CN111579828A - 一种芯片封装质量测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种芯片封装质量测试装置，包括底板，所述底板的底面固定安装有支撑脚柱，所述支撑脚柱的底端固定安装有支撑垫套，所述底板底面的中部固定安装有收纳筒架，所述收纳筒架的内部滑动衬筒和滑动环架。通过电动液压缸驱动其内输出活塞推杆推出或收缩，即可带动支撑条架和滑动环架上升或下降，使滑动环架和滑动衬筒在收纳筒架的内部纵向滑动，使滑环架下移带动支撑腿和万向轮推出时，即可使万向轮对地面进行支撑，从而使支撑脚柱和支撑垫套悬起即可使万向轮对整个装置进行支撑，通过万向轮滚动即可带动整个装置移动，从而达到了便于移动的效果，实现了便于调节以适应移动和固定的目标。

Description

一种芯片封装质量测试装置
技术领域
本发明涉及检测设备技术领域，尤其涉及一种芯片封装质量测试装置。
背景技术
安装半导体集成电路芯片用的外壳，起着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用，而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁——芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上，这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。因此，封装对CPU和其他LSI集成电路都起着重要的作用；在芯片封装加工过程中，需要对封装质量进行检测，需要检测设备的应用，而检测作业台架为重要的检测设备。
目前市场上用于芯片封装质量检测的检测台架在应用过程中，大多难以对检测台架的支撑承托的高度进行灵活调节，且不便于根据检测需求进行转动调节，移动起来也很不方，应用起来很不灵活。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明提供了一种芯片封装质量测试装置，解决了目前市场上用于芯片封装质量检测的检测台架在应用过程中，大多难以对检测台架的支撑承托的高度进行灵活调节，且不便于根据检测需求进行转动调节，移动起来也很不方，应用起来很不灵活的问题。
为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：一种芯片封装质量测试装置，包括底板，所述底板的底面固定安装有支撑脚柱，所述支撑脚柱的底端固定安装有支撑垫套，所述底板底面的中部固定安装有收纳筒架，所述收纳筒架的内部滑动衬筒和滑动环架，且滑动环架固定连接在滑动衬筒的底部，所述滑动环架的底面固定安装有支撑条架，所述滑动衬筒的内壁固定安装有支撑横条架，所述支撑横条架的底面固定安装有支撑纵筋，且支撑纵筋的底端与支撑条架的顶面固定连接，所述底板底面的中部固定安装有电动液压缸，所述电动液压缸的内部设有输出活塞推杆，且输出活塞推杆的底端与支撑条架顶面的中部固定连接，所述滑动环架的底面固定连接有支撑腿，所述支撑腿的底端固定安装有万向轮，所述底板的顶面固定安装有支撑衬架，所述支撑衬架的表面滑动套接有支撑套架，所述支撑套架内壁的侧面开设有限位纵槽，所述支撑套架的侧表面固定安装有限位纵片，且限位纵片滑动插接在限位纵槽的内部，所述支撑套架内壁的侧面固定安装有连接横条，所述连接横条的端部固定安装有内螺纹管，所述内螺纹管的内部螺纹连接有螺纹轴，所述螺纹轴的顶端安装有轴承，所述螺纹轴的顶端通过轴承与支撑套架内壁的顶面转动连接，所述底板的顶面固定安装有连接纵轨，所述连接纵轨的表面滑动套接有连接轨套，所述连接轨套的表面固定安装有连接筋架，所述连接筋架的端部固定安装有第一减速电机，且第一减速电机的输出端与螺纹轴的底端相固定，所述支撑套架的顶部固定安装有连接板，所述连接板的顶面固定安装有衬筒体，所述衬筒体的表面安装有管道轴承，所述衬筒体的表面通过管道轴承转动连接有套筒体，所述套筒体的顶部固定安装有测试作业基板，所述连接板顶面的中部固定安装有第二减速电机，所述第二减速电机的输出端固定安装有转轴，且转轴的顶端与测试作业基板的底面固定连接。
优选的，所述支撑套架的表面固定安装有手持轴架，所述手持轴架的表面粘接有手持垫条，所述手持垫条的表面开设有手持凹槽。
优选的，所述手持轴架的数量为两个，且两个手持轴架分别位于支撑套架表面的两侧。
优选的，所述支撑脚柱和支撑垫套的数量均为四个，且四个支撑脚柱分别位于底板底面的四角。
优选的，所述支撑腿和万向轮的数量均为四个，且四个支撑腿均位于滑动环架底面的边缘。
优选的，所述限位纵槽和限位纵片的数量均为两个，且两个限位纵片分别位于支撑衬架表面的两侧。
优选的，所述连接纵轨、连接轨套和连接筋架的数量均为两个，且两个连接筋架分别位于第一减速电机的左侧和右侧。
优选的，所述支撑衬架和支撑套架均为圆筒管状结构。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、该芯片封装质量测试装置，通过电动液压缸驱动其内输出活塞推杆推出或收缩，即可带动支撑条架和滑动环架上升或下降，使滑动环架和滑动衬筒在收纳筒架的内部纵向滑动，使滑环架下移带动支撑腿和万向轮推出时，即可使万向轮对地面进行支撑，从而使支撑脚柱和支撑垫套悬起即可使万向轮对整个装置进行支撑，通过万向轮滚动即可带动整个装置移动，从而达到了便于移动的效果，实现了便于调节以适应移动和固定的目标。
2、该芯片封装质量测试装置，通过第一减速电机驱动螺纹轴转动，即可使螺纹轴在内螺纹管的内部转动并螺旋上升或螺旋下降移动，使螺纹轴通过轴承带动支撑套架上升或下降，即可使支撑套架在支撑衬架的表面滑动，使限位纵片在限位纵槽内纵向滑动，使连接轨套在连接纵轨表面纵向滑动，使第一减速电机上升或下降，从而使得整个支撑套架的支撑高度得以升降调节，达到了便于对检测台架进行升降调节的效果，实现了便于根据使用需要调整高度的目标。
3、该芯片封装质量测试装置，通过减速电机驱动测试作业基板转动，使套筒体通过管道轴承与衬筒体转动，从而使整个测试作业基板进行转动调整，达到了便于对测试台架置放高度进行转动调节的效果，实现了便于转动调节的目标，使用起来更加方便。
附图说明
图1为本发明结构正视图；
图2为本发明收纳筒架结构正剖图；
图3为本发明支撑套架结构正剖图；
图4为本发明衬筒体结构正剖图；
图5为本发明手持轴架结构俯视图。
图中：1底板、2支撑脚柱、3支撑垫套、4收纳筒架、5滑动衬筒、6滑动环架、7支撑条架、8支撑横条架、9支撑纵筋、10电动液压缸、11输出活塞推杆、12支撑腿、13万向轮、14支撑套架、15限位纵槽、16限位纵片、17连接横条、18内螺纹管、19螺纹轴、20轴承、21连接纵轨、22连接轨套、23连接筋架、24第一减速电机、25连接板、26衬筒体、27管道轴承、28套筒体、29测试作业基板、30第二减速电机、31转轴、32手持轴架、33手持垫条、34手持凹槽、35支撑衬架。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例：参照图1-5，一种芯片封装质量测试装置，包括底板1，底板1的底面固定安装有支撑脚柱2，支撑脚柱2的底端固定安装有支撑垫套3，支撑脚柱2和支撑垫套3的数量均为四个，且四个支撑脚柱2分别位于底板1底面的四角，底板1底面的中部固定安装有收纳筒架4，收纳筒架4的内部滑动衬筒5和滑动环架6，且滑动环架6固定连接在滑动衬筒5的底部，滑动环架6的底面固定安装有支撑条架7，滑动衬筒5的内壁固定安装有支撑横条架8，支撑横条架8的底面固定安装有支撑纵筋9，且支撑纵筋9的底端与支撑条架7的顶面固定连接，底板1底面的中部固定安装有电动液压缸10，电动液压缸10的内部设有输出活塞推杆11，且输出活塞推杆11的底端与支撑条架7顶面的中部固定连接，滑动环架6的底面固定连接有支撑腿12，支撑腿12的底端固定安装有万向轮13，支撑腿12和万向轮13的数量均为四个，且四个支撑腿12均位于滑动环架6底面的边缘，通过电动液压缸10驱动其内输出活塞推杆11推出或收缩，即可带动支撑条架7和滑动环架6上升或下降，使滑动环架6和滑动衬筒5在收纳筒架4的内部纵向滑动，使滑环架6下移带动支撑腿12和万向轮13推出时，即可使万向轮13对地面进行支撑，从而使支撑脚柱2和支撑垫套3悬起即可使万向轮13对整个装置进行支撑，通过万向轮13滚动即可带动整个装置移动，从而达到了便于移动的效果，实现了便于调节以适应移动和固定的目标，底板1的顶面固定安装有支撑衬架35，支撑衬架35的表面滑动套接有支撑套架14，支撑套架14内壁的侧面开设有限位纵槽15，支撑套架14的侧表面固定安装有限位纵片16，且限位纵片16滑动插接在限位纵槽15的内部，限位纵槽15和限位纵片16的数量均为两个，且两个限位纵片16分别位于支撑衬架35表面的两侧，支撑衬架35和支撑套架14均为圆筒管状结构，支撑套架14内壁的侧面固定安装有连接横条17，连接横条17的端部固定安装有内螺纹管18，内螺纹管18的内部螺纹连接有螺纹轴19，螺纹轴19的顶端安装有轴承20，螺纹轴19的顶端通过轴承20与支撑套架14内壁的顶面转动连接，底板1的顶面固定安装有连接纵轨21，连接纵轨21的表面滑动套接有连接轨套22，连接轨套22的表面固定安装有连接筋架23，连接筋架23的端部固定安装有第一减速电机24，且第一减速电机24的输出端与螺纹轴19的底端相固定，连接纵轨21、连接轨套22和连接筋架23的数量均为两个，且两个连接筋架23分别位于第一减速电机24的左侧和右侧，通过第一减速电机24驱动螺纹轴19转动，即可使螺纹轴19在内螺纹管18的内部转动并螺旋上升或螺旋下降移动，使螺纹轴19通过轴承20带动支撑套架14上升或下降，即可使支撑套架14在支撑衬架35的表面滑动，使限位纵片16在限位纵槽15内纵向滑动，使连接轨套22在连接纵轨21表面纵向滑动，使第一减速电机24上升或下降，从而使得整个支撑套架14的支撑高度得以升降调节，达到了便于对检测台架进行升降调节的效果，实现了便于根据使用需要调整高度的目标，支撑套架14的顶部固定安装有连接板25，连接板25的顶面固定安装有衬筒体26，衬筒体26的表面安装有管道轴承27，衬筒体26的表面通过管道轴承27转动连接有套筒体28，套筒体28的顶部固定安装有测试作业基板29，连接板25顶面的中部固定安装有第二减速电机30，第二减速电机30的输出端固定安装有转轴31，且转轴31的顶端与测试作业基板29的底面固定连接，通过减速电机30驱动测试作业基板29转动，使套筒体28通过管道轴承27与衬筒体26转动，从而使整个测试作业基板29进行转动调整，达到了便于对测试台架置放高度进行转动调节的效果，实现了便于转动调节的目标，使用起来更加方便。
支撑套架14的表面固定安装有手持轴架32，手持轴架32的表面粘接有手持垫条33，手持垫条33的表面开设有手持凹槽34，手持轴架32的数量为两个，且两个手持轴架32分别位于支撑套架14表面的两侧，通过设置手持轴架32和手持垫条33，使得整个装置推动过程中便于操作，手部不易滑脱。
综上所述，该芯片封装质量测试装置，通过电动液压缸10驱动其内输出活塞推杆11推出或收缩，即可带动支撑条架7和滑动环架6上升或下降，使滑动环架6和滑动衬筒5在收纳筒架4的内部纵向滑动，使滑环架6下移带动支撑腿12和万向轮13推出时，即可使万向轮13对地面进行支撑，从而使支撑脚柱2和支撑垫套3悬起即可使万向轮13对整个装置进行支撑，通过万向轮13滚动即可带动整个装置移动，从而达到了便于移动的效果，实现了便于调节以适应移动和固定的目标，通过第一减速电机24驱动螺纹轴19转动，即可使螺纹轴19在内螺纹管18的内部转动并螺旋上升或螺旋下降移动，使螺纹轴19通过轴承20带动支撑套架14上升或下降，即可使支撑套架14在支撑衬架35的表面滑动，使限位纵片16在限位纵槽15内纵向滑动，使连接轨套22在连接纵轨21表面纵向滑动，使第一减速电机24上升或下降，从而使得整个支撑套架14的支撑高度得以升降调节，达到了便于对检测台架进行升降调节的效果，实现了便于根据使用需要调整高度的目标，通过减速电机30驱动测试作业基板29转动，使套筒体28通过管道轴承27与衬筒体26转动，从而使整个测试作业基板29进行转动调整，达到了便于对测试台架置放高度进行转动调节的效果，实现了便于转动调节的目标，使用起来更加方便，解决了目前市场上用于芯片封装质量检测的检测台架在应用过程中，大多难以对检测台架的支撑承托的高度进行灵活调节，且不便于根据检测需求进行转动调节，移动起来也很不方，应用起来很不灵活的问题。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (8)

1.一种芯片封装质量测试装置，包括底板(1)，其特征在于，所述底板(1)的底面固定安装有支撑脚柱(2)，所述支撑脚柱(2)的底端固定安装有支撑垫套(3)，所述底板(1)底面的中部固定安装有收纳筒架(4)，所述收纳筒架(4)的内部滑动衬筒(5)和滑动环架(6)，且滑动环架(6)固定连接在滑动衬筒(5)的底部，所述滑动环架(6)的底面固定安装有支撑条架(7)，所述滑动衬筒(5)的内壁固定安装有支撑横条架(8)，所述支撑横条架(8)的底面固定安装有支撑纵筋(9)，且支撑纵筋(9)的底端与支撑条架(7)的顶面固定连接，所述底板(1)底面的中部固定安装有电动液压缸(10)，所述电动液压缸(10)的内部设有输出活塞推杆(11)，且输出活塞推杆(11)的底端与支撑条架(7)顶面的中部固定连接，所述滑动环架(6)的底面固定连接有支撑腿(12)，所述支撑腿(12)的底端固定安装有万向轮(13)，所述底板(1)的顶面固定安装有支撑衬架(35)，所述支撑衬架(35)的表面滑动套接有支撑套架(14)，所述支撑套架(14)内壁的侧面开设有限位纵槽(15)，所述支撑套架(14)的侧表面固定安装有限位纵片(16)，且限位纵片(16)滑动插接在限位纵槽(15)的内部，所述支撑套架(14)内壁的侧面固定安装有连接横条(17)，所述连接横条(17)的端部固定安装有内螺纹管(18)，所述内螺纹管(18)的内部螺纹连接有螺纹轴(19)，所述螺纹轴(19)的顶端安装有轴承(20)，所述螺纹轴(19)的顶端通过轴承(20)与支撑套架(14)内壁的顶面转动连接，所述底板(1)的顶面固定安装有连接纵轨(21)，所述连接纵轨(21)的表面滑动套接有连接轨套(22)，所述连接轨套(22)的表面固定安装有连接筋架(23)，所述连接筋架(23)的端部固定安装有第一减速电机(24)，且第一减速电机(24)的输出端与螺纹轴(19)的底端相固定，所述支撑套架(14)的顶部固定安装有连接板(25)，所述连接板(25)的顶面固定安装有衬筒体(26)，所述衬筒体(26)的表面安装有管道轴承(27)，所述衬筒体(26)的表面通过管道轴承(27)转动连接有套筒体(28)，所述套筒体(28)的顶部固定安装有测试作业基板(29)，所述连接板(25)顶面的中部固定安装有第二减速电机(30)，所述第二减速电机(30)的输出端固定安装有转轴(31)，且转轴(31)的顶端与测试作业基板(29)的底面固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述支撑套架(14)的表面固定安装有手持轴架(32)，所述手持轴架(32)的表面粘接有手持垫条(33)，所述手持垫条(33)的表面开设有手持凹槽(34)。
3.根据权利要求2所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述手持轴架(32)的数量为两个，且两个手持轴架(32)分别位于支撑套架(14)表面的两侧。
4.根据权利要求1所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述支撑脚柱(2)和支撑垫套(3)的数量均为四个，且四个支撑脚柱(2)分别位于底板(1)底面的四角。
5.根据权利要求1所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述支撑腿(12)和万向轮(13)的数量均为四个，且四个支撑腿(12)均位于滑动环架(6)底面的边缘。
6.根据权利要求1所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述限位纵槽(15)和限位纵片(16)的数量均为两个，且两个限位纵片(16)分别位于支撑衬架(35)表面的两侧。
7.根据权利要求1所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述连接纵轨(21)、连接轨套(22)和连接筋架(23)的数量均为两个，且两个连接筋架(23)分别位于第一减速电机(24)的左侧和右侧。
8.根据权利要求1所述的一种芯片封装质量测试装置，其特征在于，所述支撑衬架(35)和支撑套架(14)均为圆筒管状结构。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112476122A (zh) * 2020-11-27 2021-03-12 马鞍山市华能电力线路器材有限责任公司 一种电力金具加工用自动去毛刺装置
CN117571746A (zh) * 2024-01-16 2024-02-20 深圳市中研创科技有限公司 一种玻璃缺陷视觉检测装置及其检测方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108253611A (zh) * 2017-12-24 2018-07-06 吕慧峰 一种便于移动的净化器支撑装置
CN209128696U (zh) * 2018-12-06 2019-07-19 东莞市缝科自动化科技有限公司 一种具有升降功能的门襟机架
CN209728112U (zh) * 2018-12-29 2019-12-03 扬州市创信科技有限公司 一种pcb板自动检测装置
CN209917209U (zh) * 2019-03-24 2020-01-10 杨天梅 一种体育器材用支撑装置
CN210349781U (zh) * 2019-10-16 2020-04-17 深圳市瑞华半导体有限公司 一种芯片测试用旋转平台
CN210442477U (zh) * 2019-06-28 2020-05-01 成都国盛军通科技有限公司 一种pcba线路板检测用辅助装置
CN210514525U (zh) * 2019-07-09 2020-05-12 苏州鑫镁晨电子科技有限公司 一种pcb电路板检测装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108253611A (zh) * 2017-12-24 2018-07-06 吕慧峰 一种便于移动的净化器支撑装置
CN209128696U (zh) * 2018-12-06 2019-07-19 东莞市缝科自动化科技有限公司 一种具有升降功能的门襟机架
CN209728112U (zh) * 2018-12-29 2019-12-03 扬州市创信科技有限公司 一种pcb板自动检测装置
CN209917209U (zh) * 2019-03-24 2020-01-10 杨天梅 一种体育器材用支撑装置
CN210442477U (zh) * 2019-06-28 2020-05-01 成都国盛军通科技有限公司 一种pcba线路板检测用辅助装置
CN210514525U (zh) * 2019-07-09 2020-05-12 苏州鑫镁晨电子科技有限公司 一种pcb电路板检测装置
CN210349781U (zh) * 2019-10-16 2020-04-17 深圳市瑞华半导体有限公司 一种芯片测试用旋转平台

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112476122A (zh) * 2020-11-27 2021-03-12 马鞍山市华能电力线路器材有限责任公司 一种电力金具加工用自动去毛刺装置
CN117571746A (zh) * 2024-01-16 2024-02-20 深圳市中研创科技有限公司 一种玻璃缺陷视觉检测装置及其检测方法
CN117571746B (zh) * 2024-01-16 2024-04-05 深圳市中研创科技有限公司 一种玻璃缺陷视觉检测装置及其检测方法

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