CN1113356C - 存储技术中读通道的自适应以及可选择性电平调节 - Google Patents

Abstract

一种用于存储技术中读信号的选择采样的有选择性以及自适应有效电平调节的方法、电路以及系统。体现本发明的电路包括采样逻辑、算术逻辑以及条件逻辑。采样逻辑接收采样并且提供一个主采样以及一个或多个选择的相邻采样。算术逻辑将主采样与相邻采样进行比较以便于确定满意的选择条件标准。如果所选的条件标准满意，则条件逻辑有选择地并且自适应地达到主采样的电平调节。体现本发明的一种方法包括：获得与该读信号的参考区相关的电平调节参数；对通道位位置上的读信号采样以提供若干采样；从若干采样中选择主采样；从若干采样中选择一个或多个相邻采样，在来自主采样的通道位中以预定距离处设置这些相邻采样；将主采样与这些相邻采样的每一个比较以确定满意的选择条件标准；在确定所选的条件标准使其满意的地方，对主采样施加电平调节，这个电平调节响应于电平调节参数。

Description

存储技术中读通道的自适应以及可选择性电平调节

技术领域

本发明通常涉及存储技术的数据恢复，特别涉及于用于通过存储技术的读通道的自适应以及选择电平调节进行数据恢复的方法、装置以及系统。

背景技术

在制造技术以及系统结构中的发展已经越来越导致了大功率消费电子设备和计算机。这些消费电子设备以及计算机支持诸如多媒体这样的与在其上可以处理和存储大量信息有关的各种特性及应用。通常，信息量不仅巨大而且不断增加。

为了提供信息，已经发展了包括磁性、光学以及磁-光学技术的存储技术。尽管这些技术提供了相对大的存储容量，但是这些技术通常需要进行改善以便于克服限制存储容量的各种因素。其它领域中正在发展的是记录数据的精确检测，特别是当增加记录密度的时候。

通常可以使用一个门限来实现记录数据的检测。作为一个例子，通过将一个读信号与一个预定门限值比较来检测光学读通道(例如，使用1，7运行长度限制的调制编码)的通道位；如果在一个特定的通道位位置上该读信号超过门限值，则该通道位被识别为‘1’(即，一个标记)；否则将该通道位识别为‘0’(即，一个空格)。

相对于门限值的检测通常依靠于设置一个合适的门限值。一般地，在可接受的位误差率范围内可以对于恢复的记录信息来设置门限值。这样做，可以将门限值最佳地设置在一个“眼图”的中央，这个眼图可以作为显示读信号幅度和相位容限的一个测量。但是，读信号的幅度和相位容限趋向于受各种参数的影响，这些参数包括，尤其是，写功率、介质的写入灵敏度、写入以及读出驱动器点的品质(例如，标记大小的变化)、写入以及读出驱动器的聚焦补偿、以及记录密度。例如，增加的记录密度趋向于增加符号间干扰(“ISI”)以便于可以相对于标记和空格降低幅度容限。此外，由于这些参数在系统和介质之间变化，所以眼图的中心趋向于变化，则最佳门限值设置也依次趋向于变化。

因此，在调节增加的记录密度以及趋于导致门限值变化以及容限降低的其它参数时，希望提供对于记录数据的准确检测。

发明内容

在调节增加的记录密度以及趋于导致门限值变化以及容限降低的其它参数时，提供一些方法、电路以及系统来增加记录数据的检测准确性。更特别地，提供一些方法、电路以及系统来自适应以及选择性地调节读信号的采样电平。这种方法、电路以及系统的有利之处在于可以为选择采样建立起可靠的容限，可以因此改进记录数据的检测，特别是在扩大了记录密度的时候。

体现本发明的一种电路包括采样逻辑、算术逻辑以及条件逻辑。采样逻辑接收采样信号并且提供一个主采样以及一个或多个选择的相邻采样。算术逻辑将主采样与相邻采样进行比较以便于确定满意的选择条件标准。如果所选的条件标准满意，则条件逻辑有选择地并且自适应地达到主采样的电平条件。优选地，这个条件是双电平置换，其中对于一个选择的主采样可以置换一个高置换电平或一个低置换电平。

一种体现本发明的方法包括：获得与该读信号的某个参考标记相关的电平条件参数；对通道位位置上的读信号采样以提供若干采样；从若干采样中选择主采样；从若干采样中选择一个或多个相邻采样，在通道位中离主采样以预定距离处配置这些相邻采样；将主采样与这些相邻采样的每一个比较以确定满意的选择条件标准；并且在确定所选的条件标准为满意的地方，响应电平调节参数对主采样施加电平调节。

为了便于理解本发明，以及通过其应用所得到的操作效果以及特别的目的，应该参考附图和在说明以及描述的最佳实施例中的说明性内容，其中相同的参考数字确定了相同或相似的元件。

附图说明

图1(a)示出了一个读信号、该读信号具有参考区和数据区。

图1(b)示出了一个处理过的读信号，该处理过的读信号具有包括经受电平调节的数据标记以及空格的参考区和数据区。

图2是根据本发明的与读通道相关的电平调节电路的框图。

图3是一个存储系统的框图，该系统包括一个根据本发明的与读通道相关的电平调节电路。

具体实施方式

术语

这里使用的读通道，涉及可以从记录介质面上将信号发送到处理元件上的光学、电子、磁以及机械元件以便于转换为便于用户的格式。

这里使用的K-约束，涉及在二进制通道位的任何序列中的连续逻辑零位(或1位)的最大数，其中逻辑1(零)表示信号转换的位置。

这里使用的D-约束，涉及在二进制通道位的任何序列中的连续逻辑零位(或1位)的最大数，其中逻辑1(零)表示信号转换的位置。使用d-约束来确定用于在经受电平替换的选择通道位中的估算的采样之间的距离，如下面将更为详细描述的。

这里使用的电平调节，涉及操纵被选的采样以便于在检测或其它用途中增强性能(例如，可靠性)。电平调节的好处包括，举例而言，改进用于读信号的通道位的逻辑极性的检测(即，‘1’或‘0’)，特别是在增强记录密度的情况中或其他可以导致读误差的情况中(例如，由于门限值的变化或容限的降低)。

综述

本发明的实施例采用电平调节来选择读信号的采样。电平调节可以有各种实施方式。优选地，电平调节响应于电平调节参数。优选地，电平调节参数的获得是与读信号的参考区中的标记和空格的预定结构相关。在一个实施例中，通过将一个或多个置换电平安排给采样过程来实现电平调节，该置换电平最好是从电平调节参数中导出。在这个实施例中，最好是，这个推导过程需要将每个置换电平设置得等于相应的电平调节参数。在这种情况中，电平调节参数最好基于从参考区的结构中检测出的各种电平。但是在这种情况中可以理解的是，可以以另外方式使电平调节参数为基准并且不需要将置换电平设置得等于相应的电平调节参数。

但是，所实现的电平调节最好是可自适应的。带有指定的置换电平，自适应电平调节包括自适应地获得电平调节参数和/或自适应地导出置换电平。在这种情况中，自适应地导出一个或多个置换电平需要修正、调整和/或重复地导出这些电平(例如，在设置的间隔和/或对应于一个或多个触发情况中)。

参考标记

在本发明的一个说明性实施例中，将盘格式化以便于包括若干磁迹，每个磁迹包括一个选择的分段数(例如，225)，并且每个段都有一个所选的帧数(例如，16)。每帧包括一个或多个区。这些区包含预先格式化的多个标记，使用这些标记来提供选择功能，这些功能特别包括时钟同步、磁迹跟踪、磁迹捕获、地址以及磁迹计数。

每个帧还包括一个可记录区。这个可记录区是提供用于记录用户数据的。在逻辑扇区中安排数据，每个扇区最好开始在一帧的边界处。每个扇区包括一个数据字节的选择数(例如，1024或2048)以及其它信息。这种其它信息提供一种或多种包括特别是误差修正的功能。

图1(a)和(b)示出了根据本发明的读通道的典型读信号。每个读信号包括(i)在参考区中的参考标记和空格，(ii)在数据区中的示意性数据标记和空格，该数据区包括用户数据并且(iii)各种电平包括门限(a.k.a.，“片”)电平。尽管说明性的读信号是模拟信号，最好是将每个读信号作为在选择频率处被采样的离散值那样处理。

根据本发明的原则，在电平调节中使用与参考区有关的选择采样。在一个实施例中，检测选择采样以得到电平调节参数。在一个更特定的实施例中，使用参考区中标记和空格的选择模式来检测所选采样。在其中电平调节包括置换电平的分配的一个实施例中，最好使用该模式从其中导出高和/或低置换电平的参数中得到电平调节参数：具有其幅度大于主要的检测门限值的高置换电平以及具有其幅度小于主要的检测门限值的低置换电平。

参考区最好具有被选择以使电平调节最佳的标记和空格模式。例如，最好是，该参考区具有一个代表类似于在数据区中所发生的最差情况的检测特性模式，以便于这种电平调节能最好地增强检测准确性。作为一个例子，优选的这些模式在标记之间具有空格距离，这些标记在遵守编码要求(例如，1，7RLL，2，7RLL，NRZ，8/9，EFM+，等)时，最大地强调了系统。

可以提供各种参考模式。这些参考模式最好包括下面任一个或两个情况(I)被设置在一个或多个帧中的预定标记和空格的选择组(例如，数量和排列)以及(ii)与每个扇区有关的前置字节。在一个实施例中，如图1(a)和(b)所示，这个选择组包括设置在一帧的可记录区中的两个标记并且覆盖12个通道位。在这个实施例中，预定标记最好在每帧中重复以便于它们被插入在用户数据中，例如，在每帧都包括预定的标记情况下，一逻辑扇区的用户数据一般地被存储在若干帧中。

在另一个实施例中，前置字节最好在数量上是12个(例如，其中用户数据在数量上是2048)并且包括每个字节两个标记(即，总共24个标记)，所有这些标记都被设置在与该扇区相关的第一帧的可记录区中。

在另一个实施例中，前置字节对应于选择组。例如，在提供该前置的扇区第一帧中使用选择组的两个预定标记1到12次。这样做，可以在一个或多个算法并且使用单独的和/或冗余参考标记信息的基础上实现与这些标记有关的功能。

如果该前置包括12个所选组，则采样最好是在这12字节中平均(或者被控制)从而在每个扇区的开始时获得电平调节参数。此后，使用在扇区第一帧之后的一个或多个帧中的所有或部分选择组来获得、调整或修正电平调节参数，例如，或者是非前置标记或者是后来的前置标记(在下文中，有时使用术语“自适应搜索”来涉及任何一个或所有的相应电平调节参数的获得、调整和/或修正)。

作为一个例子，在设置在扇区第一帧之后的一个或多个帧的任何一个或所有选择组(例如，冗余参考标记信息)的基础上调整或修正电平调节参数。这种修正/调整可以基于这样的选择组：或者单独来自一个帧，或者以组的形式，或者全部横跨所有帧。在这个实施例中，电平调节对应于与选择组的后续帧有关的电平调节参数，在这个基础上电平调节被进一步修正。但是，可以理解的是，在不脱离本发明原则的情况下，还可以从没有调整电平调节参数的一个或多个后续帧的选择组(所有或部分)中修正电平调节。

作为另一个例子，可以仅在设置在扇区第一帧之后的一个或多个帧的部分选择组(例如，单独的参考标记信息)的基础上得到电平调节参数。在这个例子中，在这个基础上，即与从电平调节参数中导出的一个帧相关的该电平调节与后续帧中的那个帧中的选择组有关来重复获得最好地电平调节，而不用参考其它帧的其它组的电平调节参数。

尽管如上所述可以提供参考模式，但是可以理解的是，在不脱离本发明原则的情况下可以用另外的方式提供这种模式。例如，当如上所述在各帧的可记录区中设置参考模式时，可以理解的是，可以预先形成一些或全部参考模式。但是，最好是，这些参考模式可以与用户数据一起被记录在可记录区中以便于在写入/读出用户数据时这些参考模式受主要的参数所支配。

电平调节参数

可以理解的是，可以从使用各种排列的参考区信息中获得电平调节参数。参考图1(a)和(b)，这些排列的例子包括：

1)检测采样4、6，10或12中的任何一个值；或

2)检测并且平均采样4、6、10和12中的全部或一些组合的值；或

3)检测采样3、7或9中的任何一个的值；或

4)检测并且平均采样3、7或9中的全部或一些组合的值；或

5)检测采样5和/或11的值，如果检测到这两个采样则将其平均；或

6)检测采样8的值；或

7)将上述1)或2)中一个与上述4)或5)中的一个组合，以及与5)和/或6)组合或不组合。

虽然列出了上述例子，可以理解的是在不脱离本发明原则的情况下可以采用其它方式来获得电平调节参数(例如，内插法、多更迭计算以及类似的)。

在第一个实例中，最好是，可以通过下列方式得到电平调节参数：(i)经过一个合适的快速模拟-数字转换器将读信号数字化，以及(ii)获取可用的采样以存储在寄存器中。在第二个实例中，最好是，可以通过下列方式得到电平调节参数：(i)经过一个合适的快速模拟-数字转换器将读信号数字化，(ii)得到采样以累积在例如寄存器中，以及(iii)处理该寄存器的内容以获得平均结果。

可以理解的是电平调节最好对应于电平调节参数。在一个实施例中，电平调节包括给选择的采样分配一个选择的置换电平，这个置换电平是从电平调节参数中导出的。在另一个实施例中，除了用这种分配之外，电平调节可以包括例如通过采用一个偏移量来处理采样，在这种情况中，这个偏移量最好是从电平调节参数中推导出的。另一个例子，电平调节可以使用基于电平调节参数的计算。可以理解的是，电平调节可以对应于电平调节参数，但是在不脱离本发明原则的情况下，还可以产生除上述之外的处理。

图1(a)和(b)还说明了，对于数据区的采样最好是仅仅使用电平调节。

电平调节方法

图1(a)和(b)示出了一个读信号。这个读信号具有两个起始参考标记，在数据区中，这些标记跟有1，7RLL的编码序列的标记和空格。另外，如图所示，图1(a)的采样1，2，3，4，19和20具有接近检测门限值TH的电平。然后对于这些采样，一般地有增加读误差的趋势，例如，响应于噪声和/或门限值瞬变过程。这样希望对这些采样施加电平调节以改进它们相应的幅度容限。为了说明电平调节，图1(b)示出了其具有低于电平C的采样1，2，19和20，而采样3和4具有上升到电平B的电平。在采样19和20的情况中，尽管其电平最初在限制电平之上，并且在电平调节之后，这些电平正好低于带有足够容限的限制电平从而希望没有读误差。(采样19和20的初始电平反映出两个插入空格的相对大的标记的真实情况)为了进一步说明电平调节，图1(b)示出了具有上升到电平C的电平的采样6，12和13，而采样9，16和17具有低于电平B的电平，因此，对于选择的采样，电平B和C提供相应的上、下电平。

因此，电平调节方法是针对识别如同1，2，3，4，6，9，12，13，16，17，19和20这样的采样，并且适当地在其施加电平调节。通常，电平调节方法针对选择性地识别采样：那些可能导致读误差的采样最好是择优选择。此外，这个电平调节方法针对于可以自适应的，其中自适应性最好是从参考区的信息中获得的(例如，包括从与前置标记和内插标记中的一个或两个有关的信息中获得的)。

在基于图1(a)和(b)的方法中，在通道位位置上对读信号采样以获得主采样和相邻采样。相对于所选调节标准检测主采样从而确定是否施加了电平调节。为了说明这个，所选的调节标准满足下面两个之一：(a)如果主采样具有小于被设置在离主采样预定距离(这里，两个通道位)的两个相邻采样的两个电平的电平或(b)如果主采样具有大于被设置在离主采样预定距离(这里，两个通道位)的两个相邻采样的两个电平的电平。描述得更具体些，在一个主采样和两个相邻采样的情况中，所选调节标准一般包括确定公共算术符与主采样的电平和每个相应相邻采样电平之差相关。

最好通过将一个高或低置换电平分配给主采样来进行电平调节。例如，如果该主采样大于两个相邻采样，则将高置换电平分配给主采样。但是，如果该主采样小于两个相邻采样，则将低置换电平分配给主采样。而且，在这个实施例中，将高和低置换电平作为单独一对来描述，可以认识到在不脱离本发明原则的情况下，可以使用其它的方式。这些其它例子包括：(i)不需要使用一对，(ii)这一对可以是不平衡的(例如，三个高置换电平与两个低置换电平配对)，以及(iii)可以使用多于一对的置换电平。特别是在后面两个实例中，根据所选分配标准确定来自若干(高或低的)置换电平的一个特定置换电平的分配。

因此至于为电平调节排除不合适的采样选择，仅在满足排除函数时，最好为电平调节选择主采样。该排除函数最好使用选择的、一个或多个调节触发值；这样，只要使合适的调节触发值超过(i)主采样和(ii)选择的相邻采样之间的电平差，则电平调节是有效的。在所描述的这个例子中，使用电平置换使电平调节有效。在那个实施例中，当第一调节触发值超过(i)主采样和(ii)两个相邻采样之间的电平差，则低置换电平的电平置换是有效的，而当这个差值超过第二调节触发值时，则高置换电平的电平置换是有效的。在任何一种情况中，最好使用选择参数来确定调节触发值，这些参数包括波动和/或噪声。另外，如下所述，最好从参考区的信息中导出调节触发值。

如下所述，最好选择主采样和相邻采样之间的距离从而使电平调节最佳。一般地，这种选择对应于诸如编码这样的因素。例如，在1，7RLL编码的情况中，在主采样任一侧上的距离最好是两个通道位。

电平调节电路

参考图2，根据本发明，示出了电平调节电路100。电平调节电路100包括采样逻辑102、算术逻辑104、采样选择逻辑106以及条件逻辑108。在图2所示说明的实施例中，响应于1，7RLL编码来实现电路100。

采样逻辑102接收一个数字化读信号202并且产生一个主信号和两个相邻信号，有选择地选择主采样用于电平调节。选择采样逻辑102的抽头206A和206B，并且由通道时钟204定时(CCLK)。

采样逻辑102还有存储元件208A、208B、208C以及208D。每个存储元件208A-D接收CCLK204并且是一个比特深度以便于引入一个时钟周期的延迟。存储元件208A-D具有相应的输入端210A-D和输出端212A-D。输出端212A与输入端210B相连；输出端212B与输入端210C相连；以及输出端212C与输入端210D相连。输出端212B和212D分别连接到抽头206A和206B上。

输入端210A接收数字化读信号202。因此，当由CCLK204定时时，在这些地方提供数字化读信号：(i)在随着输入端210A处接收后延迟两个时钟周期之后的抽头206A处以及(ii)在随着这种接收后的延迟四个时钟周期之后，即在206A处提供之后的随后延迟两个时钟周期。为了便于随后讨论，(a)T0表示主信号，即，如同在抽头206A处所提供的延迟数字化读信号的采样，(b)T-2表示第一相邻信号，即，如同在抽头206B处所提供的延迟数字化读信号的采样以及(c)T+2表示第二相邻信号，即如同由电平调节电路100所接收的数字化读信号202的采样。

抽头206A和206B以及输入端210A与算术逻辑104连接。如同要说明的，算术逻辑104包括减法器220A和220B。在这个例子中，抽头206A与每个减法器220A和220B连接，而减法器220A也与输入端210A连接，而减法器220B与抽头206B连接。减法器220A从相应的T+2采样中减去每个T0采样从而提供一个输出信号Diff1。减法器220B从相应的T-2采样中减去每个T0采样从而提供一个输出信号Diff2。

如图所示，将输出信号Diff1和Diff2提供给采样选择逻辑106。如同要说明的，采样选择逻辑106包括(a)比较器222A、222B、222C以及222D以及(b)控制逻辑224A和224B。比较器222A和比较器222B分别把输出信号Diff1和Diff2和选择的第一调节触发值相比较，并且在其基础上，提供相应信号Exceed1和Exceed2。比较器222C和比较器222D分别把输出信号Diff1和Diff2与选择的第二调节触发值相比较，并且在其基础上，提供相应信号Exceed3和Exceed4。将Exceed1和Exceed2信号作为输入提供给控制逻辑224A，而将Exceed3和Exceed4信号作为输入提供给控制逻辑224B。在这个说明中，将控制逻辑224A和224B作为相应的AND门来实现的。控制逻辑224A和224B分别提供Select LSL信号和Select USL信号。

尽管所示出的第一和第二调节触发值被从存储元件221A和221B提供给比较器222A-D，但是可以认识到在不脱离本发明原则的情况下，可以以其它方式提供这些调节触发值。此外，还可以认识到在不脱离本发明原则的情况下，可以通过前面描述过的任一种结构来使用、提供单个的触发值。

最好实现与一个或多个调节触发值的比较以便于消除电平调节的采样选择(在这里有时被称为“排除函数”)。在实现排除函数的过程中，最好是从参考区的信息中导出调节触发值。作为一个例子，在电平置换的情况中，调节触发值最好被设置为相应的有关置换电平的几分之一(例如，1/2)。作为另一个例子，调节触发值是基于波动的特性，比如借助于包括参考区中的适当的标记和/或空格。另一个例子，调节触发值是基于通道噪声的特性。还是另一个例子，调节触发值是基于一个或多个上述情况的组合，带有或不带有额外的参数。在任何一种情况中，可以理解的是，在不脱离本发明原则的情况下，可以使用其它触发值设置方法。

可以有选择地禁止排除函数或不实现它。在这种情况中，最好将调节触发值设置为一个例如零这样的参考幅度。

条件逻辑108与采样逻辑102以及采样选择逻辑106连接。从采样逻辑102中，条件逻辑108接收T0的采样。从采样选择逻辑106中，附加电路228接收Select USL和Select LSL信号。

在基于电平置换的实施例中，条件逻辑108最好包括与存储元件223和225相连的附加电路228。从存储元件223和225中，附加电路228接收作为相应输入的两个信号，一个信号包括一个高置换电平，一个信号包括一个低置换电平。尽管所示出的这些置换电平是从相应存储元件223和225中提供给附加电路228的，但是可以认识到，在不脱离本发明原则的情况下，可以以其它方式提供这些置换电平。

在基于电平置换的实施例的操作中，在Select USL和Select LSL信号的控制下，附加电路228可以提供一个输出信号。为了便于说明，在表1中示出了这种控制(一个真实表，其中S-USL表示Select USL信号，S-LSL表示Select LSL信号，并且Output表示附加电路228的输出信号)：

表1：

S-USL              S-LSL              Output

0                  0                  T0采样

0                  1                  低置换电平

1                  0                  高置换电平

1                  1                  无效/特定

如表中所示，如果这两个选择信号都是低信号，则输出T0采样。但是，其中一个选择信号是高信号，则输出与这个高信号相关的置换电平。另外，如果这两个选择信号都是高信号，则出现无效/特定状态。在这种状态中，可以输出T0采样，或，可替换地，可以提供特殊处理。对于典型的调节触发值，将不出现这个无效/特定值。这样，通常将通过附加逻辑控制调节触发值、条件电路108和/或采样选择逻辑106中的任一个/两个来触发这个特殊处理。

这个特殊处理可以包括除这里描述过的电平调节之外的其它处理。作为一个例子，这种特殊处理可以因为不同于或即使相对于提升读出精确度这样的原因而产生对于读信号的处理。

如所述，最好在从采样选择逻辑106中接收到的Select USL和Select LSL信号的控制下，将附加电路228作为三输入多路复用器来实现。

如前所述的电平调节电路100响应于1，7运行长度受限(RLL)的调制码。例如，电路100包括具有四个存储元件208A-D的采样逻辑102，这些存储元件具有抽头206A和206B，该采样逻辑引入时钟周期延迟以便于当通过CCLK204定时可以提供数字化的读信号：(i)在随着输入端210A处接收后延迟两个时钟周期之后的抽头206A处以及(ii)在随着在抽头206A处提供之后延迟两个时钟周期之后的抽头206B处。如此构造，可以使采样逻辑102提供：(a)在抽头206A处提供采样的主信号T0，(b)在抽头206B处提供采样的第一相邻信号T-2以及(c)采样的第二相邻信号T+2，这个信号是作为开始通过电平调节电路100接收到的。通常，这个实现过程对应于RLL编码的d-限制：因为这个d-限制定义了在通道位转换之间的最小距离，这个d-限制确定了要被估计的采样的两个相邻信号的距离以便于确定主信号中的采样是否经受电平调节。

对于除1，7RLL之外的代码，d-限制一般都改变。对应于此，电平调节电路100的实现一般不同于如上所述的。例如，通常用不同数量的存储元件208和/或不同距离的抽头206来实现采样逻辑102，以便于提供具有一个合适延迟关系的主信号和相邻信号。表2示出了各种例子的代码、d-限制以及相邻信号的距离(在通道位中)。

表2：

代码               d-限制                 相邻信号的距离

NRZ                d＝0                   1

8/9                d＝0                   1

1，7RLL            d＝1                   2

2，7RLL            d＝2                   3

EFM+               d＝2                   3

图3是根据本发明的存储系统300的框图。该存储系统300包括：(i)读电路302，提供来读存储介质以便于产生一个模拟读信号；(ii)一个模拟到数字转换器(ADC)电路304，它接收模拟读信号并从中产生数字化的读信号202；(iii)参考区分析器306，接收数字化读信号并且在一个或多个参考区标记和/或空格的基础上得到一个或多个电平调节参数，并且这样实现的话，还能得到一个或多个调节触发值以及检测控制信号；(iv)电平调节电路100，接收数字化读信号、调节触发值以及电平调节参数，从而产生处理过的读信号230，这个信号230包括一个用于使电平调节有选择地(最好自适应地)起作用以便于选择采样的读信号；(v)检测电路308，它可以：(a)接收来自电平调节电路100的处理过的读信号230以及来自参考区分析器306的检测控制信号以及(b)产生包括被检测数据的一个输出信号(例如，一个跃迁序列)；(vi)处理电路310，用于处理检测电路输出信号的数据。该系统300最好还包括被施加到上述每个元件上并且为其定时的通道时钟(CCLK)204。在这个系统300中，最好有选择地使用图1(a)和(b)的电平A和D以设定ADC电路304的上下限，以便于增强分辨率。

在本发明原则的范围内可以以各种方式实现检测电路308。举例而言，能够实现电路308以提供惯用的位片技术(即，基于门限值检测)。另一个例子，可以实现电路308来提供自适应位片技术。又一个例子，可以实现电路308以提供最大似然的检测结构，如同在Johannes J.Verboom和Fred N.Wamble的美国专利申请中所描述的结构，该申请序列号为No.08/994874，在1997年12月19日申请的，其题目是METHOD AND APPARTUS FOR MAXIMUM LIKELIHOODDETECTION，该文件被作为参考引用。在后一个例子中，根据上述参考文件，最好有选择地使用图1(a)和(b)的电平A和D以便于在最大似然检测中设定限幅电平。

在每种情况中，最好是，检测电路308与参考区分析器306连接以便于接收与检测电路308的操作相关的检测控制信号。至于最大似然的检测结构，该检测控制信号显示了例如可用于数字化读信号的限幅电平。

关于惯用的以及自适应位片技术，检测控制信号最好显示可用于每个采样的检测门限。对于惯用的位片技术，该检测门限一般是固定的，是从参考区的所选采样中导出的(例如，该检测门限是基于采样3，4，9和10的平均值)。对于自适应位片技术，检测门限趋向于变化。例如，可以从参考区的采样中导出检测门限，该门限值可以被修正、调整或在预定间隔处被再次导出，或基于预定的激励，或基于两者的组合。

在不脱离本发明原则的情况下，可以以其它方式来实现系统300。例如，除了接收来自参考区分析器306的这些信号以外，该检测电路可以产生自己的检测控制信号。在这种情况中，处理读信号230最好包括参考区信息。

作为另一个例子，为了提供每个或任一个调节触发值和电平调节参数，该系统300最好包括用于修正/调整每个这样的值/参数的相应的寄存器。在这点上，设想每一个调节触发值和电平调节参数可以是一个或多个数(如图3所示，借助于参考字母“x”和“y”表示)。可以设想的是，参考区分析器306可以提供一个或多个置换电平以替换电平调节参数(例如，如上所述，以成对或其它形式的高和/或低置换电平)，这些电平最好是从电平调节参数中导出，电平调节参数是从数字化读信号202的参考区中得到的。

结论

本发明提供了用于从例如包括磁盘、光盘、光学磁带以及磁光学系统的记录介质中恢复数据的系统、方法和装置。本发明实施例的一个有利效果是当提供增加了的记录密度以及其它趋向于导致门限值变化并且容限降低的参数时它可以提供对记录数据的检测精确度。

可以理解的是，在不脱离在随后权利要求中所表述的本发明原则和范围的情况下，可以由本领域技术人员对已经描述和说明过的作为解释本发明实质的细节、材料和各部分的排列以及各步骤进行各种改变。

Claims (17)

1.一种在存储技术中调节读信号采样的方法，该读信号包括与参考区有关的采样，该方法包括：

获得一个或多个与选择采样有关的电平调节参数，而选择采样是与参考区相关的；

从该读信号中选择一个主采样；

从该读信号中选择一个或多个相邻采样，这些相邻采样被设置在通道位中离主采样预定位置的地方；

比较主采样与每个相邻采样以确定满意的选择调节标准，其中比较主采样与每个相邻采样的步骤包括求主采样的电平与所选若干相邻采样中的每一个的电平之差；以及

电平调节，其中确定选择调节标准为满意，主采样、电平调节对应于一个或多个所得到的电平调节参数，其中电平调节包括为主采样分配从一个或多个置换电平中选择出的一个。

2.如权利要求1的方法，其中相邻采样的选择对应于读信号的编码。

3.如权利要求2的方法，其中比较主采样与每个相邻采样的步骤包括从两个或多个相邻采样的电平中减去主采样电平，这些相邻采样位于与主采样间隔的所选通道位上，并且其中确定满意的选择调节标准步骤包括确定共同的算术符与主采样和每一个相邻采样之间的电平差有关。

4.如权利要求1的方法，进一步包括实现一个排除函数，以便于对主采样选择性地排除有效的电平调节，其中实现排除函数包括找出一组主采样和所选相邻采样之差，并且比较所述的这组差值从而选择一个或多个调节触发值。

5.如权利要求4的方法，其中实现排除函数包括使用一个从与参考区相关的选择采样中导出的调节触发值。

6.如权利要求1的方法，其中获得电平调节参数包括选择用于记录若干参考区的标记和空格模式，以便于自适应地获得电平调节参数。

7.如权利要求6的方法，进一步包括使用一个模式，该模式至少包括下列中的一个：i.选择设置在记录介质的一帧或多帧中的一系列标记和空格；以及ii.对应于读信号的与记录介质的一个或多个扇区相关的前置字节。

8.如权利要求1的方法，进一步包括在通道位位置上对读信号采样以提供一些采样，并且其中是从所提供的若干采样中选择主采样和相邻采样。

9.一种电路，提供该电路用于调节存储技术中读信号的采样，该读信号包括与参考区相关的一些采样，该电路包括：

采样逻辑(102)，该采样逻辑(102)从读信号中提供一个主采样以及一个或多个选择的相邻采样；

与采样逻辑(102)相连的算术逻辑(104)，该算术逻辑(104)比较主采样与相邻采样，其中比较主采样与每个相邻采样包括求主采样和选择的多个相邻采样的每一个之间的电平差；

与算术逻辑(104)相连的采样选择逻辑(106)，该采样选择逻辑(106)确定满意的选择条件标准；

与采样选择逻辑(106)和采样逻辑(102)相连的条件逻辑(108)，该条件逻辑(108)接收主采样并且当确定了所选调节标准为满意时选择性地实现电平调节；以及

一个或多个置换电平电路(223，225)，所述电路与条件逻辑(108)连接并将选择的置换电平提供给条件逻辑(108)，条件逻辑(108)通过选择性地将一个调节电平分配给对应于采样选择逻辑(106)的主采样从而实现电平调节。

10.如权利要求9的电路，其中置换电平电路(223，225)提供高和低置换电平。

11.如权利要求9的电路，其中一个置换电平电路(223，225)包括一个参考标记分析器(306)。

12.如权利要求9的电路，其中采样逻辑(102)选择对应于读信号编码的相邻采样。

13.如权利要求9的电路，其中采样选择逻辑(106)确定一个共同的算术符是否与主采样和每一个相邻采样之间的电平差有关。

14.如权利要求9的电路，其中采样选择逻辑(106)，该采样选择逻辑(106)实现一个排除函数以便于对于所选主采样排除有效的电平调节。

15.如权利要求14的电路，进一步包括与采样选择逻辑(108)连接的调节触发值电路(221A，22B)，该调节触发值电路(221A，22B)提供一个或多个调节触发值。

16.如权利要求15的电路，其中调节触发值电路(221A，22B)包括一个参考区分析器(306)。

17.如权利要求9的电路，其中条件逻辑(108)包括一个多路复用器，该多路复用器接收主采样和一个或多个置换电平，该多路复用器进一步接收响应于算术逻辑的一个或多个控制信号，该多路复用器输出主采样或对应于控制信号的置换电平中的一个。

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