CN111344151A - 针对介质边缘检测的发光器校准 - Google Patents

Abstract

提供了包括发光器的装置，发光器用于向要在上面进行打印的介质上发射光。装置还包括与发光器接近布置的光学传感器，光学传感器用于检测反射光的量。另外，装置包括用于控制发光器和光学传感器的处理器。处理器用于校准发光器以针对光学传感器处的高灵敏度而确定第一亮度级别。处理器用于校准发光器以基于信噪比迭代地确定第二亮度级别。处理器用于比较第二亮度级别与第一亮度级别，以确定是否继续使用第二亮度级别进行介质的边缘的检测。

Description

针对介质边缘检测的发光器校准

背景技术

打印装置能够在各种尺寸的介质上进行打印。一些打印装置可以检测要在其上打印内容的介质的尺寸。另外，打印装置通常能够在各种各样的介质上进行打印，包括普通纯白纸介质、光面纸介质、半光面纸介质、亚光纸介质和深色纸介质以及诸如塑料、乙烯树脂或纺织品之类的非纸张介质。相应地，打印装置可以使用能够检测各种介质尺寸和介质类型的感测机构。

附图说明

现在仅以示例的方式参考附图，附图中：

图1为示例装置的图；

图2为图1的示例装置的部件的框图；

图3为另一示例装置的图；

图4为图3的示例装置的部件的框图；

图5是方法的示例的流程图；

图6是方法的另一示例的流程图；并且

图7是方法的又一示例的流程图。

具体实施方式

在下述说明书和附图中，介绍了用于调整图像设备的操作的打印装置、打印系统和/或方法的一些示例实施方式。在本文描述的示例中，打印系统可以是使用诸如墨水或墨粉之类的打印流体在诸如纸张的物理介质上打印内容的一个设备或多个设备。打印流体的示例是可从打印头中喷出的物质，诸如墨水、墨粉、光泽增强剂、反光增强剂、和荧光剂等等。

另外，打印装置通常接受多种不同形式和尺寸的介质。相应地，打印装置可以能够自动检测要在上面进行打印的介质的尺寸和类型。自动检测可以通过在光源向介质上发射光的情况下在光学传感器处测量反射率值来执行。具体地，介质对从光源发射的光进行的反射不同于从不存在介质的区域(诸如在打印装置的压盘上)反射的光。然而，在一些实例中，两种表面之间的差异可能不显著，并且诸如噪声之类的因素可能使区分介质和压盘变得困难。

因此，利用光源和光学传感器来测量反射率可能会提供介质边缘的错误识别并且导致打印装置无法打印到介质的边缘。此外，随着打印机被使用一段时间，来自打印操作的气溶胶或其他污染物可能覆盖传感器、光源和/或用于保护传感器和光源的可选护盖，使得在传感器处测量的光可能包括来自从污染物反射或被污染物吸收的光的噪声。另外，用于保护传感器和光源的可选护盖的使用可能引入进一步的噪声。虽然周期性校准调整光源的强度使得在传感器处接收的光保持在高灵敏度范围内，但此校准可能无法解决由污染物引入噪声的问题。进一步地，这种校准通常在非打印时段期间(诸如在启动或关闭时)执行，或者在更换打印头和/或墨盒时执行，或者在手动触发打印头对齐校准时执行。因此，对于通常执行长时间打印而不经常断电且不经常更换打印头或墨盒的打印机，更可能错误地识别介质尺寸且无法在介质的边缘附近进行打印。

开发了本文描述的各种示例，来提供装置、方法和编码有指令的机器可读存储介质，以针对发光器和用于测量从介质或装置的压盘反射的来自发光器的光的光学传感器而实现介质边缘校准服务。该服务可以在打印操作期间使用，诸如在打印作业中每张介质的打印之前使用，以改善介质的边缘检测并且避免介质上的漏印区域。具体地，该服务对于大介质尤其有用，在大介质中漏印区域可能导致整个介质的浪费，这可能非常昂贵。

参考图1，大体示出了用于检测介质90的装置50。具体地，装置50用于检测经过压盘95的介质90的边缘。在本示例中，装置50用于喷墨打印机以在诸如用于海报的大张的介质上进行打印。然而，在其他的示例中，装置50可以用于其他类型的打印系统。在本示例中，装置50包括发光器55、光学传感器60和处理器100。

发光器55用于向介质90上或不存在介质的压盘95上发射光。发光器55可以是任意种类的光源。在本示例中，发光器55是用于发射宽光谱光的发光二极管(“LED”)。在其他示例中，发光器55可以发射不可见波长的光，诸如红外光或紫外光。在另外的示例中，发光器55也可以是用于发射彩色光波段中的光的LED。此外，发光器55不必须是LED，而可以是任意其他类型的光源，诸如激光器或灯丝光源。

在本示例中，发光器55能够发射不同亮度级别的光。发光器55发射不同亮度级别的光的方式不受限制，并且可以涉及诸如使用固定偏置电阻器或者通过调整电流源处的电流来调整施加至发光器55的电压。在其他示例中，发光器55的亮度级别可以使用快门来调整。

在本示例中，光学传感器60被设置为接近发光器55并被设置在固定的相对位置处。光学传感器60用于检测诸如来自介质90或压盘95的反射光的量。光学传感器60检测光的方式不受限制，并且可以包括很多不同类型的光传感器和/或光电检测器，诸如CMOS检测器、CCD检测器、光伏电池、光电二极管或光电晶体管。技术人员会理解，虽然光学传感器60的目标是检测反射光，但是会检测入射到光学传感器60上的任何光。因此，一般来说，会从另外的光源或来自装置50或整个打印系统的其他部件的非预期的反射光引入噪声。

在本示例中，光学传感器60的响应可能在光学传感器60上的入射光的测量强度与光学传感器60的输出(诸如输出电压)之间不具有线性关系。在很多情况下，光学传感器60的响应依赖于入射到光学传感器60上的光的强度。即使光强度和电压之间的关系可能不是线性的，但光学传感器60通常具有在光学传感器60处接收的光强度和输出电压之间的关系具有近似线性关系的线性响应范围，其为检测光提供了高的灵敏度。

处理器100可以包括中央处理单元(CPU)、微控制器、微处理器、处理核、现场可编程门阵列(FPGA)或类似物。在本示例中，处理器100耦接到发光器55和光学传感器60。处理器100通常执行用于控制发光器55和光学传感器60的指令。

另外，处理器100用于校准发光器55以检测介质90的边缘。具体地，处理器100用于校准发光器55以确定向光学传感器60提供高灵敏度范围内的反射光的亮度级别。针对光学传感器60处的高灵敏度确定亮度级别的方式不受限制，并且可以包括各种各样的方法。例如，可以基于包括发光器55、光学传感器60和物理打印系统配置的已知类型和模型的多个标准装备而对发光器55和光学传感器60进行预校准。接下来，处理器100可以从已知装备的数据库中选择亮度级别。作为另一示例，处理器100可以执行基于来自光学传感器的实时数据确定亮度级别的校准算法。例如，可以执行诸如自动笔对齐(APA)和SHELAC(条纹高度误差线推进校准)之类的校准。在其他示例中，处理器100可以递增地增加发光器55的亮度级别并且选择略低于饱和的亮度级别。

另外，处理器100还用于校准发光器55以基于信噪比确定另一亮度级别。噪声的来源不受限制，并且可以由装置50的其他部件、作为一个整体的打印系统或诸如环境光的外部因素引起。例如，噪声可以由装置50中的其他表面反射产生或由泄露到光学传感器60上的外部光产生。随着发光器55的亮度级别增加，外部来源的噪声的影响可以降低；然而，发光器55的亮度级别的增加可能导致来自非预期反射的噪声的增加。在本示例中，处理器100可以以迭代的方式增加发光器55的亮度级别，直至信噪比达到阈值。在该示例中，随着发光器55的亮度级别的增加，假设光噪声来源于除预期的介质90或压盘95的表面之外的表面的反射。阈值不受限制，并且可以是预定值或者是测量的亮度级别的函数。该亮度级别表示高亮度级别，用于测量通常是反射性的介质90与介质90之下的通常吸收光的压盘95之间的对比。

一旦确定高灵敏度的亮度级别和基于信噪比的亮度级别，处理器100就比较这两个亮度级别以确定是否继续例如自动地检测介质90的边缘，或者装置50是否停止打印作业并提示人工干预以避免因失败的打印作业(诸如无法打印到介质90的边缘)而浪费介质90。边缘的自动检测发生的方式不受具体限制。在本示例中，为执行边缘检测，发光器55被设置为基于信噪比的亮度级别。

参考图2，装置50的示意图更详细地示出了内部电子器件。在本示例中，装置50还包括与处理器通信的存储器105和与处理器100通信的输入/输出设备102。

存储器105耦接至处理器100，并且可以包括非暂时性机器可读存储介质，其可以是任何电子、磁性、光学或其他物理存储设备。在本示例中，存储器105存储有数据库110。数据库110可以包括针对各种装备的多个校准以及预定阈值限制。另外，数据库110可以存储如上所述的由处理器100确定的亮度级别。

存储器105还可以存储可执行指令115。在本示例中，可执行指令115可以包括用于检测执行装置50的各种功能并且控制发光器55以及从光学传感器60读取数据的指令集。另外，指令115可以用于指示处理器100经由输入/输出设备120发送或接收数据或消息。

存储器105还可以存储处理器100可执行的操作系统以向装置50提供通用功能，例如用于支持各种应用程序(诸如用于访问装置50的各种特征的用户界面(未示出))的功能。操作系统的示例包括Windows^TM、macOS^TM、iOS^TM、Android^TM、Linux^TM、Unix^TM或专用嵌入式固件。存储器105可以另外存储处理器100可执行的应用程序以向装置50提供诸如自动介质检测或打印功能的特定功能。

装置50的输入/输出设备120与处理器100进行通信。输入/输出设备120不受具体限制，并且可以包括按钮、键盘、指针设备、触控设备、按钮、麦克风或在从用户激励时生成信号以向处理器100提供用于控制装置50的功能的用户输入的任何其他设备。例如，用户输入可以包括诸如尺寸和类型的介质信息的录入，以启动校准程序。在其他示例中，输入/输出设备120可以包括显示屏或光以指示装置50的状态。在其他示例中，输入/输出设备120可以是能够进行输入和输出功能的触摸屏。在进一步的示例中，输入/输出设备120可以是与所连接的设备或诸如无线网络的网络进行通信的通信接口，在这种情况下从另一电子设备接收输入。例如，装置50可以经由无线连接或诸如USB连接之类的点对点连接被连接至可以提供用户输入的计算机(未示出)。

参考图3，大体上示出了用于检测介质90的另一设备50a。设备50a的相同部件具有与打印系统50中其对应部件相同的附图标记，除了后面跟有后缀“a”。在此示例中，装置50a用于检测经过压盘95的介质90的边缘。装置50a包括控制器52a、发光器55a、光学传感器60a、托架65a、护盖70a、导杆75a和打印头80a。

控制器52a用于对装置进行控制。在本示例中，控制器包括处理器100a、存储器105a和网络通信接口120a。网络通信接口120a可以耦接至处理器100a，并允许处理器100a通过网络从另一计算设备接收数据和指令。在本示例中，网络通信接口120a与诸如因特网或局域网的网络进行通信，并且经由网络接收数据。网络提供到诸如内容提供商、个人计算机、移动计算设备或可从其提供指令和内容的任何其他设备的另一设备的链接。

在本示例中，托架65a容纳装置50a的各种部件。例如，托架65a支撑发光器55a、光学传感器60a和打印头80a。托架65a提供刚性支撑以允许在相对于发光器55a和光学传感器60a的固定位置处安装打印头80a。因此，发光器55a、光学传感器60a和打印头80a的几何结构在托架65a的任意移动期间(诸如在打印作业期间)保持恒定。

在本示例中，护盖70a用于保护发光器55a和光学传感器60a。然而，如图2中所示，由于护盖70a被设置在发光器55a和光学传感器60a两者的上方，所以护盖70a的表面可以提供内部反射以产生噪声。另外，护盖70a减少诸如气溶胶或颗粒物之类的污染物到达发光器55a和光学传感器60a。相反，污染物被护盖70a阻挡，在一些示例中，护盖70a是可拆卸的以清洁或更换。将污染物阻挡在发光器55a和光学传感器60a外会使污染物粘附在护盖70a上并降低装置50a的性能。具体地，护盖70a上的污染物可以吸收或反射来自发光器55a的更多光，以在光学传感器60a处引入附加噪声。随着时间的推移，装置50a在更多介质上进行打印，污染物的问题可能持续降低护盖70a的透明度和/或增加护盖70a的内部反射率(即，来自发光器55a的光直接被护盖70a的内表面反射至光学传感器60a的反射光)。护盖70a可以周期性地被清洁和/或更换。因此，由护盖70a引入的噪声的量可能在装置50a的寿命历程中波动。

导杆75a被配置为支撑托架65a。在本示例中，托架65a可滑动地安装至导杆75a使得托架可以沿着导杆75a移动。托架65a移动的方式不受具体限制，并且可以包括电机以沿导杆75a移动皮带或链条。在本示例中，控制器52a可以经由提供给托架65a或用于移动托架65a的机构的指令来控制托架65a沿导杆75a的移动。在物理支撑方面，导杆75a以机械结构支撑托架65a及其相关运动。例如，导杆75a被构建为使其具有足够的刚性以将托架悬挂在介质90上方。

打印头80a用于在打印过程期间将打印流体转移到介质90上。在此示例中，由控制器52a控制打印头80a，控制器52a指示打印头80a在介质90上的特定位置处分配打印流体。例如，打印系统可以使用滚轴系统(未示出)将介质90送入导杆75a下方。介质90经过压盘95，并且打印头80a可以沿着导杆75a移动从而被置于介质90上方的位置。控制器52a可以接着指示打印头80a将一定量的打印流体分配到介质90上。

参考图4，控制器52a的示意图更详细地示出了内部电子器件。在本示例中，控制器52a还包括与处理器通信的存储器105a以及与处理器100a通信的网络通信接口120a。

存储器105a耦接到处理器100a，并且可以包括非暂时性机器可读存储介质，其可以是任何电子、磁性、光学或其他物理存储设备。在本示例中，存储器105a存储有数据库110a。数据库110a可以包括针对各种装备的多个校准以及预定阈值限制。另外，数据库110a可以存储如上所述的由处理器110a确定的亮度级别。此外，在该示例中，存储器105a可以存储通过网络通信接口120a接收的要打印的诸如图像或文档的内容。

存储器105a还可以存储可执行指令115a。在本示例中，可执行指令115a可以包括用于检测执行装置50a的各种功能并且控制发光器55a以及从光学传感器60a读取数据的指令集。另外，指令115a可以用于指示处理器100a控制托架65a沿导杆75a移动，以及控制打印流体从打印头80a的分配。

存储器105a还可以存储处理器100a可执行的操作系统以向控制器52a提供通用功能，例如用于支持各种应用程序(诸如用于访问控制器52a的各种特征的用户界面(未示出))的功能。操作系统的示例包括Windows^TM、macOS^TM、iOS^TM、Android^TM、Linux^TM、Unix^TM或专用嵌入式固件。存储器105a可以另外存储处理器100a可执行的应用程序以向控制器52a提供特定功能。

控制器52a的网路通信接口120a与处理器100a进行通信。在其他示例中，网络通信接口120a可以用于与所连接的设备或诸如无线网络的网络进行通信，在这种情况下从另一电子设备接收输入。例如，控制器52a可以经由无线连接或诸如USB连接之类的点对点连接被连接至可以提供用户输入的计算机(未示出)。

可以预期各种变化。虽然装置50a的本示例包括控制器52a、发光器55a、光学传感器60a、托架65a、护盖70a、导杆75a和打印头80a，但是可以省略这些部件中的一个或多个。例如，装置50a可以不包括导杆75a并且具有另一装置来移动托架65a。作为另一示例，护盖70a可以用分立的护盖代替，每个护盖用于保护发光器55a或光学传感器60a。作为另一示例，仅发光器55a和光学传感器60a中的一个被盖住。

参考图5，在200示出了用于校准装置50a的方法的流程图。为了有助于方法200的解释，假设方法200可以使用装置50或50a(具体是由处理器100或100a)执行。实际上，方法200可以是可对装置50和50a进行配置的一种方式。此外，下面对于方法200的讨论可以导向对处理器100和100a、以及装置50和50a与其各种部件的进一步理解。

从框210开始，处理器100a指示发光器55a将光发射到要在上面进行打印的介质90上。处理器100a指示发光器55a的方式不受具体限制。例如，发光器55a可以包括用于控制光发射的独立微处理器(未示出)。在这种示例中，处理器100a可以向发光器55a发送以给定的亮度级别发射光的命令。在其他示例中，处理器100a可以向发光器55a直接提供电流以给发光二极管供电。

接下来，在框220中，光学传感器60a测量反射光。在本示例中，光学传感器60a可以简单地测量自介质90反射后入射到光学传感器60a上的光。具体地，本示例涉及如图4中所示，在从发光器55a到光学传感器60a的光的路径下介质90的对齐。

框230基于由光学传感器60a测量的反射光生成反射率数据。在本示例中，由光学传感器60a采集的原始数据被处理器100a接收并且转换为将存储在存储器105a上的强度测量。在一些示例中，原始数据可能是电压的形式并且直接记录到存储器105a中以生成反射率数据。在其他示例中，原始数据可以在作为反射率数据存储之前进行处理。

在框240中，处理器100a确定使在光学传感器60a处产生具有与高灵敏度范围对应的范围内的强度的反射光的、发光器55a发射光的亮度级别。在本示例中，光学传感器60a以近似线性的方式对入射光强度进行响应使得入射强度的任何改变都能在响应中提供改变。响应的这种改变允许对离开介质90(诸如介质90的边缘附近)的光的反射率的改变进行精确测量。

针对光学传感器60a处的高灵敏度确定亮度级别的方式不受限制，并且可以包括各种各样的方法。例如，可以基于包括发光器55a、光学传感器60a和打印系统配置的已知类型和模型的多个标准装备对发光器55a和光学传感器60a进行预校准。在该示例中，确定可以通过参考存储在存储器105a中的表格中的值而进行。作为另一示例，处理器100a可以执行基于来自光学传感器60a的实时数据确定亮度级别的校准算法。

框250基于信噪比确定另一亮度级别。具体地，该亮度级别被确定为反射强度提供低于预定信噪比阈值的信号时发光器55a可以发射光的最高亮度级别。该阈值不受限制，并且可以基于各种因素，诸如与光学传感器60a将信号与背景噪声区分开的能力有关的因素。在本示例中，处理器100a可以指示发光器55a以低亮度级别发射光，并且以迭代的方式增加发光器55a的亮度级别直至信噪比达到阈值。

在框260中，处理器100a比较从框240和框250获取的亮度级别，以确定是否继续经由从发光器55a以在框250处确定的亮度级别发射光进行介质90的边缘的检测。例如，可以将来自框250的亮度级别与框240的亮度级别进行比较，以证实来自框250的亮度级别满足相对最小亮度阈值。最小亮度阈值不受限制，并且可以被设置为与来自框240的亮度级别相同，或者高于或者低于来自框240的亮度级别。在本示例中，该阈值被设置为高于来自框240的亮度级别，以保证在光学传感器60a处能接收到具有在高灵敏度范围之上的足够强度的反射光，以获得介质90的边缘的准确测量。

参考图6，在300示出了用于校准装置50a的另一方法的流程图。为了有助于方法300的解释，假设方法300可以使用装置50或50a(具体是由处理器100或100a)执行。方法300可以仅是可对装置50和50a进行配置的一种方式。此外，下面对于方法300的讨论可以导向对处理器100和100a、以及装置50和50a与其各种部件的进一步理解。

在框310中，处理器100a确定使在光学传感器60a处产生具有与高灵敏度范围对应的范围内的强度的反射光的、发光器55a发射光的亮度级别。在本示例中，托架65a位于介质90的正上方，使得光学传感器60a接收从介质90的表面反射的入射光。在光学传感器60a处接收的入射光的量可以经由发光器55a的发射光的亮度级别的调整来调整。处理器100a接下来通过监控光学传感器60a对发光器55a的亮度级别的改变的响应，而确定在光学传感器60a处提供最高灵敏度的、发光器55a发射光的亮度级别。

框320将托架65a从介质90上方的位置移动到另一位置。在本示例中，托架65a可以沿着导杆75a移动至远离介质90的位置，使得托架65a处于诸如压盘95的吸收器上方的位置。在本示例中，压盘95包括吸收材料以吸收来自发光器55a的发射光并且减少回到光学传感器60a的任何反射光。在其他示例中，压盘95的表面修饰可以充当吸收器。因此，在此位置光学传感器60a测得的大部分光可归因于噪声。

在框330中，处理器100a指示发光器55a以发光器55a能够操作的最小亮度级别发射光。发射光被引导至光学传感器60a，其中入射到光学传感器60a上的光的强度被记录。

框340确定框330处的亮度级别是否低于阈值。阈值和如何确定阈值不受具体限制。例如，阈值可以是来自模数转换器的电压值。具体地，当使用具有3.3V参考电压的9位模数转换器时，该阈值可以被设置为大约0.26V。应理解，这些值高度依赖于诸如所使用的专用集成电路的装备。如果框330处的亮度级别低于阈值，则方法300前进到框350，在框350处处理器100a指示发光器55a增加亮度级别。发光器55a增加亮度级别的量不受限制。例如，发光器55a可以以固定的小增量或固定的大增量增加亮度级别。在其他示例中，发光器55a增加亮度级别的增量可以不是固定的并且可以是可变的，诸如依赖于测量到的亮度级别与阈值的接近程度。在执行框350之后，方法300返回框340，在框340进行另一确定。重复这一迭代循环直至在光学传感器60a处接收的噪声的亮度级别达到阈值。一旦达到阈值，方法300就前进到框360，在框360处发光器55a的亮度级别被设置为与信噪比关联的亮度级别。

参考图7，在400示出了用于验证使用装置50a执行的校准的方法的流程图。为了有助于方法400的解释，假设方法400可以使用装置50或50a(具体是由处理器100或100a)执行。方法400可以仅是可配置装置50和50a的一种方式。此外，下面对于方法400的讨论可以导向对处理器100和100a、以及装置50和50a与其各种部件的进一步理解。

在框410中，处理器100a接收与信噪比所关联的亮度级别相对应的数据。例如，通过执行块250获得的亮度级别或在框360处获得的亮度级别。处理器100a进一步接收描述介质的尺寸的介质尺寸选择或测量。在本示例中，介质尺寸选择可以经由网络通信接口120a从由用户操作的外部计算机作为数据接收。在另一示例中，介质尺寸选择可以由处理器100从输入/输出设备120直接接收在装置50上。

框420执行自动边缘检测。执行介质90的边缘检测的方式不受具体限制。例如，托架65a可以沿导杆75a移动直到到达介质90的边缘。在该示例中，由于介质90反射光并且压盘95吸收光，因此一旦托架60a不再处于介质90a上方，在光学传感器60a处检测到的来自发光器55a的光就会减少。滚轴(未示出)可以由控制器52a控制并且可以用于在垂直于导杆75a的方向上移动介质90，使得可以确定介质尺寸的所有边缘。

框430确定基于校准的亮度水平(诸如在框250处确定的亮度水平)是否与基于在框240处确定的亮度水平而确定的阈值有关。准确的阈值不受限制，并且可以被设置为在框240处确定的亮度水平或者高于或低于该值。该阈值和如何确定该阈值也不受具体限制，并且依赖于诸如所使用的专用集成电路的装备。如果在框250处确定的亮度水平高于相关阈值，则方法400前进到框450，在框450处打印作业在没有用户的进一步输入的情况下继续。实际上，该确定证实了发光器55a和光学传感器60a被充分校准使得准确度是值得信赖的。因此，该阈值可以被设置的更高以降低假阳性的机率。

如果在框250处确定的亮度级别不高于相关阈值，则方法400前进到框440。作为验证步骤，处理器100a将基于在框420处的边缘检测的介质尺寸与在框410中从用户接收的数据进行匹配比较。如果处理器100a确定存在匹配，则方法前进到框450，在框450处打印作业在用户的进一步输入的情况下继续。相应地，如果处理器100a确定不存在匹配，则方法前进到框460，在框460处向用户生成错误码以提示另外的输入或用户干预。在其他示例中，处理器100a可以提示用户确认介质尺寸或简单地取消打印作业，而不是生成错误码。

现在对本领域技术人员来说各种优点是显而易见的。例如，装置和方法提供用于选择改善介质边缘检测的发光器亮度级别的校准方法来解决噪声问题。另外，提供验证介质尺寸选择的方法以降低与基于不准确的边缘检测而进行的糟糕的打印作业相关联的成本。具体地，发光器被自动设置为避免光学传感器60a由于噪声而饱和。

应当认识到，上面提供的各种示例的特征和方面可以组合为也落入本公开的范围内的进一步示例。

Claims (15)

1.一种装置，包括：

发光器，用于向要在上面进行打印的介质上发射光；

光学传感器，接近所述发光器布置，用于检测反射光的量；以及

处理器，用于控制所述发光器和所述光学传感器，其中所述处理器用于校准所述发光器以针对所述光学传感器处的高灵敏度确定第一亮度级别，并且其中所述处理器用于校准所述发光器以基于信噪比迭代地确定第二亮度级别，所述处理器比较所述第二亮度级别与所述第一亮度级别以确定是否继续使用所述第二亮度级别进行所述介质的边缘的检测。

2.根据权利要求1所述的装置，进一步包括护盖，所述护盖用于保护所述光学传感器和所述发光器。

3.根据权利要求1所述的装置，进一步包括：

导杆；以及

可滑动地安装在所述导杆上的托架，其中所述托架支撑所述发光器和所述光学传感器。

4.根据权利要求3所述的装置，进一步包括安装在所述托架上的打印头，其中所述打印头被安装在相对于所述发光器和所述光学传感器的固定位置处。

5.根据权利要求1所述的装置，其中所述处理器用于接收表示介质尺寸的输入，所述处理器验证所述输入是否与检测到的所述边缘对应。

6.一种方法，包括：

使用发光器向要在上面进行打印的介质上发射光；

使用光学传感器测量被反射的来自所述发光器的光；

基于由所述光学传感器测量的反射光而生成反射率数据；

确定使所述反射光在与所述光学传感器的高灵敏度范围对应的反射亮度范围内的、所述发光器发射光的第一亮度级别；

确定使所述反射亮度范围低于预定信噪比阈值的、所述发光器发射光的第二亮度级别；并且

比较所述第二亮度级别与所述第一亮度级别，以确定是否继续使用所述第二亮度级别进行所述介质的边缘的检测。

7.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：在托架上安装所述发光器和所述光学传感器，其中所述托架沿导杆可滑动。

8.根据权利要求7所述的方法，进一步包括：在所述托架上安装打印头，其中所述打印头被安装在相对于所述发光器和所述光学传感器的固定位置处。

9.根据权利要求8所述的方法，其中所述托架沿所述导杆在用于确定所述第一亮度级别的第一位置与用于确定所述第二亮度级别的第二位置之间可移动。

10.根据权利要求9所述的方法，其中所述第一位置在所述介质上方，并且所述第二位置在吸收器上方。

11.根据权利要求6所述的方法，其中确定第一亮度级别包括：将所述反射亮度范围调整在所述光学传感器的基本线性响应区域之内。

12.根据权利要求11所述的方法，其中确定第二亮度级别包括：迭代地增加所述反射亮度范围直至达到所述预定信噪比阈值。

13.根据权利要求6所述的方法，进一步包括：

接收表示介质尺寸的输入；并且

验证所述输入是否与检测到的边缘对应。

14.一种编码有由处理器可执行的指令的非暂时性机器可读存储介质，所述非暂时性机器可读存储介质包括：

用于使用发光器向要在上面进行打印的介质上发射光的指令；

用于接收来自光学传感器的反射率数据的指令，其中所述反射率数据表示在所述光学传感器处接收的来自所述介质的反射光的量；

用于确定使所述反射率数据在高灵敏度范围内的、所述发光器发射光的第一亮度级别的指令；

用于确定使所述反射率数据低于预定信噪比阈值的、所述发光器发射光的第二亮度级别的指令；以及

用于比较所述第二亮度级别和所述第一亮度级别以确定是否继续使用所述第二亮度级别进行所述介质的边缘的检测的指令。

15.根据权利要求14所述的非暂时性机器可读存储介质，进一步包括：用于接收表示介质尺寸的输入的指令以及用于验证所述输入是否与检测到的边缘对应的指令。

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