CN111458307A - 一种偏光片的异物鉴定方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。本发明能够鉴定偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源。
Description
技术领域
本发明涉及偏光片，尤其涉及一种偏光片的异物鉴定方法。
背景技术
偏光片是产生偏振光的光学功能薄膜，液晶面板的成像必须依靠偏振光，因而偏光片是液晶面板的关键零件。偏光片的基本结构是由下列膜材依次复合而成：保护膜、三醋酸纤维素(TAC)、聚乙烯醇(PVA)、三醋酸纤维素(TAC)、压敏胶(PSA)、离型膜；其中起到偏振作用的是PVA，PVA两侧复合具有高光透过率，并有一定机械强度的TAC薄膜进行保护。
偏光片是由几层膜材复合组成，生产工艺流程比较复杂，工艺过程中使用的物料众多，在多层膜材复合的过程中，在层与层之间容易引入异物造成偏光片品质不良，影响产品的美观和质量，更严重的是，影响整个液晶显示器的显示效果，给企业带来不可估计的经济损失。此外，偏光片的厚度为100-200um，在高倍数的金相显微镜下虽然可以看到异物处于偏光片的哪个夹层之间，但无法检测异物的具体成分，无法找到产生异物的源头；而红外光谱仪由于无法直接穿透多层结构的偏光片，所以也不能直接检测偏光片中的异物的成分。
因而，研发一种能够鉴定偏光片内的异物的方法显得尤为重要，它可以明确偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源，可以及时地对生产方式进行改进，有效降低偏光片的不良率，减少企业的经济损失。
发明内容
为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种偏光片的异物鉴定方法，可以鉴定偏光片内的异物的成分，从而判断偏光片内的异物的来源。
本发明的目的采用如下技术方案实现：
一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，包括以下步骤：
削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；
提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；
鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。
进一步地，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4-16cm-1；所述红外光谱仪的采集条件为1-25s扫描8-128次。
进一步地，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4cm-1或8cm-1；所述红外光谱仪的采集条件为12s扫描64次或3s扫描16次。
进一步地，所述削片的步骤中，使用高倍数的金相显微镜确认异物的位置；使用旋转削片机进行削片。
进一步地，所述削片的步骤中，削片深度为异物距离所述偏光片的上表面的深度。
进一步地，所述削片的步骤中，所述偏光片的保护层厚度为20-80μm，削片深度为10-120μm。
进一步地，所述削片的步骤之前还包括固定的步骤，所述固定的步骤为将所述偏光片水平地粘贴在玻璃上，然后转移至削片平台上。
进一步地，所述鉴定异物的步骤中，数据库中的红外光谱图为偏光片生产过程中使用的辅材以及接触的环境异物的红外光谱图。
进一步地，所述辅材包括PS隔板、打印纸、泡棉、乳胶手套和打印纸；所述环境异物包括粉尘、人体皮屑和毛发。
相比现有技术，本发明的有益效果在于：
1.本发明通过使用旋转削片机对偏光片进行削片，并通过控制削片的深度，使得异物裸露，从而提取偏光片内的异物，具有提取快速，操作简单的优点。
2.本发明通过固定的步骤，将偏光片的离型膜去除，PSA层粘贴在玻璃上，然后再将玻璃片转移至削片平台上进行削片，起到了固定偏光片，方便提取异物的作用。
3.本发明通过使用旋转削片机对偏光片进行削片，使得异物暴露出来，再使用样品针将异物提取出来，使用红外光谱仪对异物进行定性检测，根据异物的红外光谱图与数据库中的红外光谱图比对，确认异物的成分，从而查找出异物产生的来源。填补了偏光片行业对偏光片的内部异物分析的空白，同时提供了一种新的提取和鉴定方法用于多层结构薄膜的层间异物检测，本发明所需要的削片设备简单，操作方便，是一种简便、快速的分析方法。
附图说明
图1为偏光片的异物鉴定方法的流程图；
图2为实施例1的偏光片内的异物的红外光谱图；
图3为实施例2的偏光片内的异物的红外光谱图；
图4为实施例3的偏光片内的异物的红外光谱图。
具体实施方式
下面，结合具体实施方式，对本发明做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。所采用的设备和原料等均可从市场购得或是本领域常用的。下述实施例中的方法，如无特别说明，均为本领域的常规方法。
参见图1，一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：
削片的步骤：用显微镜确定偏光片内异物所处的位置及异物与偏光片上表面的距离，用切片机对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；
需要说明的是，定义偏光片与玻璃粘贴的面为偏光片的下表面，与下表面相对的面为偏光片的上表面。
提取异物的步骤：在显微镜下，用样品针将削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；
鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对异物样品进行检测，得到红外光谱图；将红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。
设置提取异物的步骤，是由于偏光片内的异物尺寸一般长宽在100μm以下且厚度在数μm内，样品量极少，因此需要直接提取异物到红外光谱仪进行微量分析。
作为进一步的实施方式，鉴定异物的步骤中，红外光谱仪的检测模式为透射；红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4-16cm-1；红外光谱仪的采集条件为1-25s扫描8-128次。
作为进一步的实施方式，鉴定异物的步骤中，红外光谱仪的检测模式为透射；红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4cm-1或8cm-1；红外光谱仪的采集条件为12s扫描64次或3s扫描16次。
作为进一步的实施方式，削片的步骤中，使用高倍数的金相显微镜确认异物的位置；使用旋转削片机进行削片。
作为进一步的实施方式，削片的步骤中，削片深度为异物距离偏光片的上表面的深度。
将偏光片的离型膜去除，PSA层粘贴在玻璃上，然后再将玻璃片转移至削片平台上进行削片；
作为进一步的实施方式，削片的步骤中，所述削片的步骤中，偏光片的保护层厚度为20-80μm，削片深度为10-120μm。
作为进一步的实施方式，削片的步骤之前还包括固定的步骤，固定的步骤为将偏光片水平地粘贴在玻璃上，然后转移至削片平台上。
将偏光片的离型膜去除，PSA层粘贴在玻璃上，然后再将玻璃片转移至削片平台上进行削片，起到了固定偏光片，方便提取异物的作用。
作为进一步的实施方式，鉴定异物的步骤中，数据库中的红外光谱图为偏光片生产过程中使用的辅材以及接触的环境异物的红外光谱图。
作为进一步的实施方式，辅材包括PS隔板、打印纸、泡棉、乳胶手套和打印纸；环境异物包括粉尘、人体皮屑和毛发。
数据库的建立方法：将偏光片生产时需要用到的所有的原料、辅材以及可能接触到的环境异物进行收集，使用红外光谱仪对上述收集的材料进行检测，得到不同的材料的红外光谱图，保存在数据库中，并识别特定材料的特定吸收特性、特征峰的峰位、峰形。
鉴定异物时，根据异物的红外光谱图的吸收特性、特征峰的峰位、峰形，与数据库中的不同的材料的红外光谱图进行比对，最终确定异物的成分。
偏光片生产时用到的辅材包括PS隔板、打印纸、泡棉、乳胶手套、打印纸等，偏光片生产时可能接触到的环境异物包括粉尘、人体皮屑、毛发等。
实施例1：
一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：
固定的步骤：将偏光片的离型膜去除，PSA层粘贴在玻璃上，然后再将玻璃片转移至削片平台上；
削片的步骤：使用高倍数的金相显微镜确定偏光片内异物所处的位置，使用旋转削片机对偏光片进行削片，削片深度为20微米，削片至异物表面，从而使得异物裸露出来；
提取异物的步骤：用样品针将削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；
鉴定异物的步骤：设定红外光谱仪的检测模式为透射；红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为8cm-1；红外光谱仪的采集条件为12s扫描64次。
用红外光谱仪对异物样品进行检测，得到图2的红外光谱图；将红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分；
检测结果见表1。
实施例2：
一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：
固定的步骤：将偏光片的离型膜去除，PSA层粘贴在玻璃上，然后再将玻璃片转移至削片平台上；
削片的步骤：使用高倍数的金相显微镜确定偏光片内异物所处的位置，使用旋转削片机对偏光片进行削片，削片深度为40微米，削片至异物表面，从而使得异物裸露出来；
提取异物的步骤：用样品针将削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；
鉴定异物的步骤：设定红外光谱仪的检测模式为透射；红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4cm-1；红外光谱仪的采集条件为3s扫描16次。
用红外光谱仪对异物样品进行检测，得到图3的红外光谱图；将红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分；
检测结果见表1。
实施例3：
一种偏光片的异物鉴定方法，包括以下步骤：
固定的步骤：将偏光片的离型膜去除，PSA层粘贴在玻璃上，然后再将玻璃片转移至削片平台上；
削片的步骤：使用高倍数的金相显微镜确定偏光片内异物所处的位置，使用旋转削片机对偏光片进行削片，削片深度为60微米，削片至异物表面，从而使得异物裸露出来；
提取异物的步骤：用样品针将削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；
鉴定异物的步骤：设定红外光谱仪的检测模式为透射；红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为16cm；红外光谱仪的采集条件为24s扫描128次。
用红外光谱仪对异物样品进行检测，得到图4的红外光谱图；将红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分；
检测结果见表1。
表1为实施例1-3的偏光片内异物鉴定的结果
将实施例1的异物红外光谱图与数据库中的红外光谱图对比，鉴定实施例1的异物为纤维素；将实施例2的异物红外光谱图与数据库中的红外光谱图对比，鉴定实施例2的异物为聚苯乙烯；将实施例3的异物红外光谱图与数据库中的红外光谱图对比，鉴定实施例3的异物为聚丙烯。
上述实施方式仅为本发明的优选实施方式，不能以此来限定本发明保护的范围，本领域的技术人员在本发明的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本发明所要求保护的范围。
Claims (9)
1.一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，包括以下步骤：
削片的步骤：确定偏光片内异物所处的位置，对偏光片进行削片，通过控制削片的深度，使得异物裸露出来；
提取异物的步骤：用样品针将所述削片的步骤中裸露的异物提取出来，得到异物样品；
鉴定异物的步骤：用红外光谱仪对所述异物样品进行检测，得到红外光谱图；将所述红外光谱图与数据库中的红外光谱图进行比对，从而确定异物的成分。
2.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4-16cm-1；所述红外光谱仪的采集条件为1-25s扫描8-128次。
3.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述鉴定异物的步骤中，所述红外光谱仪的检测模式为透射；所述红外光谱仪的检测器为冷却后，分辨率为4cm-1或8cm-1；所述红外光谱仪的采集条件为12s扫描64次或3s扫描16次。
4.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤中，使用高倍数的金相显微镜确认异物的位置；使用旋转削片机进行削片。
5.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤中，削片深度为异物距离所述偏光片的上表面的深度。
6.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤中，所述偏光片的保护层厚度为20-80μm，削片深度为10-120μm。
7.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述削片的步骤之前还包括固定的步骤，所述固定的步骤为将所述偏光片水平地粘贴在玻璃上，然后转移至削片平台上。
8.根据权利要求1所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述鉴定异物的步骤中，数据库中的红外光谱图为偏光片生产过程中使用的辅材以及接触的环境异物的红外光谱图。
9.根据权利要求8所述的一种偏光片的异物鉴定方法，其特征在于，所述辅材包括PS隔板、打印纸、泡棉、乳胶手套和打印纸；所述环境异物包括粉尘、人体皮屑和毛发。
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Legal Events
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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