CN111103214B - 涂层面密度检测装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种涂层面密度检测装置和方法。该装置包括：厚度检测模块，用于检测待测多层涂层中每层涂层的厚度；面密度检测模块，用于检测待测多层涂层的总面密度；检测控制模块，用于基于每层涂层的厚度获取每层涂层的面密度，并基于总面密度对每层涂层的面密度进行修正。根据本发明实施例提供的涂层面密度检测装置和方法，提高了对每层涂层面密度检测的精确度。

Description

涂层面密度检测装置和方法

技术领域

本发明涉及涂布领域，尤其涉及一种涂层面密度检测装置和方法。

背景技术

精密涂布技术已成为电子、汽车、建筑、包装、照相、医药及衣料等产业的重要基础技术之一。为了满足产品多功能、安全及制程量产性等多种需求，越来越多的产品(二次电池、感压胶、光学膜、照相胶卷及磁带等)要设计多层结构。与多次单层涂布技术相比，一次多层涂布技术具有提高效率、节省成本、降低错位以及提高致密度等优势。

为了提高一次多层涂布技术中涂层的品质良率，则需要监控每层涂层的面密度。而放射源测量系统、激光测厚仪或超声波测厚仪等器件都无法完全反映每一层的涂覆品质。目前，一般采用控制浆料输送比例(螺杆泵流量)、浆料固含量或测量总面密度的方法进行监控涂层的面密度。但是，目前的面密度检测方法受浆料粘度、沉降、泵速稳定性等因素的影响，均无法精确地检测多层涂层中每层涂层的面密度。

发明内容

本发明实施例提供一种涂层面密度检测装置和方法，能够精确地检测每层涂层的面密度，从而提高多层涂层的品质良率。

根据本发明实施例的一方面，提供一种涂层面密度检测装置，装置包括：

厚度检测模块，用于检测待测多层涂层中每层涂层的厚度；

面密度检测模块，用于检测待测多层涂层的总面密度；

检测控制模块，用于基于每层涂层的厚度获取每层涂层的面密度，并基于总面密度对每层涂层的面密度进行修正。

在一个实施例中，检测控制模块包括修正子模块，用于基于总面密度和每层涂层的面密度得出面密度修正参数，并根据面密度修正参数对每层涂层的面密度进行修正。

在一个实施例中，装置还包括调节量计算模块，用于对于每层涂层，基于该涂层的多个修正后的面密度计算该涂层的平均面密度，基于该涂层的平均面密度计算该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量，以调节该涂层对应的浆料流量。

在一个实施例中，调节量计算模块具体用于对于每层涂层，若该涂层的平均面密度满足该涂层对应的预设条件，则该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量为零，若该平均面密度不满足预设条件，则基于该涂层对应的预设面密度以及该平均面密度计算该调节量。

在一个实施例中，装置还包括流量调节模块，用于对于每层涂层，基于该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量调节该流量参数，以调节该涂层对应的浆料流量。

在一个实施例中，流量调节模块包括：

分段调节子模块，用于对于每层涂层，若该涂层的调节量位于预设流量参数区间，则基于该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量分段调节该流量参数。

在一个实施例中，若流量调节组件为螺杆泵，流量参数为螺杆泵的泵速，预设流量参数区间的第一端点为0.8转每秒，预设流量参数区间的第二端点为1.5转每秒。

在一个实施例中，流量调节组件为螺杆泵或回流阀；其中，

若流量调节组件为螺杆泵，则流量参数为螺杆泵的泵速；

若流量调节组件为回流阀，则流量参数为回流阀的开度。

在一个实施例中，对于每个涂层，该涂层的多个修正后的面密度包括该涂层沿第一方向的多个位置处的修正后的面密度和该涂层沿第二方向的多个位置处的修正后的面密度。

在一个实施例中，第一方向与第二方向垂直。

根据本发明实施例的另一方面，提供一种涂层面密度检测方法，方法包括：

获取待测多层涂层中每层涂层的厚度；

基于每层涂层的厚度获取每层涂层的面密度；

获取待测多层涂层的总面密度；

基于总面密度对每层涂层的面密度进行修正。

在一个实施例中，方法还包括：

对于每层涂层，基于该涂层的多个修正后的面密度计算该涂层的平均面密度；

根据该涂层的平均面密度计算该涂层的流量调节组件的流量参数的调节量，以使流量调节模块基于该调节量调节该流量参数，以调节该涂层对应的浆料流量。

根据本发明实施例提供的涂层面密度检测装置和方法，通过基于待测多层涂层中每层涂层的厚度获取每层涂层的面密度，并利用待测多层涂层的总面密度对每层涂层的面密度进行修正，提高了对每层涂层面密度检测的精确度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一些实施例提供的涂层面密度检测装置的结构示意图；

图2为本发明另一些实施例提供的涂层面密度检测装置的结构示意图；

图3为本发明一些实施例提供的涂层面密度检测方法的流程示意图；

图4为本发明另一些实施例提供的涂层面密度检测方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

图1示出本发明实施例提供的涂层面密度检测装置的结构示意图。如图1所示，涂层面密度检测装置包括厚度检测模块101、面密度检测模块102和检测控制模块103。

厚度检测模块101，用于检测待测多层涂层中每层涂层的厚度。

面密度检测模块102，用于检测待测多层涂层的总面密度。

检测控制模块103，用于基于每层涂层的厚度获取每层涂层的面密度，并基于总面密度对每层涂层的面密度进行修正。

在本发明的实施例中，检测控制模块103与厚度检测模块101连接，用于从厚度检测模块101接收每层涂层的厚度。检测控制模块103与厚度检测模块101的连接方式不做具体限定。

在本发明的实施例中，检测控制模块103与面密度检测模块102连接，用于从面密度检测模块102接收待测多层涂层的总面密度。检测控制模块103与面密度检测模块102的连接方式不做具体限定。

在本发明的一些实施例中，待测多层涂层为利用具有一次多层涂布技术的涂布机涂布的涂层。待测多层涂层可以为光学膜等反光涂层，也可以为二次电池上涂布的黑色无有效反光涂层。本发明实施例对多层涂层的种类和涂布技术不做具体限定。

在本发明的实施例中，厚度检测模块101可以为测厚仪。对于光学膜等反光涂层，可采用近红外测厚仪。近红外测厚仪利用低相干性光波在不同层界面反射波的干涉原理，可精确测量每层涂层的厚度。也就是说，测厚仪可以不与待测多层涂层接触。

在本发明的另一些实施例中，针对二次电池上涂布的黑色无有效反光涂层，可采用超声波测厚仪测量每层涂层的厚度。

其中，超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的。当超声波测厚仪的探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达分界面时，脉冲被反射回探头。通过精确测量超声波在材料中传播的时间与速度可确定被测的每层涂层的厚度。对于不同种类的待测多层涂层，可选取不同种类的测厚仪进行检测，在此并不限定。

在一些示例中，厚度检测模块101可以按照预设时间间隔检测每层涂层的厚度。作为一个具体示例，厚度检测模块101在多层涂层幅宽横向的中央部位测量每层涂层的厚度，对于测厚仪的具体测量位置在此不做具体限定。其中，多层涂层的幅宽横向即是涂层的宽度方向。

在本发明的实施例中，面密度检测模块102可以为面密度测量仪，也称为测重仪。测重仪可以为X射线测重仪(要求涂层元素的原子序数高于基材)或β射线测重仪。

当面密度测量仪发出的射线作用于待测多层涂层之后，射线将会被待测多层涂层吸收、反射或散射，导致穿透待测多层涂层之后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与待测多层涂层的面密度成负指数关系。通过检测射线作用于待测多层涂层前后的射线强度，即可以得出待测多层涂层的总面密度。其中，测重仪也可以不与待测多层涂层接触。

在一些示例中，测重仪在多层涂层幅宽横向的中央位置处测量多层涂层的总面密度，对于测重仪的具体测量位置在此不做具体限定。

参见图1，图1中还示出了涂布机的多层涂布头104、背辊105和收卷单元106。其中，背辊105设置于涂布机的一侧，用于输送基材。多层涂布头104用于将涂布机的供料单元提供的浆料涂布在背辊105输送的基材上。涂布机中的烘箱对多层涂布头104涂布的多层涂层烘干后由收卷单元106进行收卷。

另外，涂布机中还包括螺杆泵以及螺杆泵的回流阀等流量调节组件。其中，每层涂层均具有对应的螺杆泵和回流阀。对于任一涂层，通过调节该涂层对应的流量调节组件的流量参数，可以调整该涂层对应的浆料流量，以调控该涂层的面密度。例如，螺杆泵的流量参数为螺杆泵的泵速，回流阀的流量参数为回流阀的开度。

在本发明的一些实施例中，测厚仪和测重仪分别设置于多层涂层出烘箱后的较低温干膜处，用于分别测量每层涂层的厚度和多层涂层的总面密度。

本发明实施例提供的涂层面密度检测装置，通过利用多层涂层的总面密度对计算的每层涂层的面密度进行修正，提高了对每层涂层面密度检测的精确度。

在本发明的实施例中，当测厚仪检测出每层涂层的厚度之后，将每层涂层的厚度发送至检测控制模块103。检测控制模块103接收到每层涂层的厚度之后，则基于每层涂层的厚度计算每层涂层的面密度。对于每层涂层，检测控制模块103根据预先获取的该涂层的体积密度以及该涂层的厚度，则可以得到该涂层的面密度。具体地，对于每层涂层，检测控制模块103将该涂层的厚度乘以该涂层的体积密度，即可以得到该涂层的面密度。

作为一个示例，待测多层涂层包括n层涂层。若第i层涂层的体积密度为ρi，第i层涂层的厚度为h_i，则第i层涂层的面密度为m_i可以利用下面的表达式进行表示：

m_i＝ρ_ih_i (1)

其中，i为小于等于n的正整数，n为大于1的正整数。

由于每层涂层的体积密度为预设值，为了降低体积密度对每层涂层的面密度的检测精度的影响，即为了提高每层涂层的面密度检测的精确性，检测控制模块103需要从测重仪获取待测多层涂层的总面密度，以对每层涂层的面密度进行修正。

在本发明的实施例中，当测重仪检测出待测多层涂层的总面密度之后，将检测的总面密度发送至检测控制模块103。当检测控制模块103接收到多层涂层的总面密度之后，则基于多层涂层的总面密度对每层涂层的面密度进行修正。

在一些示例中，检测控制模块103首先基于多层涂层的总面密度和每层涂层的面密度，得出面密度修正参数。作为一个具体示例，检测控制模块103将每层涂层的面密度相加，得到第一和值。检测控制模块103再基于第一和值与多层涂层的总面密度之间的差值计算面密度修正参数。

具体地，面密度修正参数b可以利用下面的表达式进行表示：

其中，第一和值为

m_总为多层涂层的总面密度。

在本发明的实施例中，检测控制模块103得出面密度修正参数之后，则利用面密度修正参数对每层涂层的待修正面密度进行修正。具体地，对于每层涂层，该涂层的修正后的面密度为该涂层修正前的面密度与面密度修正参数的和。

也就是说，检测控制模块103利用面密度修正参数进一步校准了所估算的每层涂层的面密度。作为一个具体示例，第i层涂层的修正后的面密度m_i'可以利用下面的表达式进行表示：

m_i'＝m_i+b (3)

在本发明的实施例中，检测控制模块103先根据每层涂层的体积密度和每层涂层的厚度得到每层涂层的待修正面密度。然后利用测重仪测量的总面密度，进一步补偿校准所估算的待修正涂层面密度，精确地得到每层涂层的面密度，从而提高多层涂层的品质良率。

在本发明的一些实施例中，为了提高产品一致性、稳定性及生产效率，降低次品率，如图2所示，涂层面密度检测装置还包括调节量计算模块107和流量调节模块108。

其中，对于每层涂层，调节量计算模块107基于该涂层的多个修正后的面密度计算该涂层的平均面密度，并根据该涂层的平均面密度计算该涂层的流量调节组件的流量参数的调节量。其中，调节量计算模块107与检测控制模块103连接，用于从检测控制模块103获取每个涂层的多个修正后的面密度。

流量调节模块108，用于控制每层涂层对应的流量调节组件。其中，流量调节模块108与调节量计算模块107连接，用于从调节量计算模块107接收每个涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量。

具体地，对于每层涂层，流量调节模块108基于接收的该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量调节该流量参数，以调节该涂层对应的浆料流量，从而实现调节新涂布的每层涂层的面密度。

也就是说，调节量计算模块107将计算的每层涂层对应的流量参数的调节量反馈至流量调节模块108。即检测控制模块103、调节量计算模块107和流量调节模块108形成了一个闭环控制系统，实现了对多层涂层中每层涂层的面密度的在线检测和调控。

在一些示例中，为了提高每层涂层的平均面密度计算的准确性，对于每层涂层，该涂层的多个修正后的面密度包括该涂层沿第一方向的多个位置处的修正后的面密度和该涂层沿第二方向的多个位置处的修正后的面密度。对于每层涂层，通过考虑该涂层在不同方向上的不同位置处的修正后的面密度，提高了每层涂层的平均面密度的计算的精确性，从而实现对每层涂层的面密度的精确监控。

在一些具体示例中，第一方向为多层涂层的幅宽横向，第二方向为多层涂层的纵向(走带方向)。也就是说，第一方向和第二方向垂直。测厚仪沿多层涂层的幅宽横向上进行一次扫描，可以得到每层涂层在幅宽横向上多个不同位置处的厚度。同样地，测重仪沿多层涂层的幅宽横向上进行一次扫描，可以得到待测多层涂层沿幅宽横向上的多个不同位置处的总面密度。检测控制模块103利用测厚仪的多个检测结果以及测厚仪的多个检测结果，即可以计算出每层涂层沿幅宽横向的多个位置处的修正后的面密度。

为了降低检测误差，提高流量参数调节量计算的准确性，测厚仪可以在不同的时间段对多层涂层进行横向扫描，测重仪也可以在不同的时间段对多层涂层进行扫描，以使检测控制模块103可以得到每层涂层沿幅宽横向的多个位置处的修正后的面密度，以及获取每层涂层沿纵向(走带方向)的多个位置处的修正后的面密度。对于每层涂层，检测控制模块103将计算出的多个修正后的面密度的平均值作为该涂层的平均面密度。

在本发明的实施例中，对于每层涂层，调节量计算模块107基于该涂层的平均面密度计算该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量，以调节该涂层对应的浆料流量。

作为一个示例，对于每层涂层，若该涂层的平均面密度满足该涂层对应的预设条件，则调节量计算模块107确定该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量为零，若该平均面密度不满足该预设条件，则调节量计算模块107基于该涂层对应的预设面密度以及该平均面密度计算该调节量。

在一些示例中，每层涂层对应的预设条件可以为该涂层对应的平均面密度与预设面密度的差值在预设范围内。

在本发明的实施例中，调节量计算模块107和检测控制模块103可以位于同一个上位机内。流量调节模块108可以为涂布机内的可编程逻辑控制器(Programmable LogicController，PLC)。

下面以流量调节组件为螺杆泵为例，说明调节量计算模块107和流量调节模块108的工作过程。由于调节量计算模块107和流量调节模块108对任意一层涂层的处理方式均类似，因此下面以第一层涂层为例进行介绍。

图3示出涂层面密度检测方法的流程示意图。如图3所示，调节量计算模块107从检测控制模块103获取第一层涂层的多个修正后的面密度之后，将多个修正后的面密度进行平均，得到第一层涂层的平均面密度。

参见图3，若第一层涂层的平均面密度与该涂层对应的第一预设面密度之间的差值在预设范围内，则不调节第一层涂层对应的第一螺杆泵的泵速，即第一螺杆泵保持现有泵速即可。

若第一层涂层的平均面密度与第一预设面密度之间的差值超出预设范围，则基于第一预设面密度以及该涂层的平均面密度，计算第一螺杆泵的泵速调节量，以调节第一层涂层对应的浆料的流量。

对于第一层涂层而言，若第一层涂层的平均面密度为m₁，第一层涂层对应的第一预设面密度为m₁₁，第一螺杆泵的转速为r转每分钟。则第一螺杆泵的泵速调节量Δr(单位为每分钟转速)可以利用下面的表达式进行表示：

当检测控制模块103得出第一螺杆泵的泵速调节量Δr之后，将该泵速调节量发送至流量调节模块108。流量调节模块108根据泵速调节量Δr调节第一螺杆泵的泵速，从而调节第一层涂层所对应的浆料的流量。

参见图3，当流量调节模块108接收到第一螺杆泵的泵速调节量Δr之后，将根据泵速调节量Δr的大小确定对第一螺杆泵的泵速的调节方式。

参见图3，若Δr小于等于预设的最小泵速r₁rpm(每分钟转速)，则流量调节模块108不调节第一螺杆泵的泵速，即第一螺杆泵的现有泵速不变。

若Δr位于(r₁，0.8]rpm内，则流量调节模块108根据第一预设面密度和第一层涂层的平均面密度之间的大小关系、以及泵速调节量Δr调节第一螺杆泵的泵速。若m₁小于m₁₁，则将第一螺杆泵的泵速在现有泵速的基础上增加Δr，即第一层涂层的面密度偏轻需要加泵速。若m₁大于m₁₁，则将第一螺杆泵的泵速在现有泵速的基础上减小Δr，即第一层涂层的面密度偏大需要减小泵速。

在本发明的实施例中，流量调节模块108还包括分段调节子模块，用于对于每层涂层，若该涂层的调节量位于预设流量参数区间，则基于该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量分段调节该流量参数。

作为一个示例，第一层涂层对应的预设流量参数区间为(0.8，1.5]rpm。预设流量参数区间的第一端点为0.8转每秒，预设流量参数区间的第二端点为1.5转每秒。

若Δr位于(0.8，1.5]rpm内，为了保持涂层涂布的稳定性，分段调节子模块将根据Δr分段调节第一螺杆泵的泵速。作为一个示例，若m₁小于m₁₁，则分段调节子模块第一次将第一螺杆泵的泵速增加1/2Δr。接着，分段调节子模块再次将第一螺杆泵的泵速增加1/2Δr，以实现分段将第一螺杆泵的泵速增加了Δr。在另一些示例中，分段调节子模块还可以分三次或三次以上对第一螺杆泵的泵速进行调节，以实现将第一螺杆泵的泵速增加Δr。

若Δr大于1.5，则流量调节模块108发出警示信息以提醒人工调节或直接控制第一螺杆泵停机。

需要说明的是，每层涂层均具有对应的螺杆泵，流量调节模块108对其他涂层的流量调节组件的流量参数的调节方式均与第一层涂层的调节方式相类似，在此不再赘述。

在一些示例中，流量调节模块108还可以通过控制每个涂层对应的回流阀的开度对每层涂层的面密度实现闭环控制。

与调节螺杆泵的泵速相类似，对于任意一层涂层，若该涂层的平均面密度大于该涂层对应的预设面密度，则流量调节模块108增大该涂层所对应的回流阀的开度，以减小该涂层对应的浆料的流量。

若该涂层的平均面密度小于对应的预设面密度，则流量调节模块108减小该涂层所对应的回流阀的开度，以增加该涂层对应的浆料的流量。

在本发明的实施例中，通过对每一层的面密度在线监控，并将基于检测的每层涂层的面密度反馈给相应的螺杆泵/回流阀进行泵速/流量闭环，可提高产品一致性、稳定性及生产效率，降低次品率。

基于上述过程，本发明实施例提供的涂层面密度检测方法，可以归纳为如图4示出的步骤。如图4所示，本发明实施例提供的涂层面密度检测方法包括以下步骤：

S410，获取待测多层涂层中每层涂层的厚度。

S420，基于每层涂层的厚度获取每层涂层的面密度。

S430，获取待测多层涂层的总面密度。

S440，基于总面密度对每层涂层的面密度进行修正。

在步骤S440中，基于总面密度和每层涂层的面密度得出面密度修正参数，并根据面密度修正参数对每层涂层的面密度进行修正。

在本发明的一些实施例中，本发明实施例提供的涂层面密度检测方法还包括：

对于每层涂层，基于该涂层的多个修正后的面密度计算该涂层的平均面密度。

根据该涂层的平均面密度计算该涂层的流量调节组件的流量参数的调节量，以使流量调节模块108基于该调节量调节该流量参数，以调节该涂层对应的浆料流量。

在一些具体示例中，对于每层涂层，若该涂层的平均面密度满足该涂层对应的预设条件，则该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量为零，若该平均面密度不满足预设条件，则基于该涂层对应的预设面密度以及该平均面密度计算该调节量。

对于涂层面密度检测方法实施例而言，相关之处可以参见涂层面密度检测装置的说明部分，在此不再赘述。

本发明实施例提供的涂层面密度检测方法，实现了对每层涂层的面密度的在线精确检测，并能够对每层涂层的面密度形成闭环控制，精确调节每层涂层的面密度，提高了产品一致性、稳定性及生产效率。

需要明确的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同或相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。对于涂层面密度检测方法实施例而言，相关之处可以参见涂层面密度检测装置的说明部分。本发明并不局限于上文所描述并在图中示出的特定步骤和结构。本领域的技术人员可以在领会本发明的精神之后，作出各种改变、修改和添加，或者改变步骤之间的顺序。并且，为了简明起见，这里省略对已知方法技术的详细描述。

本领域技术人员应能理解，上述实施例均是示例性而非限制性的。在不同实施例中出现的不同技术特征可以进行组合，以取得有益效果。本领域技术人员在研究附图、说明书及权利要求书的基础上，应能理解并实现所揭示的实施例的其他变化的实施例。权利要求中的任何附图标记均不应被理解为对保护范围的限制。权利要求中出现的多个部分的功能可以由一个单独的硬件或软件模块来实现。某些技术特征出现在不同的从属权利要求中并不意味着不能将这些技术特征进行组合以取得有益效果。

Claims (11)

1.一种涂层面密度检测装置，其特征在于，所述装置包括：

厚度检测模块，用于检测待测多层涂层中每层涂层的厚度；

面密度检测模块，用于检测所述待测多层涂层的总面密度；

检测控制模块，用于基于所述每层涂层的厚度获取所述每层涂层的面密度，并基于所述总面密度对所述每层涂层的面密度进行修正；

所述检测控制模块，具体用于根据预先获取的所述待测多层涂层 中每层涂层的体积密度，以及所述每层涂层的厚度，获取所述每层涂层的面密度；其中，对于每层涂层，将该涂层的厚度乘以该涂层的体积密度，得到该涂层的面密度；

所述检测控制模块包括修正子模块，用于基于所述总面密度和每层涂层的面密度得出面密度修正参数，并根据所述面密度修正参数对每层涂层的面密度进行修正；

所述待测多层涂层包括n层涂层，n为大于1的正整数；面密度修正参数b可以利用下面的表达式进行表示：

其中，第一和值为

m_总为多层涂层的总面密度；

所述待测多层涂层的第i层涂层的修正后的面密度m_i'可以利用下面的表达式进行表示：

m_i'＝m_i+b

其中，m_i为获取到的第i层涂层的面密度。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括调节量计算模块，用于对于每层涂层，基于该涂层的多个修正后的面密度计算该涂层的平均面密度，并基于该涂层的平均面密度计算该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量，以调节该涂层对应的浆料流量。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述调节量计算模块具体用于对于每层涂层，若该涂层的平均面密度满足该涂层对应的预设条件，则该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量为零，若该平均面密度不满足所述预设条件，则基于该涂层对应的预设面密度以及该平均面密度计算该调节量。

4.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括流量调节模块，用于对于每层涂层，基于该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量调节该流量参数，以调节该涂层对应的浆料流量。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述流量调节模块包括：

分段调节子模块，用于对于每层涂层，若该涂层的调节量位于预设流量参数区间，则基于该涂层对应的流量调节组件的流量参数的调节量分段调节该流量参数。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，若流量调节组件为螺杆泵，流量参数为所述螺杆泵的泵速，所述预设流量参数区间的第一端点为0.8转每秒，所述预设流量参数区间的第二端点为1.5转每秒。

7.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述流量调节组件为螺杆泵或回流阀；其中，

若所述流量调节组件为所述螺杆泵，则所述流量参数为所述螺杆泵的泵速；

若所述流量调节组件为所述回流阀，则所述流量参数为所述回流阀的开度。

8.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，对于每个涂层，该涂层的多个修正后的面密度包括该涂层沿第一方向的多个位置处的修正后的面密度和该涂层沿第二方向的多个位置处的修正后的面密度。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述第一方向与所述第二方向垂直。

10.一种涂层面密度检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测多层涂层中每层涂层的厚度；

基于所述每层涂层的厚度获取所述每层涂层的面密度；

获取所述待测多层涂层的总面密度；

基于所述总面密度对每层涂层的面密度进行修正；

所述基于所述每层涂层的厚度获取所述每层涂层的面密度，包括：

根据预先获取的所述待测多层涂层 中每层涂层的体积密度，以及所述每层涂层的厚度，获取所述每层涂层的面密度；

其中，对于每层涂层，将该涂层的厚度乘以该涂层的体积密度，得到该涂层的面密度；

所述基于所述总面密度对每层涂层的面密度进行修正，包括：

基于总面密度和每层涂层的面密度得出面密度修正参数，并根据面密度修正参数对每层涂层的面密度进行修正；

所述待测多层涂层包括n层涂层，n为大于1的正整数；面密度修正参数b可以利用下面的表达式进行表示：

其中，第一和值为

m_总为多层涂层的总面密度；

所述待测多层涂层的第i层涂层的修正后的面密度m_i'可以利用下面的表达式进行表示：

m_i'＝m_i+b

其中，m_i为获取到的第i层涂层的面密度。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对于每层涂层，基于该涂层的多个修正后的面密度计算该涂层的平均面密度；

根据该涂层的平均面密度计算该涂层的流量调节组件的流量参数的调节量，以使流量调节模块基于该调节量调节该流量参数，以调节该涂层对应的浆料流量。

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