,其以TAB方法安装在附接到显示面板20d的诸如TCP、COF、FPC的电路膜中,或以COG方法安装在显示面板20d的非显示区域上。
显示驱动电路10e可以包括数据驱动器100e和定时控制器200e,并且可以进一步包括栅驱动器。在图14中示出的实施例中,栅驱动器可以安装在显示面板20d中。
数据驱动器100e可以包括多个DAC以及一个或更多个ADC。在校准模式下,数据驱动器100e可以通过使用ADC在内部读出多个DAC的输出,并且将读出的多个DAC的输出发送到定时控制器200e。另外,在感测模式下,数据驱动器100e可以提取指示显示面板20e的子像素的电特性的像素电压,并且将所提取的像素电压发送至定时控制器200e。定时控制器200e可以基于从数据驱动器100e接收的感测数据来提取显示面板20e的子像素的电特性和数据驱动器100e的多个DAC 11的输出特性。定时控制器200e可以基于所提取的子像素的电特性和多个DAC的输出特性来补偿从外部(例如外部应用处理器)提供的图像数据。定时控制器200e可以将补偿后的图像数据提供给数据驱动器100e,并且数据驱动器100e可以基于补偿后的图像数据来驱动显示面板20e。由于对图像数据的补偿基于子像素的电特性和多个DAC的输出特性来执行,所以数据补偿的准确度和显示装置的图像质量可以提高。
尽管已经参考本发明构思的实施例来具体示出和描述了本发明构思,但是应当理解,可以对其进行形式和细节上的各种改变而不脱离所附权利要求的精神和范围。

Claims (20)

1.一种显示驱动电路,被配置为驱动显示面板,所述显示面板包括多条数据线、多条感测线以及连接到所述多条数据线和所述多条感测线的多个子像素,所述显示驱动电路包括:
数据驱动器集成电路,被配置为驱动所述多条数据线,其中所述数据驱动器集成电路包括:
驱动块,包括多个数模转换器DAC,每一个数模转换器被配置为对于接收到的子像素数据执行数模转换以生成输出电压并将所述多个DAC的所述输出电压提供给所述多条数据线;以及
感测块,被配置为在第一操作模式下测量从所述多个DAC输出的灰度电压以及在第二操作模式下测量从所述多条感测线接收的所述多个子像素的像素电压。
2.根据权利要求1所述的显示驱动电路,其中,所述灰度电压的偏移和所述像素电压的电特性用于对将被提供给所述多个子像素的多条子像素数据的数据补偿。
3.根据权利要求1所述的显示驱动电路,其中,所述数据驱动器集成电路还包括开关块,所述开关块被配置为在所述第一操作模式下将所述多个DAC的所述灰度电压提供给所述感测块。
4.根据权利要求3所述的显示驱动电路,其中,所述灰度电压通过所述数据驱动器集成电路中的所述开关块从所述多个DAC提供到所述感测块。
5.根据权利要求1所述的显示驱动电路,其中,所述感测块包括至少一个模数转换器ADC以将接收到的模拟信号转换成数字信号。
6.根据权利要求1所述的显示驱动电路,其中:
在所述第一操作模式下,所述多个DAC中的每一个被配置为输出用于由所述子像素数据表示的所有灰度的所有所述灰度电压,并且所述感测块被配置为读出所有所述灰度电压。
7.根据权利要求1所述的显示驱动电路,
其中,由所述子像素数据表示的所有灰度被分类为多个灰度组,并且在第一操作模式下,所述多个DAC中的每一个被配置为输出对于所述多个灰度组中的每一个的代表性灰度电压,并且所述感测块被配置为读出对于所述多个灰度组的多个代表性灰度电压。
8.根据权利要求7所述的显示驱动电路,其中,所述多个灰度组当中的在低灰度区域或高灰度区域中的灰度组的范围相对小于中间灰度区域的灰度组的范围。
9.根据权利要求1所述的显示驱动电路,还包括:
定时控制器,被配置为从所述数据驱动器集成电路接收所述灰度电压和所述像素电压,基于所述灰度电压提取对于所述多个DAC中的每一个的灰度的偏移,以及基于所述像素电压提取所述多个子像素中的每一个的电特性。
10.根据权利要求9所述的显示驱动电路,
其中,所述定时控制器被配置为基于所述多个DAC中的每一个的依据灰度的偏移和所述多个子像素中的每一个的所述电特性,对将被提供给所述多个子像素的多条子像素数据执行数据补偿。
11.一种显示驱动电路,包括:
包括驱动块的数据驱动器,所述数据驱动器被配置为生成多个数据电压,在校准模式下在内部提取从所述驱动块输出的多个数据电压,以及在感测模式下读取从显示面板的多个子像素接收的多个像素电压;以及
定时控制器,被配置为基于所述多个子像素的电特性和基于所述驱动块的依据通道的输出特性对被提供给所述数据驱动器的图像数据执行数据补偿,并将补偿后的图像数据提供给所述数据驱动器,其中所述驱动块的所述依据通道的输出特性是基于所述多个数据电压提取的。
12.根据权利要求11所述的显示驱动电路,其中,所述数据驱动器还包括:
模数转换器ADC,被配置为在所述校准模式下读出所述多个数据电压以及在所述感测模式下读出所述多个像素电压;以及
开关块,被配置为在所述校准模式下将所述多个数据电压提供给所述ADC以及在所述感测模式下将所述多个像素电压提供给所述ADC。
13.根据权利要求11所述的显示驱动电路,
其中,所述驱动块包括:多个通道驱动器,所述多个通道驱动器被配置为基于多个灰度电压生成所述多个数据电压,并且
所述多个通道驱动器中的每一个在所述校准模式下被配置为输出与所述多个灰度电压当中的至少一些灰度电压相对应的电压作为数据电压。
14.根据权利要求13所述的显示驱动电路,其中,所述输出特性包括对于所述多个通道驱动器中的每一个的依据灰度的偏移。
15.根据权利要求11所述的显示驱动电路,其中,所述定时控制器被配置为在所述校准模式下提取依据通道的输出特性,并且将所述依据通道的输出特性存储在存储器中。
16.一种对接收到的图像数据执行数据补偿的显示驱动电路的操作方法,所述操作方法包括:
由数据驱动器测量驱动块的依据通道的输出特性,所述驱动块被配置为生成将被提供给显示面板的数据电压;
由所述数据驱动器测量所述显示面板的多个子像素的电特性;以及
由所述数据驱动器在基于所述输出特性和基于所述电特性的补偿后的图像数据的基础上来驱动所述显示面板。
17.根据权利要求16所述的操作方法,还包括:由定时控制器执行数据补偿以提供基于所述输出特性和所述电特性的所述补偿后的图像数据。
18.根据权利要求16所述的操作方法,其中,所述数据驱动器包括所述驱动块和模数转换器ADC,
在所述输出特性的测量中,在所述数据驱动器中所述ADC在内部接收和读出所述驱动块的依据通道的输出电压,以及
在所述电特性的测量中,所述ADC通过连接到所述显示面板的多个焊盘接收和读取所述多个子像素的像素电压。
19.根据权利要求18所述的操作方法,其中,所述输出电压根据所述通道中的每一个的灰度来被测量。
20.根据权利要求16所述的操作方法,其中,所述电特性包括所述多个子像素中的每一个的阈值电压和迁移率中的至少一个。
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