CN111595557A - 一种激光Bar条芯片自动检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种激光Bar条芯片自动检测装置,包括机座,机座上设置有放置座,放置座上设置Bar条盒,机座上设置有Bar条检测装置;机座上水平滑动安装有由检测工位切换动力装置驱动的检测平台;机座上设置有Bar条转移机构,机座上设置有芯片位置检测装置、供电装置,机座上位于芯片检测工位的一侧还设置有对芯片发光性能进行检测的发光性能检测装置。该自动检测装置能够将Bar条盒内的Bar条自动送至检测平台上,然后再对Bar条上的芯片进行位置检测,从而方便每个芯片准确供电,方便对Bar条上所有芯片的发光性能进行全检。

Description

一种激光Bar条芯片自动检测装置
技术领域
本发明涉及一种激光Bar条芯片自动检测装置,属于芯片检测技术领域,用于对Bar条上的芯片进行检测。
背景技术
激光Bar条芯片的检测是激光芯片生产过程中的重要工艺。而目前的检测装置存在几个缺点:
1、Bar条的上料是并够智能,最基本的操作是人工利用气动吸嘴或其他的工具将Bar条摆放到检测工作台上检测,无法保证Bar条已经摆正,同时人工操作也有可能对Bar条上的芯片造成损伤。
2.Bar条在检测台上定位调整位置不方便,操作困难,其定位有些是通过工人的经验移动Bar条,也有一些是通过额外增加定位机构进行定位,但是增加的定位机构效率较低,同时由于Bar条比较薄,该定位机构的安装非常难调试。并且该定位机构也占用了一定的设备的空间。
3.由于Bar条上的芯片数量有多个,而由于Bar条的位置定位不准确,这样导致各个芯片的位置也不准确,这样要对每个芯片都进行性能检测时需要对每个芯片进行导电使其发光,而目前的检测装置是无法给位置不准确的芯片进行逐个导电,也就无法非常效率的对Bar条上所有的芯片进行全检,尤其是对其发光性能的检测,目前的检测装置一般仅仅是对其发光强度进行检测,而缺乏对其他的光学性能的检测。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种激光Bar条芯片自动检测装置,该自动检测装置能够将Bar条盒内的Bar条自动送至检测平台上,然后再对Bar条上的芯片进行位置检测,从而方便每个芯片准确供电,方便对Bar条上所有芯片的发光性能进行全检。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案是:一种激光Bar条芯片自动检测装置,包括机座,所述机座上设置有放置座,所述放置座上设置有Bar条检测工位,该Bar条检测工位处设置有Bar条盒,所述机座上位于Bar条检测工位的上方设置有对Bar条盒内的Bar条进行检测的Bar条检测装置;所述机座上水平滑动安装有检测平台,所述检测平台由检测工位切换动力装置驱动在上料工位和芯片检测工位水平滑动;所述机座上设置有将Bar条从Bar条盒转移并定位于上料工位的检测平台上的Bar条转移机构,所述机座上位于芯片检测工位的上方设置有对处于芯片检测工位上的Bar条上的芯片进行位置检测的芯片位置检测装置,所述机座还设置有对芯片检测工位上的芯片进行供电的供电装置,所述机座上位于芯片检测工位的一侧还设置有对芯片发光性能进行检测的发光性能检测装置,所述芯片的发光侧朝向所述发光性能检测装置。
作为一种优选的方案,所述Bar条转移机构包括转移底座,所述转移底座上滑动设置有由X动力装置驱动沿X轴滑动的X滑座,定义X轴为与Bar条检测工位到上料工位之间的连线平行的坐标轴,定义X轴为水平面上与X轴垂直的坐标轴,定义Z轴为垂直于X轴和Y轴所在平面的坐标轴;所述X滑座上沿Y轴方向滑动安装有由Y动力装置驱动的Y滑座,所述Y滑座上沿Z轴滑动安装有由Z动力装置驱动的Z滑座;所述Z滑座上安装有转移支座,所述转移支座上设置有转移吸嘴,该转移吸嘴与抽真空系统连通。
作为一种优选的方案,所述转移支座设置有定位刮板,所述定位刮板高于转移吸嘴的最低端,检测平台的一侧设置有方便转移吸嘴避让的避让斜面,该避让斜面与检测平台相交的边缘线为定位边缘线,所述定位刮板由Y动力装置驱动刮动Bar条使其边缘与定位边缘线平齐。
作为一种优选的方案,所述Bar条检测装置包括固定于机座上且位于Bar条检测工位上方的Bar条检测相机,所述机座上位于Bar条检测相机和Bar条盒之间设置有对Bar条盒进行补光的环形补光装置。
作为一种优选的方案,所述供电装置包括竖直滑动安装于机座上的供电滑座,所述供电滑座上设置有第一安装杆和第二安装杆,所述第一安装杆和第二安装杆上分别可拆卸安装有第一导电针和第二导电针,所述供电滑座由供电升降动力装置驱动升降,第一导电针和第二导电针的一端与供电电源电连接,第一导电针和第二导电针的另一端分别与芯片检测工位上的芯片的两个供电引脚位置对应。
作为一种优选的方案,所述发光性能检测装置包括光强检测装置,所述光强检测装置包括安装于机座上的光强检测座,所述光强检测座上设置有光强检测传感,所述光强检测传感器与芯片的发光侧位置对应。
作为一种优选的方案,所述发光性能检测装置还包括水平发射角检测装置,所述光强检测座直线滑动安装于机座上且由避让动力装置驱动,所述水平发射角检测装置包括固定于机座上的第一检测底座,所述第一检测底座上旋转安装有竖直中心轴,所述竖直中心轴由第一偏转动力装置驱动,所述竖直中心轴上安装有L形的第一检测支座,所述第一检测支座的竖直杆部上设置有第一光检测传感器。
作为一种优选的方案,所述发光性能检测装置还包括竖直发射角检测装置,所述竖直发射角检测装置包括固定于机座上的第二检测底座,所述第二检测底座上旋转安装有水平中心轴,所述水平中心轴由第二偏转动力装置驱动,所述水平中心轴上安装有L形的第二检测支座,所述第二检测支座的水平杆部上设置有第二光检测传感器。
作为一种优选的方案,所述放置座水平滑动安装于机座上,所述放置座上设置有至少一个方便Bar条盒放置的放置工位,所述放置座由补料动力装置驱动滑动使放置工位上的Bar条盒移动到Bar条检测工位。
作为一种优选的方案,所述Bar条盒包括盒体,所述盒体上设置有阵列设置的多个Bar条放置槽,所有放置槽的相同端均设置有朝向定位标识。
采用了上述技术方案后,本发明的效果是:1、该Bar条芯片自动检测装置可以实现Bar条芯片的自动检测,减少人工干预,检测效率更高,准确度更好;2、该自动检测装置的Bar条是通过Bar条转移机构进行自动转移,这样Bar条可以更好的定位于检测平台上,方便后续的检测,尤其是方便供电装置的准确供电;3、该自动检测装置利用Bar条检测装置对Bar条盒内的Bar条进行检测,这样能够清楚的知晓Bar盒内Bar条的位置,方便Bar条转移机构更好的转移;4、该自动检测装置利用芯片位置检测装置对处于芯片检测工位上的Bar条上的芯片进行位置检测,这样不但可以检测每个芯片的外观,而且能确定芯片的位置,方便检测平台的移动,使芯片处于合适的位置,这样当某一个芯片检测完成后,只需要检测工位切换动力装置驱动检测平台移动,就可以将下一个芯片移动到芯片检测工位,方便供电装置准确供电,从而实现了Bar条芯片上的全检。
又由于所述Bar条转移机构包括转移底座,所述转移底座上滑动设置有由X动力装置驱动沿X轴滑动的X滑座,定义X轴为与Bar条检测工位到上料工位之间的连线平行的坐标轴,定义X轴为水平面上与X轴垂直的坐标轴,定义Z轴为垂直于X轴和Y轴所在平面的坐标轴;所述X滑座上沿Y轴方向滑动安装有由Y动力装置驱动的Y滑座,所述Y滑座上沿Z轴滑动安装有由Z动力装置驱动的Z滑座;所述Z滑座上安装有转移支座,所述转移支座上设置有转移吸嘴,该转移吸嘴与抽真空系统连通,该转移机可以使转移吸嘴在X、Y、Z方向移动,这样方便转移吸嘴准确的吸住Bar条并转移到上料工位,而采用气吸的方式可以避免损坏Bar条;另外,由于Bar条是位于Bar条盒,其摆放方位是确定的,而转移机构的移动也可以控制很精准,因此,最后Bar条的转移动作非常准确。
又由于所述转移支座设置有定位刮板,所述定位刮板高于转移吸嘴的最低端,检测平台的一侧设置有方便转移吸嘴避让的避让斜面,该避让斜面与检测平台相交的边缘线为定位边缘线,所述定位刮板由Y动力装置驱动刮动Bar条使其边缘与定位边缘线平齐,利用该定位刮板可以进一步对Bar条进行辅助定位,避免转移气嘴放下Bar条时位置发生偏离。
又由于所述Bar条检测装置包括固定于机座上且位于Bar条检测工位上方的Bar条检测相机,所述机座上位于Bar条检测相机和Bar条盒之间设置有对Bar条盒进行补光的环形补光装置,利用环形补光装置可以更好的补光,同时方便Bar条检测相机检测光线的通过。
又由于所述供电装置包括竖直滑动安装于机座上的供电滑座,所述供电滑座上设置有第一安装杆和第二安装杆,所述第一安装杆和第二安装杆上分别可拆卸安装有第一导电针和第二导电针,所述供电滑座由供电升降动力装置驱动升降,第一导电针和第二导电针的一端与供电电源电连接,第一导电针和第二导电针的另一端分别与芯片检测工位上的芯片的两个供电引脚位置对应,该供电装置利用供电滑座的升降可以实现第一导电针和第二导电针与芯片的两个供电引脚导电接触或者分开,从而方便Bar条的转移。
又由于所述发光性能检测装置还包括水平发射角检测装置,所述光强检测座直线滑动安装于机座上且由避让动力装置驱动,所述水平发射角检测装置包括固定于机座上的第一检测底座,所述第一检测底座上旋转安装有竖直中心轴,所述竖直中心轴由第一偏转动力装置驱动,所述竖直中心轴上安装有L形的第一检测支座,所述第一检测支座的竖直杆部上设置有第一光检测传感器,这样在光强检测完以后,避让动力装置驱动光强检测座后退避让空间,此时第一偏转动力装置可以驱动第一检测支座绕竖直中心轴偏转,此时竖直杆部上的第一光检测传感器也摆动,这样第一光检测传感器在摆动的角度下会出现检测不到激光芯片发出的光线的临界位置,该临界位置所在的偏摆角就是芯片的水平发射角,通过上述结构可以准确检测出水平发射角。
又由于所述发光性能检测装置还包括竖直发射角检测装置,所述竖直发射角检测装置包括固定于机座上的第二检测底座,所述第二检测底座上旋转安装有水平中心轴,所述水平中心轴由第二偏转动力装置驱动,所述水平中心轴上安装有L形的第二检测支座,所述第二检测支座的水平杆部上设置有第二光检测传感器,同理也可以准确的检测竖直发射角。
又由于所述放置座水平滑动安装于机座上,所述放置座上设置有至少一个方便Bar条盒放置的放置工位,所述放置座由补料动力装置驱动滑动使放置工位上的Bar条盒移动到Bar条检测工位,这样当Bar条检测工位上的Bar条盒中的Bar条已经检测完成,可以移动放置座,将放置工位上的Bar条盒移动到Bar条检测工位,从而实现补料。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明实施例的立体结构示意图;
图2是本发明实施例的另一个角度的立体结构示意图;
图3是Bar条转移机构和检测平台上的结构立体图;
图4是供电装置、检测平台和发光性能检测装置的结构立体图;
图5是Bar条盒的立体图;
图6是检测平台的立体图;
附图中:1.机座;2.Bar条转移机构;21.转移底座;22.X滑座;23.X动力装置;24.Y滑座;25.Y动力装置;26.Z动力装置;27.Z滑座;28.转移支座;29.转移吸嘴;210.定位刮板;3.检测平台;31.平台本体;311.避让斜面;32.检测工位切换动力装置;33.平台滑座;4.Bar条供应装置;41.放置座;42.补料动力装置;43.Bar条盒;431.盒体;432.Bar条放置槽;433.朝向定位标识;5.Bar条检测装置;51.环形补光装置;52.Bar条检测相机;6.芯片位置检测装置;7.供电装置;71.供电滑座;72.第一安装杆;73.第二安装杆;74.第一导电针;75.第二导电针;76.供电升降动力装置;8.光强检测装置;81.光强检测座;82.光强检测传感;83.避让动力装置;9.水平发射角检测装置;91.第一检测底座;92.第一偏转动力装置;93.第一检测支座;94.竖直杆部;10.竖直发射角检测装置;101.第二检测底座;102.第二检测支座;103.水平杆部;104.第二偏转动力装置。
具体实施方式
下面通过具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
如图1至图6所示,一种激光Bar条芯片自动检测装置,包括机座1,所述机座1上设置有放置座41,所述放置座41上设置有Bar条检测工位,该Bar条检测工位处设置有Bar条盒43,其中,为了给自动检测装置进行自动补料,所述放置座41水平滑动安装于机座1上,所述放置座41上设置有至少一个方便Bar条盒43放置的放置工位,所述放置座41由补料动力装置42驱动滑动使放置工位上的Bar条盒43移动到Bar条检测工位,而上述的结构就构成了Bar条供应装置4;如图1所示,放置座41上具有两个放置工位和一个Bar条检测工位,均放置有Bar条盒43,图1中靠近右侧的Bar条盒43是处于Bar条检测工位,而补料动力装置42采用直线伺服电机,从而准确的控制放置座41的移动补料。而如图5所示,所述Bar条盒43包括盒体431,所述盒体431上设置有阵列设置的多个Bar条放置槽432,所有放置槽的相同端均设置有朝向定位标识433。盒体431的中心设置有一个定位中心孔,而朝向定位标识433采用的是在放置槽的同侧端部设置了斜面,这样方便Bar条放置时的定向,而Bar条定向后就可以使芯片的发光侧朝向发光性能检测装置的一侧,方便自动化检测。
所述机座1上位于Bar条检测工位的上方设置有对Bar条盒43内的Bar条进行检测的Bar条检测装置5;本实施例中,所述Bar条检测装置5包括固定于机座1上且位于Bar条检测工位上方的Bar条检测相机52,所述机座1上位于Bar条检测相机52和Bar条盒43之间设置有对Bar条盒43进行补光的环形补光装置51,该环形补光装置51采用LED环形光源即可。
所述机座1上水平滑动安装有检测平台3,所述检测平台3由检测工位切换动力装置32驱动在上料工位和芯片检测工位水平滑动;如图3所示,所述检测平台3包括平台本体31,平台本体31固定在平台滑座33上,平台滑座33滑动安装在机座1上并且由检测工位切换动力装置32驱动。平台本体31上的一侧设置有方便转移吸嘴29避让的避让斜面311,该避让斜面311与检测平台3相交的边缘线为定位边缘线,平台本体31处于处于上料工位时,Bar条转移机构2将Bar条盒43中的其中一根Bar条转移到平台本体31上,然后检测平台3由检测工位切换动力装置32驱动使Bar条上的一个芯片移动到芯片检测工位上进行芯片检测。而其中一个芯片检测完成后,检测工位切换动力装置32驱动使Bar条再移动一个芯片跨度,使下一个芯片处于芯片检测工位。上述检测工位切换动力装置32也采用直线伺服电机驱动。
所述机座1上设置有将Bar条从Bar条盒43转移并定位于上料工位的检测平台3上的Bar条转移机构2,所述机座1上位于芯片检测工位的上方设置有对处于芯片检测工位上的Bar条上的芯片进行位置检测的芯片位置检测装置6。其中所述芯片检测装置采用的也是检测相机,只是该检测相机的解析力更强,放大倍数更高,从而准确的检测到Bar条上芯片。如图1和图2所示,芯片检测装置的相机和Bar条检测相机52均可以通过竖直方向的调焦装置实现调焦,同时上述两个相机分别安装在微动平台上,从而方便调节位置。
如图2和图3所示,所述Bar条转移机构2包括转移底座21,所述转移底座21上滑动设置有由X动力装置23驱动沿X轴滑动的X滑座22,定义X轴为与Bar条检测工位到上料工位之间的连线平行的坐标轴,定义X轴为水平面上与X轴垂直的坐标轴,定义Z轴为垂直于X轴和Y轴所在平面的坐标轴;所述X滑座22上沿Y轴方向滑动安装有由Y动力装置25驱动的Y滑座24,所述Y滑座24上沿Z轴滑动安装有由Z动力装置26驱动的Z滑座27;所述Z滑座27上安装有转移支座28,所述转移支座28上设置有转移吸嘴29,该转移吸嘴29与抽真空系统连通。而本实施例中,放置座41的滑动方向为Y方向,检测平台3的滑动方向为X方向,这样布置更加紧凑。而上述的X动力装置23、Y动力装置25、Z动力装置26均采用直线伺服电机实现驱动。而转移支座28也通过微动平台安装在Z滑座27上,这样可以微调转移吸嘴29的位置。
本实施例中,所述转移支座28设置有定位刮板210,所述定位刮板210高于转移吸嘴29的最低端,检测平台3的一侧设置有方便转移吸嘴29避让的避让斜面311,该避让斜面311与检测平台3相交的边缘线为定位边缘线,所述定位刮板210由Y动力装置25驱动刮动Bar条使其边缘与定位边缘线平齐。而由于定位刮板210的位置高于转移吸嘴29的最低端,因此在吸附Bar条盒43内的Bar条时,定位刮板210并不妨碍吸附,而在定位时需要使用到定位刮板210,此时转移吸嘴29的位置处于避让斜面311,这样就方便定位刮板210与平台本体31的上表面接触。而定位刮板210的移动由Y动力装置25驱动,节省了额外的定位动力,使机构更紧凑。
所述机座1还设置有对芯片检测工位上的芯片进行供电的供电装置7,所述供电装置7包括竖直滑动安装于机座1上的供电滑座71,所述供电滑座71上设置有第一安装杆72和第二安装杆73,所述第一安装杆72和第二安装杆73上分别可拆卸安装有第一导电针74和第二导电针75,所述供电滑座71由供电升降动力装置76驱动升降,第一导电针74和第二导电针75的一端与供电电源电连接,第一导电针74和第二导电针75的另一端分别与芯片检测工位上的芯片的两个供电引脚位置对应。而本实施例中,第一安装杆72和第二安装杆73均通过微动平台安装在供电滑座71上,这样通过微动平台就可以调节第一安装杆72和第二安装杆73的位置,方便设备调试时调节。
所述机座1上位于芯片检测工位的一侧还设置有对芯片发光性能进行检测的发光性能检测装置,所述芯片的发光侧朝向所述发光性能检测装置。
本实施例中,所述发光性能检测装置包括光强检测装置8,所述光强检测装置8包括安装于机座1上的光强检测座81,所述光强检测座81上设置有光强检测传感82,所述光强检测传感82器与芯片的发光侧位置对应。其中光强检测传感82器为目前的常规传感器,可以市购获得。
而所述发光性能检测装置还包括水平发射角检测装置9,所述光强检测座81直线滑动安装于机座1上且由避让动力装置83驱动,其滑动方向也为Y方向,所述水平发射角检测装置9包括固定于机座1上的第一检测底座91,所述第一检测底座91上旋转安装有竖直中心轴,所述竖直中心轴由第一偏转动力装置92驱动,所述竖直中心轴上安装有L形的第一检测支座93,所述第一检测支座93的竖直杆部94上设置有第一光检测传感器。第一光检测传感器可以采用光敏电阻或者其他类似传感器。而第一偏摆动力装置采用偏摆电机,第一偏摆动力装置驱动竖直中心轴旋转一定角度,从而带动第一检测支座93旋转,这样竖直杆部94上的第一光检测传感器也绕竖直中心轴偏转,第一光检测传感器从开始接收到激光芯片发出的光线后一直旋转到无法检测到光线,这个两个临界位置就检测出激光芯片的水平发射角。
同理,所述发光性能检测装置还包括竖直发射角检测装置10,所述竖直发射角检测装置10包括固定于机座1上的第二检测底座101,所述第二检测底座101上旋转安装有水平中心轴,所述水平中心轴由第二偏转动力装置104驱动,所述水平中心轴上安装有L形的第二检测支座102,所述第二检测支座102的水平杆部103上设置有第二光检测传感器。同样的原理可以检测出竖直发射角。
本实施例中提到的气路系统、伺服电机等执行装置、齿轮传动机构、丝杠螺母机构均为目前的常规技术,在2008年4月北京第五版第二十八次印刷的《机械设计手册第五版》中详细的公开了气缸、电机以及其他传动机构的具体结构和原理和其他的设计,属于现有技术,其结构清楚明了,2008年08月01日由机械工业出版社出版的现代实用气动技术第3版SMC培训教材中就详细的公开了真空元件、气体回路和程序控制,表明了本实施例中的气路结构也是现有的技术,清楚明了,在2015年07月01日由化学工业出版社出版的《电机驱动与调速》书中也详细的介绍了电机的控制以及行程开关,因此,电路、气路连接都是清楚。
以上所述实施例仅是对本发明的优选实施方式的描述,不作为对本发明范围的限定,在不脱离本发明设计精神的基础上,对本发明技术方案作出的各种变形和改造,均应落入本发明的权利要求书确定的保护范围内。

Claims (10)

1.一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:包括机座,所述机座上设置有放置座,所述放置座上设置有Bar条检测工位,该Bar条检测工位处设置有Bar条盒,所述机座上位于Bar条检测工位的上方设置有对Bar条盒内的Bar条进行检测的Bar条检测装置;所述机座上水平滑动安装有检测平台,所述检测平台由检测工位切换动力装置驱动在上料工位和芯片检测工位水平滑动;所述机座上设置有将Bar条从Bar条盒转移并定位于上料工位的检测平台上的Bar条转移机构,所述机座上位于芯片检测工位的上方设置有对处于芯片检测工位上的Bar条上的芯片进行位置检测的芯片位置检测装置,所述机座还设置有对芯片检测工位上的芯片进行供电的供电装置,所述机座上位于芯片检测工位的一侧还设置有对芯片发光性能进行检测的发光性能检测装置,所述芯片的发光侧朝向所述发光性能检测装置。
2.如权利要求1所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述Bar条转移机构包括转移底座,所述转移底座上滑动设置有由X动力装置驱动沿X轴滑动的X滑座,定义X轴为与Bar条检测工位到上料工位之间的连线平行的坐标轴,定义X轴为水平面上与X轴垂直的坐标轴,定义Z轴为垂直于X轴和Y轴所在平面的坐标轴;所述X滑座上沿Y轴方向滑动安装有由Y动力装置驱动的Y滑座,所述Y滑座上沿Z轴滑动安装有由Z动力装置驱动的Z滑座;所述Z滑座上安装有转移支座,所述转移支座上设置有转移吸嘴,该转移吸嘴与抽真空系统连通。
3.如权利要求2所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述转移支座设置有定位刮板,所述定位刮板高于转移吸嘴的最低端,检测平台的一侧设置有方便转移吸嘴避让的避让斜面,该避让斜面与检测平台相交的边缘线为定位边缘线,所述定位刮板由Y动力装置驱动刮动Bar条使其边缘与定位边缘线平齐。
4.如权利要求1所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述Bar条检测装置包括固定于机座上且位于Bar条检测工位上方的Bar条检测相机,所述机座上位于Bar条检测相机和Bar条盒之间设置有对Bar条盒进行补光的环形补光装置。
5.如权利要求1所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述供电装置包括竖直滑动安装于机座上的供电滑座,所述供电滑座上设置有第一安装杆和第二安装杆,所述第一安装杆和第二安装杆上分别可拆卸安装有第一导电针和第二导电针,所述供电滑座由供电升降动力装置驱动升降,第一导电针和第二导电针的一端与供电电源电连接,第一导电针和第二导电针的另一端分别与芯片检测工位上的芯片的两个供电引脚位置对应。
6.如权利要求1所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述发光性能检测装置包括光强检测装置,所述光强检测装置包括安装于机座上的光强检测座,所述光强检测座上设置有光强检测传感,所述光强检测传感器与芯片的发光侧位置对应。
7.如权利要求6所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述发光性能检测装置还包括水平发射角检测装置,所述光强检测座直线滑动安装于机座上且由避让动力装置驱动,所述水平发射角检测装置包括固定于机座上的第一检测底座,所述第一检测底座上旋转安装有竖直中心轴,所述竖直中心轴由第一偏转动力装置驱动,所述竖直中心轴上安装有L形的第一检测支座,所述第一检测支座的竖直杆部上设置有第一光检测传感器。
8.如权利要求7所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述发光性能检测装置还包括竖直发射角检测装置,所述竖直发射角检测装置包括固定于机座上的第二检测底座,所述第二检测底座上旋转安装有水平中心轴,所述水平中心轴由第二偏转动力装置驱动,所述水平中心轴上安装有L形的第二检测支座,所述第二检测支座的水平杆部上设置有第二光检测传感器。
9.如权利要求1所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述放置座水平滑动安装于机座上,所述放置座上设置有至少一个方便Bar条盒放置的放置工位,所述放置座由补料动力装置驱动滑动使放置工位上的Bar条盒移动到Bar条检测工位。
10.如权利要求9所述的一种激光Bar条芯片自动检测装置,其特征在于:所述Bar条盒包括盒体,所述盒体上设置有阵列设置的多个Bar条放置槽,所有放置槽的相同端均设置有朝向定位标识。
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