CN111272793B - 能量色散x荧光光谱仪的校准装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了能量色散X荧光光谱仪的校准装置及方法,包括光谱仪本体,具有一检测口用于实现样品的检测;校准调整块可移动的设于光谱仪本体上,螺纹套可轴向移动的设于容置槽内;位移机构设于光谱仪本体上并带动校准调整块做定向移动;限位机构设于光谱仪本体上用于对校准调整块的移动进行限位。本发明通过螺纹旋转带动螺纹套在校准调整块上做定向移动,直至光谱仪的检测口完成样品上的多点测试点的检测动作,无需反复的固定样品,大大提高了校准效率,而且能够根据样品的尺寸选择不同的容置槽,只需要伺服传动校准调整块移动直至该容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠即可,能够适用不同尺寸的样品,通用性好,方便实用。

Description

能量色散X荧光光谱仪的校准装置及方法
技术领域
本发明涉及能量色散X荧光光谱仪技术领域,具体涉及能量色散X荧光光谱仪的校准装置及方法。
背景技术
荧光光谱仪又称荧光分光光度计,是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测,可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性,以及荧光的淬灭方面的信息。能量色散X荧光光谱仪是常见的一种荧光光谱仪,光谱仪的校准主要是通过多次测量检测数据计算其标准值。现有的能量色散X荧光光谱仪的校准装置及方法大多是针对块状的样品,对于圆筒状的样品而言,其检测时的定位更为繁琐,因此样品来回换测的时间成本更高,校准效率较低,而且很难适用于不同尺寸的样品的校准作业,通用性较差。
因此,为了解决上述存在的技术问题,本发明提供了能量色散X荧光光谱仪的校准装置及方法,通过螺纹旋转带动螺纹套在校准调整块上做定向移动,直至光谱仪的检测口完成样品上的多点测试点的检测动作,无需反复的固定样品,大大提高了校准效率,而且能够根据样品的尺寸选择不同的容置槽,只需要伺服传动校准调整块移动直至该容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠即可,能够适用不同尺寸的样品,通用性好,方便实用。
发明内容
本发明的一个目的是提供能量色散X荧光光谱仪的校准装置,包括:
光谱仪本体,具有一检测口用于实现样品的检测;
校准调整块,可移动的设于所述光谱仪本体上,所述校准调整块包括块体,所述块体具有多个容置槽,多个容置槽的直径不一且间隔贯穿的设于所述块体上;
螺纹套,可轴向移动的设于容置槽内,所述螺纹套具有与样品相适配的定位孔,以及接头;
位移机构,设于所述光谱仪本体上并带动校准调整块做定向移动,所述位移机构包括伺服电机、减速电机、齿轮和齿条,所述伺服电机传动连接减速电机,减速电机传动连接齿轮,齿轮与齿条啮合,齿条安装于所述光谱仪本体上;
限位机构,设于所述光谱仪本体上用于对校准调整块的移动进行限位,限位机构包括导轨和导块,导轨设于所述光谱仪本体上,导块设于校准调整块的底部,且校准调整块通过导块可移动的设于导轨上。
采用以上技术方案,所述螺纹套通过接头与旋转电机相连接,旋转电机带动螺纹套在校准调整块上做轴向移动。
采用以上技术方案,所述螺纹套的外侧壁设有外螺纹,容置槽的内侧壁设有与外螺纹相适配的内螺纹。
采用以上技术方案,单个定位孔的内侧壁设有与样品相适配的凸楞。
采用以上技术方案,多个容置槽等距间隔的贯穿设于校准调整块上。
采用以上技术方案,容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠。
本发明的另一目的是能量色散X荧光光谱仪的校准方法,包括以下步骤:
S1:在样品的不同位置标记多个测试点;
S2:依据样品的直径选择校准调整块上的其中一个容置槽,伺服电机通过减速电机带动齿轮旋转,齿轮啮合齿条以带动校准调整块在光谱仪本体上移动直至移动到位;
S3:在螺纹套的定位孔内插设样品并通过凸楞固定,之后螺纹套的一端通过接头连接旋转电机,螺纹套的另一端螺纹连接校准调整块上的容置槽;
S4:旋转电机带动螺纹套在容置槽内旋转,直至样品上的一个测试点移动至检测口,光谱仪本体进行检测并记录检测数据;
S5:该测试点检测完毕后,旋转电机带动螺纹套在容置槽内继续旋转,直至样品上的另一测试点移动至检测口,光谱仪本体进行检测并记录检测数据;
S6:如此循环往复实现样品的多个测试点的检测,从而获得多组检测结果,通过计算便可以得出光谱仪本体的偏差,并进行校准。
采用以上技术方案,在S2中,校准调整块移动到位的标记是容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠。
采用以上技术方案,在S4中,旋转电机带动螺纹套在校准调整块上做轴向移动以实现样品相对检测口做定向移动。
采用以上技术方案,在S4中,螺纹套的外侧壁设有外螺纹,容置槽的内侧壁设有与外螺纹相适配的内螺纹。
本发明的有益效果:
1.本发明采用螺纹套套装样品,通过螺纹旋转带动螺纹套在校准调整块上做定向移动,直至光谱仪的检测口完成样品上的多点测试点的检测动作,无需反复的固定样品,大大提高了校准效率;
2.本发明校准调整块上贯穿设有多个直径不一的容置槽,能够根据样品的尺寸选择不同的容置槽,只需要伺服传动校准调整块移动直至该容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠即可,能够适用不同尺寸的样品,通用性好,方便实用。
附图说明
图1是本发明实施例1的结构示意图。
图2是图1上A部的局部放大示意图。
图3是本发明校准调整块的结构示意图。
图4是本发明螺纹套的一结构示意图。
图5是本发明螺纹套的另一结构示意图。
图中标号说明:1、光谱仪本体;11、检测口;2、校准调整块;21、块体;22、容置槽;221、内螺纹;3、螺纹套;31、定位孔;32、接头;33、外螺纹;4、位移机构;41、伺服电机;42、减速电机;43、齿轮;44、齿条;5、限位机构;51、导轨;52、导块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
实施例1
参照图1至图5所示,本发明实施例1提供能量色散X荧光光谱仪的校准装置,包括光谱仪本体1、校准调整块2、螺纹套3和位移机构4,光谱仪本体1具有一检测口11用于实现样品的检测,光谱仪本体1上可移动的设有校准调整块2,校准调整块2包括块体21,块体21具有多个容置槽22,多个容置槽22的直径不一且间隔贯穿的设于块体21上,螺纹套3可轴向移动的设于容置槽22内,当样品尺寸不等时,本发明需要选择不同直径的容置槽22以适配该尺寸的样品,因此本发明在光谱仪本体1上设有位移机构4以带动校准调整块2做定向移动,更具体的说,位移机构4包括伺服电机41、减速电机42、齿轮43和齿条44,伺服电机41传动连接减速电机42,减速电机42传动连接齿轮43,齿轮43与齿条44啮合,齿条44安装于光谱仪本体1上,伺服电机41通过减速电机42带动齿轮43旋转,齿轮43啮合齿条44以带动校准调整块2定向移动,使得校准调整块2上的任一容置槽22的垂直中心线能够与检测口11的垂直中心线重叠。
在本实施例中,为了保证校准调整块2移动的稳定性,光谱仪本体1上设有限位机构5用于对校准调整块2的移动进行限位,限位机构5包括导轨51和导块52,导轨51设于光谱仪本体1上,导块52设于校准调整块2的底部,且校准调整块2通过导块52可移动的设于导轨51上,校准调整块2通过导块52在导轨51上移动以限定校准调整块2的移动。
在本实施例中,螺纹套3具有与样品相适配的定位孔31以及接头32,螺纹套3通过接头32与旋转电机(图中未示出)相连接,旋转电机(图中未示出)带动螺纹套3在校准调整块2上做轴向移动,更具体的说,螺纹套3与校准调整块2上的容置槽22为螺纹连接,螺纹套3的外侧壁设有外螺纹33,容置槽22的内侧壁设有与外螺纹33相适配的内螺纹221,而且定位孔31的内侧壁设有与样品相适配的凸楞,螺纹套3的定位孔31内插设样品并通过凸楞固定,之后螺纹套3的一端通过接头32连接旋转电机,螺纹套3的另一端螺纹连接校准调整块2上的容置槽22,旋转电机(图中未示出)通过螺纹套3带动样品旋转以实现样品的定向移动。
实施例2
本发明实施例2提供能量色散X荧光光谱仪的校准方法,包括以下步骤:
S1:在样品的不同位置标记多个测试点;
S2:依据样品的直径选择校准调整块2上的其中一个容置槽22,伺服电机41通过减速电机42带动齿轮43旋转,齿轮43啮合齿条44以带动校准调整块2在光谱仪本体1上移动直至容置槽22的垂直中心线与检测口11的垂直中心线重叠;
S3:在螺纹套3的定位孔31内插设样品并通过凸楞固定,之后螺纹套3的一端通过接头32连接旋转电机(图中未示出),螺纹套3的另一端螺纹连接校准调整块2上的容置槽22,螺纹套3的外侧壁设有外螺纹33,容置槽22的内侧壁设有与外螺纹33相适配的内螺纹221;
S4:旋转电机(图中未示出)带动螺纹套3在容置槽22内旋转以实现样品相对检测口11做定向移动,直至样品上的一个测试点移动至检测口11,光谱仪本体1进行检测并记录检测数据;
S5:该测试点检测完毕后,旋转电机(图中未示出)带动螺纹套3在容置槽22内继续旋转,直至样品上的另一测试点移动至检测口11,光谱仪本体1进行检测并记录检测数据;
S6:如此循环往复实现样品的多个测试点的检测,从而获得多组检测结果,通过计算便可以得出光谱仪本体1的偏差,并进行校准。
本发明的有益效果:本发明通过螺纹旋转带动螺纹套在校准调整块上做定向移动,直至光谱仪的检测口完成样品上的多点测试点的检测动作,无需反复的固定样品,大大提高了校准效率,而且校准调整块上贯穿设有多个直径不一的容置槽,能够根据样品的尺寸选择不同的容置槽,只需要伺服传动校准调整块移动直至该容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠即可,能够适用不同尺寸的样品,通用性好,方便实用。
以上实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例,本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换,均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。

Claims (6)

1.能量色散X荧光光谱仪的校准装置,其特征在于,包括:
光谱仪本体,具有一检测口用于实现样品的检测;
校准调整块,可移动的设于所述光谱仪本体上,所述校准调整块包括块体,所述块体具有多个容置槽,多个容置槽的直径不一且间隔贯穿的设于所述块体上;
螺纹套,可轴向移动的设于容置槽内,所述螺纹套具有与样品相适配的定位孔,以及接头;
位移机构,设于所述光谱仪本体上并带动校准调整块做定向移动,所述位移机构包括伺服电机、减速电机、齿轮和齿条,所述伺服电机传动连接减速电机,减速电机传动连接齿轮,齿轮与齿条啮合,齿条安装于所述光谱仪本体上;
限位机构,设于所述光谱仪本体上用于对校准调整块的移动进行限位,限位机构包括导轨和导块,导轨设于所述光谱仪本体上,导块设于校准调整块的底部,且校准调整块通过导块可移动的设于导轨上;
其中,能量色散X荧光光谱仪的校准装置的校准方法包括以下步骤:
S1:在样品的不同位置标记多个测试点;
S2:依据样品的直径选择校准调整块上的其中一个容置槽,伺服电机通过减速电机带动齿轮旋转,齿轮啮合齿条以带动校准调整块在光谱仪本体上移动直至移动到位;
S3:在螺纹套的定位孔内插设样品并通过凸楞固定,之后螺纹套的一端通过接头连接旋转电机,螺纹套的另一端螺纹连接校准调整块上的容置槽;
S4:旋转电机带动螺纹套在容置槽内旋转,直至样品上的一个测试点移动至检测口,光谱仪本体进行检测并记录检测数据;
S5:该测试点检测完毕后,旋转电机带动螺纹套在容置槽内继续旋转,直至样品上的另一测试点移动至检测口,光谱仪本体进行检测并记录检测数据;
S6:如此循环往复实现样品的多个测试点的检测,从而获得多组检测结果,通过计算便可以得出光谱仪本体的偏差,并进行校准。
2.如权利要求1所述的能量色散X荧光光谱仪的校准装置,其特征在于:所述螺纹套通过接头与旋转电机相连接,旋转电机带动螺纹套在校准调整块上做轴向移动。
3.如权利要求1所述的能量色散X荧光光谱仪的校准装置,其特征在于:所述螺纹套的外侧壁设有外螺纹,容置槽的内侧壁设有与外螺纹相适配的内螺纹。
4.如权利要求3所述的能量色散X荧光光谱仪的校准装置,其特征在于:单个定位孔的内侧壁设有与样品相适配的凸楞。
5.如权利要求1所述的能量色散X荧光光谱仪的校准装置,其特征在于:多个容置槽等距间隔的贯穿设于校准调整块上。
6.如权利要求1或5所述的能量色散X荧光光谱仪的校准装置,其特征在于:容置槽的垂直中心线与检测口的垂直中心线重叠。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN114199990B (zh) * 2021-12-31 2023-09-15 赛迈科先进材料股份有限公司 一种测定超高纯石墨材料元素杂质含量的设备及其方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5672816A (en) * 1992-03-13 1997-09-30 Park Scientific Instruments Large stage system for scanning probe microscopes and other instruments
EP0623817B1 (en) * 1993-04-23 1999-01-13 Shimadzu Corporation Local analysis of a specimen in an x-ray fluorescence spectrometer
CN102128849B (zh) * 2010-12-03 2013-03-13 浙江大学 X射线荧光光谱仪在线采样装置及在线采样方法
CN202854068U (zh) * 2012-10-16 2013-04-03 南京钢铁股份有限公司 一种x射线衍射仪样品测试架
CN202870007U (zh) * 2012-10-30 2013-04-10 东莞市邦鑫伟业仪器有限公司 一种能量色散x荧光光谱仪
CN103913424A (zh) * 2014-03-20 2014-07-09 中国科学院遥感与数字地球研究所 模块化岩心组分光谱成像扫描系统
CN209028022U (zh) * 2018-09-29 2019-06-25 深圳易科讯检测计量技术有限公司 一种x射线荧光光谱仪校准装置
CN109570047B (zh) * 2019-01-18 2023-12-26 莒县人民医院 一种血液样本管的智能分拣装置
CN110261324B (zh) * 2019-07-08 2021-08-03 无锡迅杰光远科技有限公司 一种多功能光谱分析仪

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