CN1117358C - 用于写入光学记录载体的方法和装置 - Google Patents

Abstract

所描述的是最佳记录条件下用于在一个光学记录载体上写入信息的方法。该信息以光学可检测标记的形式写入这个记录载体，其中每个标记是通过辐射脉冲串被写入的。在记录载体(1)上写入一系列测试模式以便于最优化。一个抖动检测器(11)检测读信号抖动的前沿和后沿。前沿抖动用来使仅影响脉冲串前沿部分的参数值最佳。后沿抖动用来使仅影响脉冲串后沿部分的参数值最佳。

Description

用于写入光学记录载体的方法和装置

本发明涉及用于将用户信息写入一个光学记录载体的方法和装置。通过辐射脉冲串装置将表示用户信息的标记写入该记录载体的辐射敏感记录层。一个脉冲串包括一个或多个脉冲。在将用户信息记录在记录载体之前，先在该记录载体上写入一个测试模式。从这个模式上所获得的读信号提供用于将记录处理最优化的信息，特别是脉冲串形式信息。随后将用户信息写入带有最佳处理的记录载体上。

欧洲专利No.0669611公开了这样一种用于将脉冲串的写入功率最优化的方法和装置。这个公知的装置在记录载体上写入一个测试模式，该测试模式由一系列子模式所组成，其中用不同的辐射功率写入每个子模式。随后，检测对应于每个子模式的读信号的抖动。记录功率被设定在其中抖动对功率曲线显示出一个最小抖动的那个值。数据信号的抖动是关于该数据信号的下降和/或上升沿位置与时钟信号的相应转换之间偏差的一个度量，并且有可能从该数据信号的边沿恢复。这个偏差可以在时钟信号的一个周期过程中被归一化。

但是，公知的这个方法不能总能提供最佳的记录条件，特别是当不同制造商的记录载体和装置互换时。

本发明的一个目的是提供一种其记录条件更适合于一个特定装置和记录载体的组合的记录装置和方法。

这个目的是这样实现的：根据本发明的装置包括用于通过用辐射脉冲串照射该记录载体从而将光学可读标记的模式写入该记录载体的记录装置，其中由一个脉冲串形成一个标记；用于产生包括一个测试模式的测试信号并将该测试信号提供给记录装置的一个输入端的测试信号发生器；用于读出记录载体上的标记并提供一个读信号的读出装置；用于检测对应于测试模式的抖动并提供一个前沿抖动信号和一个后沿抖动信号的抖动检测器；用于根据前沿和后沿抖动信号分别提供第一控制信号和第二控制信号的控制装置，这些控制信号的值对应于读出信号的最佳品质；用于将被记录的输入信息转换为提供给记录装置的输出信号的处理装置，该输出信号对应于辐射的脉冲串并且代表这个输入信息，其中每个脉冲串都有一个前沿部分和后沿部分，通过第一控制信号确定与前沿部分有关的第一参数的最佳值和/或由第二控制信号确定与后沿部分有关的第二参数的最佳值。

已经指出公知的装置不总能找到最佳的记录条件，这是因为它使用全部的抖动，即，读出信号的前后沿的组合抖动。当分别确定前沿和后沿抖动时，有可能进一步改进记录条件。由于前沿抖动是记录层中写入标记的前沿位置的一个精确度量，所以最好使用检测到的这个前沿抖动以影响这个位置。通过改变用于写入这个标记的脉冲串前沿部分的第一参数来影响一个标记的前沿位置。同样地，后沿抖动是写入标记后沿位置的一个精确度量，因而最好使用后沿抖动来优化这个脉冲串后沿部分的第二参数。如果在这些条件下恢复的记录信息中的误差数最小，则所述的这个记录条件就是最佳的。

通常，通过一系列不同的标记将信息表示在记录载体上。如果，例如，根据所说的EFM将信息编码，则该系列将包括具有单位长度3、4、....11倍长度的标记并且可能是14倍单位长度的同步标记。具有单位长度n倍长度的一个标记被称为nT标记。通过相应的一组不同脉冲串中的一个脉冲串写入这一组不同标记之外的一个单独标记。一个脉冲串的长度是随着被写入标记长度的增加而增加的。在根据本发明的最佳方法中，一组脉冲串中的至少一个脉冲串的前沿部分是最优化的；同样，这组脉冲串中的至少一个脉冲串的后沿部分是最优化的。根据本发明，一个脉冲串的前沿和后沿部分都可以是最优化的。

最好地，将短脉冲串的前沿部分最优化，而将长脉冲串的后沿部分最优化。可以将中间长度的脉冲串的前沿部分和后沿部分最优化。由于增加了长度的写入标记的长度相对变化对于较短标记而言比较长标记的更大，所以短脉冲和长脉冲之间的间隔应该比接近于最长的脉冲串更接近于最短脉冲串。用于EFM编码信息的间隔最好是T4或T5脉冲串。不同长度脉冲串的分别最优化能提供一种非常适合于改进记录条件的方法。

被优化的第一或第二参数可以分别是这个脉冲串的前沿或后沿部分的辐射功率。一个脉冲串可以包括一个或多个辐射脉冲。当一个脉冲串有两个或多个脉冲时，第一或第二参数可以分别是该脉冲串的前沿或后沿部分中的一个脉冲的脉冲宽度。也就是，第一和第二参数可以是一个脉冲串的前沿或后沿部分中的两个脉冲之间的持续时间。也可能是用于前沿和后沿部分的不同参数的组合，例如，前沿部分的辐射功率和后沿部分脉冲宽度的组合。在该装置的一个最佳实施例中，第一参数是脉冲串前沿部分的功率而第二参数是脉冲串后沿脉冲的功率。

根据本发明的这个装置，最好根据对应于一个所记录的测试模式的读出信号的检测幅度或总的抖动从而将脉冲串的功率设定为一个最佳值。这个功率用于脉冲串的其中该功率不受第一或第二参数影响的那些部分。为了设定该功率，所测的幅度可以转换为所称的读出信号的调制或不对称性。

在根据本发明的方法中首先被优化的参数应该是最能强烈地影响其它参数的那一个。确定最优记录条件的一个最好的顺序是先写入带有第一参数不同值的一个测试模式，例如，仅有脉冲串的前沿部分的功率。通过检测读出信号的前沿抖动并确定对应于最小抖动的第一参数的值从而从这个模式中确定第一参数的最佳值。使用这个最佳功率和第一参数的最佳值并改变第二参数的值例如一个脉冲串的后沿脉冲的功率来记录第二测试模式。从读出信号的后沿抖动来确定第二参数的最佳值。

优化那些不受上述两个步骤影响的脉冲串那些部分的写入功率的步骤最好先于上述两个优化步骤。此外，将带有脉冲串写入功率的不同值的一个测试模式写入记录载体并且从对应于那个模式的读出信号中确定一个最佳的功率值。当写入第一和第二测试模式时可以使用这个写入功率。在上述这两个步骤之后，使用第一和第二参数的最佳值以及在围绕在第一步骤中找到的这个最佳值的一个小的范围内改变脉冲串的功率来记录第四测试模式。从读出信号的幅度中确定该功率的最佳值。

本发明的另一方面涉及一种在一个光学记录载体上记录信息的方法，该方法包括确定如前所述的根据本发明的记录装置的最佳记录条件的步骤。

根据本发明的记录方法已经显示出改进了记录的质量并且明显地减少了所记录信息的读出信号的抖动。可以减少记录载体品牌和记录装置在记录质量上的影响。尤其是，记录质量对辐射波长和记录装置物镜的安装的灵敏性变小了。

从随后对附图所示的本发明最佳实施例的更为具体的描述将使本发明的目的、有益效果和特征更为显著，其中

图1是根据本发明的光记录装置的框图，

图2是抖动检测器的框图，

图3显示了一个数字信息信号，该信号对应于用于写入的辐射功率和一个相应的状态序列，

图4是信息处理装置框图，并且

图5A和B显示对应于用于写入的辐射功率的两个信号。

图1示出了根据本发明的一个装置和一个光记录载体1。记录载体1有一个透明基底2和安排在其上的一个记录层3。该记录层包括适用于通过射线束装置写入信息的材料。这个记录层可以是例如磁光类型、相变类型、染料型或其它任何一种合适的材料。本发明适用于这些介质中的任一种，但是已经表明特别适合染料介质。信息可以以光学可检测区域即被称为标记的形式记录在记录层3上。这个装置包括一个用于发射一个射线束5的辐射源4，例如，一个半导体激光器。该射线束经光束分离器6、物镜7和基底2会聚在记录层3上。这个记录载体还可以是空气入射的，其中射线束直接入射在记录层3上而不用经过一个基底。从介质1反射的射线通过物镜7会聚并且通过光束分离器6落在检测系统8上，该检测系统将入射的射线转换为电子检测器信号。该检测器信号输入到电路9。该电路从检测器信号中得到一些信号，比如表示从介质1中读出的信息的读出信号S_R1。辐射源、光束分离器6、物镜7、检测系统8和电路9一起构成读出装置10。在一个可替换的实施例中，光束分离器6是一个衍射栅，检测系统8可以安排得靠近辐射源4。

在第一处理器11中处理来自电路9的读出信号S_R1以便于从这个读出信号中得到表示一个或多个读出参数，例如调制、不对称性或抖动的信号。这些信号用于控制记录处理过程。这些信号被馈送到处理一系列这些读出参数的值并基于此得到对应于最佳记录条件的控制信号S_C的值的控制装置12。这些控制信号被提供给例如是一个微处理器的主处理装置13。处理器11和控制装置12可以是适合处理模拟信号的电路或适合处理数字信号的电路。由电路9提供的可以与S_R1相同的第二读出信号S_R2也可以被馈送到主处理装置13，该装置处理这个信号以构成一个表示从记录载体1读出的信息的信息输出信号S_IO。

主处理装置13控制测试信号发生器14，该检测信号发生器在信息记录前的测试相位期间给辐射源驱动器15提供一个测试信号S_T。辐射源驱动器15根据其输入端的这个信号为辐射源4产生驱动信号。该测试信号对应于由辐射源4发射的射线的脉冲模式。源驱动器15、辐射源4、光束分离器6以及物镜7一起构成记录装置17。

表示被记录在记录载体1上的用户信息的信息输入信号S_II也被馈送到主处理装置13。处理装置13可以在用户信息上增加同步、地址和误差校正信息。将由信号S_IP表示的被处理过的信息提供给处理装置16。将控制信号S_C也提供给处理装置16。当记录信息时，处理装置16产生信号S_D来控制辐射源驱动器15。使用这些控制信号来调整用于一个最佳记录处理的驱动信号。

由辐射源4发射的射线脉冲在记录层3上感生出以光学可检测变化的形式存在的标记。可以通过一个单独的射线脉冲写入这样一个标记。也可以通过相同或不同长度的一系列射线脉冲来写入一个标记。

由辐射源4发射的实际辐射功率可以由一个未示出的功率检测器来测量，该功率检测器可以安排在射线束的圆形突出部另外没有使用的一侧或安排在反射偏离位于射线光束的光路径中的一个元件的辐射源中。该功率检测器的信号可以直接连接到主处理装置13。

第一处理器11包括用于从读信号中导出一个读参数的装置。这个读参数可以是一个与读信号的幅度有关的参数，比如它可以是调制或该读信号中高频和低频分量调制的组合。这个读信号也可以是一个与读信号中的反转定时有关的参数，比如抖动。处理器11可以包括用于从读信号中导出多个参数的装置。

根据本发明，处理器11包括用于检测读信号S_R1的前沿和后沿抖动的抖动检测器20。图2示出了一个抖动检测器20的实施例。将读信号S_R1提供给测量该读信号与时钟信号S_CL之间相位的相位检测器21。低通滤波器22从所检测的相位中去掉高频分量。低通滤波器22的输出用来控制时钟发生器23的频率。这个时钟发生器提供反馈到相位检测器21的时钟信号S_CL。部件21、22和23构成一个锁相环路，从而从该读信号中导出一个时钟信号。将时钟信号S_CL和读信号S_R1提供给第一时间间隔检测器24，该检测器24测量读信号前沿与时钟信号的最接近的反转之间的时间间隔。这个前沿是对应于由扫描射线束检测到的标记第一部分的读信号S_R1的那一部分，而后沿部分是对应于标记后沿部分的读信号S_R1的那一部分。也将时钟信号S_CL和读信号S_R1提供给第二时间间隔检测器25，该检测器25测量读信号的后沿部分与该时钟信号的最接近的反转之间的时间间隔。分别在电路26和27中分析所检测的时间间隔检测器24和15的时间间隔。电路26和27处理这些时间间隔值从而构成一个平均值、一个标准偏差和/或一个峰值偏差。在根据本发明的抖动检测器的实施例中，电路26和27分别产生表示前沿抖动和后沿抖动的标准偏差的信号S_LJ和S_TJ。

处理装置16产生一个输出信号S_D以响应信息信号S_IP并将其提供给辐射源驱动器15。图3示出在上面轨迹部分中的作为时间t的函数的双值、EFM编码的信息信号S_IP。这个信号示出了作为带有在距离T的时钟瞬间处产生的值之间转换的一系列逻辑值‘0’和‘1’的3T、4T和6T脉冲。图3中的第二个轨迹示出了与在第一轨迹中示出的并且根据本发明最佳的三个信号脉冲有关的输出信号S_D的三个脉冲串。这个第二轨迹显示了对应于S_D信号值的源4的辐射功率。P_b是不足以将一个标记写入记录层的偏置功率电平。P_W是脉冲串的中间部分的写入功率电平。P_W1是一个脉冲串的前沿部分的写入电平。P_W2是一个脉冲串的后沿部分的功率。第三轨迹示出了持续时间T的每个时钟周期的逻辑状态。在第二轨迹示出的S_D的例子中，信号值可以在T/3距离处的时钟瞬间改变。脉冲串的第一脉冲有4/3 T的宽度，这个脉冲串中的后续脉冲有2/3 T的宽度并且在1/3 T的脉冲之间有一个间隙。在这个例子中的脉冲串的前沿部分有1/3 T的长度，其后沿部分有2/3 T的长度。一个脉冲串的中间部分具有等于脉冲串总长度减去1T的长度。图3中的第四个轨迹示意性地示出了由第二轨迹的脉冲串：3T、4T和6T构成的分别标为28a、28b和28c的标记，以及中间的其长度分别为3T和4T的未写入区域29a和29b。

在图3的第二轨迹的最佳信号的实例中，使用前沿抖动使较短脉冲串(3T和4T)的子集的前沿部分的功率P_W1是最佳的，而将长脉冲串(nT，n≥5)的前沿部分的功率设定在电平P_W。3T脉冲串的后沿部分的功率不是最佳的并且被设定在电平P_W，而使用了后沿抖动使较长脉冲串(nT，n≥4)的子集的后沿部分的功率P_W2是最佳的。

很清楚，本发明不局限于脉冲串前沿和后沿部分的上述长度，并且脉冲串的前沿和后沿部分可能有不同的长度。同样很清楚，本发明不局限于所示的其前沿和后沿部分都是最佳的脉冲串的特定选择。

图4示出了产生在图3的第二轨迹中所示的输出信号S_D以响应在图3的第一轨迹中所示的信息信号S_IP的处理装置16的一个实施例。将具有周期为T的时钟信号F_C提供给锁相环路30。这个锁相环路的输出频率F_C3通过分频器31被因子3所分频并且随后反馈到锁相环路30。锁相环路30和分频器31的组合其操作如同一个能够产生具有1/3T周期的时钟信号F_C3的三倍频器。将信息信号S_IP提供给一个八位移位寄存器32。以每个时钟周期T一位的速度将S_IP的输入位馈送到寄存器中。每个周期，将该寄存器的内容提供给一个状态机33一次。这个状态机将来自寄存器的每八位字转换成三位连续的功率值。这些功率值以每1/3T周期一个值的速度被送到状态机的输出端。因此，每个周期T可以提供三个功率值。这些功率值通过一个D-A转换器34从数字形式转换为模拟形式，这个D-A转换器能提供在源驱动器15中使用的一个模拟输出信号S_D。

将参考表1解释状态机的操作。

状态	位格式	功率值
			012345	xxxx0xxxxxx01xxxxx01110xxx011110x0111xxxx11110xxxx011111111111xx	Pb，Pb，PbPb，Pb，PW1PW，PW，PWPb，PW2，PW2Pb，Pb，PWPb，PW，PW

                    表1

该表示出了由状态机33从移位寄存器32接收的位格式、该状态机相应的状态以及属于该状态的三个连续的功率值。在图3的第一轨迹中属于信息信号S_IP的状态在图3的底部的轨迹中显示出了。有两个导致状态0的输入位格式和两位导致状态1的输入位格式。每个位格式的最右边一位是输入到移位寄存器32的信息的最后一位。从右边起第4位是当前位。表中的每一位有逻辑值‘0’和‘1’以及被称为‘不必在意’值‘0’或‘1’，它由‘x’表示。作为一个例子，如果在F_C的时钟瞬间，状态机33有一个位格式‘x11110xx’，则它进入状态3；作为响应，它在三个连续的F_C时钟瞬间以这个顺序提供功率值P_b、P_W2和P_W2。这些数字功率值被从数字形式转换为模拟形式然后提供给源驱动器15。

在将信息写入记录载体1之前，装置经过一个检测相位，在其中它设定用于通过执行后续过程来写入一个最佳值的脉冲串的辐射功率。该装置在记录载体1上写入包括一系列其中每个都具有一个不同写入功率的子格式的第一测试模式。可以在主处理装置13的控制下，用一个逐步增加的写入功率来写入后续的子格式。应该选择这些子格式中的标记长度以便于给出一个所希望的读信号。如果要确定这个读信号的最大调制，那么这个子格式应该包括足够长的标记以获得该读信号的最大调制。当根据被称为EFM的调制将信息编码时，这个测试模式最好包括长的I₁₁标记。这些格式可以写在介质上的任何地方。也可以将它们写在介质上专门提供的测试区域中。

由处理器11处理对应于第一测试模式的读信号S_R1并且从这个读信号中得到第一读参数。这个第一读参数可以是该读信号的调制信号。该读信号最好是该读信号的非对称信号，称为β，它是用于度量包括整个信息带宽的读信号的平均值与靠近这个带宽低频末端处的读信号分量的平均值之差的一个值。可以通过将读信号S_R1经过一个高通滤波器来获得代表非对称性的信号，分别确定这个滤波信号的上、下包络的信号值A1和A2，并且计算β＝(A1+A2)/(A1-A2)，其中，通常A2将是一个负值。

控制装置12从处理器11中接收在第一测试模式中用于所有子格式的β值。这些β值以及相应子格式的写入功率构成了一个β对写入功率的曲线，其中该曲线是一条穿过β＝0轴的线。控制装置12确定写入功率，其中β有一个接近或等于零的一个值，其值最好在范围-0.05到+0.15之间。将所选的最佳写入功率提供给主处理装置13。

在测试相位的第二步骤中，该装置将用于写入的脉冲串的前沿部分最优化。为此，检测信号发生器14使用在第一步骤中获得的最佳功率值产生一个用于将第二测试模式写入记录载体的检测信号。第二测试模式包括一系列在脉冲串的前沿部分中带有不同功率值的子格式。处理器11测量对应于每个子格式的读信号的前沿抖动S_LJ并且将抖动值提供给控制装置12。控制装置12使用子格式的前沿抖动值来确定能够给出最低前沿抖动的前沿功率P_W1。将表示这个值的控制信号提供给主处理装置13。

在测试相位的第三步骤中，该装置将用于写入的脉冲串的后沿部分最优化。该装置使用带有用于后沿脉冲并在这个第三测试模式的不同子格式中有不同值的写入功率的脉冲串写入第三测试模式。该脉冲串采用在第二步骤中所获得的最佳前沿功率和在第一步骤中找到的最佳功率。处理器11度量对应于每个子格式的读信号的后沿抖动S_LJ。控制装置12确定其中后沿抖动显示一个最小值的后沿功率P_W2并且将这个值作为一个控制信号提供给主处理装置13。对于特定的记录载体，在第二步骤中这个后沿部分是最佳的并且在第三步骤中这个前沿部分是最佳的。

在测试相位的第四步骤中，该装置使用在第二和第三步骤所获得的前沿和后沿功率再次最优化写入功率。该装置使用在该脉冲串的中部，带有对于第四测试模式中的不同子格式具有不同值的写入功率的脉冲串来写入第四测试模式。这些写入功率存在于围绕第一步骤中所获得的最佳功率的一个相对小的范围内。处理器11和控制装置12构成表示最佳写入功率值P_W的一个控制信号并将其提供给主处理装置13。

检测相位之后，在最佳记录条件下可以将由信号S_II表示的信息记录在记录载体上。根据控制信号S_C修正通过处理装置16根据信息信号S_II所构成的脉冲串。在上述装置的实施例中，脉冲串3T和4T的前沿部分的功率被设定为前沿功率P_W1，具有n≥4的脉冲串nT的后沿部分的功率被设定为后沿功率P_W2。这些脉冲串的中间部分的功率被设定为最佳功率P_W。

在根据本发明方法的一个可替换的实施例中，脉冲串3T和4T的P_W1被优化为与第一步骤中相同的值。具有n≥4的脉冲串nT的P_W2被优化为与后续步骤中相同的值。4T脉冲串的R_W2在下一个步骤中被再次优化。

图5示出了从根据本发明的记录方法的另外实施例中导出的有关3T、4T和6T标记的输出信号S_D。通过(N-1)个系列脉冲写入一个nT标记。在图5A的实施例中，第一参数是3T和4T脉冲串的第一脉冲的宽度T₁，其值是在一个单独的优化步骤中确定的。在每个脉冲串的第一和最后脉冲之间的脉冲宽度有一个预先确定的值，例如，2/3T。一系列脉冲之间的持续时间也有一个预定值，例如，1/3T。在一个单独优化步骤中确定nT脉冲串其中n≥4的最后脉冲的宽度T₃。nT脉冲串其中n≥5的第一个脉冲的宽度T₁’有一个预定值，例如1/3T。在随后的优化步骤中，可以进一步优化4T脉冲串的值T₃。

图5示出了其脉冲之间的持续时间已经优化的3T、4T和6T脉冲串的输出信号S_D。在该例子中，对于6T脉冲串而言，所示的脉冲宽度具有一个恒定的、一个例如1/3T、2/3T、2/3T、2/3T、1/2T的预定值。在第一个优化步骤中，3T和4T脉冲串的第一和第二个脉冲之间的持续时间T₅是最佳的。除系列脉冲的第一和最后一个脉冲之外的脉冲之间的持续时间T₆有一个预定值，例如1/3T。同样，n≥5的nT脉冲串的第一和第二个脉冲之间的持续时间T₅’有一个预定值，例如1/3T。在随后的优化步骤中，确定n≥4的nT脉冲串的倒数第二和最后脉冲之间的持续时间T₇。

很清楚，对于特定的应用组合，可以由图3、5A和5B中所示的方法构成，例如，前沿部分的功率优化和后沿部分的脉冲宽度优化。

一种记录装置可以将在上述过程中获得的最佳记录条件以及该装置的一个标识一起记录在记录载体上。该记录条件可以包括写入功率P_W、P_W1和P_W2、写入速度以及波长。然后该装置可以检验在记录前是否必须检测记录载体。如果位于记录载体上的标识等于装置的标识，则不需要执行记录测试过程并且取而代之的是可以使用从这个记录载体上读出的记录条件。另外，记录装置或记录产品制造商可以在记录载体上写入那些参数的起始值或范围。根据本发明的记录方法适用于在已擦除记录层上写入信息，以及在未擦除的即所谓的直接重写记录层上写入信息。

Claims (10)

1.用于将信息记录在光学记录载体上的装置，包括用于通过用射线脉冲串来照射记录载体从而在该记录载体上写入光学可读标记格式的记录装置，其中一个标记由一个脉冲串所构成，

一个测试信号发生器，用于产生包含一个测试模式的测试信号并将该测试信号提供给记录装置的一个输入端，

读出装置，用于读出记录载体上的标记并提供一个读信号，

一个抖动检测器，用于检测对应于该测试模式的读信号的抖动并提供一个前沿抖动信号和后沿抖动信号，

控制装置，用于分别根据前沿和后沿抖动信号提供第一控制信号和第二控制信号，这些控制信号的值对应于该读信号的一个最佳品质，

处理装置，用于将待记录的输入信息转换为提供给记录装置的一个输出信号，该输出信号对应于射线脉冲串并且代表这个输入信息，其中每个脉冲串具有一个前沿部分和后沿部分、与由第一控制信号确定的前沿部分相关的第一参数的最佳值和/或与由第二控制信号确定的后沿部分相关的第二参数的最佳值。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于第一或第二参数是前沿或后沿部分的辐射功率。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于第一或第二参数是前沿或后沿部分的一个脉冲的宽度。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于第一或第二参数是前沿或后沿部分的两个脉冲之间的持续时间。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于安排控制装置从所记录的带有第一参数的一个最佳值的测试模式中导出第二控制信号的值。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于安排控制装置根据对应于测试模式的读信号的幅度来提供第三控制信号，并控制脉冲串的辐射功率、对应于读信号的最佳品质的第三控制信号的值，

以及安排处理装置来接收第三控制信号并在将待记录的输入信息转换为输出信号的过程中使用它的值。

7.在记录载体上记录信息的方法，包括这些步骤

在记录载体上写入标记的一个测试模式，

读出该测试模式并构成一个读信号，

测量读信号的前沿抖动和后沿抖动，

根据前沿和后沿抖动分别确定第一和第二控制信号的最佳值，

将待记录的用户信息转换为一个输出信号并将该输出信号提供给记录装置，这个输出信号对应于辐射的脉冲串并表示输入信息，其中每个脉冲串具有一个前沿部分和后沿部分、与由第一控制信号确定的前沿部分相关的第一参数的最佳值和/或与由第二控制信号确定的后沿部分相关的第二参数的最佳值。

8.根据权利要求7的方法，包括这些步骤

测量读信号的幅度，

根据该幅度确定第三控制信号的一个最佳值，

根据第三控制信号的值控制脉冲串的辐射功率。

9.根据权利要求7的方法，其中使用第一测试模式的第一参数的最优化其后紧随使用第二测试模式的第二参数的最优化。

10.根据权利要求8和9的方法，其中辐射功率的最优化其后紧随第一和第二参数的最优化。

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