CN105807133B - 实现频率修调集成化控制的系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种实现频率修调集成化控制的系统,系统包括频率修调集成电路,其中:频率测试模块采集频率发生模块输出的频率,并将相应的频率计量结果输出至频率比较模块;频率比较模块对频率计量结果和频率计量理论值进行比较分析,并将相应的频率修调控制信号输出至频率修调值控制模块;频率修调值控制模块根据频率修调控制信号输出相应的频率修调值至频率发生模块。采用本发明的实现频率修调集成化控制的系统,将频率修调测试转换为普通的功能测试的过程,极大的大大简化了测试,提升了测试效率,且由于频率判断直接由电路内置的硬件完成,测试可靠性也得到提升,使频率修调更加便捷高效,且结构简单,易于实现,具有更广泛的应用范围。

Description

实现频率修调集成化控制的系统
技术领域
本发明涉及频率修调技术领域,尤其涉及时钟频率修调技术领域,具体是指一种实现频率修调集成化控制的系统。
背景技术
集成电路设计中一般会集成内部时钟发生器,但由于工艺波动影响,实际生产的频率会在一定范围内波动,为满足实际应用中时钟精度要求,会考虑对频率做修调,频率修调一般依靠测试仪完成。
测试主要包含以下步骤:初始频率采集,确定频率修调值,修调值写入电路。其中,初始频率采集由测试仪完成,得到初始频率后,测试仪通过软件运算,选择合适的修调值,最后通过测试仪将修调值写入管芯,从而完成频率修调。
而一般频率采集需要测试仪中频率测试模块(TMU)来实现,一个TMU在同一时间内仅负责一个管芯频率采集。
另外不同管芯的频率修调值一般会存在差异,即修调值写入过程中,测试仪需要根据当前频率测试结果,选择合适的修调值写入。
随着集成电路设计尺寸的不断缩小,单个晶圆(wafer)管芯数也不断增加,为缩短测试时间,节省测试成本,目前集成电路测试一般会选择多管芯同测。
但是在处理多管芯同测频率项目时,如测试卡板上仅有一个TMU,则频率测仅能试按单管芯方式轮流测试,降低了测试效率;如要依靠TMU实现真正意义多管芯同测,需增加测试卡板上TMU数量,但测试卡板成本成倍提高。
在获取初始频率后,测试仪再经过软件运算处理,选择合适的频率修调值,配合下一步修调值写入的测试过程。即修调过程中,需要软件参与修调值选择,增加了测试程序的复杂程度。修调值写入过程中,在多管芯测试时,需要将不同的修调值写入各个管芯,在一定程度上也增加了测试程序的复杂程度。
综上,当前测试仪在处理频率修调测试方面存在以下问题:
1、频率测试依赖于TMU,在多管芯测试时,面临测试效率低(仅一个TMU)或测试成本高(集成多个TMU)的问题。
2、频率修调值选择依靠软件介入处理,增加了测试程序设计的复杂程度。
3、频率修调值写入在多管芯测试过程中会增加测试程序设计的复杂程度。
发明内容
本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点,提供了一种将复杂的软件频率修调过程转换为普通的模块功能测试,在基本不增加集成电路成本的前提下简化频率修调测试过程,且便于实现多管芯同时修调的实现频率修调集成化控制的系统。
为了实现上述目的,本发明的实现频率修调集成化控制的系统具有如下构成:
该实现频率修调集成化控制的系统,其主要特点是,所述的系统包括频率修调集成电路,所述的频率修调集成电路包括频率发生模块、频率测试模块、频率比较模块和频率修调值控制模块,其中:
所述的频率测试模块,用以采集所述的频率发生模块输出的频率,并将相应的频率计量结果输出至所述的频率比较模块;
所述的频率比较模块,用以对所述的频率计量结果和频率计量理论值进行比较分析,并将相应的频率修调控制信号输出至所述的频率修调值控制模块;
所述的频率修调值控制模块,用以根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的频率发生模块。
进一步地,所述的系统还包括测试仪,所述的频率测试模块为计数器,所述的频率发生模块的输出端与所述的频率测试模块的输入端连接,所述的频率测试模块的输出端与所述的频率比较模块连接,所述的测试仪用以输出基准时钟至所述的频率测试模块的使能端。
进一步地,所述的频率比较模块包括频率上限检测单元,频率下限检测单元和频率检测结果生成单元,其中:
所述的频率上限检测单元,用以将所述的频率计量结果和频率上限理论值进行比较,并将相应的上限比较结果发送至所述的频率检测结果生成单元;
所述的频率下限检测单元,用以将所述的频率计量结果和频率下限理论值进行比较,并将相应的下限比较结果发送至所述的频率检测结果生成单元;
所述的频率检测结果生成单元,用以根据所述的上限比较结果和所述的下限比较结果生成相应的频率修调控制信号,并将该频率修调控制信号发送至所述的频率修调值控制模块。
进一步地,所述的频率修调值控制模块包括修调值可变单元和修调值合成单元,其中:
所述的修调值可变单元,用以根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的修调值合成单元;
所述的修调值合成单元,用以根据系统当前所处的状态判断是否输出所述的修调值可变单元发送的频率修调值至所述的频率发生模块。
其中,所述的修调值可变单元为计数器、RS触发器阵列或加法器,所述的频率修调控制信号为频率偏小控制信号、频率偏大控制信号或频率通过控制信号。
更进一步地,所述的频率修调值控制模块还包括修调值载入单元,所述的频率修调集成电路还包括烧录控制模块,其中:
所述的修调值可变单元判断所述的频率修调控制信号是否为频率通过控制信号,如果是则将当前的频率修调值锁定并发送至所述的烧录控制模块,否则根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的修调值合成单元;
所述的烧录控制模块,用以在接收到所述的修调值可变单元发送的频率修调值后,将该频率修调值烧录至所述的修调值载入单元。
更进一步地,所述的修调值合成单元用以根据系统当前所处的状态判断是否输出所述的修调值可变单元发送的频率修调值,具体为:
所述的修调值合成单元判断所述的系统是否处于频率修调状态,如果是,则输出所述的修调值可变单元发送的频率修调值至所述的频率发生模块,否则读取所述的修调值载入单元的频率修调值,并将该频率修调值发送至所述的频率发生模块。
更进一步地,所述的修调值载入单元还包括修调值存储子单元,所述的修调值存储子单元用以存储所述的烧录控制模块烧录的频率修调值。
更进一步地,所述的烧录控制模块读取所述的修调值存储子单元存储的频率修调值,并与所述的修调值可变单元发送的频率修调值进行比较判断烧录是否成功。
采用了本发明的实现频率修调集成化控制的系统,通过内置频率测试及频率比较模块,实现频率内测试及判断,通过内置修调值控制电路来实现内部改变频率修调值,通过内置烧录控制模块实现修调值的内部写入及校验,在基本不影响电路成本的前提下,将频率测试模块及频率判断模块集成到电路内部,频率采集和频率判断均由硬件完成,测试仪仅需要负责信号的输入及比对,频率测试不依赖于测试仪的频率测试模块,实质将频率测试转化为普通的功能测试,提高单管芯和多管芯同测做频率修调时的测试效率及可靠性,更加便捷高效,且结构简单,易于实现,具有更广泛的应用范围。
附图说明
图1为本发明的实现频率修调集成化控制的系统的结构框图。
图2为本发明的实现频率修调集成化控制的系统的频率测试模块的结构框图。
图3为本发明的实现频率修调集成化控制的系统的频率比较模块的结构框图。
图4为本发明的实现频率修调集成化控制的系统的频率修调值控制模块的结构框图。
图5为本发明采用穷举算法时修调值可变单元的结构框图。
图6为本发明采用逐次逼近算法时修调值可变单元的结构框图。
具体实施方式
为了能够更清楚地描述本发明的技术内容,下面结合具体实施例来进行进一步的描述。
由于频率修调包含初始频率采集、确定频率修调值和修调值写入电路三个主要过程,本发明针对每个过程中当前测试存在的问题分别进行改善
1)针对初始频率采集过程中的测试效率低(仅一个TMU)或测试成本高(集成多个TMU)的问题,本发明通过将频率测试电路集成到电路内部来解决此问题。
2)针对确定频率修调值过程中的需要通过分析测试仪采集的初始频率来确定,势必存在复杂测试程序设计的问题,本发明将频率修调值确定逻辑集成到电路内部,由内部修调确定模块完成修调值筛选。
3)针对修调值写入过程中,测试仪根据不同的修调值需要给出不同测试向量并写入集成电路,同样存在复杂测试程序设计的问题,本发明将需要写入的修调值,直接通过内部控制逻辑施加,不需要通过测试仪施加,大大简化了测试程序的设计。
如图1所示,在一种具体实施方式中,本发明的系统包括时钟发生器(即频率发生模块)、频率测试模块、频率比较模块、频率修调值控制模块、烧录控制模块和测试仪,以下对各模块的功能进行简述:
时钟发生器:频率修调集成电路内部的时钟生成模块,频率可通过修调值变化调整,输出的频率即待修调频率。
频率测试模块:内置于频率修调集成电路内部的测试模块,负责完成待测频率采集。
频率比较模块:内置于频率修调集成电路内部的测试模块,负责完成对频率测试模块输出的频率测试结果进行判断处理,输出频率测试是否通过的控制信号。
频率修调值控制模块:内置于频率修调集成电路内部,负责向时钟发生器提供修调值。
烧录控制模块:内置于频率修调集成电路内部,负责将修调值写入频率修调值控制模块的模块。
测试仪:集成电路测试设备,负责烧录及测试时序给定,测试结果比对。
由此可知,本发明通过内置频率测试及频率比较模块,实现频率内测试及判断,通过内置修调值控制电路来实现内部改变频率修调值,通过内置烧录控制模块实现修调值的内部写入及校验,测试仪仅需输入基准时钟,控制频率测量模块的使能时间,电路内置的频率测试模块将自动完成频率计量及检测,频率修调控制模块将完成修调值筛选,筛选完成后,测试仪给出烧录时序,开始写入修调值,修调值写入成功与否及频率是否落在目标频率范围内都可以通过判断相应输出结果得知。
本发明实现了将频率修调测试转换为普通的功能测试的过程,极大的大大简化了测试,提升了测试效率,另外由于频率判断直接由电路内置的硬件完成,测试可靠性也得到提升。
在一种更优选的实施方式中,如图2所示,频率测试模块实质为一个N-bit计数器,待测试频率接计数器时钟输入端;由于使能时间需要精确控制,故采用测试仪输出基准时钟并与计数器使能控制端连接,当测试仪输出的基准时钟使能计数器信号时,开始测量频率,当测试仪输出的基准时钟禁止计数器信号时,频率计量结果保持;计数器输出即待测试频率计量结果。
以下对频率测试原理进行详细阐述:
假设待测试频率目标值为f,设定计数器计数至A时,对应的频率为f,则对应计数器使能时间T=A/f。
实际测试过程中,计数器使能时间T由测试仪控制(对应基准时钟),在计数器使能期间,若计数结果大于A,则频率高于目标频率f;若计数结果小于A,则频率低于目标频率f;
通过频率测试模块后,频率转换为计数器计数结果,方便后续频率判断模块处理。
本发明中频率测试模块可通过调整计数器位数,实现频率测量精度的调整,精度调整原理简述:
假设待测目标频率需要达到的测试精度为X,则设定目标频率下计数值A,则仅需满足1/A≤X即可,可知A≥1/X,在设计计数器时,仅需保证2N≥A,即可以满足测量精度要求,N值越大测量精度越高。
另外,在确定计数器位数时还需要结合设计中目标频率可能出现的最大值fmax,求出对应的Amax,Amax/fmax=A/f,故Amax=A×fmax/f,故Amax≥fmax/X×f,并需要保证2N≥Amax;
满足精度及最大值要求后,N一般选取最小值,保证设计面积最小。
结合上述原理,本发明的一个具体实施例如下:
假设待测频率目标值4M,频率上限5.2M,要求测量精度1%
从给定情况易知f=4M,fmax=5.2M,X=1%,由上文原理描述,容易得出:
A≥1/X=100,Amax≥130,考虑最小化设计,取A=100,Amax=130,由于2N≥Amax,故N≥8,计数器使能时间T=A/f=25us,即要到达测试目标频率4M,频率上限5.2M,测量精度1%的测试要求,频率测试模块只需要设计一个8-bit的计数器即可满足频率测量要求,单次频率测试时间为25us。
如图3所示,在另一种更优选的实施方式中,频率比较模块包含频率上限检测单元,频率下限检测单元和频率检测结果生成单元,从频率测试模块输出的频率计量结果接至频率上限检测单元和频率下限检测单元,频率上限检测单元和频率下限检测单元输出的检测结果接至频率检测结果生成单元,频率检测结果生成模块根据接收的检测结果,判断频率测试是否通过。
频率上/下限检测单元根据频率计量结果与预设上/下限(即频率上/下限理论值)比较,输出频率符合或不符合预设上/下限的判定结果。
频率上/下限检测单元由纯组合逻辑实现,实时判断频率计量结果,反应速度快,工作可靠。
频率检测结果生成单元通过组合逻辑(例如逻辑“与”或者逻辑“或”)的方式,将频率上/下限检测单元输出的判定结果合成为最终频率测试是否通过的控制信号,仅当频率上/下限检测模块输出的判定结果均为符合的情况下,频率检测结果生成模块才输出频率测试通过的控制信号。
基于上述内容,其对应的一个具体实施例如下:
假设待测频率目标值4M,要求频率上限4.4M,频率下限3.6M,要求测量精度1%,由上文已求出A=100。
上/下限检测值由Amax计算方式演绎,易得出A上限=110,A下限=90,
若频率计量结果大于110,则频率上限检测单元输出频率不符合规范的判定结果,频率下限检测单元输出频率符合规范的判定结果,频率检测结果生成单元将输出频率测试不通过的控制信号(即频率偏大控制信号);
若频率计量结果小于90,则频率上限检测单元输出频率符合规范的判定结果,频率下限检测单元输出频率不符合规范的判定结果,频率检测结果生成单元将输出频率测试不通过的控制信号(即频率偏小控制信号);
若频率计量结果小于110且大于90,则频率上限检测单元输出频率符合规范的判定结果,频率下限检测单元输出频率符合规范的判定结果,频率检测结果生成单元将输出频率测试通过控制信号。
如图4所示,在另一个更优选的实施方式中,频率修调值控制模块包含正常工作条件下的修调值载入单元,频率测试条件下的修调值可变单元,及修调值合成单元,其中:
修调值合成单元,输入接收来自修调值载入单元及修调值载可变单元产生的修调值,输出连接到时钟发生模块,并根据系统当前所处的状态,决定修调值的传输内容,具体为:
当在正常工作条件下,时钟发生模块的修调值由修调值载入单元提供,在频率测试模式下,时钟发生模块的修调值由修调值可变单元提供。
修调值载入单元,包含修调值存储子单元及修调值读出逻辑(在正常的带修调功能的集成电路中都会存在),其输入接收来自烧录控制模块的信号,完成相应修调值的写入,其输出即修调值,一般直接连接到时钟发生模块,在本发明中其输出连接到修调值合成单元,仅在正常工作条件下,修调值才可以传输到时钟发生模块,在频率测试模式下,时钟发生模块的修调值将从修调值可变单元获取。
修调值可变单元负责筛选适当的频率修调值,其输入端接收来自频率比较模块产生的频率修调控制信号,包含频率偏大,频率偏小及频率通过等控制信号,输出相应的测试频率修调值,连接至修调值合成单元,通过修调值合成单元传送至时钟发生模块,并在接收到频率通过控制信号后将当前的修调值锁定并发送给烧录控制模块,确保最终选定的修调值能够使振荡频率落在目标修调精度范围内。根据修调值计算方式的不同此模块可以有不同的设计,例如:
当修调值选择采用穷举算法时,此模块可以设计成一个N-bit的计数器;
当修调值选择采用逐次逼近算法时,此模块可以设计成一个RS触发器阵列;
当修调值选择采用查表计算算法时,此模块可以设计成一个加法器;
具体算法选择可根据实际振荡器修调设定方式及目标频率大小做相应选择。
首先,如图5所示,以修调值选择采用穷举算法(适用性广)为例进行如下说明:
使用穷举法筛选修调值,顾名思义,测试将遍历所有修调值组合形成的频率,从中筛选符合目标频率范围的修调值。本发明中使用穷举法筛选修调值时,修调值可变单元实质为一个M-bit的计数器,其中M取值与修调值的位数相等即可。
M-bit的计数器的复位端接通用复位控制信号,时钟端接收频率修调控制信号,其输出即频率修调值,接至频率修调值合成单元,如果当前频率修调值下的测试频率不符合目标频率范围,将形成一次有效计数;如果当前频率修调值下的测试频率符合目标频率范围,将结束计数,频率修调值保持。
举例说明:对于中心频率为4M,测量精度要求1%,修调位共5-bit,目标修调范围为±10%的频率修调测试时,承接上文,可设计A=100,A上限=110,A下限=90,修调值可变模块设计成一个5-bit计数器,当计数值大于110或小于90时,每次判断后,计数器将形成一次有效计数,当频率随修调值变化落在大于90或小于110的范围时,计数器将停止计数,修调值维持。实际测试过程中,可以做25=32次频率测试,测试时间25us*32=800us。
其次,如图6所示,以修调值选择采用逐次逼近算法为例进行如下说明:
对于一个N-bit校正位的振荡器,采用逐次逼近算法,仅需做N次频率修调即可以找到最佳修调值。采用逐次逼近算法实现频率修调,其振荡器修调设计也必须相应为逐次逼近式修调设计,如:对于一个带5bit逐次逼近型修调控制的振荡器,每个bit对应的可控制频率权重是独立且不同的,此形式的振荡器适合使用逐次逼近算法寻找最佳修调值。
具体实施方式可以通过RS触发阵列实现,如图6中虚线框出部分,其中:
RS阵列位选择子单元,实现对RS阵列中每一位单独使能,在每次频率测量完成后,选择RS阵列中的一个bit可控。选择的顺序是按频率调整权重由大到小的序列进行。
RS阵列控制子单元:负责提供RS初始状态(一般选择使频率实现最小或最大输出的状态),以及根据当前频率测试结果,选择合适的校正值。
RS阵列:根据RS阵列控制子单元的信号实现相应修调值的变化。
Step1:RS阵列的初始状态应该是将待校正频率设置到极限值(最大或最小均可);
Step2:根据频率比较模块输出的信号,包含频率偏大,频率偏小或频率通过(合适)等信息,决定第一个校正位(由RS阵列位选择子单元实现选择)的设置(第一个校正位时频率校正权重最大的校正位),具体设置由RS阵列控制子单元实现:
若频率测试结果偏大,则RS阵列控制子单元负责对第一个修调位进行下调频率的设置;
若频率测试结果偏小,则RS阵列控制子单元负责对第一个修调位进行上调频率的设置;
若频率测试结果合适,则RS阵列控制子单元负责对第一个修调位进行频率维持的设置;
Step3:将经过RS阵列的修调值载入,做频率测试。
重复step2和step3,经过N+1次频率测量后,将得到最终的修调值。
举例说明:
以上文提到对于一个带5bit逐次逼近型修调控制的振荡器,每个bit对应的可控制频率权重是独立且不同的,具体权重如下表所示,其目标频率为4M,频率调整目标4M±5%。
修调控制位 控制频率权重
bit<4> 10%
bit<3> 8%
bit<2> 6%
bit<1> 4%
bit<0> 2%
假设,将修调值设置到最大后,频率测试结果为5M,
此时频率检测模块会通知频率偏大,RS触发模块相应将最大权重位bit4设置为下调频率;
修调值更新后,再次测试频率为4.5M;
此时频率检测模块会通知频率偏大,RS触发模块相应将次大权重位bit3设置为下调频率;
修调值更新后,再次测试频率为4.14M;
此时频率检测模块会通知频率合适,RS触发模块相应将权重位bit2保持为当前设置;
修调值更新后,再次测试频率为4.14M;
此时频率检测模块会通知频率合适,RS触发模块相应将权重位bit1保持为当前设置;
修调值更新后,再次测试频率为4.14M;
此时频率检测模块会通知频率合适,RS触发模块相应将权重位bit0保持为当前设置;
修调值更新后,再次测试频率为4.14M;
至此,频率测试结束。
仅需做6次频率测试,即可完成修调值定位,按照单次频率测试时间为25us计算,修调值筛选仅需25×6=150us即可以完成,较穷举法时间(800us)更短。
此外,本发明中的烧录控制模块,与普通烧录控制模块不同在于:
1、其写入数据非外部测试仪给定,而是由内部频率修调值控制模块给出。
2、接收来自修调值载入单元中修调值存储单元读出的数据,并与频率修调值控制模块给出的数据自动比较,指示写入数据的正确性。仅当修调值存储单元的读出数据与频率修调值控制模块给出的数据一致时,烧录结果才指示通过。
采用了本发明的实现频率修调集成化控制的系统,通过内置频率测试及频率比较模块,实现频率内测试及判断,通过内置修调值控制电路来实现内部改变频率修调值,通过内置烧录控制模块实现修调值的内部写入及校验,在基本不影响电路成本的前提下,将频率测试模块及频率判断模块集成到电路内部,频率采集和频率判断均由硬件完成,测试仪仅需要负责信号的输入及比对,频率测试不依赖于测试仪的频率测试模块,实质将频率测试转化为普通的功能测试,提高单管芯和多管芯同测做频率修调时的测试效率及可靠性,更加便捷高效,且结构简单,易于实现,具有更广泛的应用范围。
在此说明书中,本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是,很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此,说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。

Claims (9)

1.一种实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的系统包括频率修调集成电路,所述的频率修调集成电路包括频率发生模块、频率测试模块、频率比较模块和频率修调值控制模块,其中:
所述的频率测试模块,用以采集所述的频率发生模块输出的频率,并将相应的频率计量结果输出至所述的频率比较模块;
所述的频率比较模块,用以对所述的频率计量结果和频率计量理论值进行比较分析,并将相应的频率修调控制信号输出至所述的频率修调值控制模块;
所述的频率修调值控制模块,用以根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的频率发生模块;
所述的频率修调值控制模块包括修调值可变单元和修调值合成单元,其中:
所述的修调值可变单元,用以根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的修调值合成单元;
所述的修调值合成单元,用以根据系统当前所处的状态判断是否输出所述的修调值可变单元发送的频率修调值至所述的频率发生模块。
2.根据权利要求1所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的系统还包括测试仪,所述的频率测试模块为计数器,所述的频率发生模块的输出端与所述的频率测试模块的输入端连接,所述的频率测试模块的输出端与所述的频率比较模块连接,所述的测试仪用以输出基准时钟至所述的频率测试模块的使能端。
3.根据权利要求1所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的频率比较模块包括频率上限检测单元,频率下限检测单元和频率检测结果生成单元,其中:
所述的频率上限检测单元,用以将所述的频率计量结果和频率上限理论值进行比较,并将相应的上限比较结果发送至所述的频率检测结果生成单元;
所述的频率下限检测单元,用以将所述的频率计量结果和频率下限理论值进行比较,并将相应的下限比较结果发送至所述的频率检测结果生成单元;
所述的频率检测结果生成单元,用以根据所述的上限比较结果和所述的下限比较结果生成相应的频率修调控制信号,并将该频率修调控制信号发送至所述的频率修调值控制模块。
4.根据权利要求1所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的修调值可变单元为计数器、RS触发器阵列或加法器。
5.根据权利要求1所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的频率修调控制信号为频率偏小控制信号、频率偏大控制信号或频率通过控制信号。
6.根据权利要求5所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的频率修调值控制模块还包括修调值载入单元,所述的频率修调集成电路还包括烧录控制模块,其中:
所述的修调值可变单元判断所述的频率修调控制信号是否为频率通过控制信号,如果是则将当前的频率修调值锁定并发送至所述的烧录控制模块,否则根据所述的频率修调控制信号输出相应的频率修调值至所述的修调值合成单元;
所述的烧录控制模块,用以在接收到所述的修调值可变单元发送的频率修调值后,将该频率修调值烧录至所述的修调值载入单元。
7.根据权利要求6所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的修调值合成单元用以根据系统当前所处的状态判断是否输出所述的修调值可变单元发送的频率修调值,具体为:
所述的修调值合成单元判断所述的系统是否处于频率修调状态,如果是,则输出所述的修调值可变单元发送的频率修调值至所述的频率发生模块,否则读取所述的修调值载入单元的频率修调值,并将该频率修调值发送至所述的频率发生模块。
8.根据权利要求6所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的修调值载入单元还包括修调值存储子单元,所述的修调值存储子单元用以存储所述的烧录控制模块烧录的频率修调值。
9.根据权利要求8所述的实现频率修调集成化控制的系统,其特征在于,所述的烧录控制模块读取所述的修调值存储子单元存储的频率修调值,并与所述的修调值可变单元发送的频率修调值进行比较判断烧录是否成功。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108023585B (zh) * 2016-10-28 2021-12-24 福州瑞芯微电子股份有限公司 数模混合电路、SoC芯片及模拟电路修调方法
CN111381623A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 无锡华润矽科微电子有限公司 用于基准电压修调的系统及相应的基准电压修调的方法
CN111142006B (zh) * 2019-12-26 2022-10-28 上海岭芯微电子有限公司 芯片的Trim测试方法和自动测试设备
CN111522281A (zh) * 2020-05-27 2020-08-11 中电海康无锡科技有限公司 一种用于mcu晶振修调的控制方法及系统
CN112098720B (zh) * 2020-07-27 2023-04-07 深圳市风云实业有限公司 利用卫星守时实现时钟精度与漂移的测试装置及方法
CN114397939B (zh) * 2022-01-20 2024-06-18 无锡驰翔创新科技有限公司 一种芯片时钟频率修调方法、烧录方法和烧录器
CN118671570A (zh) * 2024-08-23 2024-09-20 广芯微电子(苏州)有限公司 基于ate平台快速修调芯片时钟模块频偏的量产测试方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6316929B1 (en) * 1999-01-29 2001-11-13 Nec Corporation Frequency measurement test circuit and semiconductor integrated circuit having the same
CN103116124A (zh) * 2011-11-17 2013-05-22 国民技术股份有限公司 一种可自校准内部晶振的芯片、校准系统及校准方法
CN103281055A (zh) * 2013-04-28 2013-09-04 深圳市芯海科技有限公司 Rc振荡器
CN103677078A (zh) * 2012-09-04 2014-03-26 国民技术股份有限公司 一种时钟频率的校准方法、系统及芯片
CN103677082A (zh) * 2013-12-20 2014-03-26 深圳国微技术有限公司 时钟频率监测电路及方法
CN204044245U (zh) * 2014-04-18 2014-12-24 江汉大学 一种铷原子频标系统信号频率稳定度检测装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6316929B1 (en) * 1999-01-29 2001-11-13 Nec Corporation Frequency measurement test circuit and semiconductor integrated circuit having the same
CN103116124A (zh) * 2011-11-17 2013-05-22 国民技术股份有限公司 一种可自校准内部晶振的芯片、校准系统及校准方法
CN103677078A (zh) * 2012-09-04 2014-03-26 国民技术股份有限公司 一种时钟频率的校准方法、系统及芯片
CN103281055A (zh) * 2013-04-28 2013-09-04 深圳市芯海科技有限公司 Rc振荡器
CN103677082A (zh) * 2013-12-20 2014-03-26 深圳国微技术有限公司 时钟频率监测电路及方法
CN204044245U (zh) * 2014-04-18 2014-12-24 江汉大学 一种铷原子频标系统信号频率稳定度检测装置

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