TWI722391B - 發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方法 - Google Patents

Abstract

本發明揭露一種發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方法。發光二極體顯示面板檢測裝置包含m條第一連接線、n條第二連接線及檢測電路。m與n均為正整數。發光二極體顯示面板包含(m*n)個發光二極體。每條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極。每條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極。於發光二極體顯示面板檢測方法中，檢測電路可對(m*n)個發光二極體選擇性地執行第一檢測模式至第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體。

Description

發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方 法

本發明係與顯示面板有關，尤其是關於一種發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方法。

一般而言，目前大部分的發光二極體顯示面板檢測異常的發光二極體的方法通常是在完成巨量轉移後透過紫外光照射方式進行光學檢測，或是接上系統後透過影像辨識方式進行檢測。

然而，由於上述的傳統檢測方式均是在每一次檢測中僅檢測單一發光二極體，就整個顯示面板所包含的大量發光二極體而言，若要完成所有發光二極體的檢測工作，勢必要耗費非常長的時間，導致發光二極體顯示面板之檢測效率不佳，亟待改善。

有鑑於此，本發明提出一種發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方法，以有效解決先前 技術所遭遇到之上述問題。

根據本發明之一具體實施例為一種發光二極體顯示面板檢測裝置。於此實施例中，發光二極體顯示面板檢測裝置用以檢測發光二極體顯示面板。發光二極體顯示面板包含(m*n)個發光二極體，其中m與n均為正整數。

發光二極體顯示面板檢測裝置包含m條第一連接線、n條第二連接線及檢測電路。m與n均為正整數。每一條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極。每一條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極。檢測電路用以對該(m*n)個發光二極體選擇性地執行第一檢測模式、第二檢測模式及第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體。

其中，於第一檢測模式下，當該n條第二連接線中之任一第二連接線作動時，檢測電路依序檢測該m條第一連接線；當該m條第一連接線中之任一第一連接線作動時，檢測電路依序檢測該n條第二連接線。於第二檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，檢測電路同時檢測該m條第一連接線。於第三檢測模式下，當該任一第一連接線作動時，檢測電路同時檢測該n條第二連接線。

於一實施例中，檢測電路係先執行第二檢測模式或第三檢測模式進行異常檢測後，再判斷檢測到之異常的發光二極體之數量大於1或等於1。

於一實施例中，若檢測到之異常的發光二極體之 數量大於1，檢測電路執行第一檢測模式定位出異常的發光二極體。

於一實施例中，若檢測到之異常的發光二極體之數量等於1，檢測電路執行第二檢測模式或第三檢測模式定位出異常的發光二極體。

於一實施例中，於第一檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，檢測電路係依序檢測該m條第一連接線與該任一第二連接線之間的電流是否異常；當該任一第一連接線作動時，檢測電路係依序檢測該n條第二連接線與該任一第一連接線之間的電流是否異常。

於一實施例中，於第一檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，該任一第二連接線與該n條第二連接線中之其餘(n-1)條第二連接線之位準相反；當該任一第一連接線作動時，該任一第一連接線與該m條第一連接線中之其餘(m-1)條第一連接線之位準相反。

於一實施例中，於第一檢測模式下，當檢測電路檢測到該任一第一連接線時，該任一第一連接線與該m條第一連接線中之其餘(m-1)條第一連接線之位準相反；當檢測電路檢測到該任一第二連接線時，該任一第二連接線與該n條第二連接線中之其餘(n-1)條第二連接線之位準相反。

於一實施例中，於第二檢測模式下，檢測電路係同時檢測該m條第一連接線與該任一第二連接線之間的電流 是否異常。

於一實施例中，於第三檢測模式下，檢測電路係同時檢測該n條第二連接線與該任一第一連接線之間的電流是否異常。

於一實施例中，當檢測電路執行第一檢測模式時，檢測電路能夠檢測出之異常狀況包含開路、該任一第一連接線與其相鄰第一連接線之間的短路、該任一第二連接線與其相鄰第二連接線之間的短路、該(m*n)個發光二極體中之任一發光二極體或其連接路徑之阻值過高以及該任一第二連接線之阻值過高。

於一實施例中，當檢測電路執行第二檢測模式時，檢測電路能夠檢測出之異常狀況包含開路、該任一第一連接線與該任一第二連接線之間的短路、該任一第二連接線與其相鄰第二連接線之間的短路、該(m*n)個發光二極體中之任一發光二極體或其連接路徑之阻值過高以及該任一第二連接線之阻值過高。

於一實施例中，當檢測電路執行第三檢測模式時，檢測電路能夠檢測出之異常狀況包含開路、該任一第一連接線與該任一第二連接線之間的短路、該任一第一連接線與其相鄰第一連接線之間的短路、該(m*n)個發光二極體中之任一發光二極體或其連接路徑之阻值過高以及該任一第二連接線之阻值過高。

根據本發明之另一具體實施例為一種發光二極體顯示面板檢測方法。於此實施例中，發光二極體顯示面板檢測方法用以檢測發光二極體顯示面板。發光二極體顯示面板包含(m*n)個發光二極體，其中m與n均為正整數。

發光二極體顯示面板檢測方法包含下列步驟：提供m條第一連接線、n條第二連接線及檢測電路，其中每一條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極且每一條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極；以及檢測電路TC對該(m*n)個發光二極體選擇性地執行第一檢測模式、第二檢測模式及第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體。

其中，於第一檢測模式下，當該n條第二連接線中之任一第二連接線作動時，檢測電路依序檢測該m條第一連接線；當該m條第一連接線中之任一第一連接線作動時，檢測電路依序檢測該n條第二連接線。於第二檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，檢測電路同時檢測該m條第一連接線。於第三檢測模式下，當該任一第一連接線作動時，檢測電路同時檢測該n條第二連接線。

相較於先前技術，根據本發明的發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方法係利用發光二極體顯示驅動電路的輸出通道選擇性地透過三種不同的檢測模式對發光二極體顯示面板的所有發光二極體進行異常偵 測，不僅可有效檢測出發光二極體顯示面板的多種常見的異常狀況(例如開路、短路或阻值過高等)，還可大幅縮短對發光二極體顯示面板的所有發光二極體進行檢測所需的檢測時間，藉以有效提升發光二極體顯示面板的檢測效率。此外，本發明還可進一步根據上述檢測結果決定是否需要對出現異常的發光二極體進行後續修補之動作。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

S11~S18‧‧‧步驟

VTH‧‧‧臨界電壓

ITH‧‧‧臨界電流

I‧‧‧電流

IH‧‧‧電流

IL‧‧‧電流

V‧‧‧電壓

VH‧‧‧電壓

VL‧‧‧電壓

TC‧‧‧檢測電路

A1~Am‧‧‧第一連接線

C1~Cn‧‧‧第二連接線

LED11~LEDmn‧‧‧發光二極體

OP‧‧‧開路

SH‧‧‧短路

R‧‧‧電阻值

PASS‧‧‧通過檢測區域

IS‧‧‧短路判斷電流值

IR‧‧‧高電阻判斷電流值

IO‧‧‧斷路判斷電流值

HR‧‧‧高阻值區域

ID‧‧‧電流

VCA‧‧‧電壓

圖1係繪示發光二極體之電壓差對電流的變化曲線示意圖。

圖2係繪示當本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置運作於第一檢測模式的示意圖。

圖3係繪示當本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置運作於第二檢測模式的示意圖。

圖4係繪示當本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置運作於第三檢測模式的示意圖。

圖5係繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置應用於發光二極體開路(Open)檢測的示意圖。

圖6係繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置應用於第一連接線與第二連接線之間的短路(Short)檢測的示意圖。

圖7係繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置應用於兩條第一連接線之間的短路(Short)檢測的示意圖。

圖8係繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置應用於兩條第二連接線之間的短路(Short)檢測的示意圖。

圖9係繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置偵測發光二極體或其耦接路徑的電阻值是否過高的示意圖。

圖10係繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置偵測第二連接線的電阻值是否過高的示意圖。

圖11係繪示電流檢測結果之範圍區間的示意圖。

圖12係繪示根據本發明之另一較佳具體實施例中之發光二極體顯示面板檢測方法的流程圖。

根據本發明之一具體實施例為一種發光二極體顯示面板檢測裝置。於此實施例中，發光二極體顯示面板檢測裝置用以檢測發光二極體顯示面板。發光二極體顯示面板係採用無源驅動方式，但不以此為限。

請參照圖1，圖1係繪示發光二極體之電壓對電流的變化曲線示意圖。如圖1所示，當電壓尚未到達其臨界電壓VTH之前，電壓VL所對應的發光二極體之電流IL相對較小。當電壓超過其臨界電壓VTH之後，偏壓VH所對應的發光二極體之電流IH會是正常的電流大小。

接著，請參照圖2至圖4。圖2係繪示當本發明之發光 二極體顯示面板檢測裝置運作於第一檢測模式的示意圖；圖3係繪示當本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置運作於第二檢測模式的示意圖；圖4係繪示當本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置運作於第三檢測模式的示意圖。

如圖2至圖4所示，發光二極體顯示面板可包含(m*n)個發光二極體LED11~LEDmn，其中m與n均為正整數。發光二極體顯示面板檢測裝置包含m條第一連接線A1~Am、n條第二連接線C1~Cn及檢測電路TC。

需說明的是，每一條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極。也就是說，第一連接線A1分別耦接n個發光二極體LED11~LED1n之正極；第一連接線A2分別耦接n個發光二極體LED21~LED2n之正極；第一連接線A3分別耦接n個發光二極體LED31~LED3n之正極；依此類推，直至第一連接線Am分別耦接n個發光二極體LEDm1~LEDmn之正極。

此外，每一條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極。也就是說，第二連接線C1分別耦接m個發光二極體LED11~LEDm1之負極；第二連接線C2分別耦接m個發光二極體LED12~LEDm2之負極；第二連接線C3分別耦接m個發光二極體LED13~LEDm3之負極；依此類推，直至第二連接線Cn分別耦接m個發光二極體LED1n~LEDmn之負極。

需說明的是，本發明的發光二極體顯示面板係採用無源驅動方式，其係透過改變第一連接線A1~Am與第二連 接線C1~Cn之間的電壓差，使發光二極體發光。檢測電路TC可以對(m*n)個發光二極體LED11~LEDmn選擇性地執行第一檢測模式、第二檢測模式及第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體。

如圖2所示，於第一檢測模式下，當該n條第二連接線C1~Cn中之任一第二連接線Cj作動時，檢測電路TC會「依序」檢測該m條第一連接線A1~Am，其中j=1~n；當該m條第一連接線A1~Am中之任一第一連接線Ai作動時，檢測電路TC會「依序」檢測該n條第二連接線C1~Cn，其中i=1~m。

舉例而言，當第二連接線C1作動時(此時第二連接線C1之位準與其餘第二連接線C2~Cn之位準相反)，檢測電路TC會「依序」檢測第一連接線A1(此時第一連接線A1之位準與其餘第一連接線A2~Am之位準相反)、第一連接線A2(此時第一連接線A2之位準與其餘第一連接線A1,A3~Am之位準相反)、第一連接線A3(此時第一連接線A3之位準與其餘第一連接線A1~A2,A4~Am之位準相反)、…、直至第一連接線Am(此時第一連接線Am之位準與其餘第一連接線A1~A(m-1)之位準相反)為止。

接著，切換至第二連接線C2作動。當第二連接線C2作動時(此時第二連接線C2之位準與其餘第二連接線C1,C3~Cn之位準相反)，檢測電路TC會「依序」檢測第一連接線A1(此時第一連接線A1之位準與其餘第一連接線A2~Am之 位準相反)、第一連接線A2(此時第一連接線A2之位準與其餘第一連接線A1,A3~Am之位準相反)、第一連接線A3(此時第一連接線A3之位準與其餘第一連接線A1~A2,A4~Am之位準相反)、…、直至第一連接線Am(此時第一連接線Am之位準與其餘第一連接線A1~A(m-1)之位準相反)為止。

至於後續依序切換至第二連接線C3~Cn作動的情形均可依此類推，故於此不另行贅述。

當第二連接線C1~Cn均依序作動完畢後，將會開始切換至第一連接線A1~Am依序作動。

當第一連接線A1作動時(此時第一連接線A1之位準與其餘第一連接線A2~Am之位準相反)，檢測電路TC會「依序」檢測第二連接線C1(此時第二連接線C1之位準與其餘第二連接線C2~Cn之位準相反)、第二連接線C2(此時第二連接線C2之位準與其餘第二連接線C1,C3~Cn之位準相反)、第二連接線C3(此時第二連接線C3之位準與其餘第二連接線C1~C2,C4~Cn之位準相反)、…、直至第二連接線Cn(此時第二連接線Cn之位準與其餘第二連接線C1~C(n-1)之位準相反)為止。

接著，切換至第一連接線A2作動。當第一連接線A2作動時(此時第一連接線A2之位準與其餘第一連接線A1,A3~Am之位準相反)，檢測電路TC會「依序」檢測第二連接線C1(此時第二連接線C1之位準與其餘第二連接線C2~Cn之位準相反)、第二連接線C2(此時第二連接線C2之位準與其餘第 二連接線C1,C3~Cn之位準相反)、第二連接線C3(此時第二連接線C3之位準與其餘第二連接線C1~C2,C4~Cn之位準相反)、…、直至第二連接線Cn(此時第二連接線Cn之位準與其餘第二連接線C1~C(n-1)之位準相反)為止。

至於後續依序切換至第一連接線A3~Am作動的情形均可依此類推，故於此不另行贅述。

於實際應用中，於第一檢測模式下，當第二連接線C1作動時，檢測電路TC係「依序」檢測第一連接線A1、A2、A3、…、Am與第二連接線C1之間的電流是否異常，且此時第二連接線C1與其餘第二連接線C2、C3、…、Cn之位準相反；當第一連接線A1作動時，檢測電路TC係「依序」檢測第二連接線C1、C2、C3、…、Cn與第一連接線A1之間的電流是否異常，且此時第一連接線A1與其餘第一連接線A2、A3、…、Am之位準相反。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

同理，於第一檢測模式下，當第二連接線C2作動時，檢測電路TC係「依序」檢測第一連接線A1、A2、A3、…、Am與第二連接線C2之間的電流是否異常，且此時第二連接線C2與其餘第二連接線C1、C3、…、Cn之位準相反；當第一連接線A2作動時，檢測電路TC係「依序」檢測第二連接線C1、C2、C3、…、Cn與第一連接線A2之間的電流是否異常，且此時第一連接線A2與其餘第一連接線A1、A3、…、Am之位準相反。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

於第一檢測模式下，當檢測電路TC檢測到第一連接線A1時，第一連接線A1與其餘第一連接線A2、A3、…、Am之位準相反；當檢測電路TC檢測到第二連接線C1時，第二連接線C1與其餘第二連接線C2、C3、…、Cn之位準相反。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

同理，於第一檢測模式下，當檢測電路TC檢測到第一連接線A2時，第一連接線A2與其餘第一連接線A1、A3、…、Am之位準相反；當檢測電路TC檢測到第二連接線C2時，第二連接線C2與其餘第二連接線C1、C3、…、Cn之位準相反。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

於實際應用中，當檢測電路TC執行第一檢測模式時，檢測電路TC能夠檢測出發光二極體顯示面板的多種常見的異常狀況，例如發光二極體開路、第一連接線與其相鄰第一連接線之間的短路、第二連接線與其相鄰第二連接線之間的短路、發光二極體或連接路徑之阻值過高以及第二連接線之阻值過高等異常狀況，但不以此為限。

如圖3所示，於第二檢測模式下，當該n條第二連接線C1~Cn中之任一第二連接線Cj作動時，檢測電路TC會「同時」檢測該m條第一連接線A1~Am，其中j=1~n。

舉例而言，當第二連接線C1作動時(此時第二連接線C1之位準與其餘第二連接線C2~Cn之位準相反)，檢測電路TC會「同時」檢測第一連接線A1、A2、A3、…、Am。同理， 當第二連接線C2作動時(此時第二連接線C2之位準與其餘第二連接線C1,C3~Cn之位準相反)，檢測電路TC會「同時」檢測第一連接線A1、A2、A3、…、Am。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

於實際應用中，於第二檢測模式下，當第二連接線C1作動時(此時第二連接線C1之位準與其餘第二連接線C2~Cn之位準相反)，檢測電路TC係「同時」檢測第一連接線A1、A2、A3、…、Am與第二連接線C1之間的電流是否異常。同理，當第二連接線C2作動時(此時第二連接線C2之位準與其餘第二連接線C1,C3~Cn之位準相反)，檢測電路TC係「同時」檢測第一連接線A1、A2、A3、…、Am與第二連接線C2之間的電流是否異常。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

當檢測電路TC執行第二檢測模式時，檢測電路TC能夠檢測出發光二極體顯示面板的多種常見的異常狀況，例如發光二極體開路、第一連接線與第二連接線之間的短路、第二連接線與其相鄰第二連接線之間的短路、發光二極體或連接路徑之阻值過高以及第二連接線之阻值過高等異常狀況，但不以此為限。

如圖4所示，於第三檢測模式下，當該m條第一連接線A1~Am中之任一第一連接線Ai作動時，檢測電路TC會「同時」檢測該n條第二連接線C1~Cn，其中i=1~m。

舉例而言，當第一連接線A1作動時(此時第一連 接線A1之位準與其餘第一連接線A2~Am之位準相反)，檢測電路TC會「同時」檢測第二連接線C1、C2、C3、…、Cn。同理，當第一連接線A2作動時(此時第一連接線A2之位準與其餘第一連接線A1,A3~Am之位準相反)，檢測電路TC會「同時」檢測第二連接線C1、C2、C3、…、Cn。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

於實際應用中，於第三檢測模式下，當第一連接線A1作動時(此時第一連接線A1之位準與其餘第一連接線A2~Am之位準相反)，檢測電路係同時檢測第二連接線C1、C2、C3、…、Cn與第一連接線A1之間的電流是否異常。同理，當第一連接線A2作動時(此時第一連接線A2之位準與其餘第一連接線A1,A3~Am之位準相反)，檢測電路係同時檢測第二連接線C1、C2、C3、…、Cn與第一連接線A2之間的電流是否異常。其餘均可依此類推，故於此不另行贅述。

當檢測電路TC執行第三檢測模式時，檢測電路TC能夠檢測出發光二極體顯示面板多種常見的異常狀況，例如發光二極體開路、第一連接線與第二連接線之間的短路、第一連接線與其相鄰第一連接線之間的短路、發光二極體或連接路徑之阻值過高以及第二連接線之阻值過高等異常狀況，但不以此為限。

需說明的是，本發明的檢測電路TC可先執行第二檢測模式或第三檢測模式進行異常檢測後，再判斷其檢測到 之異常的發光二極體之數量大於1或等於1。

若檢測電路TC檢測到之異常的發光二極體之數量大於1，代表發光二極體顯示面板有多個不同的發光二極體出現異常狀況，因此，檢測電路TC需進一步執行檢測較為詳細的第一檢測模式來定位出該些異常的發光二極體；若檢測電路TC檢測到之異常的發光二極體之數量等於1，代表發光二極體顯示面板僅有一個發光二極體出現異常狀況，則檢測電路TC僅需執行第二檢測模式或第三檢測模式即可順利定位出該個出現異常狀況的發光二極體。

藉此，本發明的檢測電路TC可快速且準確地找出發光二極體顯示面板中之一個或多個出現異常狀況的發光二極體，並可進一步根據檢測結果決定是否需要對出現異常的發光二極體進行後續修補之動作。

請分別參照圖5至圖10，圖5至圖10係分別繪示本發明之發光二極體顯示面板檢測裝置應用於發光二極體開路(Open)檢測、發光二極體短路(Short)檢測、兩條相鄰第一連接線之間的短路檢測、兩條相鄰第二連接線之間的短路檢測、發光二極體或其耦接路徑的電阻值是否過高之檢測、第二連接線的電阻值是否過高之檢測的示意圖。

如圖5所示，檢測電路TC可執行第一檢測模式、第二檢測模式或第三檢測模式檢測出發光二極體LED11出現開路OP的現象。

舉例而言，於第一檢測模式下，當第二連接線C1作動時，檢測電路TC可於第一連接線A1提供電壓VH並於其餘第一連接線A2~Am提供零電壓，並且於第二連接線C1提供零電壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1的電流是否遠小於對應於電壓VH的電流IH。若量測到的電流遠小於電流IH，則代表此處有開路OP的現象。其餘可依此類推，於此不另行贅述。

如圖6所示，檢測電路TC可執行第一檢測模式、第二檢測模式或第三檢測模式檢測出第一連接線A1與第二連接線C1之間出現短路SH的現象。

舉例而言，於第二檢測模式下，當第二連接線C1作動時，檢測電路TC可於第一連接線A1~Am均提供電壓VL，並且於第二連接線C1提供零電壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1~Am的電流是否遠大於對應於電壓VL的電流IL。若量測到的電流遠大於電流IL，則代表此處有短路SH的現象。其餘可依此類推，於此不另行贅述。

如圖7所示，檢測電路TC可執行第一檢測模式、第二檢測模式或第三檢測模式檢測出兩條相鄰第一連接線A1與A2之間出現短路SH的現象。

舉例而言，於第一檢測模式下，當第二連接線C1作動時，檢測電路TC可於第一連接線A1提供電壓VL並於其餘第一連接線A2~Am提供零電壓，並且於第二連接線C1提供零電 壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1的電流是否遠大於對應於電壓VL的電流IL；接著，當切換至第一連接線A2時，檢測電路TC可於第一連接線A2提供電壓VL並於其餘第一連接線A1,A3~Am提供零電壓，並且於第二連接線C1提供零電壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A2的電流是否遠大於對應於電壓VL的電流IL。於此實施例中，量測到的第一連接線A1的電流與第一連接線A2的電流均遠大於電流IL，亦即代表相鄰的第一連接線A1與A2之間出現短路SH的現象。其餘可依此類推，於此不另行贅述。

如圖8所示，檢測電路TC可執行第一檢測模式、第二檢測模式或第三檢測模式檢測出兩條相鄰第二連接線C1與C2之間出現短路SH的現象。

舉例而言，於第二檢測模式下，檢測電路TC可於第一連接線A1~Am均提供電壓VL，並且於第二連接線C1提供零電壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1~Am的電流是否遠小於對應於電壓VH的電流IH；接著，當切換至第二連接線C2時，檢測電路TC可於第一連接線A1~Am均提供電壓VL，並且於第二連接線C2提供零電壓並於其餘第二連接線C1,C3~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1~Am的電流是否遠小於對應於電壓VH的電流IH。於此實施例中，上述兩種切換條件下所量測到的電流均會遠小於對應於電壓VH的電流IH，亦即代表相鄰的第二連接線C1與C2之間出現短路SH的 現象。其餘可依此類推，於此不另行贅述。

如圖9所示，檢測電路TC可執行第一檢測模式、第二檢測模式或第三檢測模式檢測出發光二極體(例如LED11)或其耦接路徑的電阻值R是否過高。

舉例而言，於第二檢測模式下，檢測電路TC可於第一連接線A1~Am均提供電壓VH，並且於第二連接線C1提供零電壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1的電流是否小於對應於電壓VH的電流IH，至於其餘第一連接線A2~Am的電流會小於對應於電壓VL的電流IL。若第一連接線A1的電流小於對應於電壓VH的電流IH且其餘第一連接線A2~Am的電流小於對應於電壓VL的電流IL，代表發光二極體LED11(或其耦接路徑)的電阻值R過高，可能導致發光亮度不足的現象。其餘可依此類推，於此不另行贅述。

如圖10所示，檢測電路TC可執行第一檢測模式、第二檢測模式或第三檢測模式檢測出第二連接線(例如C1)的電阻值R是否過高。第一連接線或第二連接線的電阻值過高很可能會導致發光二極體顯示面板之顯示亮度不均的現象。

舉例而言，於第一檢測模式下，當第二連接線C1作動時，檢測電路TC可於第一連接線A1提供電壓VH並於其餘第一連接線A2~Am提供零電壓，並且於第二連接線C1提供零電壓並於其餘第二連接線C2~Cn提供電壓VH，以檢測第一連接線A1的電流是否小於對應於電壓VH的電流IH。接著，當切換至 第一連接線A2時，檢測電路TC可於第一連接線A2提供電壓VH並於其餘第一連接線A1,A3~Am提供零電壓，以檢測第一連接線A2的電流是否小於對應於電壓VH的電流IH。依此類推，由於第二連接線C1的電阻值R過高，所以檢測電路TC所檢測到之第一連接線A1~Am的電流均會小於電流IH。至於切換至其餘第二連接線C2~Cn作動時，由於第二連接線C2~Cn的電阻值R並未過高，故不會有第一連接線A1~Am的電流小於電流IH的情況。

請參照圖11，圖11係繪示電流檢測結果之範圍區間的示意圖。如圖11所示，當上述各種異常現象發生時，電壓與電流之間會有不同的對應關係。其中，IO為斷路判斷電流值；IS為短路判斷電流值；IR為高電阻判斷電流值。

在不同的電壓VCA下，當電流ID≦斷路判斷電流值IO時，代表有斷路OP的現象發生；當電流ID≧短路判斷電流值Is時，代表有短路SH的現象發生。此外，由於電阻值R過高時會造成發光二極體電壓的壓降，所以在相同的偏壓條件下會得到較小的高電阻判斷電流值IR(如圖11中之高阻值區域HR)。至於通過檢測區域PASS則代表沒有任何異常情況發生，故可通過檢測。

根據本發明之另一具體實施例為一種發光二極體顯示面板檢測方法。

於此實施例中，發光二極體顯示面板檢測方法用以檢測發光二極體顯示面板。發光二極體顯示面板包含(m*n) 個發光二極體，其中m與n均為正整數。發光二極體顯示面板檢測方法包含下列步驟：提供m條第一連接線、n條第二連接線及檢測電路，其中每一條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極且每一條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極；以及檢測電路TC對該(m*n)個發光二極體選擇性地執行第一檢測模式、第二檢測模式及第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體。

於第一檢測模式下，當該n條第二連接線中之任一第二連接線作動時，檢測電路依序檢測該m條第一連接線；當該m條第一連接線中之任一第一連接線作動時，檢測電路依序檢測該n條第二連接線。於第二檢測模式下，當第二連接線作動時，檢測電路同時檢測該m條第一連接線。於第三檢測模式下，當該m條第一連接線中之任一第一連接線作動時，檢測電路同時檢測該n條第二連接線。

請參照圖12，圖12係繪示此實施例中之發光二極體顯示面板檢測方法的流程圖。

如圖12所示，發光二極體顯示面板檢測方法可包含下列步驟： 步驟S11：檢測電路切換至第二檢測模式或第三檢測模式；步驟S12：進行異常檢測； 若步驟S12的異常檢測結果為是，則執行步驟S13：判斷檢測到之異常發光二極體之數量是否大於1；若步驟S12的異常檢測結果為否，則執行步驟S16：完成異常檢測；若步驟S13的判斷結果為是，亦即異常發光二極體之數量大於1，則依序執行步驟S14~S16：檢測電路切換至第一檢測模式並定位出異常發光二極體後，完成異常檢測；若步驟S13的判斷結果為否，亦即異常發光二極體之數量等於1，則直接執行步驟S15及S16：定位出異常發光二極體後，完成異常檢測；步驟S17：當完成異常檢測後，判斷異常發光二極體是否需要修補；若步驟S17的判斷結果為是，則執行步驟S18：修補異常發光二極體；以及若步驟S17的判斷結果為否，則結束整個發光二極體顯示面板的檢測流程。

相較於先前技術，根據本發明的發光二極體顯示面板檢測裝置及發光二極體顯示面板檢測方法係利用發光二極體顯示驅動電路的輸出通道選擇性地透過三種不同的檢測模式對發光二極體顯示面板的所有發光二極體進行異常偵測，不僅可有效檢測出發光二極體顯示面板的多種常見的異常狀況(例如開路、短路或阻值過高等)，還可大幅縮短對發光二極體顯示面板的所有發光二極體進行檢測所需的檢測時間，藉以有效提升發光二極體顯示面板的檢測效率。此外， 本發明還可進一步根據上述檢測結果決定是否需要對出現異常的發光二極體進行後續修補之動作。

藉由以上較佳具體實施例之詳述，係希望能更加清楚描述本發明之特徵與精神，而並非以上述所揭露的較佳具體實施例來對本發明之範疇加以限制。相反地，其目的是希望能涵蓋各種改變及具相等性的安排於本發明所欲申請之專利範圍的範疇內。

S11~S18‧‧‧步驟

Claims (10)

1. 一種發光二極體顯示面板檢測方法，用以檢測一發光二極體顯示面板，該發光二極體顯示面板包含(m*n)個發光二極體，其中m與n均為正整數，該發光二極體顯示面板檢測方法包含下列步驟：提供m條第一連接線、n條第二連接線及一檢測電路，其中每一條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極且每一條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極；以及該檢測電路對該(m*n)個發光二極體選擇性地執行一第一檢測模式、一第二檢測模式及一第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體；其中，於該第一檢測模式下，當該n條第二連接線中之任一第二連接線作動時，該檢測電路依序檢測該m條第一連接線，當該m條第一連接線中之任一第一連接線作動時，該檢測電路依序檢測該n條第二連接線；於該第二檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，該檢測電路同時檢測該m條第一連接線；於該第三檢測模式下，當該任一第一連接線作動時，該檢測電路同時檢測該n條第二連接線；於該第一檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，該檢測電路係依序檢測該m條第一連接線與該任一第二連接線之間的電流是否異常；當該任一第一連接線作動時，該檢測電路係依序檢測該 n條第二連接線與該任一第一連接線之間的電流是否異常。
2. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體顯示面板檢測方法，其中該檢測電路係先執行該第二檢測模式或該第三檢測模式進行異常檢測後，再判斷檢測到之異常的發光二極體之數量大於1或等於1。
3. 如申請專利範圍第2項所述之發光二極體顯示面板檢測方法，其中若檢測到之異常的發光二極體之數量大於1，該檢測電路執行該第一檢測模式定位出異常的發光二極體。
4. 如申請專利範圍第2項所述之發光二極體顯示面板檢測方法，其中若檢測到之異常的發光二極體之數量等於1，該檢測電路執行該第二檢測模式或該第三檢測模式定位出異常的發光二極體。
5. 如申請專利範圍第1項所述之發光二極體顯示面板檢測方法，其中於該第二檢測模式下，該檢測電路係同時檢測該m條第一連接線與該任一第二連接線之間的電流是否異常。
6. 一種發光二極體顯示面板檢測裝置，用以檢測一發光二極體顯示面板，該發光二極體顯示面板包含(m*n)個發光二極體，其中m與n均為正整數，該發光二極體顯示面板檢測裝置包含：m條第一連接線，每一條第一連接線分別耦接n個發光二極體之正極；n條第二連接線，每一條第二連接線分別耦接m個發光二極體之負極；以及一檢測電路，用以對該(m*n)個發光二極體選擇性地執行一 第一檢測模式、一第二檢測模式及一第三檢測模式中之至少一種，以檢測出異常的發光二極體；其中，於該第一檢測模式下，當該n條第二連接線中之任一第二連接線作動時，該檢測電路依序檢測該m條第一連接線，當該m條第一連接線中之任一第一連接線作動時，該檢測電路依序檢測該n條第二連接線；於該第二檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，該檢測電路同時檢測該m條第一連接線；於該第三檢測模式下，當該任一第一連接線作動時，該檢測電路同時檢測該n條第二連接線；於該第一檢測模式下，當該任一第二連接線作動時，該檢測電路係依序檢測該m條第一連接線與該任一第二連接線之間的電流是否異常；當該任一第一連接線作動時，該檢測電路係依序檢測該n條第二連接線與該任一第一連接線之間的電流是否異常。
7. 如申請專利範圍第6項所述之發光二極體顯示面板檢測裝置，其中該檢測電路係先執行該第二檢測模式或該第三檢測模式進行異常檢測後，再判斷檢測到之異常的發光二極體之數量大於1或等於1。
8. 如申請專利範圍第7項所述之發光二極體顯示面板檢測裝置，其中若檢測到之異常的發光二極體之數量大於1，該檢測電路執行該第一檢測模式定位出異常的發光二極體。
9. 如申請專利範圍第7項所述之發光二極體顯示面板檢測裝置，其中若檢測到之異常的發光二極體之數量等於1，該檢測電路執行該第二檢測模式或該第三檢測模式定位出異常的發光二 極體。
10. 如申請專利範圍第6項所述之發光二極體顯示面板檢測裝置，其中於該第二檢測模式下，該檢測電路係同時檢測該m條第一連接線與該任一第二連接線之間的電流是否異常。

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