CN111024717A - 一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置 - Google Patents

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姚毅
邹美芳
席蒙
于成毅
周尧
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Abstract

本申请公开了一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，包括系统框架、相机模块和光源模块；所述光源模块和所述相机模块设于第一框架板件与第二框架板件围成半封闭腔体中；所述相机模块可拆卸安装于所述半封闭腔体的上部；所述第一框架板件在竖直方向上，具有多个用于安装所述相机模块的安装位置，以便可以调节所述相机模块在竖直方向上的位置；所述光源模块具有多个，且可拆卸安装于所述半封闭腔体的下部；且各个所述光源模块内部的光程之和相同。该装置的结构设计能够将检测各种标签缺陷集成到一台检测设备上，可以根据不同的检测需求更换不同的检测模块，因而能够显著降低检测成本。

Description

一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置
技术领域
本申请涉及标签缺陷检测技术领域，特别涉及一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置。
背景技术
近几年，印刷行业中，对标签类印品的缺陷数量、缺陷种类检测要求越来越高，视觉检测设备成为每个印刷厂必不可少的配置。
现在市面上大部分标签视觉检测类设备由于受限于光学方案、光源种类、工作姿态、相机工作距离、安装空间等因素，绝大部分在一台检测设备中只集成了一种光学方案，可检缺陷种类受限严重。用户若须检测不同特性的缺陷，往往需要重新购买与被检物料缺陷特性对应的光学方案的整机，成本太高，且整机更换起来又很耗时耗力，大部分用户承担不起。
每种光学方案对应解决某一种或几种缺陷的检测需求，如果可以将绝大部分缺陷种类的光学方案集成到一台检测主机上，根据不同检测需求只需更换不同的检测模块即可实现不同种类缺陷的检测，可以极大节省了成本，从而使低成本的实现不同缺陷种类检测需求成为可能。
发明内容
本申请要解决的技术问题为提供一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，该装置的结构设计能够将检测各种标签缺陷集成到一台检测设备上，可以根据不同的检测需求更换不同的检测模块，因而能够显著降低检测成本。
为解决上述技术问题，本申请提供一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，包括系统框架、相机模块和光源模块；
所述系统框架包括第一框架板件、第二框架板件、及连接二者的若干个连接筋；
所述光源模块和所述相机模块设于所述第一框架板件与所述第二框架板件围成半封闭腔体中；
所述相机模块可拆卸安装于所述半封闭腔体的上部；所述第一框架板件在竖直方向上，具有多个用于安装所述相机模块的安装位置，以便可以调节所述相机模块在竖直方向上的位置；
所述光源模块具有多个，且可拆卸安装于所述半封闭腔体的下部；且各个所述光源模块内部的光程之和相同。
可选的，所述第一框架板件在竖直方向上开设有多排第二框架接口，所述相机模块可拆卸连接于所述第二框架接口上。
可选的，所述相机模块包括相机本体、第一连接板及第二连接板，所述第一连接板与所述第二连接板呈L型设置；
所述相机本体连接于所述第二连接板上；
所述第一连接板可拆卸连接于所述第二框架接口上。
可选的，所述第一框架板件和所述第二框架板件的下部开设有第一框架接口，所述光源模块可拆卸连接于第一框架接口上。
可选的，各所述光源模块中，光线均由光源模块的同一位置射出，输入所述相机模块。
可选的，各所述光源模块中，具有均有不同的工作角度。
在一种实施例中，本申请提供一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，包括系统框架、相机模块和光源模块；所述系统框架包括第一框架板件、第二框架板件、及连接二者的若干个连接筋；所述光源模块和所述相机模块设于所述第一框架板件与所述第二框架板件围成半封闭腔体中；所述相机模块可拆卸安装于所述半封闭腔体的上部；所述第一框架板件在竖直方向上，具有多个用于安装所述相机模块的安装位置，以便可以调节所述相机模块在竖直方向上的位置；所述光源模块具有多个，且可拆卸安装于所述半封闭腔体的下部；且各个所述光源模块内部的光程之和相同。
该装置的结构设计能够将检测各种标签缺陷集成到一台检测设备上，可以根据不同的检测需求更换不同的检测模块，因而能够显著降低检测成本。
附图说明
图1为本申请一种实施例中一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的结构示意图；
图2为图1中的多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的系统框架的结构示意图；
图3为图1中系统框架的第一框架板件的结构示意图；
图4为图1中的多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的光源模块的结构示意图；
图5为图1中的多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的相机模块的结构示意图；
图6为图4中的光源模块在第一种实施例中的光路结构示意图；
图7为图4中的光源模块在第二种实施例中的光路结构示意图；
图8为图4中的光源模块在第三种实施例中的光路结构示意图。
具体实施方式
下面将详细地对实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下实施例中描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。仅是与权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的系统和方法的示例。
请参考图1至图8，图1为本申请一种实施例中一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的结构示意图；图2为图1中的多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的系统框架的结构示意图；图3为图1中系统框架的第一框架板件的结构示意图；图4为图1中的多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的光源模块的结构示意图；图5为图1中的多成像方案兼容的标签缺陷检测装置的相机模块的结构示意图；图6为图4中的光源模块在第一种实施例中的光路结构示意图；图7为图4中的光源模块在第二种实施例中的光路结构示意图；图8为图4中的光源模块在第三种实施例中的光路结构示意图。
在一种实施例中，一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，如图1所示，包括系统框架100、相机模块300和光源模块200；
如图2所示，系统框架100包括第一框架板件110、第二框架板件120、及连接二者的若干个连接筋130；
如图1所示，光源模块200和相机模块300设于第一框架板件110与第二框架板件120围成半封闭腔体中；
如图1所示，相机模块300可拆卸安装于半封闭腔体的上部；第一框架板件110在竖直方向上，具有多个用于安装相机模块300的安装位置，以便可以调节相机模块300在竖直方向上的位置；
如图6、图7和图8所示，光源模块200具有多个，且可拆卸安装于半封闭腔体的下部；且各个光源模块200内部的光程之和相同。
该装置的结构设计能够将检测各种标签缺陷集成到一台检测设备上，可以根据不同的检测需求更换不同的检测模块，因而能够显著降低检测成本。
在上述技术方案中，可以做出进一步改进。比如，如图3所示，第一框架板件110在竖直方向上开设有多排第二框架接口112，相机模块300可拆卸连接于第二框架接口112上。通过该多排接口的设计，使得相机模块300可以很方便调整在竖直方向上的高度。
在上述技术方案中，可以做出进一步改进。比如，如图5所示，相机模块300包括相机本体310、第一连接板311及第二连接板312，第一连接板311与第二连接板312呈L型设置；相机本体310连接于第二连接板312上；第一连接板311可拆卸连接于第二框架接口112上。该种结构设计，很方便地实现了相机模块300的安装固定。
在上述技术方案中，还可以做出进一步改进。如图2所示，第一框架板件110和第二框架板件120的下部开设有第一框架接口111，如图1所示，光源模块200可拆卸连接于第一框架接口111上。
此外，如图6、图7和图8所示，各光源模块200中，光线均由光源模块200的同一位置射出，输入相机模块300；且各光源模块200中，具有均有不同的工作角度。
以下结合具体应用场景，对于本申请做出进一步说明。
在一个检测系统中，可使用不同的光源照亮物料，相机采集图像，软件分析计算，进而实现检测功能。
本申请将相机和光源进行模块化设计，将两个模块集成到一个检测箱体中，模块之间采用通用接口设计。不同的相机模块300与光源模块200在装置内部可自由切换，每种相机模块300和光源模块200均可组合出不同的光学方案，实现不同缺陷检测需求。在空间上合理布局，尽可能压缩模块占用的总空间，减小装置外形尺寸，方便安装和调试。
常用相机种类有相机一、相机二、相机三，常用的主检光源类型有面均匀光源、对称光源、小面光源等三种。三种相机共有三种工作距离，三种光源共有三种工作姿态，排列组合共有九种光学方案，这九种光学方案几乎涵盖了90％以上的缺陷检测需求。
在系统框架100上给相机模块300预留了三个接口位置，供不同相机的不同工作距离安装需求；给光源模块200预留一个通用接口位置，供不同光源模块200安装需求，如图2所示。图5为相机模块300，图4为光源模块200。不同光学方案下，更换相应模块并安装至框架预留位置，组合出对应的光学方案，实现相应的检测需求，如图1所示。
三种光源和相机的通用模块化设计是本申请的核心。光源模块200内部光路如图6-8所示。每个光源的工作角度，工作距离均不同，但3种光源模块200内部光程之和均为N，且光均从光源模块200距左侧M的位置竖直发出。在图6中，光程之和：C+D+E＝N；在图7中，光程之和：F+G+H＝N；在图8中，光程之和：J+K+L＝N。在图6至图8中，A代表光源模块200的高度，B代表光源模块200的宽度。
光源模块200与框架的机械接口、光学接口、电气接口均相同；在不同光学方案下，相机模块300在装置内部，高度方向上切换至对应位置以组合出不同的光学方案。
本申请提供的实施例之间的相似部分相互参见即可，以上提供的具体实施方式只是本申请总的构思下的几个示例，并不构成本申请保护范围的限定。对于本领域的技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下依据本申请方案所扩展出的任何其他实施方式都属于本申请的保护范围。

Claims (6)

1.一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，包括系统框架、相机模块和光源模块；其特征在于，
所述系统框架包括第一框架板件、第二框架板件、及连接二者的若干个连接筋；
所述光源模块和所述相机模块设于所述第一框架板件与所述第二框架板件围成半封闭腔体中；
所述相机模块可拆卸安装于所述半封闭腔体的上部；所述第一框架板件在竖直方向上，具有多个用于安装所述相机模块的安装位置，以便可以调节所述相机模块在竖直方向上的位置；
所述光源模块具有多个，且可拆卸安装于所述半封闭腔体的下部；且各个所述光源模块内部的光程之和相同。
2.如权利要求1所述的一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，其特征在于，所述第一框架板件在竖直方向上开设有多排第二框架接口，所述相机模块可拆卸连接于所述第二框架接口上。
3.如权利要求2所述的一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，其特征在于，所述相机模块包括相机本体、第一连接板及第二连接板，所述第一连接板与所述第二连接板呈L型设置；
所述相机本体连接于所述第二连接板上；
所述第一连接板可拆卸连接于所述第二框架接口上。
4.如权利要求1-3任一项所述的一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，其特征在于，所述第一框架板件和所述第二框架板件的下部开设有第一框架接口，所述光源模块可拆卸连接于第一框架接口上。
5.如权利要求1-3任一项所述的一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，其特征在于，各所述光源模块中，光线均由光源模块的同一位置射出，输入所述相机模块。
6.如权利要求1-3任一项所述的一种多成像方案兼容的标签缺陷检测装置，其特征在于，各所述光源模块中，具有均有不同的工作角度。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2881697Y (zh) * 2005-06-21 2007-03-21 东泰沂科技股份有限公司 背光模块检测机
CN208489910U (zh) * 2018-05-28 2019-02-12 深圳市富优驰科技有限公司 一种可调节的光源夹持装置
CN109884810A (zh) * 2019-01-29 2019-06-14 武汉精立电子技术有限公司 一种用于背光模组缺陷检测的多相机标准机台
CN209416933U (zh) * 2018-11-14 2019-09-20 苏州诚拓机械设备有限公司 低波长红外光隐裂检测机构
CN111043460A (zh) * 2019-11-22 2020-04-21 广州瑞松智能科技股份有限公司 一种3d相机模拟调试设备

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2881697Y (zh) * 2005-06-21 2007-03-21 东泰沂科技股份有限公司 背光模块检测机
CN208489910U (zh) * 2018-05-28 2019-02-12 深圳市富优驰科技有限公司 一种可调节的光源夹持装置
CN209416933U (zh) * 2018-11-14 2019-09-20 苏州诚拓机械设备有限公司 低波长红外光隐裂检测机构
CN109884810A (zh) * 2019-01-29 2019-06-14 武汉精立电子技术有限公司 一种用于背光模组缺陷检测的多相机标准机台
CN111043460A (zh) * 2019-11-22 2020-04-21 广州瑞松智能科技股份有限公司 一种3d相机模拟调试设备

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