CN111155160A - 一种降低金属制品氧化速度的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种降低金属制品氧化速度的方法，所述方法包括如下步骤：(一)以待处理金属样品为阳极，以含弱酸水溶液为电解液，搭建电解池；(二)通电一段时间后，断电并将样品取出；(三)将样品清洗后擦干即得到所述金属制品。本发明提出的方法，通过非常简单的操作，就可以降低金属制品的氧化速度，并可以保持金属制品的表面性质。

Description

一种降低金属制品氧化速度的方法
技术领域
本发明涉及一种降低金属制品氧化速度的方法，尤其涉及一种用电化学处理降低金属制品氧化速度的方法。
背景技术
铜是一种使用历史悠久且应用广泛的金属。它具有非常优异的导热和导电性质，因此成为电力输运和电子器件应用中首选的金属材料，特别地，由于铜的表面与石墨烯的良好匹配，可以在单晶铜基底上使用化学气相沉积(CVD)方法制备石墨烯。但是，相比金银而言，铜也是一种较易氧化的金属，在高温下会被氧化为氧化亚铜、氧化铜，在潮湿的空气中会被氧化为碱式碳酸铜，这些都会极大地影响铜优异的电学、力学、热学等性能。因此，降低铜器件的氧化，是提高其使用寿命的关键方法之一。
目前常见的降低铜氧化的方法都是基于附加涂层的方法，包括：电镀镍、防锈漆和涂油脂层等等。这些方法都依赖于额外的涂层，过程复杂，价格较高，而且会破坏铜，尤其是单晶铜的表面性能。因此，寻找一种简单的降低铜氧化速度的方法的技术在铜的研究与应用中起着极为重要的作用。
发明内容
本发明提出一种降低金属制品氧化速度的方法，所述方法包括如下步骤：
(一)以待处理金属样品为阳极，以含弱酸水溶液为电解液，搭建电解池；
(二)通电一段时间后，断电并将样品取出；
(三)将样品清洗后擦干即得到所述金属制品。
优选的是，所述电解池的阴极包括铂、铜或其他阴极电极。
优选的是，所述含弱酸水溶液为弱酸水溶液，或弱酸和对应弱酸盐的混合溶液。
优选的是，所述弱酸包括乙酸或甲酸等。
优选的是，所述弱酸的质量百分浓度为0.1％～10％，所述弱酸盐的质量百分浓度为0.1％～10％。
优选的是，所述通电时间为5-60分钟，电流密度为0.001-0.01A/cm2。
优选的是，所述待处理金属样品为具有一定晶面的铜箔。
优选的是，还包括如下步骤：将所述金属制品放入加热装置，进行加热氧化反应；将氧化后样品在显微镜下观察颜色，即可得到所述金属制品的氧化程度。
优选的是，所述加热装置包括热台、烤箱、或CVD管式炉。
优选的是，所述观察颜色包括将显微镜照片输入计算机设备中，通过取色设备可查看对应的颜色信息；
优选的是，所述颜色信息包括RGB信息、CMYK信息、或Lab信息；
优选的是，所述金属制品在180℃空气中氧化的G通道衬度可维持在0.7-0.9约40分钟。
本发明利用经过电化学处理平整金属氧化所需的表面重构来降低铜的氧化速度。由于金属在氧化时会先发生表面重构，而电化学处理可以平整表面重构，使得金属的氧化速度降低。本发明提出的方法，通过非常简单的操作，就可以显著使金属在空气中的氧化速度变慢。
本发明的优点在于：
1.本发明为一种用电化学方法降低金属氧化速度的方法；
2.本发明利用常用的电解池、采用弱酸为电解液等对金属箔片，尤其是铜箔进行防氧化处理，操作简便；
3.本发明所涉及的操作都比较简单，所需的仪器(电解池)及试剂(弱酸水溶液)都很常见，省时省事。
4.本发明不使用任何外加涂层，不会对金属，尤其是铜的表面性能产生影响。
5.本发明不仅适用于铜，其他金属同样适用。
附图说明
图1为本发明中所使用的电解池示意图。
图2为本发明采用1.0wt％乙酸对铜进行处理的结果，其中，(a)为铜经质量百分浓度为1.0％乙酸电化学处理后在180℃空气氧化60分钟的结果，(b)为未经处理的铜在180℃空气氧化60分钟的结果，(c)是两样品相应的氧化过程中G通道衬度取值变化。
图3为本发明采用1.0wt％甲酸对铜进行处理的结果，其中，(a)为铜经质量百分浓度为1.0％甲酸电化学处理后在180℃空气氧化60分钟的结果，(b)为未经处理的铜在180℃空气氧化60分钟的结果，(c)是两样品相应的氧化过程中G通道衬度取值变化。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明做进一步详细说明，所述原材料如无特别说明均能从公开商业途径而得。
实施例一：如图1所示为本发明中所使用的电解池示意图，所述电解池包括阳极、阴极和电解液，其中，以待处理金属样品为阳极，以含弱酸溶液为电解液。所述阴极包括铜或铂。在一个具体的实施例中，所述阴极包括铜箔。
本发明提供一种用电化学处理降低金属制品氧化速度的方法，包括如下步骤：
(一)、将待处理金属样品制样；
(二)、以待处理金属样品为阳极，以含弱酸溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.001-0.01A/cm2下通电5-60分钟；
(四)、断电后取出样品，清洗后迅速擦干即可得到所述金属制品。
其中，所述金属样品包括铜。在一个具体的实施例中，所述金属样品包括铜箔。
所述含弱酸溶液为弱酸，或弱酸和对应弱酸盐的混合溶液。在一个具体的实施例中，所述弱酸包括乙酸或甲酸。所述弱酸的质量百分浓度为0.1％～10％，所述弱酸盐的质量百分浓度为0.1％～10％。
所述阴极包括铜或铂。在一个具体的实施例中，所述阴极包括铜箔。
在一个具体的实施例中，在步骤(四)中，采用清水对样品进行清洗。
将处理后样品与处理前样品放入加热装置，进行加热氧化反应；将氧化后样品在光镜下观察颜色，即可得到氧化程度的区别。所述加热装置包括热台、烤箱、CVD管式炉等。
所述观察颜色包括将显微镜照片输入计算机设备中，通过取色设备可查看对应的颜色信息；所述颜色信息包括RGB信息、CMYK信息、或Lab信息。在一个具体的实施例中，采用RGB颜色信息时，所述金属制品在180℃空气氧化60分钟的衬度(RGB信息中的G通道)为0.7-0.9。
在一个具体的实施例中，将经过上述方法处理过的铜样品时同时与未经处理的铜样品放在空气中经过加热装置在180℃加热氧化。所述加热装置包括热台、烤箱、CVD管式炉等。
其中，在上述180℃空气氧化60分钟条件下，处理过的铜样品以RGB信息表示为：G通道衬度取值为0.4-0.9。在一个具体的实施例中，处理过的铜样品以RGB信息表示为：G通道衬度取值为0.7-0.9。处理前的铜样品以RGB信息表示为：G通道衬度取值为0.0-0.4。其中，衬度等于1-加热后取值/未加热时取值。
试验一：本试验的一种用电化学处理降低铜制品氧化速度的方法是按以下步骤进行：
(一)、将待处理铜样品制样；
(二)、以待处理铜样品为阳极，铜箔为阴极，1.0wt％乙酸水溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.002A/cm2下通电20分钟；
(四)、断电后迅速取出，用清水浸洗后迅速擦干即得所述铜制品。
其中，所述铜制品为铜箔。
将处理后样品与处理前样品放入加热装置，进行加热氧化反应。将氧化后样品在光镜下观察颜色，即可得到氧化程度的区别。
如图2所示为本发明采用1.0wt％乙酸对铜进行处理的结果，其中，(a)为铜经1.0wt％乙酸电化学处理后在180℃空气氧化60分钟的结果，(b)为未经处理的铜在180℃空气氧化60分钟的结果，(c)是两样品相应的氧化过程中G通道衬度取值变化。由图2(c)可知，氧化过程中，未经处理的铜的G通道衬度达到约0.8之后即开始降低直至0.3；而经电化学处理后的铜的G通道衬度达到0.75之后，平稳维持约40分钟，即在180℃空气中加热保持时间在第20min至第60min之间时铜的G通道衬度维持在0.75-0.9之间，说明这段时间样品的氧化程度基本不变。由此可见，本试验条件下，可观察到电化学处理后的样品氧化程度明显小于未处理样品。
试验二：本试验的一种用电化学处理降低铜制品氧化速度的方法是按以下步骤进行：
(一)、将待处理铜样品制样；
(二)、以待处理铜样品为阳极，铂片为阴极，1.0wt％甲酸水溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.002A/cm2下通电20分钟；
(四)、断电后迅速取出，用清水浸洗后迅速擦干即得所述铜制品。
其中，所述铜制品为铜箔。
将处理后样品与处理前样品放入加热装置，进行加热氧化反应。将氧化后样品在光镜下观察颜色，即可得到氧化程度的区别。
如图3所示为本发明采用1.0wt％甲酸对铜进行处理的结果，其中，(a)为铜经1.0wt％甲酸电化学处理后在180℃空气氧化60分钟的结果，(b)为未经处理的铜在180℃空气氧化60分钟的结果，(c)是两样品相应的氧化过程中G通道衬度取值变化。由图3(c)可知，氧化过程中，未经处理的铜的G通道衬度达到约0.8之后即开始降低直至0.05；而经电化学处理后的铜的G通道衬度达到约0.75之后，平稳缓慢上升约40分钟，即在180℃空气中加热保持时间在第20min至第60min之间铜的G通道衬度维持在0.75-0.9之间，说明这段时间样品的氧化程度基本不变。由此可见，本试验条件下，可观察到电化学处理后的样品氧化程度明显小于未处理样品。
试验三：本试验的一种用电化学处理降低铜制品氧化速度的方法是按以下步骤进行：
(一)、将待处理铜样品制样；
(二)、以待处理铜样品为阳极，铜箔为阴极，0.1wt％乙酸和10wt％乙酸钠水溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.01A/cm2下通电5分钟；
(四)、断电后迅速取出，用清水浸洗后迅速擦干即得所述铜制品。
其中，所述铜制品为铜箔。
试验四：本试验的一种用电化学处理降低铜制品氧化速度的方法是按以下步骤进行：
(一)、将待处理铜样品制样；
(二)、以待处理铜样品为阳极，铜箔为阴极，10wt％乙酸水溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.001A/cm2下通电60分钟；
(四)、断电后迅速取出，用清水浸洗后迅速擦干即得所述铜制品。
其中，所述铜制品为铜箔。
试验五：本试验的一种用电化学处理降低铜制品氧化速度的方法是按以下步骤进行：
(一)、将待处理铜样品制样；
(二)、以待处理铜样品为阳极，铜箔为阴极，10wt％甲酸水溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.001A/cm2下通电60分钟；
(四)、断电后迅速取出，用清水浸洗后迅速擦干即得所述铜制品。
其中，所述铜制品为铜箔。
试验六：本试验的一种用电化学处理降低铜制品氧化速度的方法是按以下步骤进行：
(一)、将待处理铜样品制样；
(二)、以待处理铜样品为阳极，铜箔为阴极，1wt％甲酸和0.1wt％甲酸铵水溶液为电解液，搭建电解池；
(三)、在电流密度为0.01A/cm2下通电5分钟；
(四)、断电后迅速取出，用清水浸洗后迅速擦干即得所述铜制品。
其中，所述铜制品为铜箔。

Claims (10)

1.一种降低金属制品氧化速度的方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
(一)以待处理金属样品为阳极，以含弱酸水溶液为电解液，搭建电解池；
(二)通电一段时间后，断电并将样品取出；
(三)将样品清洗后擦干即得到所述金属制品。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电解池的阴极包括铂或铜阴极电极。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述含弱酸水溶液为弱酸水溶液，或弱酸和对应弱酸盐的混合溶液。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述弱酸包括乙酸或甲酸。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述弱酸的质量百分浓度为0.1％～10％，所述弱酸盐的质量百分浓度为0.1％～10％。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通电时间为5-60分钟，电流密度为0.001-0.01A/cm2。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待处理金属样品为具有一定晶面的铜箔。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括如下步骤：将所述金属制品放入加热装置，进行加热氧化反应；将氧化后样品在显微镜下观察颜色，即可得到所述金属制品的氧化程度。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述加热装置包括热台、烤箱、或CVD管式炉。
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述观察颜色包括将显微镜照片输入计算机设备中，通过取色设备可查看对应的颜色信息；
优选的是，所述颜色信息包括RGB信息、CMYK信息或Lab信息；
优选的是，所述金属制品在180℃空气中氧化的G通道衬度可维持在0.7-0.9约40分钟。
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