CN111624359B - 一种样本测试装置、联机测试系统及其样本测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种样本测试装置、联机测试系统及其样本测试方法，其中，样本测试装置包括：底板以及双平带机构，所述双平带机构包括间隔设置在所述底板上的测试轨道组件以及运输轨道组件，所述运输轨道组件的一端设置有用于传输试管架组件的进架组件，所述测试轨道组件的下方设置有用于所述试管架组件定位的底部挡叉组件。本发明采用双平带机构，通过运输轨道组件与进架组件配合，实现试管架组件的高效、稳定传输，通过测试轨道组件与底部挡叉组件配合工作，实现试管架组件的精确定位，同时，运输轨道组件与测试轨道组件为单独的双向驱动，测试速度快，且测试完成的试管架能够实现复测功能。

Description

一种样本测试装置、联机测试系统及其样本测试方法

技术领域

本发明涉及医疗设备领域，更具体地说，它涉及一种样本测试装置、联机测试系统及其样本测试方法。

背景技术

为了满足自动化分析的要求，样本测试装置被广泛的应用于生化分析仪、化学发光仪、尿仪、细胞分析仪等精密仪器以及实验室流水线分析系统中，样本测试装置是影响样本检测效率的重要因素。

现有样本测试装置虽然能够实现多台联机测试流水线用的样本传输、急诊及复测，但是，大多数都是采用平带和异形同步带双通道模式，设计成本较高，且控制系统较复杂，缓存区和回收区无法实现多个样本架缓存，测试通道无法连架测试，影响轨道传输速度，无法满足大量加急样本的测试需求。

因此，现有技术还有待改进与发展。

发明内容

本发明的目的是针对现有技术中的不足，提供一种样本测试装置、联机测试系统及其样本测试方法，达到试管架组件的高效、稳定测试的目的。

本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种样本测试装置，其中，包括底板以及双平带机构，所述双平带机构包括间隔设置在所述底板上的测试轨道组件以及运输轨道组件；所述运输轨道组件的一端设置有用于传输试管架组件的进架组件，所述测试轨道组件的下方设置有用于所述试管架组件定位的底部挡叉组件。

所述的样本测试装置，其中，所述测试轨道组件与所述运输轨道组件之间依次设置有缓存工作面板以及回收工作面板，所述缓存工作面板以及所述回收工作面板分别固定连接于所述底板；所述缓存工作面板设置在靠近所述进架组件的一端，所述试管架组件分别滑动连接于所述缓存工作面板和回收工作面板。

所述的样本测试装置，其中，所述运输轨道组件包括设置在所述底板上的运输轨道支座、设置在所述运输轨道支座上的运输轨道衬板、运输轨道平带以及运输轨道电机，所述运输轨道电机驱动所述运输轨道平带在所述运输轨道衬板上运行，用于运送所述试管架组件；所述运输轨道衬板的一侧设置有运输轨道挡板，所述运输轨道挡板上设置有运输监测光耦组件。

所述的样本测试装置，其中，所述进架组件包括垂直于所述运输轨道组件设置的进架安装板，所述进架安装板上分别设置有进架导轨、进架推板、进架电机以及进架同步带；所述进架推板滑动连接于所述进架导轨，所述进架电机通过所述进架同步带驱动所述进架推板移动，所述进架推板通过拦截所述运输轨道组件上的试管架组件，将所述试管架组件运输至所述缓存工作面板上；

所述缓存工作面板的下方设置有第一倒架组件，所述第一倒架组件包括第一倒架安装板、设置在所述第一倒架安装板上的第一倒架电机和第一倒架导轨以及滑动连接与所述第一倒架导轨的第一倒架推板，所述第一倒架推板的两端分别设置有第一拨块；所述第一倒架电机通过同步带驱动所述第一倒架推板沿所述第一倒架导轨滑移并带动所述第一拨块移动，推动所述试管架组件至所述测试轨道组件上。

所述的样本测试装置，其中，所述测试轨道组件包括设置在所述底板上的测试轨道支座、设置在所述测试轨道支座上的测试轨道衬板、测试轨道平带以及测试轨道电机，所述测试轨道电机驱动所述测试轨道平带在所述测试轨道衬板上运行，用于运送所述试管架组件；所述测试轨道衬板的一侧设置有测试轨道挡板，所述测试轨道挡板上设置有测试监测光耦组件；

所述测试轨道挡板上还设置有用于读取样本信息的条码扫描器。

所述的样本测试装置，其中，所述底部挡叉组件包括底部挡叉安装板、两组间隔设置的挡叉组件以及设置在所述底部挡叉安装板上的挡叉电机，所述挡叉电机用于分别驱动两组所述挡叉组件独立运动；

所述挡叉组件包括用于阻挡所述试管架组件的第一挡杆和第二挡杆，所述第一挡杆和所述第二挡杆均垂直于所述运输轨道平带设置；所述第一挡杆通过第一滑动块连接于所述挡叉同步带，所述第二挡杆通过第二滑动块连接于所述挡叉同步带，所述底部挡叉电机通过所述挡叉同步带驱动所述第一挡杆和所述第二挡杆做交替往复移动，使所述试管架组件按照预设距离依次移动。

所述的样本测试装置，其中，所述回收工作面板的下方设置有第二倒架组件，所述第二倒架组件包括第二倒架安装板、设置在所述第二倒架安装板上的第二倒架电机和第二倒架导轨以及滑动连接与所述第二倒架导轨的第二倒架推板，所述第二倒架推板的两端分别设置有第二拨块；所述第二倒架电机通过同步带驱动所述第二倒架推板沿所述第二倒架导轨滑移并带动所述第二拨块移动，推动所述试管架组件至所述运输轨道组件上。

所述的样本测试装置，其中，所述测试轨道组件的一端设置有退架组件，所述退架组件设置在相对于所述进架组件的另一端，所述退架组件包括垂直于所述测试轨道组件设置的退架安装板，所述退架安装板上分别设置有退架导轨、退架推板、退架电机以及退架同步带；

所述退架推板滑动连接于所述退架导轨，所述退架电机通过所述退架同步带驱动所述退架推板移动，所述退架挡板将测试完成的所述试管架组件运输至所述回收工作面板上。

一种样本联机测试系统，其中，包括多个如上任一项所述的样本测试装置，多个所述样本测试装置依次连接，用于对所述试管架组件进行分段选择测试；多个所述运输轨道之间分别设置有轨道连接件，所述轨道连接件用于连接两个相邻的所述运输轨道组件。

一种基于如上任一项所述的样本测试装置的样本测试方法，其中，包括步骤：

样本测试装置接收操作指令，控制所有机构复位，并装载试管架组件；

所述样本架组件装载完成后，进架组件将所述试管架组件推送至缓存工作面板，第一倒架组件工作，将所述试管架组件推送至测试轨道组件；

所述测试轨道组件与底部挡叉组件配合进行样本测试，并通过条码扫描器进行样本信息读取；

样本测试完成后，退架组件将所述试管架组件推至回收工作面板，第二倒架组件工作，将所述试管架组件推送至运输轨道组件；并将所述样本架组件移出。

综上所述，本发明具有以下有益效果：

本发明采用双平带机构，通过运输轨道组件与进架组件配合，实现试管架组件的高效、稳定传输，通过测试轨道组件与底部挡叉组件配合工作，实现试管架组件的精确定位，同时，运输轨道组件与测试轨道组件为单独的双向驱动，测试速度快，且测试完成的试管架能够实现复测功能。

附图说明

图1是本发明优选实施例中样本测试装置的整体结构示意图。

图2是本发明优选实施例中运输轨道组件的结构示意图。

图3是本发明优选实施例中进架组件的结构示意图。

图4是本发明优选实施例中第一倒架组件的结构示意图。

图5是本发明优选实施例中测试轨道组件的结构示意图。

图6是本发明优选实施例中底部挡叉组件的结构示意图。

图7是本发明优选实施例中第二倒架组件的结构示意图。

图8是本发明优选实施例中退架组件的结构示意图。

图9是本发明优选实施例中试管架组件的结构示意图。

图10是本发明优选实施例中底部挡叉组件的工作原理示意图。

图11是本发明优选实施例中样本测试方法的流程图。

图中：

1、底板；

2、退架组件；21、退架安装板；22、退架推板；23、退架导轨；24、退架同步带；25、退架电机；26、退架零位光耦；

3、测试轨道组件；31、测试轨道电机；32、测试轨道平带；33、测试轨道衬板；34、测试轨道支座；35、测试轨道挡板；36、测试入口监测光耦；37、测试到位监测光耦；38、测试样本架监测光耦；39、测试出口监测光耦；

4、底部挡叉组件；41、挡叉电机；42、底部挡叉安装板；43、第一零位光耦；44、第一挡杆；45、第二挡杆；46、第一滑动块；47、第二滑动块；48、第二零位光耦；

5、条码扫描器；

6、第一倒架组件；61、第一倒架电机；62、第一倒架安装板；63、第一倒架光耦挡片；64、第一倒架推板；65、第一拨块；66、第一倒架零位光耦；67、第一倒架导轨；

7、进架组件；71、进架安装板；72、进架导轨；73、进架推板；74、进架同步带；75、进架电机；76、进架挡架板；77、进架零位光耦；

8、缓存工作面板；

9、急诊试管架；

10、运输轨道组件；101、运输轨道电机；102、运输轨道平带；103、运输轨道衬板；104、运输轨道支座；105、运输轨道挡板；106、运输入口监测光耦；107、缓存到位监测光耦；108、运输样本架监测光耦；109、退架到位监测光耦；

11、回收工作面板；

12、第二倒架组件；121、第二倒架电机；122、第二倒架安装板；123、第二倒架光耦挡片；124、第二倒架推板；125、第二拨块；126、第二倒架零位光耦；127、第二倒架导轨；

13、试管架组件；131、棱结构。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步详细说明。

本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”、“设置”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

实施例：一种样本测试装置，如图1所示，包括底板1以及双平带机构，所述双平带机构包括分别设置在所述底板1上的测试轨道组件3以及运输轨道组件10，所述测试轨道组件3与所述运输轨道组件10间隔设置。所述运输轨道组件10的一端设置有用于传输试管架组件13的进架组件7，所述测试轨道组件3的下方设置有用于所述试管架组件13定位的底部挡叉组件4。

本发明采用的双平带机构成本低廉、结构简单，通过运输轨道组件10与进架组件7配合工作，实现试管架组件13的运输，通过测试轨道组件3与所述底部挡叉组件4配合工作，实现试管架组件13的精确定位。

所述测试轨道组件3与所述运输轨道组件10之间设置有缓存工作面板8和回收工作面板11，所述缓存工作面板8和所述回收工作面板11沿所述运输轨道组件10的输送方向依次设置，所述缓存工作面板8设置在靠近所述进架组件7的一端，所述缓存工作面板8以及所述回收工作面板11分别固定连接于所述底板1；所述试管架组件13分别滑动连接于所述缓存工作面板8和回收工作面板11。

如图2所示，所述运输轨道组件10包括设置在所述底板1上的运输轨道支座104、设置在所述运输轨道支座104上的运输轨道衬板103、运输轨道平带102以及运输轨道电机101，所述运输轨道电机101驱动所述运输轨道平带102在所述运输轨道衬板103上运行，用于运送所述试管架组件13，其中，所述运输轨道平带102通过摩擦力带动所述试管架组件13运行。

所述运输轨道衬板103的一侧设置有运输轨道挡板105，所述运输轨道挡板105上设置有运输监测光耦组件。所述运输监测光耦组件包括依次间隔设置在所述运输轨道挡板105上的运输入口监测光耦106、缓存到位监测光耦107、运输样本架监测光耦108以及退架到位监测光耦109。

如图3所示，所述进架组件7包括垂直于所述运输轨道组件10设置的进架安装板71，所述进架安装板71上分别设置有进架导轨72、进架推板73、进架电机75以及进架同步带74；所述进架推板73滑动连接于所述进架导轨72，所述进架电机75通过所述进架同步带74驱动所述进架推板73移动，所述进架推板73通过拦截所述运输轨道组件10上的试管架组件13，将所述试管架组件13运输至所述缓存工作面板8上。

具体的，所述进架电机75固定于进架安装板71，通过所述进架同步带74以及进架导轨72带动进架推板73，所述进架推板73的前端延伸设置有进架挡架板76，所述进架挡架板76用于拦截所述运输轨道组件10上的试管架组件13，所述进架推板73将进架挡架板76拦截的试管架组件13运输到缓存工作面板8上，从而实现试管架组件13的运动。在所述进架安装板71上设置有进架零位光耦77，用于监控所述进架组件7的工作状态。

如图4所示，所述缓存工作面板8的下方设置有第一倒架组件6，所述第一倒架组件6包括第一倒架安装板62、设置在所述第一倒架安装板62上的第一倒架电机61和第一倒架导轨67以及滑动连接与所述第一倒架导轨67的第一倒架推板64，所述第一倒架推板64的两端分别设置有第一拨块65；所述第一倒架电机61通过同步带驱动所述第一倒架推板64沿所述第一倒架导轨67滑移并带动所述第一拨块65移动，推动所述试管架组件13至所述测试轨道组件3上。

所述第一倒架电机61安装与第一倒架安装板62上，第一倒架推板64通过第一倒架导轨67固定于第一倒架安装板62上，第一拨块65固定于倒架推板上，第一倒架推板64带动第一拨块65进行试管架组件13在缓存工作面板8上的移动，且最终将试管运输至测试轨道组件3上。

所述第一倒架安装板62上设置有第一倒架零位光耦66，所述第一倒架推板64上设置有与所述第一倒架零位光耦66适配的第一倒架光耦挡片63，用于监测所述第一拨块65的到位情况。

如图5所示，所述测试轨道组件3包括设置在所述底板1上的测试轨道支座34、设置在所述测试轨道支座34上的测试轨道衬板33、测试轨道平带32以及测试轨道电机31，所述测试轨道电机31驱动所述测试轨道平带32在所述测试轨道衬板33上运行，用于运送所述试管架组件13。所述测试轨道平带32通过摩擦力带动所述试管架组件13运行，并通过所述底部挡叉组件4进行试管架的位置精确定位。

结合图1所示，所述测试轨道挡板35上还设置有用于读取样本信息的条码扫描器5。

所述测试轨道衬板33的一侧设置有测试轨道挡板35，所述测试轨道挡板35上设置有测试监测光耦组件。所述测试监测光耦组件包括依次间隔设置在所述测试轨道挡板35上的测试入口监测光耦36、测试到位监测光耦37、测试样本架监测光耦38以及测试出口监测光耦39。

如图6所示，所述底部挡叉组件4包括底部挡叉安装板42、两组间隔设置的挡叉组件以及设置在所述底部挡叉安装板42上的挡叉电机41，所述挡叉电机41用于分别驱动两组所述挡叉组件独立运动。

所述挡叉组件包括用于阻挡所述试管架组件13的第一挡杆44和第二挡杆45，所述第一挡杆44和所述第二挡杆45均垂直于所述运输轨道平带102设置；所述第一挡杆44通过第一滑动块46连接于所述挡叉同步带，所述第二挡杆45通过第二滑动块47连接于所述挡叉同步带，所述底部挡叉电机41通过所述挡叉同步带驱动所述第一挡杆44和所述第二挡杆45运动，所述第一挡杆44和所述第二挡杆45做上下交替往复移动，使所述试管架组件13按照预设距离依次移动。所述底部挡叉安装板42的侧面设置有第一零位光耦43和第二零位光耦48，用于监控所述挡叉组件的工作状态。

其中，结合图9所示，试管架组件13为模具件，所述试管架组件13的底部设置有若干棱结构131，所述棱结构131等间距的间隔设置，其中，间隔设置的棱结构131用作第一挡杆44与第二挡杆45交替工作的区域，与挡叉组件适配，实现试管架组件13的精确定位。

工作时，结合图10所示，测试轨道平带32运行，试管架组件13被第一挡杆44阻挡，此时，试管架组件13中第一个试管到达第一挡杆44的位置，第一挡杆44下降的同时第二挡杆45上升，则试管架组件13移动第一挡杆44至第二挡杆45之间的距离。然后，第二挡杆45下降的同时第一挡杆44上升，使得试管架组件13继续移动第一挡杆44至第二挡杆45之间的距离。当第一零位光耦43监测到一次信号变化后，试管架组件13的第二个试管到达第一挡杆44的位置，从而实现试管架组件13中每个试管在测试轨道上的精确定位。

如图7所示，所述回收工作面板11的下方设置有第二倒架组件12，所述第二倒架组件12包括第二倒架安装板122、设置在所述第二倒架安装板122上的第二倒架电机121和第二倒架导轨127以及滑动连接与所述第二倒架导轨127的第二倒架推板124，所述第二倒架推板124的两端分别设置有第二拨块125；所述第二倒架电机121通过同步带驱动所述第二倒架推板124沿所述第二倒架导轨127滑移并带动所述第二拨块125移动，推动所述试管架组件13至所述运输轨道组件10上。

所述第二倒架电机121安装与第二倒架安装板122上，第二倒架推板124通过第二倒架导轨127固定于第二倒架安装板122上，第二拨块125固定于倒架推板上，第二倒架推板124带动第二拨块125进行试管架组件13在第二工作面上的移动，且最终将试管运输至运输轨道组件10上。

所述第二倒架安装板122上设置有第二倒架零位光耦126，所述第二倒架推板124上设置有与所述第二倒架零位光耦126适配的第二倒架光耦挡片123，用于监测所述第二拨块125的到位情况。

如图8所示，所述测试轨道组件3的一端设置有退架组件2，所述退架组件2设置在相对于所述进架组件7的另一端，所述退架组件2包括垂直于所述测试轨道组件3设置的退架安装板21，所述退架安装板21上分别设置有退架导轨23、退架推板22、退架电机25以及退架同步带24；

所述退架推板22滑动连接于所述退架导轨23，所述退架电机25通过所述退架同步带24驱动所述退架推板22移动，所述退架挡板将测试完成的所述试管架组件13运输至所述回收工作面板11上，然后，由所述第二倒架组件12将所述试管架组件13导送至所述运输轨道组件10上。

具体的，所述退架电机25固定于所述退架安装板21，通过所述退架同步带24和退架导轨23带动所述退架推板22，将所述测试轨道组件3上测试完成的试管架组件13运输到回收工作面板11上，实现试管架组件13的运动。所述退架安装板21上设置有退架零位光耦26，用于监控所述退架组件2的工作状态。

优选的，结合图1所示，所述底板1的中部设置有急诊试管架9，所述急诊试管架9可拆卸地设置在所述底板1上，其中，急诊试管架9可随时插入，满足急诊时的自动测试。

本发明还提供一种样本联机测试系统，其中，包括多个如上所述的样本测试装置，多个所述样本测试装置依次连接，用于对所述试管架组件进行分段选择测试；所述运输轨道组件的进架端设置有试管架缓存区，所述试管架缓存区用于装载待测试的所述试管架组件，所述运输轨道组件的出架端设置有试管架回收区，所述试管架回收区用于装载测试完成的试管架组件。

其中，多个所述运输轨道之间分别设置有轨道连接件，所述轨道连接件用于连接两个相邻的所述运输轨道组件。

具体的，样本联机测试系统包括若干依次连接的所述样本测试装置，其中位于最前端的运输轨道组件的进架端设置有试管架缓存区，用于装载准备进入运输轨道组件的待测试的试管架组件，位于最末端的运输轨道的出架端设置有试管架回收区，用于装载完全测试结束的试管架组件。

所述试管架组件在运输过程中，依次沿各运输轨道组件移动，并根据实际测试需求选择性的进入某个测试模块。若无测试需求，则始终沿运输轨道组件移动。

如图11所示，本发明还提供一种基于如上所述的样本测试装置的样本测试方法，包括步骤：

S100、样本测试装置接收操作指令，控制所有机构复位，并装载试管架组件。

S200、所述样本架组件装载完成后，进架组件将所述试管架组件推送至缓存工作面板，第一倒架组件工作，将所述试管架组件推送至测试轨道组件。

S300、所述测试轨道组件与底部挡叉组件配合进行样本测试，并通过条码扫描器进行样本信息读取。

S400、样本测试完成后，退架组件将所述试管架组件推至回收工作面板，第二倒架组件工作，将所述试管架组件推送至运输轨道组件；并将所述样本架组件移出。

具体的，当所述样本测试装置执行单机工作时：

工作人员控制样本测试装置的所有机构复位，准备试管架组件以及样本，并将试管架组件放置于用于进架组件处的缓存工作面板上。样本测试装置接收工作人员的开始工作指令，并控制各机构工作。

开始测试时，进架组件的进架电机动作，带动进架推板将试管架组件推送至缓存工作面板上，第一倒架组件工作，将试管架组件推送至测试轨道组件上。当测试到位监测光耦监测到信号时，测试轨道组件与底部挡叉组件配合工作，进行样本测试，并通过条码扫描器进行样本信息读取。

测试完成后，测试出口监测光耦监测到信号时，退架组件中的退架电机动作，带动退架推板将试管架组件推送至回收工作面板上，完成退架动作。

进一步地，若退架时，退架组件的退架区域中试管架组件满，则退架到位监测光耦监测到信号，通知工作人员手动将试管架组件移出。

在本发明的另一种实施例中，当所述样本测试装置执行联机工作时：

工作人员控制样本测试装置的所有机构复位，并装载试管架组件。当运输入口监测光耦监测到信号时，运输轨道组件中的运输轨道电机动作，带动运输轨道平带运动，本发明的样本测试装置能够对试管架组件进行选择性测试。

当无需对试管架组件进行测试时，则进架组件保持待机状态，试管架组件始终沿运输轨道组件运动，直至收到开启测试指令。

当需要对试管架组件进行测试时，则进架组件动作，进架挡架板伸出，将试管架组件拦截至运输轨道组件的缓存区。当缓存到位监测光耦监测到信号时，进架组件的进架电机动作，带动进架推板将试管架推送至缓存工作面板上。

测试时，第一倒架组件工作，将试管架推送至测试轨道组件上，测试到位监测光耦监测到信号，测试轨道组件与底部挡叉组件配合工作，进行样本测试，并通过条码扫描器进行样本信息读取。

测试完成后，测试出口监测光耦监测到信号，退架组件中的退架电机动作，带动退架推板将试管架组件推送至回收工作面板上。当运输样本架监测光耦及退架到位监测光耦无信号时，表示运输轨道组件为空，第二倒架组件开始工作。

退架时，运输轨道组件动作，将试管架组件继续向前运输，若运输样本架监测光耦及退架到位监测光耦有信号，则第二倒架组件不动作，直至监测到信号；如上循环，完成联机工作。

综上所述，本申请采用双平带机构，通过运输轨道组件与进架组件配合，实现试管架组件的高效、稳定传输，通过测试轨道组件与底部挡叉组件配合工作，实现试管架组件的精确定位，同时，运输轨道组件与测试轨道组件为单独的双向驱动，测试速度快，且测试完成的试管架能够实现复测功能，可实现循环操作。

联机工作时，运输轨道组件与测试轨道组件可实现多个试管架组件的缓存，各轨道上的试管架组件通过进架组件与退架组件单独工作，不影响整机的测试时序，提高了试管架组件传输效率，保证了整机测试样本的连续性。

应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

Claims (7)

1.一种样本测试装置，其特征是：包括底板以及双平带机构，所述双平带机构包括间隔设置在所述底板上的测试轨道组件以及运输轨道组件；所述运输轨道组件的一端设置有用于传输试管架组件的进架组件，所述测试轨道组件的下方设置有用于所述试管架组件定位的底部挡叉组件；

所述测试轨道组件与所述运输轨道组件之间依次设置有缓存工作面板以及回收工作面板，所述缓存工作面板以及所述回收工作面板分别固定连接于所述底板；所述缓存工作面板设置在靠近所述进架组件的一端，所述试管架组件分别滑动连接于所述缓存工作面板和回收工作面板；

所述运输轨道组件包括设置在所述底板上的运输轨道支座、设置在所述运输轨道支座上的运输轨道衬板、运输轨道平带以及运输轨道电机，所述运输轨道电机驱动所述运输轨道平带在所述运输轨道衬板上运行，用于运送所述试管架组件；所述运输轨道衬板的一侧设置有运输轨道挡板，所述运输轨道挡板上设置有运输监测光耦组件；

所述进架组件包括垂直于所述运输轨道组件设置的进架安装板，所述进架安装板上分别设置有进架导轨、进架推板、进架电机以及进架同步带；所述进架推板滑动连接于所述进架导轨，所述进架电机通过所述进架同步带驱动所述进架推板移动，所述进架推板通过拦截所述运输轨道组件上的试管架组件，将所述试管架组件运输至所述缓存工作面板上；所述进架安装板上设置有进架零位光耦；

所述缓存工作面板的下方设置有第一倒架组件，所述第一倒架组件包括第一倒架安装板、设置在所述第一倒架安装板上的第一倒架电机和第一倒架导轨以及滑动连接与所述第一倒架导轨的第一倒架推板，所述第一倒架推板的两端分别设置有第一拨块；所述第一倒架电机通过同步带驱动所述第一倒架推板沿所述第一倒架导轨滑移并带动所述第一拨块移动，推动所述试管架组件至所述测试轨道组件上。

2.根据权利要求1所述的样本测试装置，其特征是：所述测试轨道组件包括设置在所述底板上的测试轨道支座、设置在所述测试轨道支座上的测试轨道衬板、测试轨道平带以及测试轨道电机，所述测试轨道电机驱动所述测试轨道平带在所述测试轨道衬板上运行，用于运送所述试管架组件；所述测试轨道衬板的一侧设置有测试轨道挡板，所述测试轨道挡板上设置有测试监测光耦组件；

所述测试轨道挡板上还设置有用于读取样本信息的条码扫描器。

3.根据权利要求2所述的样本测试装置，其特征是：所述底部挡叉组件包括底部挡叉安装板、两组间隔设置的挡叉组件以及设置在所述底部挡叉安装板上的挡叉电机，所述挡叉电机用于分别驱动两组所述挡叉组件独立运动；

所述挡叉组件包括用于阻挡所述试管架组件的第一挡杆和第二挡杆，所述第一挡杆和所述第二挡杆均垂直于所述运输轨道平带设置；所述第一挡杆通过第一滑动块连接于挡叉同步带，所述第二挡杆通过第二滑动块连接于所述挡叉同步带，底部挡叉电机通过所述挡叉同步带驱动所述第一挡杆和所述第二挡杆做交替往复移动，使所述试管架组件按照预设距离依次移动。

4.根据权利要求3所述的样本测试装置，其特征是：所述回收工作面板的下方设置有第二倒架组件，所述第二倒架组件包括第二倒架安装板、设置在所述第二倒架安装板上的第二倒架电机和第二倒架导轨以及滑动连接与所述第二倒架导轨的第二倒架推板，所述第二倒架推板的两端分别设置有第二拨块；所述第二倒架电机通过同步带驱动所述第二倒架推板沿所述第二倒架导轨滑移并带动所述第二拨块移动，推动所述试管架组件至所述运输轨道组件上。

5.根据权利要求1所述的样本测试装置，其特征是：所述测试轨道组件的一端设置有退架组件，所述退架组件设置在相对于所述进架组件的另一端，所述退架组件包括垂直于所述测试轨道组件设置的退架安装板，所述退架安装板上分别设置有退架导轨、退架推板、退架电机以及退架同步带；

所述退架推板滑动连接于所述退架导轨，所述退架电机通过所述退架同步带驱动所述退架推板移动，所述退架推板将测试完成的所述试管架组件运输至所述回收工作面板上。

6.一种样本联机测试系统，其特征是，包括多个如权利要求1-5任一项所述的样本测试装置，多个所述样本测试装置依次连接，用于对所述试管架组件进行分段选择测试；多个所述运输轨道之间分别设置有轨道连接件，所述轨道连接件用于连接两个相邻的所述运输轨道组件。

7.一种基于如权利要求1-5任一项所述的样本测试装置的样本测试方法，其特征是，包括步骤：

样本测试装置接收操作指令，控制所有机构复位，并装载试管架组件；

样本架组件装载完成后，进架组件将所述试管架组件推送至缓存工作面板，第一倒架组件工作，将所述试管架组件推送至测试轨道组件；

所述测试轨道组件与底部挡叉组件配合进行样本测试，并通过条码扫描器进行样本信息读取；

样本测试完成后，退架组件将所述试管架组件推至回收工作面板，第二倒架组件工作，将所述试管架组件推送至运输轨道组件；并将所述样本架组件移出。