CN111260318A - 一种电子阅卷及成绩自动分析的系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种电子阅卷及成绩自动分析的系统及方法,系统包括电子阅卷装置和阅卷终端,阅卷台用于对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,将所述电子试卷发送至所述阅卷终端;阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,形成批改痕迹,所述阅卷终端将所述批改痕迹发送至所述电子阅卷装置;打印台用于将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。本发明的有益效果是:本发明通过电子阅卷,还原试卷真实批改信息,学生可对照原题目及批改信息;通过批改,系统自动获取试卷分数及错题信息,提高批改效率;考试数据信息化存储,为考试分析,成绩统计,学习排名等学生学习数据统计提供数据支撑,全面评估学生学习情况,助力学生学习成长。
Description
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,尤其涉及一种电子阅卷及成绩自动分析的系统及方法。
背景技术
单元考试或普通考试,一般采用纸质试卷,学生考试完后,老师在纸质试卷上批改,然后手动统计分数并分析考试情况,耗时长,统计困难并易出错;目前另外一种技术,在大型考试时,通过2B铅笔涂写答题卡,通过机器阅卷,比较快捷,但是存在涂写错误,答题卡与试卷分离的问题,无法对照查看。
综上,人工批改:批改时间长,逐个统计分析,分析错题情况,耗时长,而且统计容易出错。
机读答题卡的模式:试卷与答题卡分离,存在容易涂错,耽误时间,且无法一一对应的情况。
发明内容
本发明提供了一种电子阅卷及成绩自动分析的系统,包括电子阅卷装置、阅卷终端,所述电子阅卷装置包括阅卷台、打印台,
所述阅卷台用于对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,将所述电子试卷发送至所述阅卷终端;
所述阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,形成批改痕迹,所述阅卷终端将所述批改痕迹发送至所述电子阅卷装置;
所述打印台用于将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。
作为本发明的进一步改进,在所述阅卷终端中,还包括记录试卷对应的学生信息和科目信息,根据试卷的题目信息,自动得到并保存正确或错误的答题数据,用于后期总体数据分析。
作为本发明的进一步改进,所述电子阅卷装置还包括收发台、取阅台和传送装置,
所述收发台,用于存放递交的纸制试卷,多张纸制试卷叠放在所述收发台上;
所述传送装置用于将所述收发台上的一张试卷传送至所述阅卷台,所述传送装置用于将所述阅卷台上的纸制试卷传送至所述打印台,所述传送装置用于将打印完成的纸制试卷传送至所述取阅台;
所述取阅台,用于存放批改完成的纸制试卷。
作为本发明的进一步改进,所述电子阅卷装置还包括控制台,所述控制台完成数据的传输及处理。
作为本发明的进一步改进,在所述阅卷终端选择及导入电子版空白试卷作为模板试卷,通过模板试卷提取题号及试题信息;系统提取当前试卷题目信息,与模板试卷一一对应,用于将试题和批改结果一一对应,便于后续统计分析每道题的答题情况。
作为本发明的进一步改进,所述阅卷终端包括触摸显示终端和电子书写笔,
所述触摸显示终端用于显示阅卷台发送过来的电子试卷,同时显示学生信息及相关考试信息,可触摸输入;
所述电子书写笔用于批改或标注试卷,可按照需要取色。
作为本发明的进一步改进,所述阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,记录批改痕迹与试卷的相对位置信息,所述阅卷终端将所述批改痕迹及相对位置信息发送至所述电子阅卷装置;
所述打印台用于根据相对位置信息,将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。
本发明还提供了一种电子阅卷及成绩自动分析的方法,包括如下步骤:步骤1:在阅卷终端,老师登录,选择试卷模板,从而导入电子版空白试卷作为模板试卷,通过模板试卷提取题号及试题信息,老师开始阅卷,启动电子阅卷装置;
步骤2:传送装置从收发台提取一张纸制试卷传送到阅卷台;
步骤3:阅卷台对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,控制台保留电子试卷的试卷题目信息,提取当前电子试卷题目信息,与模板试卷一一对应,用于将试题和批改结果一一对应,便于后续统计分析每道题的答题情况,控制台将电子试卷发送至阅卷终端;
步骤4:在阅卷终端显示电子试卷;
步骤5:老师在阅卷终端查看电子试卷,选择试卷对应的学生信息和科目信息,使用电子书写笔批改电子试卷,根据题目信息,自动上传正确或错误的答题数据至数据库,用于后期总体数据分析;阅卷终端记录批改痕迹与试卷的相对位置信息,用于后期定位批改痕迹,阅卷终端将批改痕迹与试卷的相对位置信息传输至控制台,控制台保存批改痕迹与试卷的相对位置信息;
步骤6:当电子试卷批改完成后,老师通过阅卷终端提交并发送打印指令至控制台;
步骤7:通过控制台命令传送装置将阅卷台的纸制试卷传送到打印台;
步骤8:控制台将批改痕迹与试卷的相对位置信息发送给打印台,打印台根据批改痕迹与试卷的相对位置信息将批改痕迹打印至纸制试卷;
步骤9:纸制试卷打印完成,由传送装置将纸制试卷传送至取阅台,该张纸制试卷批改完成;
步骤10:选择继续批改下一张试卷,重复步骤2至步骤9,完成其他纸制试卷批改,直至全部完成。
作为本发明的进一步改进,在所述步骤3中,如果是纸制试卷是双面的,则双面纸制试卷均需要扫描,阅卷终端可翻页显示;
在所述步骤8中,如果纸制试卷是双面,则进行双面打印。
作为本发明的进一步改进,系统自动统计考试分数及错题信息,统计学生成绩。
本发明的有益效果是:本发明通过电子阅卷,还原试卷真实批改信息,学生可对照原题目及批改信息;通过批改,系统自动获取试卷分数及错题信息,提高批改效率;考试数据信息化存储,为考试分析,成绩统计,学习排名等学生学习数据统计提供数据支撑,全面评估学生学习情况,助力学生学习成长。
附图说明
图1是本发明的原理框图。
具体实施方式
如图1所示,本发明公开了一种电子阅卷及成绩自动分析的系统,包括电子阅卷装置、阅卷终端,所述电子阅卷装置包括阅卷台、打印台。
电子阅卷装置通过网络与阅卷终端实现通信互联,网络可以是局域网或广域网。
所述阅卷台用于对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,将所述电子试卷发送至所述阅卷终端;
所述阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,形成批改痕迹,所述阅卷终端将所述批改痕迹发送至所述电子阅卷装置;
所述打印台用于将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。
在所述阅卷终端中,还包括记录试卷对应的学生信息和科目信息,根据试卷的题目信息,自动得到并保存正确或错误的答题数据,用于后期总体数据分析。
所述电子阅卷装置还包括收发台、取阅台和传送装置。
所述收发台,用于存放递交的纸制试卷,多张纸制试卷叠放在所述收发台上;
所述传送装置用于将所述收发台上的一张试卷传送至所述阅卷台,所述传送装置用于将所述阅卷台上的纸制试卷传送至所述打印台,所述传送装置用于将打印完成的纸制试卷传送至所述取阅台;
所述取阅台,用于存放批改完成的纸制试卷。
所述电子阅卷装置还包括控制台,所述控制台完成数据的传输及处理。
在所述阅卷终端选择及导入电子版空白试卷作为模板试卷,通过模板试卷提取题号及试题信息;系统提取当前试卷题目信息,与模板试卷一一对应,用于将试题和批改结果一一对应,便于后续统计分析每道题的答题情况。
所述阅卷终端包括触摸显示终端和电子书写笔。
所述触摸显示终端用于显示阅卷台发送过来的电子试卷,同时显示学生信息及相关考试信息,可触摸输入;
所述电子书写笔用于批改或标注试卷,可按照需要取色。
所述阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,记录批改痕迹与试卷的相对位置信息,所述阅卷终端将所述批改痕迹及相对位置信息发送至所述电子阅卷装置;所述打印台用于根据相对位置信息,将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。
本发明还公开了一种电子阅卷及成绩自动分析的方法,包括:
首先,将收好的纸制试卷,一张张摆好,叠放到收发台上;然后依次执行如下步骤:
步骤1:在阅卷终端,老师登录,选择试卷模板,从而导入电子版空白试卷作为模板试卷,通过模板试卷提取题号及试题信息,老师开始阅卷,启动电子阅卷装置;
步骤2:传送装置从收发台提取一张纸制试卷传送到阅卷台;
步骤3:阅卷台对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,控制台保留电子试卷的试卷题目信息,提取当前电子试卷题目信息,与模板试卷一一对应,用于将试题和批改结果一一对应,便于后续统计分析每道题的答题情况,控制台将电子试卷发送至阅卷终端;如果是纸制试卷是双面的,则双面纸制试卷均需要扫描,阅卷终端可翻页显示;
步骤4:在阅卷终端显示电子试卷;
步骤5:老师在阅卷终端查看电子试卷,选择试卷对应的学生信息和科目信息,使用电子书写笔批改电子试卷,根据题目信息,自动上传正确或错误的答题数据至数据库,用于后期总体数据分析;阅卷终端记录批改痕迹与试卷的相对位置信息,用于后期定位批改痕迹,阅卷终端将批改痕迹与试卷的相对位置信息传输至控制台,控制台保存批改痕迹与试卷的相对位置信息;
步骤6:当电子试卷批改完成后,老师通过阅卷终端提交并发送打印指令至控制台;
步骤7:通过控制台命令传送装置将阅卷台的纸制试卷传送到打印台;
步骤8:控制台将批改痕迹与试卷的相对位置信息发送给打印台,打印台根据批改痕迹与试卷的相对位置信息将批改痕迹打印至纸制试卷,如果纸制试卷是双面,则进行双面打印;
步骤9:纸制试卷打印完成,由传送装置将纸制试卷传送至取阅台,该张纸制试卷批改完成;
步骤10:选择继续批改下一张试卷,重复步骤2至步骤9,完成其他纸制试卷批改,直至全部完成。
系统自动统计考试分数及错题信息,统计学生成绩。
在本发明中,学生在纸制试卷上作答,老师通过阅卷终端批改试卷,将批改内容打印在原纸制试卷上,系统自动统计考试成绩,自动统计错误信息,批改后的纸制试卷发给学生,学生对试卷情况一目了然,便于发现自己不足之处。
本发明的有益效果:
1.电子阅卷,还原试卷真实批改信息,学生可对照原题目及批改信息,针对性关注不足之处。
2.通过批改,系统自动获取试卷分数及错题信息,提高批改效率。
3.自动统计试卷信息,包括姓名,班级,卷面分数、错题信息;
4.考试数据信息化存储,为考试分析,成绩统计,学习排名等学生学习数据统计提供数据支撑,全面评估学生学习情况,助力学生学习成长。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种电子阅卷及成绩自动分析的系统,其特征在于,包括电子阅卷装置、阅卷终端,所述电子阅卷装置包括阅卷台、打印台,
所述阅卷台用于对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,将所述电子试卷发送至所述阅卷终端;
所述阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,形成批改痕迹,所述阅卷终端将所述批改痕迹发送至所述电子阅卷装置;
所述打印台用于将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,在所述阅卷终端中,还包括记录试卷对应的学生信息和科目信息,根据试卷的题目信息,自动得到并保存正确或错误的答题数据,用于后期总体数据分析。
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述电子阅卷装置还包括收发台、取阅台和传送装置,
所述收发台,用于存放递交的纸制试卷,多张纸制试卷叠放在所述收发台上;
所述传送装置用于将所述收发台上的一张试卷传送至所述阅卷台,所述传送装置用于将所述阅卷台上的纸制试卷传送至所述打印台,所述传送装置用于将打印完成的纸制试卷传送至所述取阅台;
所述取阅台,用于存放批改完成的纸制试卷。
4.根据权利要求3所述的系统,其特征在于,所述电子阅卷装置还包括控制台,所述控制台完成数据的传输及处理。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,在所述阅卷终端选择及导入电子版空白试卷作为模板试卷,通过模板试卷提取题号及试题信息;系统提取当前试卷题目信息,与模板试卷一一对应,用于将试题和批改结果一一对应,便于后续统计分析每道题的答题情况。
6.根据权利要求1至5任一项所述的系统,其特征在于,所述阅卷终端包括触摸显示终端和电子书写笔,
所述触摸显示终端用于显示阅卷台发送过来的电子试卷,同时显示学生信息及相关考试信息,可触摸输入;
所述电子书写笔用于批改或标注试卷,可按照需要取色。
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述阅卷终端记录老师对所述电子试卷的批改信息,记录批改痕迹与试卷的相对位置信息,所述阅卷终端将所述批改痕迹及相对位置信息发送至所述电子阅卷装置;
所述打印台用于根据相对位置信息,将所述批改痕迹打印至所述纸制试卷。
8.一种电子阅卷及成绩自动分析的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1:在阅卷终端,老师登录,选择试卷模板,从而导入电子版空白试卷作为模板试卷,通过模板试卷提取题号及试题信息,老师开始阅卷,启动电子阅卷装置;
步骤2:传送装置从收发台提取一张纸制试卷传送到阅卷台;
步骤3:阅卷台对纸制试卷进行扫描,形成电子试卷,控制台保留电子试卷的试卷题目信息,提取当前电子试卷题目信息,与模板试卷一一对应,用于将试题和批改结果一一对应,便于后续统计分析每道题的答题情况,控制台将电子试卷发送至阅卷终端;
步骤4:在阅卷终端显示电子试卷;
步骤5:老师在阅卷终端查看电子试卷,选择试卷对应的学生信息和科目信息,使用电子书写笔批改电子试卷,根据题目信息,自动上传正确或错误的答题数据至数据库,用于后期总体数据分析;阅卷终端记录批改痕迹与试卷的相对位置信息,用于后期定位批改痕迹,阅卷终端将批改痕迹与试卷的相对位置信息传输至控制台,控制台保存批改痕迹与试卷的相对位置信息;
步骤6:当电子试卷批改完成后,老师通过阅卷终端提交并发送打印指令至控制台;
步骤7:通过控制台命令传送装置将阅卷台的纸制试卷传送到打印台;
步骤8:控制台将批改痕迹与试卷的相对位置信息发送给打印台,打印台根据批改痕迹与试卷的相对位置信息将批改痕迹打印至纸制试卷;
步骤9:纸制试卷打印完成,由传送装置将纸制试卷传送至取阅台,该张纸制试卷批改完成;
步骤10:选择继续批改下一张试卷,重复步骤2至步骤9,完成其他纸制试卷批改,直至全部完成。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,在所述步骤3中,如果是纸制试卷是双面的,则双面纸制试卷均需要扫描,阅卷终端可翻页显示;
在所述步骤8中,如果纸制试卷是双面,则进行双面打印。
10.根据权利要求8或9所述的方法,其特征在于,系统自动统计考试分数及错题信息,统计学生成绩。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20200609 |