CN220795327U - 一种芯片检测用测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片检测用测试探针，包括底板，所述底板上下滑动贯穿设有两根探针本体，两根所述探针本体外均固定套设有固定环，所述底板上设有用于对两根固定环进升降的升降机构，两根所述探针本体外均设置有两个防护罩，所述防护罩的上端与底板转动连接，所述底板上设有用于对四个防护罩进行转动的转动机构。本实用新型在探针停摆时，可以对其进行防护，提高其使用寿命，维持其检测精度。

Description

一种芯片检测用测试探针

技术领域

本实用新型具体涉及测试探针领域，具体涉及一种芯片检测用测试探针。

背景技术

在电子电路研发和生产的过程中，经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析，这个时候就需要使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的I CT或者测试系统进行整合分析，测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。

现有的测试探针在停摆时，由于没有防护结构，测试探针始终与外界接触，容易沾染灰尘，腐蚀探针外侧结构，久而久之，就会降低探针的检测精度，减少了探针的使用寿命。

为此，我们提出来一种芯片检测用测试探针解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中探针停摆没有防护结构，降低其检测精度和使用寿命的问题，而提出的一种芯片检测用测试探针。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种芯片检测用测试探针，包括底板，所述底板上下滑动贯穿设有两根探针本体，两根所述探针本体外均固定套设有固定环，所述底板上设有用于对两根固定环进升降的升降机构，两根所述探针本体外均设置有两个防护罩，所述防护罩的上端与底板转动连接，所述底板上设有用于对四个防护罩进行转动的转动机构。

优选地，所述升降机构包括设置在底板上端的四个凹槽，四个所述凹槽内均转动连接有第一螺纹杆，四根所述第一螺纹杆外均螺纹套设有螺纹块，四块所述螺纹块分别与四个凹槽内侧壁滑动连接，四块所述螺纹块的上端均转动连接有偏转板，四块所述偏转板的上端分别与两块固定环转动连接，四根所述第一螺纹杆远离探针本体的一端均转动贯穿底板设置，所述底板转动贯穿设有转轴，位于同侧的所述转轴与第一螺纹杆之间通过第一传动机构传动连接，所述底板的侧壁固定连接有安装板，所述安装板的上端固定连接有电机，所述电机的驱动轴与转轴同轴固定连接。

优选地，所述第一传动机构包括第一皮带轮和两个第二皮带轮，所述第一皮带轮与转轴同轴固定连接，两个所述第二皮带轮分别与两根第一螺纹杆同轴固定连接，所述第一皮带轮与两个第二皮带轮之间通过皮带传动连接。

优选地，位于所述探针本体两侧的两根第一螺纹杆的外螺纹旋向相反，位于所述探针本体同侧的两根第一螺纹杆的外螺纹旋向相同。

优选地，所述转动机构包括四个设置在底板下端的转动槽，四个所述转动槽内均转动连接有第二螺纹杆，四根所述第二螺纹杆远离探针本体的一端均转动贯穿底板设置，位于同侧的所述转轴与两根第二螺纹杆之间通过第二传动机构传动连接，四根所述第二螺纹杆外均螺纹套设有转动块，四块所述转动块分别与四个转动槽滑动连接，四块所述转动块的下端均转动连接有转动杆，四根所述转动杆的下端分别与四个防护罩转动连接。

优选地，所述第二传动机构包括第三皮带轮和两个第四皮带轮，所述第三皮带轮与转轴同轴固定连接，两个所述第四皮带轮分别与两根第二螺纹杆同轴固定连接，所述第三皮带轮与两个第四皮带轮之间通过皮带传动连接。

优选地，所述防护罩呈方形设置。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果为：

通过设置升降机构和转动机构，通过电机带动转轴转动，转轴带动多根第一螺纹杆和第二螺纹杆转动，第一螺纹杆带动多块螺纹块相对移动，多块螺纹块通过多块偏转板带动两个固定环升降，两个固定环带动两根探针本体升降，直至合适位置，第二螺纹杆带动多块转动块相对移动，多块转动块通过看多根转动杆带动多个防护罩转动，直至合适位置，即当探针本体上升时，防护罩闭合，对探针本体进行防护，当探针本体下降时，防护罩打开，在探针停摆时，即可对其进行防护，避免出现落灰降低其使用寿命和影响其检测精度。

本实用新型在探针停摆时，可以对其进行防护，提高其使用寿命，维持其检测精度。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种芯片检测用测试探针的正面结构透视图；

图2为本实用新型提出的一种芯片检测用测试探针的侧面结构示意图。

图中：1底板、2探针本体、3固定环、4升降机构、5防护罩、6转动机构、7凹槽、8第一螺纹杆、9螺纹块、10偏转板、11转轴、12第一传动机构、13安装板、14电机、15第一皮带轮、16第二皮带轮、17转动槽、18第二螺纹杆、19第二传动机构、20转动块、21转动杆、22第三皮带轮、23第四皮带轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

参照图1-2，一种芯片检测用测试探针，包括底板1，底板1上下滑动贯穿设有两根探针本体2，两根探针本体2外均固定套设有固定环3，底板1上设有用于对两根固定环3进升降的升降机构4，具体的，升降机构4包括设置在底板1上端的四个凹槽7，四个凹槽7内均转动连接有第一螺纹杆8，四根第一螺纹杆8外均螺纹套设有螺纹块9，四块螺纹块9分别与四个凹槽7内侧壁滑动连接，四块螺纹块9的上端均转动连接有偏转板10，四块偏转板10的上端分别与两块固定环3转动连接，四根第一螺纹杆8远离探针本体2的一端均转动贯穿底板1设置，底板1转动贯穿设有转轴11，位于同侧的转轴11与第一螺纹杆8之间通过第一传动机构12传动连接，需要注意的是，第一传动机构12包括第一皮带轮15和两个第二皮带轮16。

本实用新型中，第一皮带轮15与转轴11同轴固定连接，两个第二皮带轮16分别与两根第一螺纹杆8同轴固定连接，第一皮带轮15与两个第二皮带轮16之间通过皮带传动连接，底板1的侧壁固定连接有安装板13，安装板13的上端固定连接有电机14，需要说明的是，电机14可采用型号为HT57的微型步进电机，且已与外部电源电性连接，为现有技术，具体不做赘述，电机14的驱动轴与转轴11同轴固定连接，两根探针本体2外均设置有两个防护罩5，值得一提的是，防护罩5呈方形设置，防护罩5的上端与底板1转动连接，底板1上设有用于对四个防护罩5进行转动的转动机构6，需要说明的是，转动机构6包括四个设置在底板1下端的转动槽17，四个转动槽17内均转动连接有第二螺纹杆18，四根第二螺纹杆18远离探针本体2的一端均转动贯穿底板1设置。

本实用新型中，位于同侧的转轴11与两根第二螺纹杆18之间通过第二传动机构19传动连接，需要注意的是，第二传动机构19包括第三皮带轮22和两个第四皮带轮23，第三皮带轮22与转轴11同轴固定连接，两个第四皮带轮23分别与两根第二螺纹杆18同轴固定连接，第三皮带轮22与两个第四皮带轮23之间通过皮带传动连接，四根第二螺纹杆18外均螺纹套设有转动块20，四块转动块20分别与四个转动槽17滑动连接，四块转动块20的下端均转动连接有转动杆21，四根转动杆21的下端分别与四个防护罩5转动连接，进一步的，位于探针本体2两侧的两根第一螺纹杆8的外螺纹旋向相反，位于探针本体2同侧的两根第一螺纹杆8的外螺纹旋向相同。

本实用新型中，电机14带动转轴11转动，转轴11带动多根第一螺纹杆8和第二螺纹杆18转动，第一螺纹杆8带动多块螺纹块9相对移动，多块螺纹块9通过多块偏转板10带动两个固定环3升降，两个固定环3带动两根探针本体2升降，直至合适位置，第二螺纹杆18带动多块转动块20相对移动，多块转动块20通过看多根转动杆21带动多个防护罩5转动，直至合适位置，即当探针本体2上升时，防护罩5闭合，对探针本体2进行防护，当探针本体2下降时，防护罩5打开，在探针停摆时，即可对其进行防护。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种芯片检测用测试探针，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)上下滑动贯穿设有两根探针本体(2)，两根所述探针本体(2)外均固定套设有固定环(3)，所述底板(1)上设有用于对两根固定环(3)进升降的升降机构(4)，两根所述探针本体(2)外均设置有两个防护罩(5)，所述防护罩(5)的上端与底板(1)转动连接，所述底板(1)上设有用于对四个防护罩(5)进行转动的转动机构(6)。

2.如权利要求1所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述升降机构(4)包括设置在底板(1)上端的四个凹槽(7)，四个所述凹槽(7)内均转动连接有第一螺纹杆(8)，四根所述第一螺纹杆(8)外均螺纹套设有螺纹块(9)，四块所述螺纹块(9)分别与四个凹槽(7)内侧壁滑动连接，四块所述螺纹块(9)的上端均转动连接有偏转板(10)，四块所述偏转板(10)的上端分别与两块固定环(3)转动连接，四根所述第一螺纹杆(8)远离探针本体(2)的一端均转动贯穿底板(1)设置，所述底板(1)转动贯穿设有转轴(11)，位于同侧的所述转轴(11)与第一螺纹杆(8)之间通过第一传动机构(12)传动连接，所述底板(1)的侧壁固定连接有安装板(13)，所述安装板(13)的上端固定连接有电机(14)，所述电机(14)的驱动轴与转轴(11)同轴固定连接。

3.如权利要求2所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述第一传动机构(12)包括第一皮带轮(15)和两个第二皮带轮(16)，所述第一皮带轮(15)与转轴(11)同轴固定连接，两个所述第二皮带轮(16)分别与两根第一螺纹杆(8)同轴固定连接，所述第一皮带轮(15)与两个第二皮带轮(16)之间通过皮带传动连接。

4.如权利要求2所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：位于所述探针本体(2)两侧的两根第一螺纹杆(8)的外螺纹旋向相反，位于所述探针本体(2)同侧的两根第一螺纹杆(8)的外螺纹旋向相同。

5.如权利要求2所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述转动机构(6)包括四个设置在底板(1)下端的转动槽(17)，四个所述转动槽(17)内均转动连接有第二螺纹杆(18)，四根所述第二螺纹杆(18)远离探针本体(2)的一端均转动贯穿底板(1)设置，位于同侧的所述转轴(11)与两根第二螺纹杆(18)之间通过第二传动机构(19)传动连接，四根所述第二螺纹杆(18)外均螺纹套设有转动块(20)，四块所述转动块(20)分别与四个转动槽(17)滑动连接，四块所述转动块(20)的下端均转动连接有转动杆(21)，四根所述转动杆(21)的下端分别与四个防护罩(5)转动连接。

6.如权利要求5所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述第二传动机构(19)包括第三皮带轮(22)和两个第四皮带轮(23)，所述第三皮带轮(22)与转轴(11)同轴固定连接，两个所述第四皮带轮(23)分别与两根第二螺纹杆(18)同轴固定连接，所述第三皮带轮(22)与两个第四皮带轮(23)之间通过皮带传动连接。

7.如权利要求1所述的一种芯片检测用测试探针，其特征在于：所述防护罩(5)呈方形设置。