CN111707216A - 一种基于随机两步相移的面形检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种基于随机两步相移的面形检测方法,属于光学检测技术领域,本发明要解决现有技术对测量环境要求苛刻和测量误差大的问题。本发明所提供的技术方案是:随机获取两步相移干涉图,通过随机两步相移算法对这两幅干涉图进行相位解调;对解调后的相位图进行相位解包,并用Zernike多项式进行波面拟合求解待测面形。本发明只需要随机两幅干涉图就可以实现待测面的面形求解,降低了测量系统的复杂性,减少了提取相移量或恢复相位的计算时间,操作简单,测量精度高。
Description
技术领域:
本发明涉及光学检测技术领域,具体涉及一种基于随机两步相移的面形检测方法。
背景技术:
光学表面面形检测是光学零件检测中最重要、最基本的检测项目之一,它将直接影响光学零件的质量,同时也是光学检测水平高低的重要标志,因而展开对光学表面面形检测的研究具有极其重要的意义。
最典型的检测方法是相移干涉检测法,但以相移干涉测量技术为代表的高精度测量手段,常采用四步相移算法或者等步长算法对干涉条纹进行相位解调,因此对测量环境要求十分苛刻:相移步长必须是严格等间距或者定步长的,环境振动和空气扰动都会对最终恢复相位带来较大误差。
发明内容:
本发明的目的是提供一种基于随机两步相移的面形检测方法,以解决现有技术存在的对测量环境要求苛刻和测量误差大的问题。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:一种基于随机两步相移的面形检测方法,其特征在于:包括下述步骤:
(1)图像采集:通过搭建干涉测试光路,获取随机两步的相移干涉图;
(2)通过随机两步相移算法,对两幅相移干涉图I1、I2进行相位解调:首先建立P、Q、R的矩阵,设定K值,建立F(l,x,y)的矩阵,利用最小二乘矩阵求γ(l)的值;求解相移量δK和背景光I0 K(x,y),并进行待测相位Φ(x,y)的求解;
(3)对解调后的待测相位进行相位解包,并用zernike多项式进行波面拟合求解待测面形。
进一步,步骤(2)的具体步骤如下:
①根据干涉图I1、I2的光强表达式消去待测相位,可以得到I1、I2之间新的表达式:
0=P(x,y)-[I'2(x,y)sin2(δ)-2I0 2(x,y)(1-cosδ)]
-Q(x,y)I0(x,y)(1-cosδ)-R(x,y)cosδ
其中,P=I1 2+I2 2,Q=2[I1+I2],R=2I1I2,I0(x,y)为背景光,I’(x,y)为调制度;
根据如上所示P、Q、R与I1、I2之间关系,利用采集到的相移干涉图I1、I2,建立P、Q、R的矩阵,并设定一个K值;
②根据设定的K值,利用K阶二维多项式对背景光与调制度进行拟合,再将此K阶二维多项式转换成一维多项式,并代入I1、I2之间新的表达式中,可以得到单个像素误差表达式:
其中,L0=(K+1)2,L1=(2K+1)2,L=L0+L1,γ(l)表示I1、I2之间新的表达式中第二项的多项式系数,α(l)表示拟合背景光的多项式系数;
根据单个像素误差表达式,可以得到F(l,x,y)与K值的关系式,建立F(l,x,y)的矩阵,其中(x,y)表示相移干涉图的像素坐标;
③利用如下所示的最小二乘矩阵求γ(l)的值;
④利用步骤③求得的γ(l)的值实现相移量δK和背景光I0 K(x,y)的求解;
δK=arccos[γ(L)]
⑤利用步骤④求得的相移量δK和背景光I0 K(x,y)的值进行待测相位Φ(x,y)的求解:
与现有技术相比,本发明的优点是:
1、降低了测量系统的复杂性,减少了提取相移量或恢复相位的计算时间。
2、无需对系统进行相位标定,可以在相移量、背景光、调制度以及相位都未知的情况下,只需要两帧相移干涉图便可以求解出相移量、背景光和被测相位,实现面形检测。
3、采用多项式对背景光进行了拟合求解,不需要利用滤波器对干涉图的直流项进行滤除,对干涉图中光照非均匀现象具有较好的鲁棒性,而且实验操作简单,测量精度高。
附图说明:
图1为本发明基于随机两步相移面形检测方法的流程框图;
图2为本发明随机两步相移算法的流程框图;
图3为本发明随机两步相移的原理示意图。
具体实施方式:
下面将结合附图和实施例对本发明进行详细地说明。
参见图1,一种基于随机两步相移的面形检测方法,具体包括以下步骤:
(1)通过搭建菲索干涉测试光路,获取随机两步的相移干涉图,并存入计算机中;
(2)利用随机两步相移算法,对这两幅相移干涉图I1、I2进行相位解调,随机两步相移算法流程参见图2,其原理参见图3,具体步骤如下:
①根据干涉图I1、I2的光强表达式消去待测相位,可以得到I1、I2之间新的表达式:
0=P(x,y)-[I'2(x,y)sin2(δ)-2I0 2(x,y)(1-cosδ)]
-Q(x,y)I0(x,y)(1-cosδ)-R(x,y)cosδ
其中,P=I1 2+I2 2,Q=2[I1+I2],R=2I1I2,I0(x,y)为背景光,I’(x,y)为调制度。
根据如上所示P、Q、R与I1、I2之间关系,利用采集到的相移干涉图I1、I2,建立P、Q、R的矩阵,并设定一个K值;
②根据设定的K值,利用K阶二维多项式对背景光与调制度进行拟合,再将此K阶二维多项式转换成一维多项式,并代入I1、I2之间新的表达式中,可以得到单个像素误差表达式:
其中,L0=(K+1)2,L1=(2K+1)2,L=L0+L1,γ(l)表示I1、I2之间新的表达式中第二项的多项式系数,α(l)表示拟合背景光的多项式系数。
根据单个像素误差表达式,可以得到F(l,x,y)与K值的关系式,建立F(l,x,y)的矩阵,其中(x,y)表示相移干涉图的像素坐标;
③利用如下所示的最小二乘矩阵求γ(l)的值;
④利用步骤③求得的γ(l)的值实现相移量δK和背景光I0 K(x,y)的求解;
δK=arccos[γ(L)]
⑤利用步骤④求得的相移量δK和背景光I0 K(x,y)的值进行待测相位Φ(x,y)的求解。
(3)对解调后的待测相位进行相位解包,并用zernike多项式进行波面拟合求解待测面形。
Claims (2)
1.一种基于随机两步相移的面形检测方法,其特征在于:包括下述步骤:
(1)图像采集:通过搭建干涉测试光路,获取随机两步的相移干涉图;
(2)通过随机两步相移算法,对两幅相移干涉图I1、I2进行相位解调:首先建立P、Q、R的矩阵,设定K值,建立F(l,x,y)的矩阵,利用最小二乘矩阵求γ(l)的值;求解相移量δK和背景光I0 K(x,y),并进行待测相位Φ(x,y)的求解;
(3)对解调后的待测相位进行相位解包,并用zernike多项式进行波面拟合求解待测面形。
2.如权利要求1所述的一种基于随机两步相移的面形检测方法,其特征在于:所述步骤(2)的具体步骤如下:
①根据干涉图I1、I2的光强表达式消去待测相位,可以得到I1、I2之间新的表达式:
0=P(x,y)-[I'2(x,y)sin2(δ)-2I0 2(x,y)(1-cosδ)]-Q(x,y)I0(x,y)(1-cosδ)-R(x,y)cosδ
其中,P=I1 2+I2 2,Q=2[I1+I2],R=2I1I2,I0(x,y)为背景光,I’(x,y)为调制度;
根据如上所示P、Q、R与I1、I2之间关系,利用采集到的相移干涉图I1、I2,建立P、Q、R的矩阵,并设定一个K值;
②根据设定的K值,利用K阶二维多项式对背景光与调制度进行拟合,再将此K阶二维多项式转换成一维多项式,并代入I1、I2之间新的表达式中,可以得到单个像素误差表达式:
其中,L0=(K+1)2,L1=(2K+1)2,L=L0+L1,γ(l)表示I1、I2之间新的表达式中第二项的多项式系数,α(l)表示拟合背景光的多项式系数;
根据单个像素误差表达式,可以得到F(l,x,y)与K值的关系式,建立F(l,x,y)的矩阵,其中(x,y)表示相移干涉图的像素坐标;
③利用如下所示的最小二乘矩阵求γ(l)的值;
④利用步骤③求得的γ(l)的值实现相移量δK和背景光I0 K(x,y)的求解;
δK=arccos[γ(L)]
⑤利用步骤④求得的相移量δK和背景光I0 K(x,y)的值进行待测相位Φ(x,y)的求解:
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