CN111381623A - 用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法，其中，将现有技术中由传统测试仪完成的基准电压校准工作改为由本发明的用于基准电压修调的系统中的基准电压修调电路来完成，且将基准电压修调电路集成于需要进行基准电压修调的待测电路内部，简化测试仪的工作内容，令测试仪仅需负责测试信号的输入及对比即可，整个系统中的基准电压校准工作由硬件结构即可完成，无需辅助的测试程序。采用本发明的用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法，由于校准工作均在电路内部执行，因此校准结果受外部干扰影响小，准确度高，具备成本低、结构简单、测试速度高、精度准的优点，易于实现，适用性广泛的特点。
Description
技术领域
本发明涉及电路技术领域，尤其涉及电路校准领域，具体涉及一种用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法。
背景技术
现有技术中包括了模数转换模块的电路中一般均会自带内部基准功能模块，但由于工艺波动影响，集成的内部基准功能模块实际产生的基准电压会在一定范围内波动，为满足实际应用中电压测试精度的要求，现有技术中，一般会考虑对待测电路(该待测电路指包括了模数转换模块的电路)产生的基准电压做修调(可将该需要修调的基准电压称为待修调基准电压)，而现有技术中对于该待修调基准电压的修调一般依靠测试仪来完成，由测试仪根据待修调基准电压产生一个对应的电压修调值，对基准电压进行修调，具体工作主要包含以下步骤：
首先，该待测电路在测试模式下输出待修调基准电压，然后测试仪依托该测试仪内部的模数转换模块完成对测试仪给出的参考电压的采集，确定电压修调值，最后将得到的电压修调值写入待测电路。
上述由测试仪来实现的对待修调基准电压的电压修调值的调校过程中存在以下影响测试效率的因素：
1、待修调基准电压一般负载能力不会特别强，在通过端口输出后增加了引入干扰的风险，可能造成电压测试精度的降低，现有技术中一般考虑采用多次测试取均值的算法来提升精度，但这种算法往往会牺牲测试的时间。
2、参考电压的采集需要测试仪中的模数转换模块(ADC)来完成，这种电压采集的过程中一个模数转换模块在同一时间内仅负责采集一个待测电路产生的待修调基准电压。为了缩短测试时间，节省测试成本，目前集成电路测试一般会选择对多个待测电路同时测量的方式进行测量。
但是在同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，，如果测试卡板上仅有一个模数转换模块，则对于多个待测电路输出的基准电压做修调时，仅能按对于单个待测电路输出的基准电压做修调时所采用的修调方式，对多个待测电路进行轮流测试，这样就会降低测试效率；但要依靠多个模数转换模块实现真正意义的同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，就需要增加测试卡板上模数转换模块数量，但这样一来测试卡板成本就会成倍提高，其中，所述的测试卡板用于连接待测电路和测试仪。
3、不同待测电路产生的基准电压一般会存在差异，因此，所对应的电压修调值也是不同的，即电压修调值写入过程中，测试仪需要根据当前待修调基准电压测试结果，选择合适的电压修调值写入。在现有技术中，这种电压的修调过程中，需要软件参与电压修调值选择，增加了测试程序的复杂程度。也就是说，电压修调值的写入过程，在同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，需要将不同的电压修调值写入对应的各个待测电路，在一定程度上也增加了测试程序的复杂程度。
综上所述，现有技术中由测试仪来实现的基准电压修调存在如下问题：
1、基准电压输出后会受到外界因素干扰，无法兼顾测试精度和速度；
2、在同时对多个待测电路输出的基准电压做修调时，无法兼顾效率和成本问题；
3、电压修调值的选择需要依靠软件介入进行处理，增加了测试程序设计的复杂程度；
4、在同时对多个待测电路进行电压修调值写入的测试过程中会增加测试程序设计的复杂程序。
发明内容
本发明的目的是克服至少一个上述现有技术的缺点，提供了一种结构简单、高效且可靠的用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法。
为了实现上述目的或其他目的，本发明的用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法如下：
该用于基准电压修调的系统，其主要特点是，所述的系统包括测试仪及至少一个基准电压修调电路；
每一个所述的基准电压修调电路均集成于一对应的包括了模数转换模块的待测电路内部，所述的测试仪设置于所述的待测电路外部，所述的待测电路包括基准电压发生模块；
所述的基准电压修调电路包括基准电压修调值计算模块及修调值写入模块；
所述的测试仪的第一输出端分别向所述的基准电压发生模块的输入端、基准电压修调值计算模块的第一输入端、基准电压修调值计算模块的第二输入端以及修调值写入模块的第一输入端发送测试时序；
所述的测试仪的第二输出端向所述的基准电压修调值计算模块的第三输入端发送参考电压；
所述的基准电压发生模块的输出端向所述的基准电压修调值计算模块的第四输入端发送待修调基准电压；
所述的基准电压修调值计算模块的第一输出端同时与所述的基准电压发生模块的反馈端及所述的修调值写入模块的第二输入端相连接，用于向所述的基准电压发生模块及修调值写入模块发送电压修调值，所述的基准电压修调值计算模块的第二输出端与所述的修调值写入模块的第三输入端相连接，用于向所述的修调值写入模块输送读出时序，所述的基准电压修调值计算模块的反馈端与所述的修调值写入模块的第一输出端相连接；
所述的基准电压修调值计算模块的第三输出端及所述的修调值写入模块的第二输出端均与所述的测试仪的输入端相连接。
较佳地，所述的基准电压修调值计算模块包括基准电压测试子模块、电压比较子模块及电压修调值控制子模块，其中，所述的基准电压测试子模块由所述的待测电路中的模数转换模块构成；
所述的基准电压测试子模块的第一输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第一输入端，所述的基准电压测试子模块的第二输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第三输入端，所述的基准电压测试子模块的第三输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第四输入端，所述的基准电压测试子模块用于根据所述的参考电压及待修调基准电压得出基准电压测试结果；
所述的电压比较子模块的输入端与所述的基准电压测试子模块的输出端相连接，所述的电压比较子模块的第一输出端与所述的电压修调值控制子模块的第一输入端相连接，且所述的电压比较子模块的第二输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第三输出端与所述的测试仪的输入端相连接；
所述的电压修调值控制子模块的第二输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第二输入端，所述的电压修调值控制子模块的第一输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第一输出端，用于将所述的电压修调值控制子模块输出的电压修调值输送给所述的基准电压发生模块及修调值写入模块；所述的电压修调值控制子模块的第二输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第二输出端；所述的电压修调值控制子模块的反馈端作为所述的基准电压修调值计算模块的反馈端。
更佳地，所述的电压比较子模块包括基准电压上限检测单元、基准电压下限检测单元及基准电压检测结果生成单元；
所述的基准电压上限检测单元的输入端及基准电压下限检测单元的输入端共同作为所述的电压比较子模块的输入端；
所述的基准电压上限检测单元的输出端及基准电压下限检测单元的输出端同时与所述的基准电压检测结果生成单元的输入端相连接，所述的基准电压检测结果生成单元的输出端同时作为所述的电压比较子模块的第一输出端和所述的电压比较子模块的第二输出端。
更佳地，所述的电压修调值控制子模块包括修调值载入单元、修调值可变单元及修调值合成单元；
所述的修调值载入单元的第一输入端与所述的修调值可变单元的第一输入端共同作为所述的电压修调值控制子模块的第二输入端；
所述的修调值载入单元的第一输出端作为所述的电压修调值控制子模块的第二输出端；
所述的修调值载入单元的第二输入端作为所述的电压修调值控制子模块的反馈端；
所述的修调值可变单元的第二输入端作为所述的电压修调值控制子模块的第一输入端；
所述的修调值合成单元的输入端同时与所述的修调值载入单元的第二输出端和所述的修调值可变单元的输出端相连接，所述的修调值合成单元的输出端作为所述的电压修调值控制子模块的第一输出端；
当所述的系统处于正常工作模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值载入单元输出的第一修调值作为所述的电压修调值；
当所述的系统处于基准电压测试模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值可变单元输出的第二修调值作为所述的电压修调值。
进一步地，所述的修调值可变单元包括计数器，所述的计数器的输入端作为所述的修调值可变单元的第二输入端，所述的计数器的输出端作为所述的修调值可变单元的输出端，所述的计数器的复位端与复位信号相连接。
该基于上述系统实现基准电压修调的方法，其主要特点是，当所述的系统对待测电路进行基准电压修调时，所述的方法包括：
所述的测试仪驱动所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块生成的待修调基准电压进行修调，由所述的基准电压修调值计算模块将最终的修调结果及计算得到的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪，由所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中。
较佳地，所述的测试仪驱动所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块生成的待修调基准电压进行修调，由所述的基准电压修调值计算模块将最终的修调结果及计算得到的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪，由所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中包括以下步骤：
(1)所述的测试仪向所述的基准电压发生模块及基准电压修调电路发送所述的测试时序，并将所述的参考电压发送给所述的基准电压修调电路；
(2)所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块发出的待修调基准电压进行测试，得到电压比较结果，将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪，并在修调过程中给出对应的电压修调值给所述的基准电压发生模块，使所述的基准电压发生模块对所述的待修调基准电压进行修调；
(3)所述的基准电压修调值计算模块将得到的所述的最终的修调结果及计算得到的所述的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪；
(4)所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中。
更佳地，所述的步骤(1)包括以下步骤：
(1.1)所述的测试仪向所述的基准电压发生模块、基准电压修调值计算模块、及修调值写入模块发送所述的测试时序，驱动所述的基准电压修调电路开始工作；
(1.2)所述的测试仪向所述的基准电压修调值计算模块发送所述的参考电压。
更佳地，所述的基准电压修调值计算模块包括基准电压测试子模块、电压比较子模块及电压修调值控制子模块，所述的电压修调值控制子模块包括修调值载入单元、修调值可变单元及修调值合成单元，所述的修调值可变单元构成；所述的步骤(2)包括以下步骤：
(2.1)所述的基准电压发生模块输出所述的待修调基准电压；
(2.2)所述的基准电压测试子模块根据所述的待修调基准电压及所述的参考电压，计算得出基准电压测试结果，并将所述的基准电压测试结果传输给所述的电压比较子模块；
(2.3)所述的电压比较子模块将所述的基准电压测试结果与所述的电压比较子模块内置的基准电压测试结果阈值进行比较，判断当前所述的待修调基准电压是否符合规范，得到所述的电压比较结果；
(2.4)所述的电压比较子模块根据所述的电压比较结果得出对应的电压修调控制信号，并将所述的电压修调控制信号传输给所述的电压修调值控制子模块，同时，将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪；
(2.4)若当前所述的待修调基准电压不符合规范则继续后续步骤(2.5)，否则继续后续步骤(2.9)；
(2.5)判断当前所述的电压比较子模块比较次数是否达到系统预设的比较次数的上限值；
(2.6)若当前所述的电压比较子模块比较次数达到系统预设的比较次数的上限值则判定基准电压修调失败，并由所述的电压子模块将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪；否则继续后续步骤(2.7)；
(2.7)所述的电压修调值控制子模块根据所述的电压修调控制信号生成所述的对应的电压修调值，并将所述的对应的电压修调值传输给所述的基准电压发生模块；
(2.8)所述的基准电压发生模块根据所述的对应的电压修调值对所述的待修调基准电压进行修调，并将经过修调后的待修调基准电压代替前一次生成的所述的待修调基准电压后，返回步骤(2.1)；
(2.9)所述的电压修调值控制子模块锁定与当前所述的待修调基准电压对应的电压修调值；
(2.10)所述的电压修调值控制子模块将当前所述的待修调基准电压作为所述的合适的电压修调值，并将锁定的与当前所述的待修调基准电压对应的电压修调值作为所述的最终的修调结果后，继续后续步骤(3)。
进一步地，当所述的系统同时对数个所述的待测电路进行基准电压修调时，所述的步骤(2.9)和步骤(2.10)之间还包括以下步骤：
(2.9.1)所述的电压修调值控制子模块判断当前所述的电压比较子模块比较次数是否达到系统预设的比较次数的上限值；
(2.9.2)若当前所述的电压比较子模块比较次数达到系统预设的比较次数的上限值则继续后续步骤(2.10)；否则将当前所述的电压比较子模块比较次数进行加一计数，并返回上述步骤(2.9.1)。
更佳地，所述的步骤(4)之后还包括以下步骤：
(5)所述的修调值写入模块判断是否成功将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中；
(6)若成功将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中，则判定基准电压修调成功，否则判定所述的基准电压修调失败。
采用本发明的用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法，将现有技术中由传统测试仪完成的基准电压校准工作改为由本发明的用于基准电压修调的系统中的基准电压修调电路来完成，并将该基准电压修调电路集成于待测内部，与待测电路内部的模块相结合，共同实现电压修调值的确认，简化测试仪的工作内容，令测试仪仅需负责测试信号的输入及对比即可，整个系统中的基准电压校准工作由硬件结构即可完成，无需辅助的测试程序，且由于校准工作均在电路内部执行，因此校准结果受外部干扰影响小，准确度高。该用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法具备成本低、结构简单、测试速度高、精度准的优点，易于实现，适用性广泛。
附图说明
图1为本发明一实施例中的基准电压修调的系统的结构示意图。
图2为本发明一实施例中的基准电压修调的系统中的基准电压测试子模块的逻辑图。
图3为本发明一实施例中的基准电压修调的系统中的电压比较子模块的原理图。
图4为本发明一实施例中的基准电压修调的系统中的电压修调值控制子模块的模块组成图。
图5为本发明一实施例中的基准电压修调的系统中的修调值可变单元的逻辑图。
图6为本发明一实施例中的基准电压修调的系统实现基准电压修调的方法的流程图。
图7为本发明一实施例中基准电压修调电路的工作流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面结合具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
在该实施例中，该用于基准电压修调的系统包括测试仪及至少一个基准电压修调电路，每一个所述的基准电压修调电路均集成于一对应的包括了模数转换模块的待测电路内部，所述的测试仪设置于所述的待测电路外部，所述的待测电路包括基准电压发生模块；
即在每一个需要进行基准电压修调的待测电路中均设有一基准电压修调电路，基准电压修调电路的数量由待测电路的数量决定，若需用本发明中的用于基准电压修调的系统同时对多个待测电路进行测试时，仅需将本系统中的测试仪同时与数个待测电路相连接，然后由集成于各待测电路中的基准电压修调电路计算出与该待测电路对应的电压修调值，并将电压修调值赋予待测电路对该待测电路的基准电压进行修调，并将电压修调值及相应的校准结果输送给测试仪。
在一实施例中，本发明的用于基准电压修调的系统的结构如图1所示，图1中的基准电压发生模块为需要进行基准电压修调的待测电路自带的模块。
该用于基准电压修调的系统包括测试仪及基准电压修调电路，基准电压修调电路集成于一对应的包括了模数转换模块的待测电路内部，所述的测试仪设置于所述的待测电路外部，所述的待测电路包括基准电压发生模块；
所述的基准电压修调电路包括基准电压修调值计算模块及修调值写入模块；
所述的测试仪的第一输出端分别向所述的基准电压发生模块的输入端、基准电压修调值计算模块的第一输入端、基准电压修调值计算模块的第二输入端以及修调值写入模块的第一输入端发送测试时序；
所述的测试仪的第二输出端向所述的基准电压修调值计算模块的第三输入端发送参考电压；
所述的基准电压发生模块的输出端向所述的基准电压修调值计算模块的第四输入端发送待修调基准电压；
所述的基准电压修调值计算模块的第一输出端同时与所述的基准电压发生模块的反馈端及所述的修调值写入模块的第二输入端相连接，用于向所述的基准电压发生模块及修调值写入模块发送电压修调值，所述的基准电压修调值计算模块的第二输出端与所述的修调值写入模块的第三输入端相连接，用于向所述的修调值写入模块发送读出时序，所述的基准电压修调值计算模块的反馈端与所述的修调值写入模块的第一输出端相连接；
所述的基准电压修调值计算模块的第三输出端及所述的修调值写入模块的第二输出端均与所述的测试仪的输入端相连接。
现有技术中的待修调基准电压由于是由测试仪发出的，在待修调基准电压的传输过程中，容易受到外界干扰，而本技术方案中采用基准电压修调电路内部的基准电压发生模块来生成所述的待修调基准电压，避免受扰外部电路的影响，解决现有技术中的待修调基准电压输出后受外部影响大的问题。
上述待修调基准电压可由电压修调值对其进行调整，即基准电压发生模块生成的待修调基准电压为以电压修调值为依据生成的待修调基准电压。
现有技术中对于待修调基准电压的分析及电压修调值的产生均由测试仪来完成，这就使得现有技术中的测试仪中必然包括了复杂的测试程序的设计，这无疑增加了测试仪的成本，而本发明的用于基准电压修调的系统采用基准电压修调电路中的基准电压修调值计算模块来实现对待修调基准电压的分析及电压修调值的产生，而本技术方案中的基准电压修调值计算模块由硬件结构构成，这就使得在本技术方案中的无需借助过多的软件程序，仅需通过将期望的基准电压修调值确定逻辑集成在电路内部，由内部基准电压修调值计算模块就可完成对电压修调值的筛选。
本实施例中，由集成于待测电路内部的修调值写入模块直接执行电压修调值的写入功能，将电压修调值写入待测电路，无需借助测试仪进行写入工作，简化了测试程序的设计，一般而言修调值写入模块由烧录控制模块构成，而烧录控制模块其实也包含了非挥发性存储器，烧录控制模块一方面根据接收的测试时序完成相关的电压修调值的写入非挥发性存储器的操作，并完成相关数据的校验，另一方面将校验的结果信息反馈给测试仪。
在该实施例中，所述的基准电压修调值计算模块包括基准电压测试子模块、电压比较子模块及电压修调值控制子模块，其中，所述的基准电压测试子模块由所述的待测电路中内置的模数转换模块构成；
所述的基准电压测试子模块的第一输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第一输入端，所述的基准电压测试子模块的第二输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第三输入端，所述的基准电压测试子模块的第三输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第四输入端，所述的基准电压测试子模块用于根据所述的参考电压及待修调基准电压得出基准电压测试结果；
所述的电压比较子模块的输入端与所述的基准电压测试子模块的输出端相连接，所述的电压比较子模块的第一输出端与所述的电压修调值控制子模块的第一输入端相连接，且所述的电压比较子模块的第二输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第三输出端与所述的测试仪的输入端相连接，电压比较子模块用于输出2类信号，一类信号用于反馈当前基准电压测试结果是否在规范内，使用一个信号即可指示(即所述的电压比较结果信号)；另一类为给电压修调值控制子模块的信号(即电压修调控制信号)，负责引导电压修调值控制子模块寻找合适的电压修调值；
这两类信号可以由同一个信号构成，也可以是不同的信号构成，由所述的电压修调值控制子模块的设计机理决定电压比较子模块输出的两类信号就是是由一个信号构成还是由不同的信号构成，如在采用穷举法实现的修调值控制子模块中，可以使用同一个信号构成这两类信号。
所述的电压修调值控制子模块的第二输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第二输入端，所述的电压修调值控制子模块的第一输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第一输出端，用于将所述的电压修调值控制子模块输出的电压修调值输送给所述的基准电压发生模块及修调值写入模块；所述的电压修调值控制子模块的第二输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第二输出端；所述的电压修调值控制子模块的反馈端作为所述的基准电压修调值计算模块的反馈端。
所述的基准电压测试子模块主要负责完成对待修调基准电压的采集工作。在该实施例中，所述的基准电压测试子模块由N位模数转换模块(即N-bit ADC)构成，即所述的待测电路中的模数转换模块为N位模数转换模块，如图2所示，所述的N位模数转换模块的时钟端作为所述的基准电压测试子模块的第一输入端，用于接入测试时序。所述的N位模数转换模块的电压输入端作为所述的基准电压测试子模块的第二输入端，用于接入所述的参考电压。所述的N位模数转换模块的基准端作为所述的基准电压测试子模块的第三输入端，用于接入所述的带修调基准电压。所述的N位模数转换模块的输出端作为所述的基准电压测试子模块的输出端，用于输出基准电压测试结果。该基准电压测试子模块以待修调基准电压为基准，对测试仪给定的参考电压进行测试，然后根据测试结果，反推出当前待测电压值(即基准电压测试结果)，然后将该基准电压测试结果输送给电压比较子模块，该基准电压测试子模块仅用于计算基准电压测试结果，即该基准电压测试子模块仅用于给出一个与当前待修调基准电压匹配的数值。
为了更清楚的说明该电压比较子模块的工作原理，下面举一个例子对其进行具体说明：
假设测试仪给出的参考电压在待修调基准电压正确的情况下，基准电压比较子模块测量的结果的目标值为A，理论上该目标值A可由以下公式(1)得到：
其中，V测试仪给出的参考电压为所述的测试仪传输给所述的基准电压测试子模块的基准电压值，V待修调基准电压为所述的基准电压发生模块传输给所述的基准电压测试子模块的待修调基准电压的电压值，N为本实施例中采用的N位模数转换模块的精度值，一般N≥10，从上述公式(1)中可看出A与V待修调基准电压呈反比例关系。
但基准电压测试结果在未完成对待修调基准电压的修调前的测量的结果为B，该未完成调校之前的测量的结果B可能大于A，也可能小于A，具体的比对由电压比较子模块来执行。
但为了更清楚的对本发明进行解释说明，下面结合电压比较子模块对该基准电压测试子模块进行说明：
假设，实际的基准电压测试子模块在待修调基准电压未完成调校之前的测量的结果为B。当B＜A时，说明当前待修调基准电压偏大，需要将其调低，当B＞A时，说明当前待修调基准电压偏小，需要调高。
本实施例中，该电压比较子模块通过将测量得到的结果B与内部预设的目标结果A进行比较，得到电压比较结果，一般而言，允许待修调基准电压与目标基准电压之间存在一定的偏差，所以只要基准电压测试子模块测量的结果B在一定范围值内均认为基准电压测量结果合格，即进行满足以下比较式(2)就认定待修调基准电压满足预设要求要求：
A*(1-X)≤B≤A*(1+X) (2)；
其中，A为基准电压比较子模块测量的结果的目标值，B为基准电压测试子模块在待修调基准电压未完成调校之前的测量的结果，X为测试精度值，测试精度值X的选择可根据实际需要进行设定。
下面举一个具体数值的例子进行辅助说明：
假设该N位模数转换模块的有效位为10位，即采用的N位模数转换模块的精度值N＝10，预期的待修调基准电压的目标值为2V，即目标基准电压为2V，系统预设的测试精度值X为1％。按常规的设计，测试仪给定的参考电压选为目标基准电压的
根据上述公式(1)结合上述给定条件，可知基准电压比较子模块测量的结果的目标值A＝512，假设单层待修调基准电压的测试时间为25us，经过多次校正后，最终当基准电压测试子模块在待修调基准电压未完成调校之前的测量的结果B落在507到517之间时，自动锁定调校值，即当507≤B≤517时，锁定当前基的使测量的结果B落在507到517之间的电压修调值。
所述的电压比较子模块负责对基准电压测试子模块输出的基准电压测试结果进行判断出来，并输出电压比较结果，将输出基准电压测试是否通过的标准信号输送给测试仪。在该实施例中，如图3所示，所述的电压比较子模块包括基准电压上限检测单元、基准电压下限检测单元及基准电压检测结果生成单元；
所述的基准电压上限检测单元的输入端及基准电压下限检测单元的输入端共同作为所述的电压比较子模块的输入端，用于接收所述的基准电压测试子模块传输过来的基准电压测试结果，由基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元分别对基准电压测试结果进行测试及判断；
所述的基准电压上限检测单元的输出端及基准电压下限检测单元的输出端同时与所述的基准电压检测结果生成单元的输入端相连接，即所述的基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元将各自测试得到的判断结果输入至基准电压检测结果生成单元，所述的基准电压检测结果生成单元的输出端同时作为所述的电压比较子模块的第一输出端和所述的电压比较子模块的第二输出端(在其他硬件结构构成的电路结构中，也可通过两个端口分别作为所述的电压比较子模块的第一输出端和所述的电压比较子模块的第二输出端)，即所述的基准电压检测结果生成单元根据接收到的数据，判断当前待修调基准电压是否通过。
下面进一步举例说明该电压比较子模块的工作原理及工作过程：
所述的基准电压上限检测单元中预设了基准电压测试结果的上限值，所述的基准电压下限检测单元中预设了基准电压测试结果的下限值，所述的基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元分别将基准电压测试结果与内部设置的上/下限制进行比较，然后将比较结果传输给基准电压检测结果生成单元，由基准电压检测结果生成单元给出基准电压测试结果是否符合规定的判定结果。
其中，所述的基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元均是由纯组合逻辑构成，实现对基准电压测试结果的判断，反应速度快，且工作可靠。基准电压检测结果生成单元通过“与”或“或”的方式，将基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元输出的比较结果合成为最终的基准电压测试结果是否符合规定的判定结果，然后给出是否通过的标志信号，并将该标志信号输送给测试仪。
下面结合具体数值，进一步对该电压比较子模块的工作过程进行说明：
假设预期的待修调基准电压的目标值为2V，即目标基准电压为2V，此时期望的待修调基准电压的上限值为2.02V，下限值为1.98V，系统预设的测试精度值X为1％，假设测试仪给出的参考电压为1V，此时，可知基准电压比较子模块测量的结果的目标值A＝512，对应的所述的基准电压上限检测单元中预设的基准电压测试结果的上限值为517，所述的基准电压下限检测单元中预设的基准电压测试结果的下限值为507V。
那么当基准电压测试结果大于517时，基准电压上限检测单元输出待修调基准电压不符合规范的判定结果，而基准电压下限检测单元输出待修调基准电压符合规范的判定结果，基准电压检测结果生成单元综合基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元给定的判定结果，给出待修调基准电压测试不通过的标志信号；
当基准电压测试结果小于507时，基准电压上限检测单元输出待修调基准电压符合规范的判定结果，而基准电压下限检测单元输出待修调基准电压不符合规范的判定结果，基准电压检测结果生成单元综合基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元给定的判定结果，给出待修调基准电压测试不通过的标志信号；
当基准电压测试结果小于517，大于507时，基准电压上限检测单元输出待修调基准电压符合规范的判定结果，而基准电压下限检测单元输出待修调基准电压符合规范的判定结果，基准电压检测结果生成单元综合基准电压上限检测单元和基准电压下限检测单元给定的判定结果，给出待修调基准电压测试通过的标志信号。
所述的电压修调值控制子模块用于向基准电压发生模块提供电压修调值。在该实施例中，如图4所示，所述的电压修调值控制子模块包括修调值载入单元、修调值可变单元及修调值合成单元；
所述的修调值载入单元的第一输入端与所述的修调值可变单元的第一输入端共同作为所述的电压修调值控制子模块的第二输入端，用于接收测试时序；
所述的修调值载入单元的第一输出端作为所述的电压修调值控制子模块的第二输出端，用于输出读出时序，该读出时序为在修调值写入模块执行完写入操作时，由电压修调值控制子模块发送给修调值写入模块的确定写入信号；
所述的修调值载入单元的第二输入端作为所述的电压修调值控制子模块的反馈端；
所述的修调值可变单元的第二输入端作为所述的电压修调值控制子模块的第一输入端；
所述的修调值合成单元的输入端同时与所述的修调值载入单元的第二输出端和所述的修调值可变单元的输出端相连接，所述的修调值合成单元的输出端作为所述的电压修调值控制子模块的第一输出端；
当所述的系统处于正常工作模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值载入单元输出的第一修调值作为所述的电压修调值；
当所述的系统处于基准电压测试模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值可变单元输出的第二修调值作为所述的电压修调值。
在该实施例中，所述的修调值载入单元包含了修调值存储子单元及修调值读出逻辑，该修调值载入单元的结构为现有技术中待修调功能的集成电路中均具备的功能结构，所述的修调值载入单元用于接收来自修调值写入模块传输过来的烧录控制信号，完成相应电压修调值的写入，并输出对应的第一修调值给所述的修调值合成单元，该第一修调值仅在系统处于正常工作模式下，被修调值合成单元作为电压修调值传输给基准电压发生模块。
所述的修调值可变单元负责在系统处于基准电压测试模式下筛选出合适的第二修调值作为电压修调值，即当系统处于基准电压测试模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值可变单元输出的第二修调值作为所述的电压修调值。该修调值可变单元根据电压比较子模块传输的电压修调控制信号来生成对应的第二修调值，所述的电压修调控制信号包括待修调基准电压偏大的相关信号、待修调基准电压偏小的相关信号一级待修调基准电压在规范内等控制信号，修调值可变单元根据接收到的电压修调控制信号输出对应的第二修调值传输给所述的修调值合成单元，由修调值合成单元将该第二修调值作为电压修调值传输给基准电压发生模块对之前的待修调基准电压进行调校，经过多次迭代，最终选定满足振荡基准电压落在目标修调精度范围内的电压修调值。
本发明的用于基准电压修调的系统中的修调值可变单元可根据实际的计算方式的不同选择不同的硬件模块来执行其功能。
当电压修调值选择采用穷举法来挑选时，该修调值可变单元可采用一个M-bit的计数器来构成；
当电压修调值选择采用逐次逼近法来挑选时，该修调值可变单元可采用一个RS触发器阵列来构成；
当电压修调值选择采用查表计算算法来挑选时，该修调值可变单元可采用一个加法器来构成；
具体的算法可根据实际基准电压修调设定方式及目标基准电压大小做相应的选择，由于穷举法的实用性最广，因此，下面以穷举法为例进行对应的说明：
采用穷举法筛选第二修调值就是采用遍历所有修调值组合形式的待修调基准电压，从中筛选出符合目标基准滴啊呀范围的电压修调值。如图5所示，在该实施例中，所述的修调值可变单元包括一计数器，该计数器为M-bit的计数器，M的具体取值由电压修调值的位数决定，即M的取值等于电压修调值的位数。所述的计数器的输入端作为所述的修调值可变单元的第二输入端，所述的计数器的输出端作为所述的修调值可变单元的输出端，输出第二修调值，所述的计数器的复位端与复位信号相连接。
该计数器的在系统处于基准电压测试模式下时，每当将待修调基准电压与系统预设的目标基准电压进行一次对比，得到当前待修调基准电压不符合目标基准电压范围时，形成一次有效计数，当将待修调基准电压与系统预设的目标基准电压进行对比时得到当前修调基准电压符合目标基准电压范围时，结束计数，将当前获得的第二修调值作为最终的电压修调值进行保持。
下面结合具体数值，进一步对该计数器的工作过程进行说明：
预期的待修调基准电压的目标值为2V，系统预设的测试精度值X为1％，修调位共5-bit，其中，所述的修调位指基准电压发生模块所自带的电压调整位。当将预期的目标修调范围设定为目标值的±10％的浮动范围时，可知，基准电压比较子模块测量的结果的目标值A＝512，基准电压测试结果的上限值为517，基准电压测试结果的下限值＝507，此时，修调值可变单元为一个5-bit计数器，当计数值大于517或507时，每次判断后，计数器将形成一次有效计数，当待修调基准电压随电压修调值变化，落入507到517这个区间范围内时，计数器停止计数，维持该电压修调值，采用该5-bit计数器可以做25＝32次对待基准电压的校准测试，最大测试时间为25us×32＝800us。
本实施例中的修调值写入模块一般采用烧录控制模块实现其功能，但本发明中的烧录控制模块与现有技术中的电压修调电路中的烧录控制模块的区别在于：
本发明中的修调值写入模块中的数据并非由外部测试仪给定，而是由内部的电压修调值控制子模块给出，同时该修调值写入模块接收来自电压修调值控制子模块的读出时序，可自动比较写入后的数据与电压修调值控制子模块给出的数据，指示写入数据的正确性，仅当修调值存储子单元的读出数据与基准电压修调值控制模块给出的数据一致时，烧录结果才指示通过，其中，所述的数据是指通过烧录时序写入到电路内部非挥发性存储器中的数据。
本发明中的基准修调电路用于普通集成电路中时，本发明中的基准修调电路中的各个模块的功能可由一般的集成电路中所具备的功能模块来实现。因此，可直接采用普通集成电路中的功能模块来执行本技术方案中的基准电压修调电路中各功能模块所实现的功能。例如，可采用普通集成电路中的自带的模数转换模块来执行基准电压测试子模块来实现的功能，完成相关的基准电压的测试，而电压比较子模块可采用现有技术中的数字比较电路来实现其功能，电压修调值控制子模块可采用计数器实现其功能。即当将本发明中的基准电压修调电路用于集成电路中时，可通过在集成电路中内置基准电压测试子模块、电压比较子模块，实现对待修调基准电压的测试及判断，通过集成电路中内置的电压修调值控制子模块来来实现在电路内部改变待基准电压修调值，通过内置修调值写入模块实现电压修调值的内部写入及校验，系统中的测试仪仅需输入参考电压及固定测试时序，控制基准电压修调电路按预设方式工作，集成电路内置的基准电压修调电路将自动完成对待修调基准电压的计量及检测，电压修调值控制子模块将完成对电压修调值的筛选，筛选完成后，测试仪给出烧录时序，开始写入电压修调值，电压修调值写入成功与否及待测试基准电压是否落在目标基准电压范围内都可以通过判断相应输出结果得知。本发明实现了将需要进行基准电压修调测试功能的测试仪转换为仅具备普通的功能测试功能的测试仪，极大的大大简化了整个系统的测试过程，提升了测试效率，另外由于待修调基准电压判断直接由电路内置的硬件完成，测试可靠性也得到提升。
在一基于上述实施例中的系统实现基准电压修调的方法中，当系统同时对多个待测电路进行基准电压修调时，只需将测试仪接同时与多个待测电路相连接即可，每路待测电路中的基准电压修调电路均执行对该待测电路的基准电压的修调，其中，其操作过程可参阅图6所示，其中待测电路1、待测电路2、待测电路N分别为一路待测电路，当所述的系统对一待测电路进行基准电压修调时，如图7所示，所述的方法包括：
所述的测试仪驱动所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块生成的待修调基准电压进行修调，由所述的基准电压修调值计算模块将最终的修调结果及计算得到的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪，由所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中，具体包括以下步骤：
(1)所述的测试仪向所述的基准电压发生模块及基准电压修调电路发送所述的测试时序并将所述的参考电压发送给所述的基准电压修调电路，具体包括以下步骤：
(1.1)所述的测试仪向所述的基准电压发生模块、基准电压修调值计算模块、及修调值写入模块发送所述的测试时序，驱动所述的基准电压修调电路开始工作；
(1.2)所述的测试仪向所述的基准电压修调值计算模块发送所述的参考电压；
(2)所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块发出的待修调基准电压进行测试，得到电压比较结果，将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪，并在修调过程中给出对应的电压修调值给所述的基准电压发生模块，使所述的基准电压发生模块对所述的待修调基准电压进行修调，具体包括以下步骤：
(2.1)所述的基准电压发生模块输出所述的待修调基准电压；
(2.2)所述的基准电压测试子模块根据所述的待修调基准电压及所述的参考电压，计算得出基准电压测试结果，并将所述的基准电压测试结果传输给所述的电压比较子模块，即图7中的计算基准电压测试结果；
(2.3)所述的电压比较子模块将所述的基准电压测试结果与所述的电压比较子模块内置的基准电压测试结果阈值进行比较，判断当前所述的待修调基准电压是否符合规范，得到所述的电压比较结果，即图7中的判断是否符合规范；
(2.4)所述的电压比较子模块根据所述的电压比较结果得出对应的电压修调控制信号，并将所述的电压修调控制信号传输给所述的电压修调值控制子模块，同时，将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪；
(2.4)若当前所述的待修调基准电压不符合规范则继续后续步骤(2.5)，否则继续后续步骤(2.9)；
(2.5)判断当前所述的电压比较子模块比较次数是否达到系统预设的比较次数的上限值，即图7中的是否达到指定次数；
(2.6)若当前所述的电压比较子模块比较次数达到系统预设的比较次数的上限值则判定基准电压修调失败，并由所述的电压子模块将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪；否则继续后续步骤(2.7)；
(2.7)所述的电压修调值控制子模块根据所述的电压修调控制信号生成所述的对应的电压修调值，并将所述的对应的电压修调值传输给所述的基准电压发生模块，即图7中的调整电压校校准值；
(2.8)所述的基准电压发生模块根据所述的对应的电压修调值对所述的待修调基准电压进行修调，并将经过修调后的待修调基准电压代替前一次生成的所述的待修调基准电压后，返回步骤(2.1)；
(2.9)所述的电压修调值控制子模块锁定与当前所述的待修调基准电压对应的电压修调值，即图7中的锁定校准值；
(2.9.1)判断当前所述的电压比较子模块比较次数是否达到系统预设的比较次数的上限值；
(2.9.2)若当前所述的电压比较子模块比较次数达到系统预设的比较次数的上限值则继续后续步骤(2.10)，否则将当前所述的电压比较子模块比较次数进行加一计数，并返回上述步骤(2.9.1)，即图7中的判断是否达到指定次数；(该操作步骤是为了实现同时对多待测电路进行检查时，令所有的待测电路中的基准电压修调电路的测试步调保持一致，避免在有的多待测电路找到修调值较早，但有的较晚的情况下出现测试步调不一致的情况，通过循环次数的设定，可以将寻找电压修调值的时间统一，便于电压修调值统一写入时序下发后，各个待测电路都已经找到各自的电压修调值)；
(2.10)所述的电压修调值控制子模块将当前所述的待修调基准电压作为所述的合适的电压修调值，并将锁定的与当前所述的待修调基准电压对应的电压修调值作为所述的最终的修调结果后，继续后续步骤(3)；
(3)所述的基准电压修调值计算模块将得到的所述的最终的修调结果及计算得到的所述的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪；
(4)所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中，即图7中的执行校准值写入过程；
(5)所述的修调值写入模块判断是否成功将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中，即图7中的判断写入是否正确；
(6)若成功将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中，则判定基准电压修调成功，否则判定所述的基准电压修调失败。
采用本发明的用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法，将现有技术中由传统测试仪完成的基准电压校准工作改为由本发明的用于基准电压修调的系统中的基准电压修调电路来完成，简化测试仪的工作内容，令测试仪仅需负责测试信号的输入及对比即可，整个系统中的基准电压校准工作由硬件结构即可完成，无需辅助的测试程序，且由于校准工作均在电路内部执行，因此校准结果受外部干扰影响小，准确度高。该用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法具备成本低、结构简单、测试速度高、精度准的优点，易于实现，适用性广泛。
在此说明书中，本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。
Claims (11)
1.一种用于基准电压修调的系统，其特征在于，所述的系统包括测试仪及至少一个基准电压修调电路；
每一个所述的基准电压修调电路均集成于一对应的包括了模数转换模块的待测电路内部，所述的测试仪设置于所述的待测电路外部，所述的待测电路包括基准电压发生模块；
所述的基准电压修调电路包括基准电压修调值计算模块及修调值写入模块；
所述的测试仪的第一输出端分别向所述的基准电压发生模块的输入端、基准电压修调值计算模块的第一输入端、基准电压修调值计算模块的第二输入端以及修调值写入模块的第一输入端发送测试时序；
所述的测试仪的第二输出端向所述的基准电压修调值计算模块的第三输入端发送参考电压；
所述的基准电压发生模块的输出端向所述的基准电压修调值计算模块的第四输入端发送待修调基准电压；
所述的基准电压修调值计算模块的第一输出端同时与所述的基准电压发生模块的反馈端及所述的修调值写入模块的第二输入端相连接，用于向所述的基准电压发生模块及修调值写入模块发送电压修调值，所述的基准电压修调值计算模块的第二输出端与所述的修调值写入模块的第三输入端相连接，用于向所述的修调值写入模块发送读出时序，所述的基准电压修调值计算模块的反馈端与所述的修调值写入模块的第一输出端相连接；
所述的基准电压修调值计算模块的第三输出端及所述的修调值写入模块的第二输出端均与所述的测试仪的输入端相连接。
2.根据权利要求1所述的用于基准电压修调的系统，其特征在于，所述的基准电压修调值计算模块包括基准电压测试子模块、电压比较子模块及电压修调值控制子模块，其中，所述的基准电压测试子模块由所述的待测电路中的模数转换模块构成；
所述的基准电压测试子模块的第一输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第一输入端，所述的基准电压测试子模块的第二输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第三输入端，所述的基准电压测试子模块的第三输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第四输入端，所述的基准电压测试子模块用于根据所述的参考电压及待修调基准电压得出基准电压测试结果；
所述的电压比较子模块的输入端与所述的基准电压测试子模块的输出端相连接，所述的电压比较子模块的第一输出端与所述的电压修调值控制子模块的第一输入端相连接，所述的电压比较子模块的第二输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第三输出端与所述的测试仪的输入端相连接；
所述的电压修调值控制子模块的第二输入端作为所述的基准电压修调值计算模块的第二输入端，所述的电压修调值控制子模块的第一输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第一输出端，用于将所述的电压修调值控制子模块输出的电压修调值输送给所述的基准电压发生模块及修调值写入模块；所述的电压修调值控制子模块的第二输出端作为所述的基准电压修调值计算模块的第二输出端；所述的电压修调值控制子模块的反馈端作为所述的基准电压修调值计算模块的反馈端。
3.根据权利要求2所述的用于基准电压修调的系统，其特征在于，所述的电压比较子模块包括基准电压上限检测单元、基准电压下限检测单元及基准电压检测结果生成单元；
所述的基准电压上限检测单元的输入端及基准电压下限检测单元的输入端共同作为所述的电压比较子模块的输入端；
所述的基准电压上限检测单元的输出端及基准电压下限检测单元的输出端同时与所述的基准电压检测结果生成单元的输入端相连接，所述的基准电压检测结果生成单元的输出端同时作为所述的电压比较子模块的第一输出端和所述的电压比较子模块的第二输出端。
4.根据权利要求2所述的用于基准电压修调的系统，其特征在于，所述的电压修调值控制子模块包括修调值载入单元、修调值可变单元及修调值合成单元；
所述的修调值载入单元的第一输入端与所述的修调值可变单元的第一输入端共同作为所述的电压修调值控制子模块的第二输入端；
所述的修调值载入单元的第一输出端作为所述的电压修调值控制子模块的第二输出端；
所述的修调值载入单元的第二输入端作为所述的电压修调值控制子模块的反馈端；
所述的修调值可变单元的第二输入端作为所述的电压修调值控制子模块的第一输入端；
所述的修调值合成单元的输入端同时与所述的修调值载入单元的第二输出端和所述的修调值可变单元的输出端相连接，所述的修调值合成单元的输出端作为所述的电压修调值控制子模块的第一输出端；
当所述的系统处于正常工作模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值载入单元输出的第一修调值作为所述的电压修调值；
当所述的系统处于基准电压测试模式下，所述的修调值合成单元选择所述的修调值可变单元输出的第二修调值作为所述的电压修调值。
5.根据权利要求4所述的用于基准电压修调的系统，其特征在于，所述的修调值可变单元包括一计数器，所述的计数器的输入端作为所述的修调值可变单元的第二输入端，所述的计数器的输出端作为所述的修调值可变单元的输出端，所述的计数器的复位端与复位信号相连接。
6.一种基于权利要求1～5中任一项所述的系统实现基准电压修调的方法，其特征在于，当所述的系统对待测电路进行基准电压修调时，所述的方法包括：
所述的测试仪驱动所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块生成的待修调基准电压进行修调，由所述的基准电压修调值计算模块将最终的修调结果及计算得到的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪，由所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中。
7.根据权利要求6所述的实现基准电压修调的方法，其特征在于，
所述的测试仪驱动所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块生成的待修调基准电压进行修调，由所述的基准电压修调值计算模块将最终的修调结果及计算得到的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪，由所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中包括以下步骤：
(1)所述的测试仪向所述的基准电压发生模块及基准电压修调电路发送所述的测试时序，并将所述的参考电压发送给所述的基准电压修调电路；
(2)所述的基准电压修调值计算模块对所述的基准电压发生模块发出的待修调基准电压进行测试，得到电压比较结果，将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪，并在修调过程中给出对应的电压修调值给所述的基准电压发生模块，使所述的基准电压发生模块对所述的待修调基准电压进行修调；
(3)所述的基准电压修调值计算模块将得到的所述的最终的修调结果及计算得到的所述的合适的电压修调值传输至所述的修调值写入模块及所述的测试仪；
(4)所述的修调值写入模块将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中。
8.根据权利要求7所述的实现基准电压修调的方法，其特征在于，所述的步骤(1)包括以下步骤：
(1.1)所述的测试仪向所述的基准电压发生模块、基准电压修调值计算模块、及修调值写入模块发送所述的测试时序，驱动所述的基准电压修调电路开始工作；
(1.2)所述的测试仪向所述的基准电压修调值计算模块发送所述的参考电压。
9.根据权利要求7所述的实现基准电压修调的方法，其特征在于，所述的基准电压修调值计算模块包括基准电压测试子模块、电压比较子模块及电压修调值控制子模块，所述的电压修调值控制子模块包括修调值载入单元、修调值可变单元及修调值合成单元，所述的修调值可变单元构成；所述的步骤(2)包括以下步骤：
(2.1)所述的基准电压发生模块输出所述的待修调基准电压；
(2.2)所述的基准电压测试子模块根据所述的待修调基准电压及所述的参考电压，计算得出基准电压测试结果，并将所述的基准电压测试结果传输给所述的电压比较子模块；
(2.3)所述的电压比较子模块将所述的基准电压测试结果与所述的电压比较子模块内置的基准电压测试结果阈值进行比较，判断当前所述的待修调基准电压是否符合规范，得到所述的电压比较结果；
(2.4)所述的电压比较子模块根据所述的电压比较结果得出对应的电压修调控制信号，并将所述的电压修调控制信号传输给所述的电压修调值控制子模块，同时，将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪；
(2.4)若当前所述的待修调基准电压不符合规范则继续后续步骤(2.5)，否则继续后续步骤(2.9)；
(2.5)判断当前所述的电压比较子模块比较次数是否达到系统预设的比较次数的上限值；
(2.6)若当前所述的电压比较子模块比较次数达到系统预设的比较次数的上限值则判定基准电压修调失败，并由所述的电压子模块将所述的电压比较结果传输给所述的测试仪；否则继续后续步骤(2.7)；
(2.7)所述的电压修调值控制子模块根据所述的电压修调控制信号生成所述的对应的电压修调值，并将所述的对应的电压修调值传输给所述的基准电压发生模块；
(2.8)所述的基准电压发生模块根据所述的对应的电压修调值对所述的待修调基准电压进行修调，并将经过修调后的待修调基准电压代替前一次生成的所述的待修调基准电压后，返回步骤(2.1)；
(2.9)所述的电压修调值控制子模块锁定与当前所述的待修调基准电压对应的电压修调值；(2.10)所述的电压修调值控制子模块将当前所述的待修调基准电压作为所述的合适的电压修调值，并将锁定的与当前所述的待修调基准电压对应的电压修调值作为所述的最终的修调结果后，继续后续步骤(3)。
10.根据权利要求9所述的实现基准电压修调的方法，其特征在于，当所述的系统同时对数个所述的待测电路进行基准电压修调时，所述的步骤(2.9)和步骤(2.10)之间还包括以下步骤：
(2.9.1)所述的电压修调值控制子模块判断当前所述的电压比较子模块比较次数是否达到系统预设的比较次数的上限值；
(2.9.2)若当前所述的电压比较子模块比较次数达到系统预设的比较次数的上限值则继续后续步骤(2.10)；否则将当前所述的电压比较子模块比较次数进行加一计数，并返回上述步骤(2.9.1)。
11.根据权利要求7所述的实现基准电压修调的方法，其特征在于，所述的步骤(4)之后还包括以下步骤：
(5)所述的修调值写入模块判断是否成功将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中；
(6)若成功将所述的合适的电压修调值写入所述的测试仪中，则判定基准电压修调成功，否则判定所述的基准电压修调失败。
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| CN201811637845.6A CN111381623A (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法 |
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|---|---|---|---|
| CN201811637845.6A CN111381623A (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法 |
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|---|---|
| CN111381623A true CN111381623A (zh) | 2020-07-07 |
Family
ID=71220557
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201811637845.6A Pending CN111381623A (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN111381623A (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112650639A (zh) * | 2020-12-18 | 2021-04-13 | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 | 一种可以实现传感器自动修调的修调系统 |
| CN113938125A (zh) * | 2021-10-19 | 2022-01-14 | 浙江大学 | 多通道可配置可测试与修调的数字信号隔离器 |
| CN115574962A (zh) * | 2021-06-21 | 2023-01-06 | 辉芒微电子(深圳)股份有限公司 | 一种温度传感器及其校正方法 |
Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0511872A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-22 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体装置 |
| US20090058516A1 (en) * | 2007-08-28 | 2009-03-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sensor apparatus having sensor element |
| CN105159379A (zh) * | 2015-08-12 | 2015-12-16 | 周海波 | 一种基于多电压基准的校准装置及方法 |
| CN105759891A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-07-13 | 成都信息工程大学 | 一种用于基准源的校准方法 |
| CN105807133A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-07-27 | 无锡华润矽科微电子有限公司 | 实现频率修调集成化控制的系统 |
| CN106125809A (zh) * | 2016-08-31 | 2016-11-16 | 昆山国显光电有限公司 | 电压校准电路及其烧录设备 |
| US9705412B2 (en) * | 2015-02-26 | 2017-07-11 | Stmicroelectronics S.R.L. | Pulsed feedback switching converter |
| US9961729B1 (en) * | 2017-03-21 | 2018-05-01 | Dialog Semiconductor (Uk) Limited | Trimming system and method for regulated current mirrors |
| CN108198536A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 基于时序控制器的电压校准方法及校准系统 |
| CN108491023A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-09-04 | 电子科技大学 | 一种低功耗高精度的电流基准电路 |
| CN108572314A (zh) * | 2018-05-29 | 2018-09-25 | 华大半导体有限公司 | 一种电流自修调芯片及其方法 |
| CN108681359A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-10-19 | 电子科技大学 | 一种高精度低失调的带隙基准电压电路 |
| CN108733128A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-11-02 | 电子科技大学 | 一种超低功耗的修调码值产生电路 |
| CN108983860A (zh) * | 2018-09-18 | 2018-12-11 | 杭州洪芯微电子科技有限公司 | 基于电压校准的电流自检调节电路 |
-
2018
- 2018-12-29 CN CN201811637845.6A patent/CN111381623A/zh active Pending
Patent Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0511872A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-22 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 半導体装置 |
| US20090058516A1 (en) * | 2007-08-28 | 2009-03-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sensor apparatus having sensor element |
| CN105807133A (zh) * | 2014-12-30 | 2016-07-27 | 无锡华润矽科微电子有限公司 | 实现频率修调集成化控制的系统 |
| US9705412B2 (en) * | 2015-02-26 | 2017-07-11 | Stmicroelectronics S.R.L. | Pulsed feedback switching converter |
| CN105159379A (zh) * | 2015-08-12 | 2015-12-16 | 周海波 | 一种基于多电压基准的校准装置及方法 |
| CN105759891A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-07-13 | 成都信息工程大学 | 一种用于基准源的校准方法 |
| CN106125809A (zh) * | 2016-08-31 | 2016-11-16 | 昆山国显光电有限公司 | 电压校准电路及其烧录设备 |
| US9961729B1 (en) * | 2017-03-21 | 2018-05-01 | Dialog Semiconductor (Uk) Limited | Trimming system and method for regulated current mirrors |
| CN108198536A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-06-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 基于时序控制器的电压校准方法及校准系统 |
| CN108491023A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-09-04 | 电子科技大学 | 一种低功耗高精度的电流基准电路 |
| CN108681359A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-10-19 | 电子科技大学 | 一种高精度低失调的带隙基准电压电路 |
| CN108733128A (zh) * | 2018-05-22 | 2018-11-02 | 电子科技大学 | 一种超低功耗的修调码值产生电路 |
| CN108572314A (zh) * | 2018-05-29 | 2018-09-25 | 华大半导体有限公司 | 一种电流自修调芯片及其方法 |
| CN108983860A (zh) * | 2018-09-18 | 2018-12-11 | 杭州洪芯微电子科技有限公司 | 基于电压校准的电流自检调节电路 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 赵海等: "一种适用于超低功耗MCU的振荡器设置", 《电路设置》 * |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112650639A (zh) * | 2020-12-18 | 2021-04-13 | 中国电子科技集团公司第四十七研究所 | 一种可以实现传感器自动修调的修调系统 |
| CN115574962A (zh) * | 2021-06-21 | 2023-01-06 | 辉芒微电子(深圳)股份有限公司 | 一种温度传感器及其校正方法 |
| CN115574962B (zh) * | 2021-06-21 | 2024-02-23 | 辉芒微电子(深圳)股份有限公司 | 一种温度传感器及其校正方法 |
| CN113938125A (zh) * | 2021-10-19 | 2022-01-14 | 浙江大学 | 多通道可配置可测试与修调的数字信号隔离器 |
| CN113938125B (zh) * | 2021-10-19 | 2023-02-24 | 浙江大学 | 多通道可配置可测试与修调的数字信号隔离器 |
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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