KR950003749Y1

KR950003749Y1 - 다이오드 어레이(array) 테스트 장치

Info

Publication number: KR950003749Y1
Application number: KR92014110U
Authority: KR
Inventors: 임영빈
Original assignee: 석진철; 대우전자부품 주식회사
Priority date: 1992-07-29
Filing date: 1992-07-29
Publication date: 1995-05-13
Also published as: KR940004380U

Abstract

내용 없음.

Description

다이오드 어레이(ARRAY) 테스트 장치

제1도는 종래의 테스트 장치에 따른 일실시예도이다.

제2도는 본 고안에 따른 일실시예도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 오픈 테스트부 11 : OR게이트

12,22 : 인버터 20 : 쇼트 테스트부

21 : NAND게이트

LED,LED1,LED2 : 발광 다이오드 R : 저항

SW : 스위치 +V : 테스트 전압

본 고안은 다이오드를 테스트하기 위한 장치에 관한 것으로, 특히 다이오드 어레이(ARRAY)테스트에서의 인접한 다이오드간의 쇼트 및 오픈 테스트시에 오류를 방지하기 위한 다이오드 어레이 테스트 장치에 관한 것이다.

점차적으로 전자산업 분야에서 다이오드의 이용 분야가 확대되고 필수적이 되어감에 따라, 다이오드의 생산 또한 대량 생산화되고, 이로 인해 각 다이오드의 개별적인 테스트가 불가능하므로, 일정량의 어레이로 테스트하는 장치를 사용해왔다.

제1도는 상기에서 언급한 바와같이 종래의 다이오드 어레이 테스트 장치로써, 각 다이오드의 테스트 장치로써 각 다이오드의 테스트 전원측에 저항(R)과 발광 다이오드(LED)를 직렬 연결하여, 단순히 상기 다이오드(LED)의 점등 유무에 따라 각 다이오드의 이상 및 정상을 판정하여 왔다.

그러나, 상기와 같은 장치로 테스트할 경우 다음과 같은 문제점이 있게 된다. 즉, 인접한 다이오드의 애노드측의 단자가 상호 쇼트되었을 경우, 일측 다이오드의 애노드와 캐소드가 단락이나 개방되었을지라도 정상의 경우와 마찬가지로 발광 다이오드(LED)가 점등되어 이상이 없음으로 판정되어, 다이오드 어레이 테스트 장치는 다이오드의 양품 출하를 위한 테스트 기능을 제대로 하지 못하여 불량품이 대향 발생할 수 있다.

본 고안의 목적은 상기와 같은 문제점을 감안하여 오픈 테스트부(10)와 쇼트 테스트부(20) 및 스위치(SW)를 추가 설치하여, 각 다이오드에 대한 쇼트 및 오픈시 올바른 판정을 내릴 수 있는 다이오드 어레이 테스트 장치를 제공함에 있다.

본 고안을 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.

제2도는 본 고안의 다이오드 어레이 테스트 장치에 따른 일실시예도로써, 일측 접지된 다이오드 어레이 설치단(1-10)에 각 다이오드(D1-D10)가 연결되고, 상기 다이오드(D1-D10)의 애노드측에서 일측분기하여 오픈 테스트부(10)의 OP게이트(11)의 입력단자에 연결하되 상기 OR 게이트(11)의 출력은 인버터(12)를 통해 일측접지된 발광 다이오드(LED2)에 인가되도록 하고, 상기 다이오드(D1-D10) 중에서 홀수번째 다이오드(D1, 3, 5, 7, 9)의 애노드측에 스위치(SW)를 설치하여 상기 스위치(SW)로 하여금 접지와 일측이 테스트 전압(+V)에 연결된 저항(R)을 스위칭 할 수 있도록 하고, 짝수번째 다이오드(D2, 4, 6, 8, 10)의 애노드측은 쇼트 테스트부(20)의 테스트 전압(+V)에 연결된 저항(R)과 연결함과 동시에 일측 분기하여 쇼트테스트부(20)의 NAND게이트(21)의 출력은 인버터(22)를 통해 일측 접지된 발광 다이오드(LED1)에 인가되도록 구성되어진다.

상기와 같은 구성으로 된 본 고안의 작용효과를 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.

일단 테스트 하고자 하는 다이오드 즉 제2도의 일실시예도에서와 같이 다이오드(D1-D10)을 테스트 설치단(1-10)에 설치한다.

상기 다이오드(D1-D10)의 오픈 테스트시에는 본 고안의 테스트 장치에서 홀수번째 다이오드(D1, 3, 5, 7, 9)의 애노드측 스위치(SW)는 저항(R)쪽에 스위칭한다. 이때 만약 상기 다이오드(D1-D10)가 모두 정상이면, 다이오드 양단의 순방향전압은 +0.7V이므로 상기 다이오드(D1-D10)의 애노드측 논리는 모두 “로우”가 되어 오픈 테스트부(10)의 OR게이트(11)에 인가되고, 상기 OR게이트(11)의 출력은 “로우”가 되나 인버터(12)에서 반전되어 “하이”가 되므로 발광 다이오드(LED2)를 구동하여 상기 다이오드(D1-D2)가 오픈 테스트에 모두 합격임을 판정하게 된다.

상기 다이오드(D1-D10)의 쇼트 테스트시에는 본 고안의 테스트 장치에서 짝수번째 다이오드(D2, 4, 6, 8, 10)의 캐소드측을 개방한다. 이때 만약 상기 짝수번째 다이오드(D2, 4, 6, 8, 10)가 모두 정상이던 상기 다이오드(D2, 4, 6, 810)의 애노드측은 논리“하이”가 되어 쇼트 테스트부(20)의 NAND게이트(21)에 인가되고, 상기 NAND게이트(21)의 출력은 “로우” 가 되나 인버터(22)에서 반전되어 “하이”가 되므로 발광 다이오드(LED1)를 구동하여 상기 다이오드((D2, 4, 6, 8, 10)가 쇼트 테스트에 합격임을 알리고, 이때 홀수번째 다이오드(D1, 3, 5, 7, 9)의 애노드측 스위치(SW)를 접지하면, 인접 다이오드의 애노드간에 쇼트가 됐을 경우 논리가 “로우”가 되어 상기 쇼트 테스트부(20)의 NAND 게이트(21)에 인가되고 상기 NAND게이트(21)의 출력은 “하이”가 되나 인버터(22)를 거쳐 “로우”가 되어 발광 다이오드(LED1)을 오프시켜 상기 다이오드(D1-D10)의 쇼트 테스트 합격에 이상이 있음을 알리게 된다.

이상에서 설명한 바와같이 본 고안은 종래의 다이오드 어레이 테스트시에 발생할 수 있는 쇼트 및 오픈 테스트의 오류판정의 가능성을 제거하므로써, 대량 양산 체제에서 빈번히 발생하는 불량품 생산율을 저하시키는 효과가 있다.

Claims

일측 접지된 다이오드 어레이 설치단(1-10)에 각 다이오드(D1-D10)가 연결되고, 상기 다이오드 (D1-D10)의 애노드측에서 일측분기하여 오픈 테스트부(10)의 OR게이트(11)의 입력단에 연결하되 상기 OR 게이트(11)의 출력은 인버터(12)를 통해 일측 접지된 발광 다이오드(LED2)에 인가하도록 하고, 상기 다이오드(D1-D10)중에서 홀수번째 다이오드(D1, 3, 5, 7, 9)의 애노드측에 스위치(SW)를 설치하여 상기 스위치(SW)로 하여금 접지와 일측이 테스트 전압(+V)에 연결된 저항(R)과 연결함과 동시에 일측 분기하여 쇼트 테스트부(20)의 NAND게이트(21)의 입력단에 연결하되 상기 NAND게이트(21)의 출력은 인버터(22)를 통해 일측 접지된 발광 다이오드(LED1)에 인가되도록 구성되어지는 것을 특징으로 하는 다이오드 어레이 테스트 장치.