CN111381151B - 一种检测电路和检测方法 - Google Patents
一种检测电路和检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN111381151B CN111381151B CN201811647929.8A CN201811647929A CN111381151B CN 111381151 B CN111381151 B CN 111381151B CN 201811647929 A CN201811647929 A CN 201811647929A CN 111381151 B CN111381151 B CN 111381151B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- data
- processing device
- module
- output end
- flip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3177—Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明实施例提供了一种检测电路和检测方法,检测电路包括:被测模块和检测模块;被测模块具有翻转状态输出端以及数据输出端,被测模块通过翻转状态输出端与检测模块连接,被检测模块还通过数据输出端与预置的数据处理装置连接;被测模块用于生成粒子翻转状态数据和运算结果数据。本发明实施例可以依据粒子翻转状态数据与预置的翻转参考数据的匹配情况,判断被测模块是否发生存储错误;判断被测模块是否发生存储错误的基础上,依据运算结果数据与预置的逻辑参考数据的匹配情况,判断被测模块是否发生采样错误。从而实现检测被测模块存储的数据是否发生错误,以及数据的错误类型,进而确定被测模块在受到粒子束辐射时的稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及电子技术领域,特别是涉及一种检测电路和一种检测方法。
背景技术
单粒子翻转(Single-Event Upsets)效应,是指数字电路芯片在辐射环境,大量高能带电粒子引起电位状态的跳变,“0”变成“1”,或者“1”变成“0”的现象。为保证航天设备在轨正常运行,利用地面高能质子或重离子辐射模拟设备对电子元器件进行辐照测试(包括抗单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子烧毁能力),并尽可能对器件内部单粒子翻转敏感模块进行定位,为器件后续抗辐射加固设计提供支持。
现有的一种辐照测试方案是将输入数据扫描到扫描链中,在扫描链移位的同时向器件施加粒子束,然后比较输出数据和输入数据的差别,得出单粒子翻转测试结果,但是这种方案只能进行时序逻辑测试,不能进行组合逻辑测试。
现有的另一种辐照测试方案是在辐照测试前,初始配置状态寄存器或运行功能测试程序;在辐照测试过程中循环读取并检测状态寄存器中的数据。如果检测到状态寄存器中的数据发生翻转错误,则记录错误日志,并重新配置所述状态寄存器;重复执行上述步骤,直到统计出一定次数翻转错误或辐照达到累计规定的注量时,停止测试。但是这种方案只能测试状态寄存器所代表功能的测试结果,无法定位到具体器件的错误,并且状态寄存器本身可能会因受到辐照影响而使得测试结果不准确。
发明内容
鉴于上述问题,提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种检测电路和一种检测方法。
为了解决上述问题,本发明实施例公开了一种检测电路,包括:被测模块和检测模块;所述被测模块具有翻转状态输出端以及数据输出端,所述被测模块通过所述翻转状态输出端与所述检测模块连接,所述被检测模块还通过所述数据输出端与预置的数据处理装置连接;
所述被测模块,用于接收所述数据处理装置发送的初始信息,并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储;
所述被测模块,还用于在受到粒子束辐射的情况下,接收所述数据处理装置发送的第一驱动信号,依据所述输入数据和所述第一驱动信号,生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据,以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块;
所述被测模块,还用于接收所述数据处理装置发送的第二驱动信号,依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置;
所述检测模块,用于接收所述数据处理装置发送的第三驱动信号,依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置;
所述数据处理装置,用于依据所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据,以及预置参考数据,生成数据检测结果。
可选地,所述被测模块包括扫描链单元;所述扫描链单元包括依次连接的具有所述翻转状态输出端的第一触发器;所述第一触发器包括第一扫描输入端、第一扫描输出端和第一扫描控制端;所述第一触发器的第一扫描输入端与前一个第一触发器的第一扫描输出端连接,所述第一触发器的第一扫描控制端与所述数据处理装置连接;所述扫描链单元中的第一个所述第一触发器的第一扫描输入端与所述数据处理装置连接;所述初始信息包括第一扫描使能信号;
所述第一触发器,用于采用所述第一扫描控制端接收所述第一使能信号,将工作模式确定为扫描模式;以及在所述扫描模式中,将所述输入数据传递至下一个第一触发器,以及将接收到的输入数据存储为第一存储数据。
可选地,所述第一驱动信号包括第二使能信号,以及时钟信号;所述粒子翻转状态数据包括第一状态信号,和/或第二状态信号;
所述第一触发器,用于采用所述第一扫描控制端接收到的所述第二使能信号,将工作模式确定为功能模式;以及在所述功能模式中,采用时钟信号,监测第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据是否相同;若是,则在所述翻转状态输出端生成第一状态信号;若否,则在所述翻转状态输出端生成第二状态信号。
可选地,所述被测模块还包括选通单元;所述选通单元包括选择输出端以及多个选择输入端,所述选择输出端与所述检测模块连接,所述选择输入端与所述翻转状态输出端连接;所述初始信息还包括选择信号;
所述选通单元,用于依据所述选择信号,确定目标选择输入端,以及将所述目标选择输入接收到的粒子翻转状态数据发送至所述检测模块。
可选地,所述被测模块还包括连接在所述第一触发器之间的逻辑组件;所述逻辑组件包括逻辑输入端和逻辑输出端;所述第一触发器还包括第一数据输入端、第一数据输出端,以及与所述数据处理装置连接的第一时钟信号输入端;所述扫描链单元中的第一个第一触发器的第一数据输入端与所述数据处理装置连接;所述逻辑输入端与前一个第一触发器的第一数据输出端连接,所述逻辑输出端与下一个第一触发器的第一数据输入端连接;
所述第一触发器,还用于在所述功能模式中,采用所述时钟信号,确定当前存储的输入数据为第二存储数据,并将所述第二存储数据发送至与其第一数据输出端连接的逻辑组件;
所述逻辑组件,用于在受到粒子辐射的情况下,采用其逻辑输入端接收到的第二存储数据进行逻辑运算,生成所述运算结果数据,以及将所述运算结果数据发送至下一个第一触发器的第一数据输入端。
可选地,所述第二驱动信号包括第一使能信号;所述扫描链单元中的最后一个第一触发器的第一扫描输出端与所述数据处理装置连接;
所述第一触发器,还用于采用其第一扫描控制端接收到的所述第三使能信号,将工作模式确定为扫描模式;以及在所述扫描模式中,将从第一数据输入端采集到运算结果数据确定为目标传递数据,采用所述第一扫描输出端将所述传递数据发送至下一个第一触发器的第一扫描输入端;
所述扫描链单元中的最后一个第一触发器,用于将从其第一扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置。
可选地,所述检测模块包括依次连接的第二触发器;所述第二触发器包括与选择输出端连接的第二数据输入端,以及与所述数据处理装置连接的第二扫描控制端;
所述第二触发器,用于采用其第一扫描控制端接收到的初始使能信号,实时检测所述第二数据输入端接收到的粒子翻转状态数据。
可选地,所述第二触发器还包括第二扫描输入端、第二扫描输出端,以及与所述数据处理装置连接的第二时钟信号输入端;所述第二触发器第二扫描输入端与前一个第二触发器的第二扫描输出端连接,最后一个第二触发器的第二扫描输出端与所述数据处理装置连接;所述第三驱动信号包括第四使能信号和所述时钟信号;
所述第二触发器,还用于在接收到所述时钟信号时,存储第二扫描输入端检测到的粒子翻转状态数据;采用所述第四使能信号,将工作模式确定为扫描模式,以及在所述扫描模式中,采用所述第二扫描输出端将存储的粒子翻转状态数据发送至下一个第二触发器的第二扫描输入端;
最后一个第二触发器,用于将从其第二扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置。
可选地,所述预置参考数据包括:翻转参考数据,以及逻辑参考数据;所述数据检测结果包括:错误或者正确,其中,所述错误包括存储错误和/或采样错误;所述数据检测结果通过如下方法生成:
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据不匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据匹配时,生成所述数据检测结果为存储错误和采样错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据不匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据不匹配时,生成所述数据检测结果为存储错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据不匹配时,生成所述数据检测结果为采样错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据匹配时,生成所述数据检测结果为正确。
本发明实施例还公开了一种检测方法,应用于如上所述的检测电路,所述方法包括:
控制所述数据处理装置向所述被测模块发送初始信号;所述被测模块用于接收所述初始信息,并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储;
控制所述数据处理装置向所述被测模块发送第一驱动信号,并对所述被测模块施加粒子束辐射;所述被测模块用于在受到粒子束辐射的情况下,依据所述输入数据和所述第一驱动信号,生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据,以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块;
控制所述数据处理装置向所述被测模块发送第二驱动信号;所述被测模块还用于依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置;
控制所述数据处理装置向所述检测模块发送第三驱动信号;所述检测模块还用于依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置;
控制所述数据处理装置依据接收到的所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据,以及预置参考数据,生成数据检测结果。
本发明实施例包括以下优点:检测电路的被测模块在接收到数据发送装置发送的输入数据后,被测模块在受到粒子束辐射的情况下接收数据发送装置发送的第一驱动信号,并依据输入数据和第一驱动信号生成发至检测模块的粒子翻转状态数据;并依据输入数据和第一驱动信号生成运算结果数据;检测模块在接收到粒子翻转状态数据和第三驱动信号后,将粒子翻转状态数据发送至数据处理装置;被测模块在接收所述数据处理装置发送的第二驱动信号后,将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置;所述数据处理装置依据所述粒子翻转状态数据与预置的翻转参考数据的匹配情况,判断被测模块是否发生存储错误;判断被测模块是否发生存储错误的基础上,依据所述运算结果数据与预置的逻辑参考数据的匹配情况,判断被测模块是否发生采样错误。从而实现检测被测模块存储的数据是否发生错误,以及数据的错误类型,进而确定被测模块在受到粒子束辐射时的稳定性。
附图说明
图1是本发明的一种检测电路实施例一的结构框图;
图2是本发明的一种检测电路实施例二的结构框图;
图3 是本发明的一种检测方法实施例的步骤流程图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
本发明实施例的核心构思之一在于,设计一种检测电路,能够实时确定触发器出错是否为单粒子翻转错误,以及能够具体定位发生出错的触发器。
参照图1,示出了本发明的一种检测电路100实施例一的结构框图,所述检测电路100包括:被测模块110和检测模块120,所述被测模块100具有翻转状态输出端以及数据输出端,所述被测模块100通过所述翻转状态输出端与所述检测模块连接,所述被检测模块还通过所述数据输出端与预置的数据处理装置200连接;
所述被测模块110,用于接收所述数据处理装置200发送的初始信息,并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储;
所述被测模块110,还用于在受到粒子束辐射的情况下,接收所述数据处理装置发送的第一驱动信号,依据所述输入数据和所述第一驱动信号,生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据,以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块120;
被测模块110用于在接收到第一驱动信号后,在受到粒子束辐射的同时,采用输入数据生成粒子翻转状态数据,并将粒子翻转状态数据发送至检测模块120,以及在受到粒子束辐射的同时,依据所述输入数据和第一驱动信号,生成运算结果数据。
所述被测模块110,还用于接收所述数据处理装置200发送的第二驱动信号,依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置200;
被测模块110用于在接收到第二驱动信号时,将运算结果数据发送至数据处理装置200。
所述检测模块120,用于接收所述数据处理装置200发送的第三驱动信号,以及依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置200;
检测模块120用于在接收到第三驱动信号时,将粒子翻转状态数据发送至数据处理装置200。
所述数据处理装置200,用于采集所述运算结果数据以及所述状态翻转结果数据;以及,依据所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据,以及预置参考数据,生成数据检测结果。
数据处理装置200用于依据被测模块110发送的运算结果数据、检测模块120发送的粒子翻转状态数据,以及预置的参考数据,生成数据检测结果。数据检测结果用于表示被测模块110是否发生了存储单元翻转和/或逻辑运算错误。
在本发明实施例中,检测电路100的被测模块110在接收到数据发送装置发送的输入数据后,被测模块110在受到粒子束辐射的情况下接收数据发送装置发送的第一驱动信号,并依据输入数据和第一驱动信号生成发至检测模块120的粒子翻转状态数据;并依据输入数据和第一驱动信号生成运算结果数据;检测模块120在接收到粒子翻转状态数据和第三驱动信号后,将粒子翻转状态数据发送至数据处理装置200;被测模块110在接收所述数据处理装置200发送的第二驱动信号后,将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置200;所述数据处理装置200依据所述粒子翻转状态数据与预置的翻转参考数据的匹配情况,判断被测模块110是否发生存储错误;判断被测模块110是否发生存储错误的基础上,依据所述运算结果数据与预置的逻辑参考数据的匹配情况,判断被测模块110是否发生采样错误。从而实现检测被测模块110存储的数据是否发生错误,以及数据的错误类型,进而确定被测模块110在受到粒子束辐射时的稳定性。
参照图2,示出了本发明的一种检测电路100实施例二的结构框图。
在本发明的一种可选实施例中,所述被测模块110包括扫描链单元;所述扫描链单元包括依次连接的具有翻转状态输出端(端口S)的第一触发器 111;所述第一触发器111包括第一扫描输入端(端口SI)、第一扫描输出端(端口SO)和第一扫描控制端(端口SE);所述第一触发器111的第一扫描输入端与前一个第一触发器111的第一扫描输出端连接,所述第一触发器111的第一扫描控制端与所述数据处理装置200连接;所述扫描链单元中的第一个所述第一触发器111的第一扫描输入端与所述数据处理装置200连接。
所述第一触发器111,用于采用所述第一扫描控制端接收所述第一使能信号,将工作模式确定为扫描模式;以及在所述扫描模式中,将所述输入数据传递至下一个第一触发器,以及将接收到的输入数据存储为第一存储数据。
所述第一触发器111的第一扫描控制端在接收所述第一使能信号后,第一触发器111会进入扫描模式,此时,扫描链单元中的第一个所述第一触发器111采用第一扫描输入端接收所述输入数据,并按照扫描链中各个第一触发器111的连接次序,持续将输入数据进行位移位,将所述输入数据传递至下一个第一触发器111,第一触发器111将接收到的输入数据存储为第一存储数据。在本发明实施例中,只需要第一使能信号能够触发第一触发器111 进入扫描模式即可,对第一使能信号的电平状态不作限定。
在本发明的一种可选实施例中,所述第一驱动信号包括第二使能信号,以及时钟信号;所述粒子翻转状态数据包括第一状态信号,和/或第二状态信号;
所述第一触发器111,用于采用所述第一扫描控制端接收到的所述第二使能信号,将工作模式确定为功能模式;以及在所述功能模式中,采用时钟信号,监测第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据是否相同;
若第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据相同,则在所述翻转状态输出端生成第一状态信号;
若第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据不相同,则在所述翻转状态输出端生成第二状态信号。
在第一触发器111的第一扫描控制端接收到第二使能信号后,第一触发器111将工作模式确定为功能模式,在功能模式中,所述第一触发器111采用时钟信号,在接收粒子束的同时时监测第一扫描输出端发送的数据与在先存储的第一存储数据是否相同;若第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据数据相同,则该第一触发器111在所述翻转状态输出端生成第一状态信号;若第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据不相同,则该第一触发器111在所述翻转状态输出端生成第二状态信号。
在本发明实施例中,只需要第二使能信号能够触发第一触发器111进入功能模式即可,对第二使能信号的电平状态不作限定。
其中,第一状态信号表示对应的第一触发器111未发生单粒子翻转效应;第二状态信号表示对应的第一触发器111已发生单粒子翻转效应。作为一种示例,第一状态信号为低电平信号,第二状态信号为高电平信号。
可以理解的是,本发明实施例是通过采用不同电平状态的第一状态信号和第二状态信号,从而标识触发器是否发生单粒子翻转效应,对第一状态信号和第二状态信号具体的电平信号不作限定。作为另一种示例,第一状态信号为高电平信号,第二状态信号可以为低电平信号。
具体地,第一触发器111是在接收到第一扫描输入端的数据后,将该数据存储为第一存储数据,然后再将该数据从第一扫描输出端进行传递,当第一触发器111未发生单粒子翻转效应时,该第一触发器111从第一扫描输出端输出的数据与其对应的第一存储数据相同;当第一触发器111已发生单粒子翻转效应时,该第一触发器111从第一扫描输出端输出的数据与其对应的第一存储数据不相同,此时,第一触发器111存储的数据为为第一存储数据翻转后的结果,即第一触发器在第一扫描输出端输出的数据为第一存储数据翻转后的数据。
在本发明的一种可选实施例中,所述被测模块110还包括选通单元 112;所述选通单元112包括选择输出端以及多个选择输入端,所述选择输出端与所述检测模块120连接,所述选择输入端与所述翻转状态输出端连接;所述初始信息还包括选择信号。
所述选通单元,用于依据所述选择信号,确定目标选择输入端,以及将所述目标选择输入接收到的粒子翻转状态数据发送至所述检测模块。
被测模块110通过选通单元112接收所述选择信号,选通单元112能够依据所述选择信号,确定目标选择输入端,确定所述目标选择输入端接收到的粒子翻转状态数据为目标粒子翻转状态数据将所述目标粒子翻转状态数据发送至所述检测模块120。
具体的,选通单元112可以对每一个选择输入端进行唯一标识,采用选择信号确定唯一匹配的目标选择输入端。例如:每一个选通单元112有4个选择输入端,则可以设定第一选择输入端的标识为00、第二选择输入端的标识为01、第三选择输入端的标识为10、第一选择输入端的标识为11。当接收到的选择信号为10时,确定第三选择输入端为目标选择输入端。
在本发明的一种可选实施例中,所述被测模块110还包括连接在所述第一触发器111之间的逻辑组件113;所述逻辑组件113包括逻辑输入端和逻辑输出端;所述第一触发器111还包括第一数据输入端(端口D)、第一数据输出端(端口Q),以及与所述数据处理装置200连接的第一时钟信号输入端(端口CK);所述扫描链单元中的第一个第一触发器111的第一数据输入端与所述数据处理装置200连接;所述逻辑输入端与前一个第一触发器111的第一数据输出端连接,所述逻辑输出端与下一个第一触发器111的第一数据输入端连接。
所述第一触发器111,还用于在所述功能模式中,采用所述时钟信号,确定当前存储的输入数据为第二存储数据,并将所述第二存储数据发送至与其第一数据输出端连接的逻辑组件;
所述逻辑组件,用于在受到粒子辐射的情况下,采用其逻辑输入端接收到的第二存储数据进行逻辑运算,生成所述运算结果数据,以及将所述运算结果数据发送至下一个第一触发器111的第一数据输入端。
所述运算结果数据包括与所述第一触发器111第一数据输入端连接的逻辑组件113逻辑输出端输出的数据。
所述第一触发器111的第一扫描控制端接收所述第二使能信号时,第一触发器111会进入为功能模式。在所述功能模式中,当第一触发器111在接收到时钟信号后,第一触发器111确定当前存储的输入数据为第二存储数据;并将所述第二存储数据发送至与其第一数据输出端连接的逻辑组件113。
所述逻辑组件113则在接收粒子束的同时,采用其逻辑输入端接收到的第二存储数据进行逻辑运算,生成所述运算结果数据。
所述逻辑组件113将所述运算结果数据发送至下一个第一触发器111的第一数据输入端。
其中,逻辑组件113可以包括至少一个逻辑门器件,不同的逻辑组件 113可以采用不同的逻辑门器件组成,也可以采用相同的逻辑门器件不同的连接方式组成。
当第一触发器111没有发生粒子翻转效应时,其第二存储数据与其在先的第一存储数据相同;当第一触发器111为发生粒子翻转效应时,则第二存储数据为在先的第一存储数据取反的数据。
在第一触发器111生成粒子翻转状态数据以及运算结果数据后,停止向被测模块110施加粒子束辐射。
在本发明的一种可选实施例中,所述扫描链单元中的最后一个第一触发器111的第一扫描输出端与所述数据处理装置200连接。
所述第二驱动信号包括第三使能信号。
所述第一触发器111,还用于采用其第一扫描控制端接收到的所述第三使能信号,将工作模式确定为扫描模式;以及在所述扫描模式中,将从第一数据输入端采集到运算结果数据确定为目标传递数据,采用所述第一扫描输出端将所述传递数据发送至下一个第一触发器111的第一扫描输入端;
所述扫描链单元中的最后一个第一触发器111,用于将从其第一扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置。
所述第一触发器111在通过第一扫描控制端接收所述第三使能信号后,第一触发器111进入扫描模式。在本发明实施例中,只需要第三使能信号能够触发第一触发器111进入扫描模式即可,对第三使能信号的电平状态不作限定。
在所述扫描模式中,所述第一触发器111将从第一数据输入端采集到运算结果数据确定为目标传递数据,所述第一触发器111采用所述第一扫描输出端将所述传递数据发送至下一个第一触发器111的第一扫描输入端。
所述扫描链单元中的最后一个第一触发器111将从其第一扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置200。
在本发明的一种可选实施例中,所述检测模块120包括依次连接的第二触发器121;所述第二触发器121包括与选择输出端连接的第二数据输入端 (端口D),以及与所述数据处理装置200连接的第二扫描控制端(端口 SE)。
所述第二触发器,用于采用其第一扫描控制端接收到的初始使能信号,实时检测所述第二数据输入端接收到的粒子翻转状态数据。
在所述第一触发器111生成所述粒子翻转状态数据之前,所述第二触发器121的第一扫描控制端接收数据处理装置200发送的初始使能信号。所述第二触发器121在接收到所述初始使能信号后进入功能模式,实时检测第二数据输入端接收到的粒子翻转状态数据。在本发明实施例中,只需要初始使能信号能够触发第二触发器121进入功能模式即可,对初始使能信号的电平状态不作限定。所述初始使能信号为低电平信号。
在本发明的一种可选实施例中,所述第二触发器121还包括第二扫描输入端(端口SI)、第二扫描输出端(端口SO),以及与所述数据处理装置 200连接的第二时钟信号输入端(端口CK);所述第二触发器121第二扫描输入端与前一个第二触发器121的第二扫描输出端连接,最后一个第二触发器121的第二扫描输出端与所述数据处理装置200连接。
所述第三驱动信号包括第四使能信号和所述时钟信号。
所述第二触发器121,还用于在接收到所述时钟信号时,存储第二扫描输入端检测到的粒子翻转状态数据;采用所述第四使能信号,将工作模式确定为扫描模式,以及在所述扫描模式中,采用所述第二扫描输出端将存储的粒子翻转状态数据发送至下一个第二触发器121的第二扫描输入端;
最后一个第二触发器121,用于将从其第二扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置。
所述第二触发器121在接收到所述时钟信号时,存储第二扫描输入端检测到的粒子翻转状态数据。
所述第二触发器121在接收到所述第四使能信号后,进入扫描模式。在本发明实施例中,只需要第四使能信号能够触发第二触发器121进入扫描模式即可,对第二使能信号的电平状态不作限定。
在所述扫描模式中,所述第二触发器121将采用所述第二扫描输出端将存储的粒子翻转状态数据发送至下一个第二触发器121的第二扫描输入端,其中,位于所有第二触发器121中的最后一个第二触发器121,将从其第二扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置200。
在本发明的一种可选实施例中,所述预置参考数据包括:翻转参考数据,以及逻辑参考数据;所述数据检测结果包括:错误或者正确,其中,所述错误包括存储错误和/或采样错误;所述数据检测结果通过如下方法生成:
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据不匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据匹配时,所述数据检测结果为存储错误和采样错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据不匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据不匹配时,所述数据检测结果为存储错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据不匹配时,所述数据检测结果为采样错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据匹配时,所述数据检测结果为正确。
其中,逻辑参考数据是第一触发器111不发生错误时,逻辑组件113输出的数据,逻辑参考数据可以通过采用被测模块110进行有限次重复生成运算结果数据获得,或者,采用软件仿真获得。翻转参考数据为第一触发器 111不发生单粒子翻转效应时,第二触发器121的第二数据输入端获取到的数据。
进一步地,数据处理装置200接收到的粒子翻转状态数据与运算结果数据均由多个有序的数据元素组成,基于各个数据元素的排序信息、选择信号、以及第二触发器121的连接顺序,可以定位数据处理发生错误的第一触发器111。
例如:根据接收到的粒子翻转状态数据中的第四个数据元素,确定存在存储错误,则确定从扫描输出端与数据处理装置200的第二触发器121 起,第四个第二触发器121为目标第二触发器121。确定目标第二触发器 121连接的选通单元112为目标选通单元112,根据选择信号,可以确定选通单元112在先获取粒子翻转状态数据的选择输入端,确定与该选择输入端连接的第一触发器111为发生存储错误的第一触发器111。
在本发明实施例中,检测电路100的被测模块110在接收到数据发送装置发送的输入数据后,被测模块110在受到粒子束辐射的情况下接收数据发送装置发送的第一驱动信号,并依据输入数据和第一驱动信号生成发至检测模块120的粒子翻转状态数据;并依据输入数据和第一驱动信号生成运算结果数据;检测模块120在接收到粒子翻转状态数据和第三驱动信号后,将粒子翻转状态数据发送至数据处理装置200;被测模块110在接收所述数据处理装置200发送的第二驱动信号后,将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置200;所述数据处理装置200依据所述粒子翻转状态数据与预置的翻转参考数据的匹配情况,判断被测模块110是否发生存储错误;判断被测模块110是否发生存储错误的基础上,依据所述运算结果数据与预置的逻辑参考数据的匹配情况,判断被测模块110是否发生采样错误。从而实现检测被测模块110存储的数据是否发生错误,以及数据的错误类型,进而确定被测模块110在受到粒子束辐射时的稳定性。
进一步地,数据处理装置200接收到的粒子翻转状态数据与运算结果数据均由多个有序的数据元素组成,基于各个数据元素的排序信息、选择信号、以及第二触发器121的连接顺序,可以定位数据处理发生错误的第一触发器111。
参照图3,示出了本发明的一种检测方法实施例的步骤流程图,所述方法应用于如上任一实施例所述的检测电路,所述方法具体可以包括如下步骤:
步骤301,控制所述数据处理装置向所述被测模块发送初始信号;所述被测模块用于接收所述初始信息,并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储;
步骤302,控制所述数据处理装置向所述被测模块发送第一驱动信号,并对所述被测模块施加粒子束辐射;所述被测模块用于在受到粒子束辐射的情况下,依据所述输入数据和所述第一驱动信号,生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据,以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块;
步骤303,控制所述数据处理装置向所述被测模块发送第二驱动信号;所述被测模块还用于依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置;
步骤304,控制所述数据处理装置向所述检测模块发送第三驱动信号;所述检测模块还用于依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置;
步骤305,控制所述数据处理装置依据接收到的所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据,以及预置参考数据,生成数据检测结果。
需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本发明实施例并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本发明实施例,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于可选实施例,所涉及的动作并不一定是本发明实施例所必须的。
对于方法实施例而言,由于其与电路实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见电路实施例的部分说明即可。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本发明实施例的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的可选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括可选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种检测电路和一种检测方法,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本发明的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种检测电路,其特征在于,包括:被测模块和检测模块;所述被测模块具有翻转状态输出端以及数据输出端,所述被测模块通过所述翻转状态输出端与所述检测模块连接,所述被测模块还通过所述数据输出端与预置的数据处理装置连接,其中,所述被测模块包括扫描链单元;所述扫描链单元包括依次连接的具有所述翻转状态输出端的第一触发器;所述第一触发器包括第一扫描输入端和第一扫描输出端,还包括第一数据输入端和第一数据输出端;
所述被测模块,用于接收所述数据处理装置发送的初始信息,并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储;
所述被测模块,还用于在受到粒子束辐射的情况下,接收所述数据处理装置发送的第一驱动信号,依据所述输入数据和所述第一驱动信号,生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据,以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块;
所述被测模块,还用于接收所述数据处理装置发送的第二驱动信号,依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置;
所述检测模块,用于接收所述数据处理装置发送的第三驱动信号,依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置;
所述数据处理装置,用于依据所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据,以及预置参考数据,生成数据检测结果。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一触发器还包括第一扫描控制端;所述第一触发器的第一扫描输入端与前一个第一触发器的第一扫描输出端连接,所述第一触发器的第一扫描控制端与所述数据处理装置连接;所述扫描链单元中的第一个所述第一触发器的第一扫描输入端与所述数据处理装置连接;所述初始信息包括第一扫描使能信号;
所述第一触发器,用于采用所述第一扫描控制端接收所述第一使能信号,将工作模式确定为扫描模式;以及在所述扫描模式中,将所述输入数据传递至下一个第一触发器,以及将接收到的输入数据存储为第一存储数据。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,所述第一驱动信号包括第二使能信号,以及时钟信号;所述粒子翻转状态数据包括第一状态信号,和/或第二状态信号;
所述第一触发器,用于采用所述第一扫描控制端接收到的所述第二使能信号,将工作模式确定为功能模式;以及在所述功能模式中,采用时钟信号,监测第一扫描输出端发送的数据与所述第一存储数据是否相同;若是,则在所述翻转状态输出端生成第一状态信号;若否,则在所述翻转状态输出端生成第二状态信号。
4.根据权利要求3所述的电路,其特征在于,所述被测模块还包括选通单元;所述选通单元包括选择输出端以及多个选择输入端,所述选择输出端与所述检测模块连接,所述选择输入端与所述翻转状态输出端连接;所述初始信息还包括选择信号;
所述选通单元,用于依据所述选择信号,确定目标选择输入端,以及将所述目标选择输入接收到的粒子翻转状态数据发送至所述检测模块。
5.根据权利要求4所述的电路,其特征在于,所述被测模块还包括连接在所述第一触发器之间的逻辑组件;所述逻辑组件包括逻辑输入端和逻辑输出端;所述第一触发器还包括与所述数据处理装置连接的第一时钟信号输入端;所述扫描链单元中的第一个第一触发器的第一数据输入端与所述数据处理装置连接;所述逻辑输入端与前一个第一触发器的第一数据输出端连接,所述逻辑输出端与下一个第一触发器的第一数据输入端连接;
所述第一触发器,还用于在所述功能模式中,采用所述时钟信号,确定当前存储的输入数据为第二存储数据,并将所述第二存储数据发送至与其第一数据输出端连接的逻辑组件;
所述逻辑组件,用于在受到粒子辐射的情况下,采用其逻辑输入端接收到的第二存储数据进行逻辑运算,生成所述运算结果数据,以及将所述运算结果数据发送至下一个第一触发器的第一数据输入端。
6.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,所述第二驱动信号包括第一使能信号;所述扫描链单元中的最后一个第一触发器的第一扫描输出端与所述数据处理装置连接;
所述第一触发器,还用于采用其第一扫描控制端接收到的所述第三使能信号,将工作模式确定为扫描模式;以及在所述扫描模式中,将从第一数据输入端采集到运算结果数据确定为目标传递数据,采用所述第一扫描输出端将所述目标传递数据发送至下一个第一触发器的第一扫描输入端;
所述扫描链单元中的最后一个第一触发器,用于将从其第一扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置。
7.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,所述检测模块包括依次连接的第二触发器;所述第二触发器包括与选择输出端连接的第二数据输入端,以及与所述数据处理装置连接的第二扫描控制端;
所述第二触发器,用于采用其第一扫描控制端接收到的初始使能信号,实时检测所述第二数据输入端接收到的粒子翻转状态数据。
8.根据权利要求7所述的电路,其特征在于,所述第二触发器还包括第二扫描输入端、第二扫描输出端,以及与所述数据处理装置连接的第二时钟信号输入端;所述第二触发器第二扫描输入端与前一个第二触发器的第二扫描输出端连接,最后一个第二触发器的第二扫描输出端与所述数据处理装置连接;所述第三驱动信号包括第四使能信号和所述时钟信号;
所述第二触发器,还用于在接收到所述时钟信号时,存储第二扫描输入端检测到的粒子翻转状态数据;采用所述第四使能信号,将工作模式确定为扫描模式,以及在所述扫描模式中,采用所述第二扫描输出端将存储的粒子翻转状态数据发送至下一个第二触发器的第二扫描输入端;
最后一个第二触发器,用于将从其第二扫描输入端接收到的数据发送至所述数据处理装置。
9.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述预置参考数据包括:翻转参考数据,以及逻辑参考数据;所述数据检测结果包括:错误或者正确,其中,所述错误包括存储错误和/或采样错误;所述数据检测结果通过如下方法生成:
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据不匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据匹配时,生成所述数据检测结果为存储错误和采样错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据不匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据不匹配时,生成所述数据检测结果为存储错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据不匹配时,生成所述数据检测结果为采样错误;
当所述粒子翻转状态数据与所述翻转参考数据匹配,且所述运算结果数据与所述逻辑参考数据匹配时,生成所述数据检测结果为正确。
10.一种检测方法,其特征在于,应用于如权利要求1-9任一项所述的检测电路,所述方法包括:
控制所述数据处理装置向所述被测模块发送初始信号;所述被测模块用于接收所述初始信息,并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储;
控制所述数据处理装置向所述被测模块发送第一驱动信号,并对所述被测模块施加粒子束辐射;所述被测模块用于在受到粒子束辐射的情况下,依据所述输入数据和所述第一驱动信号,生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据,以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块;
控制所述数据处理装置向所述被测模块发送第二驱动信号;所述被测模块还用于依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置;
控制所述数据处理装置向所述检测模块发送第三驱动信号;所述检测模块还用于依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置;
控制所述数据处理装置依据接收到的所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据,以及预置参考数据,生成数据检测结果。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811647929.8A CN111381151B (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种检测电路和检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811647929.8A CN111381151B (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种检测电路和检测方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111381151A CN111381151A (zh) | 2020-07-07 |
CN111381151B true CN111381151B (zh) | 2022-07-12 |
Family
ID=71219527
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811647929.8A Active CN111381151B (zh) | 2018-12-29 | 2018-12-29 | 一种检测电路和检测方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111381151B (zh) |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4903270A (en) * | 1988-06-14 | 1990-02-20 | Intel Corporation | Apparatus for self checking of functional redundancy check (FRC) logic |
KR0157903B1 (ko) * | 1995-10-13 | 1999-03-20 | 문정환 | 아날로그/디지탈 변환기의 변환특성 테스트회로와 그 방법 |
US7673202B2 (en) * | 2006-09-28 | 2010-03-02 | Cisco Technology, Inc. | Single event upset test circuit and methodology |
CN102262212B (zh) * | 2011-04-13 | 2014-11-05 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种检测数字专用集成电路中触发器单粒子效应的系统 |
CN103001636B (zh) * | 2012-12-11 | 2015-07-08 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种折叠内插式模数转换器件的单粒子效应检测方法 |
US9054684B1 (en) * | 2013-03-21 | 2015-06-09 | Xilinx, Inc. | Single event upset enhanced architecture |
CN105717443A (zh) * | 2016-02-17 | 2016-06-29 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种sram型fpga触发器抗单粒子效应性能评估系统及方法 |
CN106301334B (zh) * | 2016-08-25 | 2023-05-30 | 广东高云半导体科技股份有限公司 | 一种sram型fpga器件单粒子反转探测及纠错的电路 |
CN106841994A (zh) * | 2017-02-20 | 2017-06-13 | 中国人民解放军国防科学技术大学 | 一种扫描链 |
CN108957283B (zh) * | 2017-05-19 | 2021-08-03 | 龙芯中科技术股份有限公司 | 辐照实验板、监控终端、asic芯片辐照实验系统 |
CN107422193B (zh) * | 2017-06-30 | 2023-09-15 | 成都信息工程大学 | 一种测量单粒子翻转瞬态脉冲长度的电路及方法 |
CN107741559B (zh) * | 2017-10-12 | 2020-07-17 | 电子科技大学 | 一种面向空间辐射环境下的单粒子翻转测试系统及方法 |
-
2018
- 2018-12-29 CN CN201811647929.8A patent/CN111381151B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN111381151A (zh) | 2020-07-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104937428A (zh) | 嵌入式测试器 | |
US10746794B2 (en) | Logic built in self test circuitry for use in an integrated circuit with scan chains | |
CN104425037B (zh) | 可重配置电路及其解码器 | |
US8060847B2 (en) | Clock model for formal verification of a digital circuit description | |
US10739401B2 (en) | Logic built in self test circuitry for use in an integrated circuit with scan chains | |
CN111198811A (zh) | 一种页面自动化测试的方法、装置、电子设备及存储介质 | |
EP0146698A2 (en) | Test and maintenance system for a data processing system | |
US9417282B2 (en) | Method for managing the operation of a circuit with triple modular redundancy and associated device | |
CN107451058A (zh) | 一种软件开发方法和装置 | |
CN111381151B (zh) | 一种检测电路和检测方法 | |
CN103154755B (zh) | 用于生成参考扫描链测试数据的测试装置、测试系统和方法 | |
CN115470125B (zh) | 基于日志文件的调试方法、设备以及存储介质 | |
CN112445749A (zh) | 一种信号检测记录方法、系统、设备以及介质 | |
US4625312A (en) | Test and maintenance method and apparatus for investigation of intermittent faults in a data processing system | |
US4567593A (en) | Apparatus for verification of a signal transfer in a preselected path in a data processing system | |
CN116087752A (zh) | 一种芯片测试方法、系统、装置及介质 | |
US11715545B2 (en) | In-system test of a memory device | |
CN108959089A (zh) | 一种测试用例生成方法及装置 | |
JP6050025B2 (ja) | プリント回路基板上に取り付けられた電子回路装置の電気接続を自動的に測定する方法及び装置 | |
CN107766251B (zh) | 加载image的检测方法、系统、设备及可读存储介质 | |
US10386414B2 (en) | Method for managing the operation of a test mode of a logic component with restoration of the pre-test state | |
CN106896309A (zh) | 信号处理装置及方法、信号偏移检测系统及方法 | |
CN105572566A (zh) | 一种便于定位问题的fpga自测的方法 | |
CN113407408B (zh) | 数据传输规则验证方法、装置、设备和存储介质 | |
US10838449B2 (en) | Automatic detection of clock grid misalignments and automatic realignment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 100095 Building 2, Longxin Industrial Park, Zhongguancun environmental protection technology demonstration park, Haidian District, Beijing Applicant after: Loongson Zhongke Technology Co.,Ltd. Address before: 100095 Building 2, Longxin Industrial Park, Zhongguancun environmental protection technology demonstration park, Haidian District, Beijing Applicant before: LOONGSON TECHNOLOGY Corp.,Ltd. |
|
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |