CN111613158A - 发光二极管显示面板检测装置及检测方法 - Google Patents

发光二极管显示面板检测装置及检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种发光二极管显示面板检测装置及检测方法。发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路。m与n均为正整数。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管。每条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。每条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极。于发光二极管显示面板检测方法中，检测电路可对m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式至第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。

Description

发光二极管显示面板检测装置及检测方法
技术领域
本发明是与显示面板有关，尤其是关于一种发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板检测方法。
背景技术
一般而言，目前大部分的发光二极管显示面板检测异常的发光二极管的方法通常是在完成巨量转移后通过紫外光照射方式进行光学检测，或是接上系统后通过影像辨识方式进行检测。
然而，由于上述的传统检测方式均是在每一次检测中仅检测单一发光二极管，就整个显示面板所包含的大量发光二极管而言，若要完成所有发光二极管的检测工作，势必要耗费非常长的时间，导致发光二极管显示面板的检测效率不佳，亟待改善。
发明内容
有鉴于此，本发明提出一种发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板检测方法，以有效解决现有技术所遭遇到的上述问题。
根据本发明的一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测装置。于此实施例中，发光二极管显示面板检测装置用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数。
发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路。m与n均为正整数。每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极。检测电路用以对该m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式、第二检测模式及第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。
其中，于第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，检测电路依序检测该m条第一连接线；当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电路依序检测该n条第二连接线。于第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路同时检测该m条第一连接线。于第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，检测电路同时检测该n条第二连接线。
于一实施例中，检测电路先执行第二检测模式或第三检测模式进行异常检测后，再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。
于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，检测电路执行第一检测模式定位出异常的发光二极管。
于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，检测电路执行第二检测模式或第三检测模式定位出异常的发光二极管。
于一实施例中，于第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路依序检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线作动时，检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
于一实施例中，于第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。
于一实施例中，于第一检测模式下，当检测电路检测到该任一第一连接线时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当检测电路检测到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反。
于一实施例中，于第二检测模式下，检测电路同时检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常。
于一实施例中，于第三检测模式下，检测电路同时检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
于一实施例中，当检测电路执行第一检测模式时，检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
于一实施例中，当检测电路执行第二检测模式时，检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
于一实施例中，当检测电路执行第三检测模式时，检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
根据本发明的另一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测方法。于此实施例中，发光二极管显示面板检测方法用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数。
发光二极管显示面板检测方法包含下列步骤：
提供m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路，其中每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极且每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极；以及
检测电路TC对该m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式、第二检测模式及第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。
其中，于第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，检测电路依序检测该m条第一连接线；当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电路依序检测该n条第二连接线。于第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，检测电路同时检测该m条第一连接线。于第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，检测电路同时检测该n条第二连接线。
于一实施例中，该检测电路先执行该第二检测模式或该第三检测模式进行异常检测后，再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。
于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，该检测电路执行该第一检测模式定位出异常的发光二极管。
于一实施例中，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，该检测电路执行该第二检测模式或该第三检测模式定位出异常的发光二极管。
于一实施例中，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该检测电路依序检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线作动时，该检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
于一实施例中，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。
于一实施例中，于该第一检测模式下，当该检测电路检测到该任一第一连接线时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当该检测电路检测到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反。
于一实施例中，于该第二检测模式下，该检测电路同时检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常。
于一实施例中，于该第三检测模式下，该检测电路同时检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
于一实施例中，当该检测电路执行该第一检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
于一实施例中，当该检测电路执行该第二检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
于一实施例中，当该检测电路执行该第三检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
相较于现有技术，根据本发明的发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板检测方法利用发光二极管显示驱动电路的输出通道选择性地通过三种不同的检测模式对发光二极管显示面板的所有发光二极管进行异常侦测，不仅可有效检测出发光二极管显示面板的多种常见的异常状况(例如开路、短路或阻值过高等)，还可大幅缩短对发光二极管显示面板的所有发光二极管进行检测所需的检测时间，由以有效提升发光二极管显示面板的检测效率。此外，本发明还可进一步根据上述检测结果决定是否需要对出现异常的发光二极管进行后续修补的动作。
关于本发明的优点与精神可以通过以下的发明详述及所附附图得到进一步的了解。
附图说明
图1为发光二极管的电压差对电流的变化曲线示意图。
图2为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第一检测模式的示意图。
图3为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第二检测模式的示意图。
图4为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第三检测模式的示意图。
图5为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于发光二极管开路(Open)检测的示意图。
图6为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于第一连接线与第二连接线之间的短路(Short)检测的示意图。
图7为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于两条第一连接线之间的短路(Short)检测的示意图。
图8为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于两条第二连接线之间的短路(Short)检测的示意图。
图9为本发明的发光二极管显示面板检测装置侦测发光二极管或其耦接路径的电阻值是否过高的示意图。
图10为本发明的发光二极管显示面板检测装置侦测第二连接线的电阻值是否过高的示意图。
图11为电流检测结果的范围区间的示意图。
图12为根据本发明的另一较佳具体实施例中的发光二极管显示面板检测方法的流程图。
主要元件符号说明：
S11～S18：步骤
VTH：临界电压
ITH：临界电流
I：电流
IH：电流
IL：电流
V：电压
VH：电压
VL：电压
TC：检测电路
A1～Am：第一连接线
C1～Cn：第二连接线
LED11～LEDmn：发光二极管
OP：开路
SH：短路
R：电阻值
PASS：通过检测区域
IS：短路判断电流值
IR：高电阻判断电流值
IO：断路判断电流值
HR：高阻值区域
ID：电流
VCA：电压
具体实施方式
根据本发明的一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测装置。于此实施例中，发光二极管显示面板检测装置用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板采用无源驱动方式，但不以此为限。
请参照图1，图1为发光二极管的电压对电流的变化曲线示意图。如图1所示，当电压尚未到达其临界电压VTH之前，电压VL所对应的发光二极管的电流IL相对较小。当电压超过其临界电压VTH之后，偏压VH所对应的发光二极管的电流IH会是正常的电流大小。
接着，请参照图2至图4。图2为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第一检测模式的示意图；图3为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第二检测模式的示意图；图4为当本发明的发光二极管显示面板检测装置运作于第三检测模式的示意图。
如图2至图4所示，发光二极管显示面板可包含m*n个发光二极管LED11～LEDmn，其中m与n均为正整数。发光二极管显示面板检测装置包含m条第一连接线A1～Am、n条第二连接线C1～Cn及检测电路TC。
需说明的是，每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极。也就是说，第一连接线A1分别耦接n个发光二极管LED11～LED1n的正极；第一连接线A2分别耦接n个发光二极管LED21～LED2n的正极；第一连接线A3分别耦接n个发光二极管LED31～LED3n的正极；依此类推，直至第一连接线Am分别耦接n个发光二极管LEDm1～LEDmn的正极。
此外，每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极。也就是说，第二连接线C1分别耦接m个发光二极管LED11～LEDm1的负极；第二连接线C2分别耦接m个发光二极管LED12～LEDm2的负极；第二连接线C3分别耦接m个发光二极管LED13～LEDm3的负极；依此类推，直至第二连接线Cn分别耦接m个发光二极管LED1n～LEDmn的负极。
需说明的是，本发明的发光二极管显示面板采用无源驱动方式，其通过改变第一连接线A1～Am与第二连接线C1～Cn之间的电压差，使发光二极管发光。检测电路TC可以对m*n个发光二极管LED11～LEDmn选择性地执行第一检测模式、第二检测模式及第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。
如图2所示，于第一检测模式下，当该n条第二连接线C1～Cn中的任一第二连接线Cj作动时，检测电路TC会“依序”检测该m条第一连接线A1～Am，其中j＝1～n；当该m条第一连接线A1～Am中的任一第一连接线Ai作动时，检测电路TC会“依序”检测该n条第二连接线C1～Cn，其中i＝1～m。
举例而言，当第二连接线C1作动时(此时第二连接线C1的位准与其余第二连接线C2～Cn的位准相反)，检测电路TC会“依序”检测第一连接线A1(此时第一连接线A1的位准与其余第一连接线A2～Am的位准相反)、第一连接线A2(此时第一连接线A2的位准与其余第一连接线A1,A3～Am的位准相反)、第一连接线A3(此时第一连接线A3的位准与其余第一连接线A1～A2,A4～Am的位准相反)、…、直至第一连接线Am(此时第一连接线Am的位准与其余第一连接线A1～A(m-1)的位准相反)为止。
接着，切换至第二连接线C2作动。当第二连接线C2作动时(此时第二连接线C2的位准与其余第二连接线C1,C3～Cn的位准相反)，检测电路TC会“依序”检测第一连接线A1(此时第一连接线A1的位准与其余第一连接线A2～Am的位准相反)、第一连接线A2(此时第一连接线A2的位准与其余第一连接线A1,A3～Am的位准相反)、第一连接线A3(此时第一连接线A3的位准与其余第一连接线A1～A2,A4～Am的位准相反)、…、直至第一连接线Am(此时第一连接线Am的位准与其余第一连接线A1～A(m-1)的位准相反)为止。
至于后续依序切换至第二连接线C3～Cn作动的情形均可依此类推，故于此不另行赘述。
当第二连接线C1～Cn均依序作动完毕后，将会开始切换至第一连接线A1～Am依序作动。
当第一连接线A1作动时(此时第一连接线A1的位准与其余第一连接线A2～Am的位准相反)，检测电路TC会“依序”检测第二连接线C1(此时第二连接线C1的位准与其余第二连接线C2～Cn的位准相反)、第二连接线C2(此时第二连接线C2的位准与其余第二连接线C1,C3～Cn的位准相反)、第二连接线C3(此时第二连接线C3的位准与其余第二连接线C1～C2,C4～Cn的位准相反)、…、直至第二连接线Cn(此时第二连接线Cn的位准与其余第二连接线C1～C(n-1)的位准相反)为止。
接着，切换至第一连接线A2作动。当第一连接线A2作动时(此时第一连接线A2的位准与其余第一连接线A1,A3～Am的位准相反)，检测电路TC会“依序”检测第二连接线C1(此时第二连接线C1的位准与其余第二连接线C2～Cn的位准相反)、第二连接线C2(此时第二连接线C2的位准与其余第二连接线C1,C3～Cn的位准相反)、第二连接线C3(此时第二连接线C3的位准与其余第二连接线C1～C2,C4～Cn的位准相反)、…、直至第二连接线Cn(此时第二连接线Cn的位准与其余第二连接线C1～C(n-1)的位准相反)为止。
至于后续依序切换至第一连接线A3～Am作动的情形均可依此类推，故于此不另行赘述。
于实际应用中，于第一检测模式下，当第二连接线C1作动时，检测电路TC“依序”检测第一连接线A1、A2、A3、…、Am与第二连接线C1之间的电流是否异常，且此时第二连接线C1与其余第二连接线C2、C3、…、Cn的位准相反；当第一连接线A1作动时，检测电路TC“依序”检测第二连接线C1、C2、C3、…、Cn与第一连接线A1之间的电流是否异常，且此时第一连接线A1与其余第一连接线A2、A3、…、Am的位准相反。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
同理，于第一检测模式下，当第二连接线C2作动时，检测电路TC“依序”检测第一连接线A1、A2、A3、…、Am与第二连接线C2之间的电流是否异常，且此时第二连接线C2与其余第二连接线C1、C3、…、Cn的位准相反；当第一连接线A2作动时，检测电路TC“依序”检测第二连接线C1、C2、C3、…、Cn与第一连接线A2之间的电流是否异常，且此时第一连接线A2与其余第一连接线A1、A3、…、Am的位准相反。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
于第一检测模式下，当检测电路TC检测到第一连接线A1时，第一连接线A1与其余第一连接线A2、A3、…、Am的位准相反；当检测电路TC检测到第二连接线C1时，第二连接线C1与其余第二连接线C2、C3、…、Cn的位准相反。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
同理，于第一检测模式下，当检测电路TC检测到第一连接线A2时，第一连接线A2与其余第一连接线A1、A3、…、Am的位准相反；当检测电路TC检测到第二连接线C2时，第二连接线C2与其余第二连接线C1、C3、…、Cn的位准相反。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
于实际应用中，当检测电路TC执行第一检测模式时，检测电路TC能够检测出发光二极管显示面板的多种常见的异常状况，例如发光二极管开路、第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、发光二极管或连接路径的阻值过高以及第二连接线的阻值过高等异常状况，但不以此为限。
如图3所示，于第二检测模式下，当该n条第二连接线C1～Cn中的任一第二连接线Cj作动时，检测电路TC会“同时”检测该m条第一连接线A1～Am，其中j＝1～n。
举例而言，当第二连接线C1作动时(此时第二连接线C1的位准与其余第二连接线C2～Cn的位准相反)，检测电路TC会“同时”检测第一连接线A1、A2、A3、…、Am。同理，当第二连接线C2作动时(此时第二连接线C2的位准与其余第二连接线C1,C3～Cn的位准相反)，检测电路TC会“同时”检测第一连接线A1、A2、A3、…、Am。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
于实际应用中，于第二检测模式下，当第二连接线C1作动时(此时第二连接线C1的位准与其余第二连接线C2～Cn的位准相反)，检测电路TC“同时”检测第一连接线A1、A2、A3、…、Am与第二连接线C1之间的电流是否异常。同理，当第二连接线C2作动时(此时第二连接线C2的位准与其余第二连接线C1,C3～Cn的位准相反)，检测电路TC“同时”检测第一连接线A1、A2、A3、…、Am与第二连接线C2之间的电流是否异常。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
当检测电路TC执行第二检测模式时，检测电路TC能够检测出发光二极管显示面板的多种常见的异常状况，例如发光二极管开路、第一连接线与第二连接线之间的短路、第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、发光二极管或连接路径的阻值过高以及第二连接线的阻值过高等异常状况，但不以此为限。
如图4所示，于第三检测模式下，当该m条第一连接线A1～Am中的任一第一连接线Ai作动时，检测电路TC会“同时”检测该n条第二连接线C1～Cn，其中i＝1～m。
举例而言，当第一连接线A1作动时(此时第一连接线A1的位准与其余第一连接线A2～Am的位准相反)，检测电路TC会“同时”检测第二连接线C1、C2、C3、…、Cn。同理，当第一连接线A2作动时(此时第一连接线A2的位准与其余第一连接线A1,A3～Am的位准相反)，检测电路TC会“同时”检测第二连接线C1、C2、C3、…、Cn。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
于实际应用中，于第三检测模式下，当第一连接线A1作动时(此时第一连接线A1的位准与其余第一连接线A2～Am的位准相反)，检测电路同时检测第二连接线C1、C2、C3、…、Cn与第一连接线A1之间的电流是否异常。同理，当第一连接线A2作动时(此时第一连接线A2的位准与其余第一连接线A1,A3～Am的位准相反)，检测电路同时检测第二连接线C1、C2、C3、…、Cn与第一连接线A2之间的电流是否异常。其余均可依此类推，故于此不另行赘述。
当检测电路TC执行第三检测模式时，检测电路TC能够检测出发光二极管显示面板多种常见的异常状况，例如发光二极管开路、第一连接线与第二连接线之间的短路、第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、发光二极管或连接路径的阻值过高以及第二连接线的阻值过高等异常状况，但不以此为限。
需说明的是，本发明的检测电路TC可先执行第二检测模式或第三检测模式进行异常检测后，再判断其检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。
若检测电路TC检测到的异常的发光二极管的数量大于1，代表发光二极管显示面板有多个不同的发光二极管出现异常状况，因此，检测电路TC需进一步执行检测较为详细的第一检测模式来定位出该些异常的发光二极管；若检测电路TC检测到的异常的发光二极管的数量等于1，代表发光二极管显示面板仅有一个发光二极管出现异常状况，则检测电路TC仅需执行第二检测模式或第三检测模式即可顺利定位出该个出现异常状况的发光二极管。
藉此，本发明的检测电路TC可快速且准确地找出发光二极管显示面板中的一个或多个出现异常状况的发光二极管，并可进一步根据检测结果决定是否需要对出现异常的发光二极管进行后续修补的动作。
请分别参照图5至图10，图5至图10分别为本发明的发光二极管显示面板检测装置应用于发光二极管开路(Open)检测、发光二极管短路(Short)检测、两条相邻第一连接线之间的短路检测、两条相邻第二连接线之间的短路检测、发光二极管或其耦接路径的电阻值是否过高的检测、第二连接线的电阻值是否过高的检测的示意图。
如图5所示，检测电路TC可执行第一检测模式、第二检测模式或第三检测模式检测出发光二极管LED11出现开路OP的现象。
举例而言，于第一检测模式下，当第二连接线C1作动时，检测电路TC可于第一连接线A1提供电压VH并于其余第一连接线A2～Am提供零电压，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1的电流是否远小于对应于电压VH的电流IH。若量测到的电流远小于电流IH，则代表此处有开路OP的现象。其余可依此类推，于此不另行赘述。
如图6所示，检测电路TC可执行第一检测模式、第二检测模式或第三检测模式检测出第一连接线A1与第二连接线C1之间出现短路SH的现象。
举例而言，于第二检测模式下，当第二连接线C1作动时，检测电路TC可于第一连接线A1～Am均提供电压VL，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1～Am的电流是否远大于对应于电压VL的电流IL。若量测到的电流远大于电流IL，则代表此处有短路SH的现象。其余可依此类推，于此不另行赘述。
如图7所示，检测电路TC可执行第一检测模式、第二检测模式或第三检测模式检测出两条相邻第一连接线A1与A2之间出现短路SH的现象。
举例而言，于第一检测模式下，当第二连接线C1作动时，检测电路TC可于第一连接线A1提供电压VL并于其余第一连接线A2～Am提供零电压，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1的电流是否远大于对应于电压VL的电流IL；接着，当切换至第一连接线A2时，检测电路TC可于第一连接线A2提供电压VL并于其余第一连接线A1,A3～Am提供零电压，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A2的电流是否远大于对应于电压VL的电流IL。于此实施例中，量测到的第一连接线A1的电流与第一连接线A2的电流均远大于电流IL，亦即代表相邻的第一连接线A1与A2之间出现短路SH的现象。其余可依此类推，于此不另行赘述。
如图8所示，检测电路TC可执行第一检测模式、第二检测模式或第三检测模式检测出两条相邻第二连接线C1与C2之间出现短路SH的现象。
举例而言，于第二检测模式下，检测电路TC可于第一连接线A1～Am均提供电压VL，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1～Am的电流是否远小于对应于电压VH的电流IH；接着，当切换至第二连接线C2时，检测电路TC可于第一连接线A1～Am均提供电压VL，并且于第二连接线C2提供零电压并于其余第二连接线C1,C3～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1～Am的电流是否远小于对应于电压VH的电流IH。于此实施例中，上述两种切换条件下所量测到的电流均会远小于对应于电压VH的电流IH，亦即代表相邻的第二连接线C1与C2之间出现短路SH的现象。其余可依此类推，于此不另行赘述。
如图9所示，检测电路TC可执行第一检测模式、第二检测模式或第三检测模式检测出发光二极管(例如LED11)或其耦接路径的电阻值R是否过高。
举例而言，于第二检测模式下，检测电路TC可于第一连接线A1～Am均提供电压VH，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1的电流是否小于对应于电压VH的电流IH，至于其余第一连接线A2～Am的电流会小于对应于电压VL的电流IL。若第一连接线A1的电流小于对应于电压VH的电流IH且其余第一连接线A2～Am的电流小于对应于电压VL的电流IL，代表发光二极管LED11(或其耦接路径)的电阻值R过高，可能导致发光亮度不足的现象。其余可依此类推，于此不另行赘述。
如图10所示，检测电路TC可执行第一检测模式、第二检测模式或第三检测模式检测出第二连接线(例如C1)的电阻值R是否过高。第一连接线或第二连接线的电阻值过高很可能会导致发光二极管显示面板的显示亮度不均的现象。
举例而言，于第一检测模式下，当第二连接线C1作动时，检测电路TC可于第一连接线A1提供电压VH并于其余第一连接线A2～Am提供零电压，并且于第二连接线C1提供零电压并于其余第二连接线C2～Cn提供电压VH，以检测第一连接线A1的电流是否小于对应于电压VH的电流IH。接着，当切换至第一连接线A2时，检测电路TC可于第一连接线A2提供电压VH并于其余第一连接线A1,A3～Am提供零电压，以检测第一连接线A2的电流是否小于对应于电压VH的电流IH。依此类推，由于第二连接线C1的电阻值R过高，所以检测电路TC所检测到的第一连接线A1～Am的电流均会小于电流IH。至于切换至其余第二连接线C2～Cn作动时，由于第二连接线C2～Cn的电阻值R并未过高，故不会有第一连接线A1～Am的电流小于电流IH的情况。
请参照图11，图11为电流检测结果的范围区间的示意图。如图11所示，当上述各种异常现象发生时，电压与电流之间会有不同的对应关系。其中，IO为断路判断电流值；IS为短路判断电流值；IR为高电阻判断电流值。
在不同的电压VCA下，当电流ID≦断路判断电流值IO时，代表有断路OP的现象发生；当电流ID≧短路判断电流值Is时，代表有短路SH的现象发生。此外，由于电阻值R过高时会造成发光二极管电压的压降，所以在相同的偏压条件下会得到较小的高电阻判断电流值IR(如图11中的高阻值区域HR)。至于通过检测区域PASS则代表没有任何异常情况发生，故可通过检测。
根据本发明的另一具体实施例为一种发光二极管显示面板检测方法。
于此实施例中，发光二极管显示面板检测方法用以检测发光二极管显示面板。发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数。发光二极管显示面板检测方法包含下列步骤：
提供m条第一连接线、n条第二连接线及检测电路，其中每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极且每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极；以及
检测电路TC对该m*n个发光二极管选择性地执行第一检测模式、第二检测模式及第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管。
于第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，检测电路依序检测该m条第一连接线；当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电路依序检测该n条第二连接线。于第二检测模式下，当第二连接线作动时，检测电路同时检测该m条第一连接线。于第三检测模式下，当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，检测电路同时检测该n条第二连接线。
请参照图12，图12为此实施例中的发光二极管显示面板检测方法的流程图。
如图12所示，发光二极管显示面板检测方法可包含下列步骤：
步骤S11：检测电路切换至第二检测模式或第三检测模式；
步骤S12：进行异常检测；
若步骤S12的异常检测结果为是，则执行步骤S13：判断检测到的异常发光二极管的数量是否大于1；若步骤S12的异常检测结果为否，则执行步骤S16：完成异常检测；
若步骤S13的判断结果为是，亦即异常发光二极管的数量大于1，则依序执行步骤S14～S16：检测电路切换至第一检测模式并定位出异常发光二极管后，完成异常检测；若步骤S13的判断结果为否，亦即异常发光二极管的数量等于1，则直接执行步骤S15及S16：定位出异常发光二极管后，完成异常检测；
步骤S17：当完成异常检测后，判断异常发光二极管是否需要修补；
若步骤S17的判断结果为是，则执行步骤S18：修补异常发光二极管；以及若步骤S17的判断结果为否，则结束整个发光二极管显示面板的检测流程。
相较于现有技术，根据本发明的发光二极管显示面板检测装置及发光二极管显示面板检测方法利用发光二极管显示驱动电路的输出通道选择性地通过三种不同的检测模式对发光二极管显示面板的所有发光二极管进行异常侦测，不仅可有效检测出发光二极管显示面板的多种常见的异常状况(例如开路、短路或阻值过高等)，还可大幅缩短对发光二极管显示面板的所有发光二极管进行检测所需的检测时间，由以有效提升发光二极管显示面板的检测效率。此外，本发明还可进一步根据上述检测结果决定是否需要对出现异常的发光二极管进行后续修补的动作。
通过以上较佳具体实施例的详述，希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所公开的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的专利范围的范畴内。

Claims (24)

1.一种发光二极管显示面板检测方法，用以检测一发光二极管显示面板，其特征在于，该发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数，该发光二极管显示面板检测方法包含下列步骤：
提供m条第一连接线、n条第二连接线及一检测电路，其中每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极且每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极；以及
该检测电路对该m*n个发光二极管选择性地执行一第一检测模式、一第二检测模式及一第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管；
其中，于该第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，该检测电路依序检测该m条第一连接线，当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，该检测电路依序检测该n条第二连接线；于该第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该检测电路同时检测该m条第一连接线；于该第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，该检测电路同时检测该n条第二连接线。
2.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，该检测电路先执行该第二检测模式或该第三检测模式进行异常检测后，再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。
3.根据权利要求2所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，该检测电路执行该第一检测模式定位出异常的发光二极管。
4.根据权利要求2所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，该检测电路执行该第二检测模式或该第三检测模式定位出异常的发光二极管。
5.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该检测电路依序检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线作动时，该检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
6.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。
7.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，于该第一检测模式下，当该检测电路检测到该任一第一连接线时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当该检测电路检测到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反。
8.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，于该第二检测模式下，该检测电路同时检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常。
9.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，于该第三检测模式下，该检测电路同时检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
10.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，当该检测电路执行该第一检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
11.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，当该检测电路执行该第二检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
12.根据权利要求1所述的发光二极管显示面板检测方法，其特征在于，当该检测电路执行该第三检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
13.一种发光二极管显示面板检测装置，用以检测一发光二极管显示面板，其特征在于，该发光二极管显示面板包含m*n个发光二极管，其中m与n均为正整数，该发光二极管显示面板检测装置包含：
m条第一连接线，每一条第一连接线分别耦接n个发光二极管的正极；
n条第二连接线，每一条第二连接线分别耦接m个发光二极管的负极；以及
一检测电路，用以对该m*n个发光二极管选择性地执行一第一检测模式、一第二检测模式及一第三检测模式中的至少一种，以检测出异常的发光二极管；
其中，于该第一检测模式下，当该n条第二连接线中的任一第二连接线作动时，该检测电路依序检测该m条第一连接线，当该m条第一连接线中的任一第一连接线作动时，该检测电路依序检测该n条第二连接线；于该第二检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该检测电路同时检测该m条第一连接线；于该第三检测模式下，当该任一第一连接线作动时，该检测电路同时检测该n条第二连接线。
14.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，该检测电路先执行该第二检测模式或该第三检测模式进行异常检测后，再判断检测到的异常的发光二极管的数量大于1或等于1。
15.根据权利要求14所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，若检测到的异常的发光二极管的数量大于1，该检测电路执行该第一检测模式定位出异常的发光二极管。
16.根据权利要求14所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，若检测到的异常的发光二极管的数量等于1，该检测电路执行该第二检测模式或该第三检测模式定位出异常的发光二极管。
17.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该检测电路依序检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常；当该任一第一连接线作动时，该检测电路依序检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
18.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，于该第一检测模式下，当该任一第二连接线作动时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反；当该任一第一连接线作动时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反。
19.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，于该第一检测模式下，当该检测电路检测到该任一第一连接线时，该任一第一连接线与该m条第一连接线中的其余m-1条第一连接线的位准相反；当该检测电路检测到该任一第二连接线时，该任一第二连接线与该n条第二连接线中的其余n-1条第二连接线的位准相反。
20.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，于该第二检测模式下，该检测电路同时检测该m条第一连接线与该任一第二连接线之间的电流是否异常。
21.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，于该第三检测模式下，该检测电路同时检测该n条第二连接线与该任一第一连接线之间的电流是否异常。
22.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，当该检测电路执行该第一检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
23.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，当该检测电路执行该第二检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第二连接线与其相邻第二连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
24.根据权利要求13所述的发光二极管显示面板检测装置，其特征在于，当该检测电路执行该第三检测模式时，该检测电路能够检测出的异常状况包含开路、该任一第一连接线与该任一第二连接线之间的短路、该任一第一连接线与其相邻第一连接线之间的短路、该m*n个发光二极管中的任一发光二极管或其连接路径的阻值过高以及该任一第二连接线的阻值过高。
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