CN111225507A - 一种解决stub影响信号传输的方法及采用该方法的PCB板 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种解决stub影响信号传输的方法,包括有以下步骤:(1)内层加工步骤:按照工程设计要求,对PCB板的内层进行内层加工工序;(2)开窗步骤:将步骤(1)中完成内层加工步骤的PCB板上,对需要钻孔的位置进行开窗处理;(3)钻孔步骤:通过镭射钻孔对步骤(2)中完成开窗的位置进行激光灼烧;(4)外层加工步骤:将完成步骤(3)的PCB板,进行外层加工工序;(5)成型步骤:将完成步骤(4)的PCB板,进行成型加工工序,该解决stub影响信号传输的方法,不仅可以使得PCB板完成过孔的开通,同时还能保证过孔的stub长度不会产生,从而使得信号的传输稳定性得到大幅提高,保证了PCB板的检测效果。
Description
技术领域
本发明涉及PCB板技术领域,特别是涉及一种解决stub影响信号传输的方法及采用该方法的PCB板。
背景技术
PCB板是印制电路板{Printed circuit boards},又称印刷电路板,是电子元器件电气连接的提供者,Stub为PCB板上过孔内传输线上残留多余的铜的长度;目前行业内随着最新服务器平台对插入损耗的要求,PCB板在测试频率需达到30Ghz+,但是由于现有的PCB板上过孔的stub长度过长(如图3所示)会产生寄生电容电感,造成信号上升时间延长、传输速率降低,不仅会引起反射导致阻抗不连续,损耗等信号完整性问题,同时容易还会引入其他噪声干扰对信号的影响越来越来严重,从而影响信号的传输,降低了PCB板的检测效果。
针对上述问题,需要提出一种能够解决stub影响信号传输的方法。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种解决stub影响信号传输的方法,该解决stub影响信号传输的方法,不仅可以使得PCB板完成过孔的开通,同时还能保证过孔的stub长度不会产生,从而使得信号的传输稳定性得到大幅提高,保证了PCB板的检测效果。
本发明实施例提供一种解决stub影响信号传输的方法,包括有以下步骤:
(1)内层加工步骤:按照工程设计要求,对PCB板的内层进行内层加工工序;
(2)开窗步骤:将步骤(1)中完成内层加工步骤的PCB板上,对需要钻孔的位置进行开窗处理;
(3)钻孔步骤:通过镭射钻孔对步骤(2)中完成开窗的位置进行激光灼烧;
(4)外层加工步骤:将完成步骤(3)的PCB板,进行外层加工工序;
(5)成型步骤:将完成步骤(4)的PCB板,进行成型加工工序。
进一步的,所述步骤(3)中,通过镭射钻孔得到的过孔的stub长度为0mil。
进一步的,所述内层加工步骤包括以下子步骤:步骤一:开料;步骤二:内层干菲林;步骤三:内层AOI;步骤四:压合;步骤五:外层图转。
进一步的,所述开窗步骤包括以下子步骤:步骤一:压膜;步骤二:曝光;步骤三:显像;步骤四:蚀铜;步骤五:去膜。
进一步的,所述外层加工步骤包括以下子步骤:步骤一:板面电镀;步骤二:外层图转;步骤三:图形电镀;步骤四:外碱蚀刻;步骤四:外层AOI。
进一步的,所述成型步骤包括以下子步骤:步骤一:塞孔;步骤二:防焊;步骤三:字符;步骤四:化金;步骤五:成型。
进一步的,还包括有PCB板检测工序:对制备得到的PCB板进行loss测试。
进一步的,所述PCB板检测工序包括以下子步骤:步骤一:电测;步骤二:loss测试;步骤三:终检;步骤四:包装。
本发明实施例还提供一种PCB板,包括有过孔,该过孔是采用上述的解决stub影响信号传输的方法设置的。
与现有技术相比本发明的有益效果如下:由于在开窗步骤完成后,采用镭射钻孔对完成开窗的位置进行激光灼烧,不仅可以使得PCB板能够完成过孔的开通,同时还能保证过孔的stub长度不会产生,从而使得通过该方法制备得到的PCB板在检测的过程当中,不会因为stub长度过长而产生寄生电容电感;不会造成信号上升时间延长、传输速率降低;以及不会产生反射导致阻抗不连续,损耗等信号完整性问题和噪声干扰对信号影响产生的问题,进而保证信号的传输稳定性,提高了PCB板的检测效果。
附图说明
利用附图对发明作进一步说明,但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制,对于本领域的普通技术人员,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本发明的一种解决stub影响信号传输的方法的工艺流程示意图。
图2是本发明中PCB板的剖视图。
图3是现有技术中PCB板的剖视图。
图中包括有:PCB板1、过孔2。
具体实施方式
结合以下实施例对本发明作进一步描述。
如图1-2所示,本发明实施例提供一种解决stub影响信号传输的方法,包括有以下步骤:
(1)内层加工步骤:按照工程设计要求,对PCB板1的内层进行内层加工工序;
(2)开窗步骤:将步骤(1)中完成内层加工步骤的PCB板1上,对需要钻孔的位置进行开窗处理;
(3)钻孔步骤:通过镭射钻孔对步骤(2)中完成开窗的位置进行激光灼烧;
(4)外层加工步骤:将完成步骤(3)的PCB板1,进行外层加工工序;
(5)成型步骤:将完成步骤(4)的PCB板1,进行成型加工工序。
由于在开窗步骤完成后,采用镭射钻孔对完成开窗的位置进行激光灼烧,不仅可以使得PCB板能够完成过孔的开通,同时还能保证过孔的stub长度不会产生,从而使得通过该方法制备得到的PCB板在检测的过程当中,不会因为stub长度过长而产生寄生电容电感,不会造成信号上升时间延长、传输速率降低,以及反射导致阻抗不连续,损耗等信号完整性问题和噪声干扰对信号影响产生的问题,从而保证信号的传输稳定性,提高了PCB板的检测效果。
在优选实施例中,所述步骤(3)中,通过镭射钻孔得到的过孔2的stub长度为0mil,由于stub长度为0mil,从而使得通过该方法制备得到的PCB板在检测的过程当中,不会因为stub长度过长而产生寄生电容电感,不会造成信号上升时间延长、传输速率降低,以及反射导致阻抗不连续,损耗等信号完整性问题和噪声干扰对信号影响产生的问题,从而保证信号的传输稳定性,提高了PCB板的检测效果。
在优选实施例中,所述内层加工步骤包括以下子步骤:步骤一:开料;步骤二:内层干菲林;步骤三:内层AOI;步骤四:压合;步骤五:外层图转。
在优选实施例中,所述开窗步骤包括以下子步骤:步骤一:压膜;步骤二:曝光;步骤三:显像;步骤四:蚀铜;步骤五:去膜。
在优选实施例中,所述外层加工步骤包括以下子步骤:步骤一:板面电镀;步骤二:外层图转;步骤三:图形电镀;步骤四:外碱蚀刻;步骤四:外层AOI。
在优选实施例中,所述成型步骤包括以下子步骤:步骤一:塞孔;步骤二:防焊;步骤三:字符;步骤四:化金;步骤五:成型。
在优选实施例中,还包括有PCB板1检测工序:对制备得到的PCB板1进行loss测试。
在优选实施例中,所述PCB板1检测工序包括以下子步骤:步骤一:电测;步骤二:loss测试;步骤三:终检;步骤四:包装。
本发明实施例还提供一种PCB板,包括有过孔2,该过孔2是采用上述的解决stub影响信号传输的方法设置的。
实验例
实验对象:取本发明实施例中加工得到的带有镭射孔的PCB板、取市场上带有背钻孔的PCB板、取市场上带有通孔的PCB板。
实验方式:对上述三块PCB板子进行插入损耗测试,并且对比插入损耗值大小。
实验结果:如下表1所示:
表一
实验结论:由上表可知,插入损耗绝对值越大,影响越大,设计效果越差,因此通过镭射孔的检测频率最少,从而可以得知通过该方法制得的镭射孔能够保证信号的传输稳定性,提高了PCB板的检测效果。
与现有技术相比本发明的有益效果如下:由于在开窗步骤完成后,采用镭射钻孔对完成开窗的位置进行激光灼烧,不仅可以使得PCB板能够完成过孔的开通,同时还能保证过孔的stub长度不会产生,从而使得通过该方法制备得到的PCB板在检测的过程当中,不会因为stub长度过长而产生寄生电容电感;不会造成信号上升时间延长、传输速率降低;以及不会产生反射导致阻抗不连续,损耗等信号完整性问题和噪声干扰对信号影响产生的问题,进而保证信号的传输稳定性,提高了PCB板的检测效果。
本发明适用于基于purley平台的大数据服务器系统套板领域。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对本发明保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
Claims (9)
1.一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:包括有以下步骤:
(1)内层加工步骤:按照工程设计要求,对PCB板的内层进行内层加工工序;
(2)开窗步骤:将步骤(1)中完成内层加工步骤的PCB板上,对需要钻孔的位置进行开窗处理;
(3)钻孔步骤:通过镭射钻孔对步骤(2)中完成开窗的位置进行激光灼烧;
(4)外层加工步骤:将完成步骤(3)的PCB板,进行外层加工工序;
(5)成型步骤:将完成步骤(4)的PCB板,进行成型加工工序。
2.如权利要求1所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:所述步骤(3)中,通过镭射钻孔得到的过孔的stub长度为0mil。
3.如权利要求1所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:所述内层加工步骤包括以下子步骤:步骤一:开料;步骤二:内层干菲林;步骤三:内层AOI;步骤四:压合;步骤五:外层图转。
4.如权利要求1所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:所述开窗步骤包括以下子步骤:步骤一:压膜;步骤二:曝光;步骤三:显像;步骤四:蚀铜;步骤五:去膜。
5.如权利要求1所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:所述外层加工步骤包括以下子步骤:步骤一:板面电镀;步骤二:外层图转;步骤三:图形电镀;步骤四:外碱蚀刻;步骤四:外层AOI。
6.如权利要求1所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:所述成型步骤包括以下子步骤:步骤一:塞孔;步骤二:防焊;步骤三:字符;步骤四:化金;步骤五:成型。
7.如权利要求5所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:还包括有PCB板检测工序:对制备得到的PCB板进行loss测试。
8.如权利要求6所述的一种解决stub影响信号传输的方法,其特征在于:所述PCB板检测工序包括以下子步骤:步骤一:电测;步骤二:loss测试;步骤三:终检;步骤四:包装。
9.一种PCB板,其特征在于:包括有过孔,该过孔是采用如权利要求1-8中任意一项所述的解决stub影响信号传输的方法设置的。
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CN113964613A (zh) * | 2021-12-16 | 2022-01-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种减小高速连接器stub的方法、装置、设备及可读介质 |
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